專利名稱：顯示驅(qū)動電路與其操作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)ー種顯示驅(qū)動電路與其操作方法，且特別是有關(guān)ー種顯示驅(qū)動電路與其操作方法，于測試時(shí)，避開不易達(dá)成穩(wěn)態(tài)電路。
背景技術(shù)：
在電路制造完成后，要進(jìn)行測試，以檢驗(yàn)其操作是否正常。以源極驅(qū)動電路而言，其模擬輸出部份通常包括多位數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換電路(DAC)與運(yùn)算放大器等。如果數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換電路為m位的話，則要測試2m次以驗(yàn)證m位DAC的所有內(nèi)部信號路徑是否皆為正常。只要有一條信號路徑有問題的話，則此DAC與其源極驅(qū)動電路需被舍棄。但是，面前測試吋，運(yùn)算放大器的電路特性導(dǎo)致收斂時(shí)間過長(其達(dá)成穩(wěn)態(tài)時(shí)間過長)，將拉長整體測試時(shí)間。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種顯示驅(qū)動電路與其操作方法，于測試此顯示驅(qū)動電路吋，測試信號不流經(jīng)不易穩(wěn)態(tài)元件，以縮短測試時(shí)間。根據(jù)本發(fā)明一方面提出顯示驅(qū)動電路，包括一待測電路；一第一電路，選擇性耦接至該待測電路，該第一電路還選擇性耦接至ー輸出端，該第一電路的ー穩(wěn)態(tài)時(shí)間長于該待測電路；以及一測試輔助電路，耦接至該待測電路。于正常操作時(shí)，一正常信號流經(jīng)該待測電路后，流經(jīng)該第一電路但不流經(jīng)該測試輔助電路。于測試吋，ー測試信號流經(jīng)該待測電路后，該測試信號不流經(jīng)該第一電路但流經(jīng)該測試輔助電路。根據(jù)本發(fā)明另一方面提出ー種顯示驅(qū)動電路的操作方法，包括于該顯示驅(qū)動電路處于一正常操作時(shí)，一正常信號流經(jīng)該顯示驅(qū)動電路的ー待測電路后，流經(jīng)ー第一電路但不流經(jīng)ー測試輔助電路；以及，于該顯示驅(qū)動電路處于測試吋，ー測試信號流經(jīng)該待測電路后，該測試信號不流經(jīng)該第一電路但流經(jīng)該測試輔助電路。該第一電路選擇性耦接至該待測電路，且該第一電路還選擇性耦接至ー輸出端，該第一電路的一穩(wěn)態(tài)時(shí)間長于該待測電路。本發(fā)明的有益技術(shù)效果是由于測試信號不會經(jīng)過不易穩(wěn)態(tài)電路，因此測試時(shí)間得以縮短。為了對本發(fā)明的上述及其它方面有更佳的了解，下文特舉較佳實(shí)施例，并配合附圖作詳細(xì)說明如下


圖I顯示根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的源極驅(qū)動電路的電路示意圖。圖2顯示本第一實(shí)施例的另ー種可能實(shí)施方式。圖3顯示本第一實(shí)施例的又ー種可能實(shí)施方式。圖4顯示根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的源極驅(qū)動電路的電路示意圖與其測試方法。圖5顯示本發(fā)明第二實(shí)施例的源極驅(qū)動電路的另ー種測試方法。
圖6顯示根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器的架構(gòu)示意圖。圖7顯示根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施例的源極驅(qū)動電路的電路示意圖。
具體實(shí)施例方式于本發(fā)明數(shù)個(gè)實(shí)施例所提出的顯示驅(qū)動電路與其測試方法中，于測試時(shí)，避開不易達(dá)成穩(wěn)態(tài)的元件(通常是運(yùn)算放大器)，以縮短測試時(shí)間。第一實(shí)施例現(xiàn)請參考圖1，其顯示根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的源極驅(qū)動電路的電路示意圖。如圖I所示，根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的源極驅(qū)動電路100至少包括伽瑪電阻分壓器(ga_aresistor divider) 110、數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器(DAC) 120A 120B、開關(guān)130A 130B、運(yùn)算放大器140A 140B、輸出開關(guān)150A 150B、測試輔助電路160A 160B與電荷分 享開關(guān)SW_CH。伽瑪電阻分壓器110的結(jié)構(gòu)可不被特別限定，故其細(xì)節(jié)于此不重述。于圖I中，當(dāng)源極驅(qū)動電路100處于正常操作時(shí)，數(shù)據(jù)由DAC 120A 120B輸入，通過開關(guān)130A 130B、運(yùn)算放大器140A 140B與輸出開關(guān)150A 150B，而由輸出端CH_ODD與CH_EVEN輸出。當(dāng)源極驅(qū)動電路100處于正常操作時(shí)，測試輔助電路處于關(guān)閉。于圖I中，測試路徑以虛線標(biāo)示。由圖I可看出，在測試源極驅(qū)動電路時(shí)，測試信號由DAC 120A 120B輸入，通過測試輔助電路160A 160B而輸出至輸出端CH_0DD與CH_EVEN。在測試時(shí)，開關(guān)130A 130B與150A 150B關(guān)閉，以避免輸出端CH_0DD與CH_EVEN同時(shí)接收到運(yùn)算放大器及測試輔助電路的輸出結(jié)果。于圖I中，測試輔助電路比如以開關(guān)予以實(shí)現(xiàn)。由于測試信號不會經(jīng)過不易穩(wěn)態(tài)電路(如運(yùn)算放大器140A 140B)，所以，測試時(shí)間得以縮短。 此外，運(yùn)算放大器的內(nèi)部信號路徑不像數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器的內(nèi)部信號路徑眾多。所以，當(dāng)測試數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器的某一條內(nèi)部信號路徑吋，同時(shí)測試運(yùn)算放大器是否正常操作即可，亦即測試運(yùn)算放大器能否將電壓完整傳遞至輸出端。圖2顯示本第一實(shí)施例的另ー種可能實(shí)施方式。如圖2所示，于源極驅(qū)動電路100A’中，測試輔助電路160A’與160B’不同于圖I的測試輔助電路160A與160B，其余皆相同或相似。如圖2所示，測試輔助電路160A’包括開關(guān)PSW_0UT與緩沖電路161A。相似地，測試輔助電路160B’包括開關(guān)NSW_0UT與緩沖電路161B。緩沖電路161A與161B比如但不受限于穩(wěn)定快速，且其架構(gòu)簡単，比如但不受限于，其架構(gòu)簡單于運(yùn)算放大器140A與140B。比如，緩沖電路161A與161B的晶體管數(shù)量較少，其驅(qū)動能力亦較弱。不過，緩沖電路161A與161B仍具有些許驅(qū)動能力，以減輕輸出端上的負(fù)載效應(yīng)。圖3顯示本發(fā)明第一實(shí)施例的又另ー種可能實(shí)施方式。如圖3所示，于源極驅(qū)動電路100A”中，測試輔助電路160A”與160B”不同于圖I的測試輔助電路160A與160B，其余皆相同或相似。如圖3所示，測試輔助電路160A”包括開關(guān)PSW_0UT與電平轉(zhuǎn)換電路(Ievelshifter) 162A，具備可加強(qiáng)電流驅(qū)動后級負(fù)載的能力。相似地，測試輔助電路160B”包括開關(guān)NSW_0UT與電平轉(zhuǎn)換電路162B。
第二實(shí)施例圖4顯示根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的源極驅(qū)動電路的電路示意圖。如圖4所示，根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的源極驅(qū)動電路400至少包括伽瑪電阻分壓器110、數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器120A 120B、開關(guān)130A 130B、運(yùn)算放大器140A 140B、輸出開關(guān)150A 150B、開關(guān)410與電荷分享開關(guān)SW_CH。相同或相似于先前實(shí)施例的元件于此不重述。于圖4中，當(dāng)源極驅(qū)動電路100處于正常操作時(shí)，數(shù)據(jù)由DAC 120A 120B輸入，通過開關(guān)130A 130B、運(yùn)算放大器140A 140B與輸出開關(guān)150A 150B，而由輸出端CH_ODD與CH_EVEN輸出。當(dāng)然，當(dāng)源極驅(qū)動電路100處于正常操作時(shí)，開關(guān)410處于關(guān)閉。于圖4中，測試路徑以虛線標(biāo)示。由圖4可看出，在測試源極驅(qū)動電路時(shí)，測試電流由DAC 120A 120B的其中之ー輸入，通過開關(guān)410而輸出至另ー DAC。在測試時(shí)，開關(guān)130A 130B與150A 150B皆為關(guān)閉，以避免操作放大器汲取測試電流而可能影響測試結(jié) 果的正確性。此外，于測試時(shí)，伽瑪電阻分壓器110不耦接至數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器120A 120B。由于測試信號不會經(jīng)過不易穩(wěn)態(tài)電路(如運(yùn)算放大器140A 140B)，所以，測試時(shí)間得以縮短。如果數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器120A 120B正常的話，由此兩者之一所注入的測試電流值應(yīng)該要等于由此兩者的另ー個(gè)所測得的電流值。如果兩者電流有差異，代表至少有ー個(gè)DAC是有瑕疵的。此外，利用圖4的架構(gòu)，可以一次測試2個(gè)DAC。不過，不需要特別知道是哪ー個(gè)DAC是有問題的，因?yàn)楫?dāng)有ー個(gè)DAC有問題的話，則此源極驅(qū)動電路比如就要被舍棄。圖5顯示本發(fā)明第二實(shí)施例的源極驅(qū)動電路400的另ー種測試方法。于圖5中，虛線所標(biāo)示的信號路徑是測試時(shí)的路徑。由圖5可看出，在測試源極驅(qū)動電路時(shí)，測試電壓由DAC的ー輸入，通過開關(guān)410而輸出至另ー DAC。在測試時(shí)，開關(guān)130A 130B與150A 150B皆為關(guān)閉，以避免操作放大器汲取測試電壓，影響測試結(jié)果的正確性。此外，于測試吋，伽瑪電阻分壓器110不耦接至數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器120A 120B。由于測試信號不會經(jīng)過不易穩(wěn)態(tài)電路(如運(yùn)算放大器140A 140B)，所以，測試時(shí)間得以縮短。在測試時(shí)，由于兩個(gè)DAC的內(nèi)部測試路徑是由測試者所決定的。在已知輸入測試電壓的情況下，如果數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器120A 120B都正常的話，則由DAC的另ー個(gè)所測得的電壓值應(yīng)該要等于理想值。否則，代表至少有ー個(gè)DAC是有瑕疵的。此外，利用圖5的架構(gòu)，可以一次測試2個(gè)DAC。不過，不需要特別知道是哪ー個(gè)DAC是有問題的，因?yàn)橹灰些`個(gè)DAC是有問題的話，則此源極驅(qū)動電路就要被舍棄。比較本發(fā)明第一與第二實(shí)施例后可得知，第二實(shí)施例中的開關(guān)410可視為第一實(shí)施例中的測試輔助電路的又一種實(shí)施方式。于第一實(shí)施例中，測試輔助電路稱接于待測電路(如DAC)與輸出端之間，使得測試信號能避開不易穩(wěn)態(tài)電路(如運(yùn)算放大器)；相反地，于第二實(shí)施例中，測試輔助電路耦接于兩個(gè)待測電路之間，使得測試信號能避開不易穩(wěn)態(tài)電路(如運(yùn)算放大器)。圖6顯示根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器的架構(gòu)示意圖。如圖6所示，數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器120A包括多個(gè)開關(guān)(未標(biāo)示出)，用以選擇由電阻串610所分壓出的參考電壓。此外，于本發(fā)明第二實(shí)施例中，于測試時(shí)，數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器的內(nèi)部信號路徑是雙向的，亦即，其內(nèi)部信號路徑可由輸入端流至輸出端，亦可由輸出端流至輸入端。
第三實(shí)施例圖7顯示根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施例的源極驅(qū)動電路的電路示意圖。如圖7所示，根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施例的源極驅(qū)動電路700至少包括伽瑪電阻分壓器110、數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器120A 120B、開關(guān)130A 130B、運(yùn)算放大器140A 140B、輸出開關(guān)150A 150B、測試輔助電路160A 160B與電荷分享開關(guān)SW_CH。由圖7可看出，本發(fā)明第三實(shí)施例可視為第一與第二實(shí)施例的結(jié)合。亦即，于測試吋，由數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器120A 12 0B注入測試電壓(或測試電流)，此測試電壓(或測試電流)流經(jīng)測試輔助電路160A 160B后，而由輸出端CH_0DD與CH_EVEN流出。通過檢驗(yàn)輸出端CH_0DD與CH_EVEN的輸出電壓(或輸出電流)，即可得知數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器的操作是否正常。當(dāng)然，測試輔助電路160A 160B的實(shí)施方式可如第一與第二實(shí)施例所示。綜上所述，雖然本發(fā)明已以數(shù)個(gè)實(shí)施例揭露如上，然而其并非用以限定本發(fā)明。本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作出各種等同的改變或替換。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視后附的本申請權(quán)利要求所界定的范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.ー種顯示驅(qū)動電路，其特征在于，包括 一待測電路； 一第一電路，選擇性耦接至該待測電路，該第一電路還選擇性耦接至ー輸出端，該第一電路的ー穩(wěn)態(tài)時(shí)間長于該待測電路；以及一測試輔助電路，耦接至該待測電路； 其中 于正常操作時(shí)，一正常信號流經(jīng)該待測電路后，流經(jīng)該第一電路但不流經(jīng)該測試輔助電路；以及 于測試時(shí)，一測試信號流經(jīng)該待測電路后，該測試信號不流經(jīng)該第一電路但流經(jīng)該測試輔助電路。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的顯示驅(qū)動電路，其特征在于，該待測電路包括一數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器，以及該第一電路包括一運(yùn)算放大器。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的顯示驅(qū)動電路，其特征在于，還包括 一第一開關(guān)，耦接于該待測電路與該第一電路之間；以及 一第二開關(guān)，耦接于該第一電路與該輸出端之間； 其中 于正常操作時(shí)，該第一與該第二開關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)以使得該正常信號流經(jīng)該第一與該第二開關(guān)；以及 于測試時(shí)，該第一與該第二開關(guān)處于關(guān)閉狀態(tài)。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的顯示驅(qū)動電路，其特征在于，該測試輔助電路包括 一測試輔助開關(guān)，耦接于該待測電路與該輸出端之間； 其中 于正常操作吋，該測試輔助開關(guān)處于關(guān)閉狀態(tài)；以及 于測試吋，該測試輔助開關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)，以使得該測試信號流經(jīng)該測試輔助開關(guān)。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的顯示驅(qū)動電路，其特征在于，該測試輔助電路包括 一測試輔助開關(guān)，耦接于該待測電路間；以及 一驅(qū)動單元，耦接于該測試輔助開關(guān)與該輸出端之間； 其中 于正常操作吋，該測試輔助開關(guān)與該驅(qū)動單元處于關(guān)閉狀態(tài)；以及于測試吋，該測試輔助開關(guān)與該驅(qū)動單元處于導(dǎo)通狀態(tài)，以使得該測試信號流經(jīng)該測試輔助開關(guān)與該驅(qū)動単元。
6.根據(jù)權(quán)利要求I所述的顯示驅(qū)動電路，其特征在于，還包括一另ー待測電路，該測試輔助電路耦接于該待測電路與該另ー待測電路之間； 其中 于正常操作時(shí)，該正常信號流經(jīng)該待測電路與該另ー待測電路但不流經(jīng)該測試輔助電路；以及 于測試吋，該測試信號由該待測電路流經(jīng)該測試輔助電路而到達(dá)該另ー待測電路。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的顯示驅(qū)動電路，其特征在干，該測試信號包括一測試電流或一測試電壓。
8.—種顯示驅(qū)動電路的操作方法，其特征在于包括 于該顯示驅(qū)動電路處于一正常操作時(shí)，一正常信號流經(jīng)該顯示驅(qū)動電路的ー待測電路后，流經(jīng)ー第一電路但不流經(jīng)一測試輔助電路；以及 于該顯示驅(qū)動電路處于測試時(shí)，一測試信號流經(jīng)該待測電路后，該測試信號不流經(jīng)該第一電路但流經(jīng)該測試輔助電路； 其中 該第一電路選擇性耦接至該待測電路，且該第一電路還選擇性耦接至ー輸出端，該第一電路的一穩(wěn)態(tài)時(shí)間長于該待測電路。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的操作方法，其特征在干，該待測電路包括一數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器，以及該第一電路包括一運(yùn)算放大器。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的操作方法，其特征在于，該顯示驅(qū)動電路還包括一第一開關(guān)，耦接于該待測電路與該第一電路之間；以及一第二開關(guān)，耦接于該第一電路與該輸出端之間； 該操作方法還包括 于正常操作吋，控制該第一與該第二開關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)以使得該正常信號流經(jīng)該第一與該第二開關(guān)；以及 于測試吋，控制該第一與該第二開關(guān)處于關(guān)閉狀態(tài)。
11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的操作方法，其特征在于，該顯示驅(qū)動電路的該測試輔助電路包括一測試輔助開關(guān)，耦接于該待測電路與該輸出端之間； 該操作方法還包括 于正常操作吋，控制該測試輔助開關(guān)處于關(guān)閉狀態(tài)；以及 于測試吋，控制該測試輔助開關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)，以使得該測試信號流經(jīng)該測試輔助開關(guān)。
12.根據(jù)權(quán)利要求8所述的操作方法，其特征在干，該顯示驅(qū)動電路的該測試輔助電路包括一測試輔助開關(guān)，耦接于該待測電路間；以及一驅(qū)動單元，耦接于該測試輔助開關(guān)與該輸出端之間； 該操作方法還包括 于正常操作吋，控制該測試輔助開關(guān)與該驅(qū)動單元處于關(guān)閉狀態(tài)；以及于測試時(shí)，控制該測試輔助開關(guān)與該驅(qū)動單元處于導(dǎo)通狀態(tài)，以使得該測試信號流經(jīng)該測試輔助開關(guān)與該驅(qū)動單元。
13.根據(jù)權(quán)利要求8所述的操作方法，其特征在于，該顯示驅(qū)動電路還包括ー另ー待測電路，該測試輔助電路耦接于該待測電路與該另ー待測電路之間； 該操作方法還包括 于正常操作吋，控制該正常信號流經(jīng)該待測電路與該另ー待測電路但不流經(jīng)該測試輔助電路；以及 于測試時(shí)，控制該測試信號由該待測電路流經(jīng)該測試輔助電路而到達(dá)該另一待測電路。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的操作方法，其特征在干，該測試信號包括一測試電流或一測試電壓。
全文摘要
本發(fā)明是一種顯示驅(qū)動電路與其操作方法，該顯示驅(qū)動電路包括一待測電路；一第一電路，選擇性耦接至該待測電路，該第一電路還選擇性耦接至一輸出端，該第一電路的一穩(wěn)態(tài)時(shí)間長于該待測電路；以及一測試輔助電路，耦接至該待測電路。于正常操作時(shí)，一正常信號流經(jīng)該待測電路后，流經(jīng)該第一電路但不流經(jīng)該測試輔助電路。于測試時(shí)，一測試信號流經(jīng)該待測電路后，該測試信號不流經(jīng)該第一電路但流經(jīng)該測試輔助電路。
文檔編號G09G3/20GK102651185SQ20111005160
公開日2012年8月29日 申請日期2011年2月23日 優(yōu)先權(quán)日2011年2月23日
發(fā)明者宋光峰, 陳季廷 申請人:聯(lián)詠科技股份有限公司