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像素驅(qū)動裝置、發(fā)光裝置及其驅(qū)動控制方法以及電子設(shè)備的制作方法

文檔序號:2649647閱讀:162來源:國知局
專利名稱:像素驅(qū)動裝置、發(fā)光裝置及其驅(qū)動控制方法以及電子設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及像素驅(qū)動裝置、具有該像素驅(qū)動裝置的發(fā)光裝置及其驅(qū)動控制方法、 以及具有該發(fā)光裝置的電子設(shè)備。
背景技術(shù)
近年來,作為下一代的顯示設(shè)備,具有將電流驅(qū)動型的發(fā)光元件排列成矩陣狀的 顯示面板(像素陣列)的發(fā)光元件型的顯示裝置(發(fā)光裝置)受到關(guān)注。其中,作為電流 驅(qū)動型的發(fā)光元件,已知例如有有機電致發(fā)光元件(有機EL元件)、無機電致發(fā)光元件(無 機EL元件)、發(fā)光二極管(LED)等。特別是,應(yīng)用了有源矩陣型的驅(qū)動方式的發(fā)光元件型的顯示裝置,與眾所周知的 液晶顯示裝置相比,顯示響應(yīng)速度快,并且,幾乎沒有視場角依賴性,具有能夠?qū)崿F(xiàn)高亮 度 高對比度、顯示畫質(zhì)高精細度等優(yōu)秀的顯示特性。發(fā)光元件型的顯示裝置由于不需要液 晶顯示裝置那樣的背光和導(dǎo)光板,所以,具有能夠進一步輕薄化的非常優(yōu)秀的特征。因此, 人們期待這樣的顯示裝置用于今后各種電子設(shè)備。例如在日本公開公報H8-330600中,公開了作為通過電壓信號進行電流控制的有 源矩陣驅(qū)動顯示裝置的有機EL顯示器裝置。在該有機EL顯示器裝置中,具有電流控制用 薄膜晶體管和開關(guān)用薄膜晶體管的電路(為了方便,記做“像素驅(qū)動電路”)按照像素設(shè)置。 在這里,電流控制用薄膜晶體管通過在柵極上施加對應(yīng)于圖像數(shù)據(jù)的電壓信號,使規(guī)定的 電流流過作為發(fā)光元件的有機EL元件。另外,開關(guān)用薄膜晶體管進行用于將與圖像數(shù)據(jù)對 應(yīng)的電壓信號供給到電流控制用薄膜晶體管的柵極的開關(guān)動作。但是,在通過這樣的電壓信號控制發(fā)光元件的亮度等級(階調(diào))的有機EL顯示器 裝置中,由于電流控制用薄膜晶體管等的閾值電壓隨時間變化,存在流過有機EL元件的電 流的電流值變動的情況。另外,在與配置成矩陣狀的多個像素分別相對應(yīng)的像素驅(qū)動電路中,即使假設(shè)電 流控制用薄膜晶體管的閾值電壓相同,由于受到薄膜晶體管的柵極絕緣膜和溝道長度、移 動度的不均勻的影響,驅(qū)動特性產(chǎn)生不均勻。已知移動度的不均勻特別是在低溫多晶硅薄膜晶體管中顯著發(fā)生。如果使用非晶 硅薄膜晶體管,雖然能夠使移動度均勻化,但是無法避免制造工藝引起的不均勻的影響。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的優(yōu)點在于,能夠提供一種像素驅(qū)動裝置、發(fā)光裝置及其驅(qū)動控制方法、以 及具有該發(fā)光裝置的電子設(shè)備,能夠正確地取得像素驅(qū)動電路的特性參數(shù)并基于特性參數(shù)校正圖像數(shù)據(jù)從而以所期望的亮度等級使發(fā)光元件進行發(fā)光動作。為了獲得上述優(yōu)點,本發(fā)明的像素驅(qū)動裝置是驅(qū)動多個像素的像素驅(qū)動裝置,多 個像素分別具有發(fā)光元件和像素驅(qū)動電路,該像素驅(qū)動電路具有電流路徑的一端連接于上 述發(fā)光元件的一端并且電源電壓施加于電流路徑的另一端的驅(qū)動控制元件,像素驅(qū)動裝置 另外具有校正數(shù)據(jù)取得功能電路,該校正數(shù)據(jù)取得功能電路基于將發(fā)光元件的另一端的電 壓設(shè)定為設(shè)定電壓的狀態(tài)下的、連接于多個像素的每一個上的多條數(shù)據(jù)線的各自的電壓 值,取得包含各像素的驅(qū)動控制元件的閾值電壓的特性參數(shù),設(shè)定電壓設(shè)定為基于規(guī)定的 定時的各數(shù)據(jù)線的電壓值的電壓,規(guī)定的定時是將發(fā)光元件的另一端設(shè)定為初始電壓,在 各數(shù)據(jù)線上施加第1檢測用電壓,并且電流經(jīng)由各數(shù)據(jù)線流過驅(qū)動控制元件的電流路徑后 的定時,初始電壓設(shè)定為與電源電壓相同的電壓,或者,設(shè)定為電位比電源電壓低并且與電 源電壓的電位差成為小于發(fā)光元件的發(fā)光閾值電壓的值的電壓。為了獲得上述優(yōu)點,本發(fā)明的發(fā)光裝置具有發(fā)光面板和校正數(shù)據(jù)取得功能電路, 上述發(fā)光面板具有多個像素及多條數(shù)據(jù)線并且各數(shù)據(jù)線連接于各像素,各像素具有發(fā)光元 件和像素驅(qū)動電路,該像素驅(qū)動電路具有驅(qū)動控制元件,該驅(qū)動控制元件的電流路徑的一 端連接于發(fā)光元件的一端,電流路徑的另一端上施加有電源電壓,校正數(shù)據(jù)取得功能電路 基于將發(fā)光元件的另一端的電壓設(shè)定為設(shè)定電壓的狀態(tài)下的各數(shù)據(jù)線的電壓值,取得包含 各像素的驅(qū)動控制元件的閾值電壓的特性參數(shù),設(shè)定電壓設(shè)定為基于規(guī)定的定時的各數(shù)據(jù) 線的電壓值的電壓,規(guī)定的定時是將發(fā)光元件的另一端設(shè)定為初始電壓,在各數(shù)據(jù)線上施 加第1檢測用電壓,并且電流經(jīng)由各數(shù)據(jù)線流過驅(qū)動控制元件的電流路徑后的定時,初始 電壓設(shè)定為與電源電壓相同的電壓,或者,設(shè)定為電位比電源電壓低并且與電源電壓的電 位差成為小于發(fā)光元件的發(fā)光閾值電壓的值的電壓。為了獲得上述優(yōu)點,本發(fā)明的電子設(shè)備具有電子設(shè)備主體部和發(fā)光裝置,該發(fā)光 裝置從電子設(shè)備主體部被供給圖像數(shù)據(jù),對應(yīng)于該圖像數(shù)據(jù)被驅(qū)動,發(fā)光裝置具有發(fā)光面 板和校正數(shù)據(jù)取得功能電路,上述發(fā)光面板具有多個像素及多條數(shù)據(jù)線并且各數(shù)據(jù)線連接 于各像素,各像素具有發(fā)光元件和像素驅(qū)動電路,該像素驅(qū)動電路具有驅(qū)動控制元件,該驅(qū) 動控制元件的電流路徑的一端連接于發(fā)光元件的一端,電流路徑的另一端上施加有電源電 壓,校正數(shù)據(jù)取得功能電路基于將發(fā)光元件的另一端的電壓設(shè)定為設(shè)定電壓的狀態(tài)下的各 數(shù)據(jù)線的電壓值,取得包含各像素的驅(qū)動控制元件的閾值電壓的特性參數(shù),設(shè)定電壓設(shè)定 為基于規(guī)定的定時的各數(shù)據(jù)線的電壓值的電壓,規(guī)定的定時是將發(fā)光元件的另一端設(shè)定為 初始電壓,在各數(shù)據(jù)線上施加第1檢測用電壓,并且電流經(jīng)由各數(shù)據(jù)線流過驅(qū)動控制元件 的電流路徑后的定時,初始電壓設(shè)定為與電源電壓相同的電壓,或者,設(shè)定為電位比電源電 壓低并且與電源電壓的電位差成為小于發(fā)光元件的發(fā)光閾值電壓的值的電壓。為了獲得上述優(yōu)點,在本發(fā)明的發(fā)光裝置的驅(qū)動控制方法中,發(fā)光裝置具有發(fā)光 面板,上述發(fā)光面板具有多個像素及多條數(shù)據(jù)線并且各數(shù)據(jù)線連接于各像素,各像素具有 發(fā)光元件和像素驅(qū)動電路,該像素驅(qū)動電路具有驅(qū)動控制元件,該驅(qū)動控制元件的電流路 徑的一端連接于發(fā)光元件的一端,電流路徑的另一端上施加有電源電壓,發(fā)光裝置的驅(qū)動 控制方法具有設(shè)定電壓取得步驟和校正數(shù)據(jù)取得步驟,上述設(shè)定電壓取得步驟將各像素的 發(fā)光元件的另一端的電壓設(shè)定為初始電壓,在各數(shù)據(jù)線上施加第1檢測用電壓,基于電流 經(jīng)由各數(shù)據(jù)線流過驅(qū)動控制元件的電流路徑之后的、規(guī)定的定時的各數(shù)據(jù)線的電壓值,取得設(shè)定電壓的電壓值,初始電壓設(shè)定為與電源電壓相同的電壓,或者,設(shè)定為電位比電源電 壓低并且與電源電壓的電位差成為小于發(fā)光元件的發(fā)光閾值電壓的值的電壓,上述校正數(shù) 據(jù)取得步驟基于將各像素的發(fā)光元件的另一端的電壓設(shè)定為設(shè)定電壓的狀態(tài)下的各數(shù)據(jù) 線的電壓值,取得包含各像素的驅(qū)動控制元件的閾值電壓的特性參數(shù)。


圖1是表示使用了本發(fā)明的發(fā)光裝置的顯示裝置的一個例子的概略結(jié)構(gòu)圖。圖2是表示適用于第1實施方式的顯示裝置的數(shù)據(jù)驅(qū)動器的一個例子的概略模塊 圖。圖3是表示適用于第1實施方式的顯示裝置的數(shù)據(jù)驅(qū)動器的主要結(jié)構(gòu)例子的概略 電路結(jié)構(gòu)圖。圖4A是表示適用于第1實施方式的數(shù)據(jù)驅(qū)動器的數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換電路及模擬-數(shù) 字轉(zhuǎn)換電路的輸入輸出特性的附圖。圖4B是表示適用于第1實施方式的數(shù)據(jù)驅(qū)動器的數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換電路及模擬-數(shù) 字轉(zhuǎn)換電路的輸入輸出特性的附圖。圖5是表示適用于第1實施方式的顯示裝置的控制器的功能的功能模塊圖。圖6是表示適用于第1實施方式的顯示面板的像素(像素驅(qū)動電路及發(fā)光元件) 及電壓控制電路的一個實施方式的電路結(jié)構(gòu)圖。圖7是適用了第1實施方式的像素驅(qū)動電路的像素中的圖像數(shù)據(jù)的寫入時的動作 狀態(tài)的附圖。圖8是表示適用了第1實施方式的像素驅(qū)動電路的像素中的寫入動作時的電 壓-電流特性的附圖。圖9是表示適用了第1實施方式的特性參數(shù)取得動作的方法(自動調(diào)零法)的數(shù) 據(jù)線電壓的變化的附圖。圖10是用于說明第1實施方式的特性參數(shù)取得動作(自動調(diào)零法)中從有機EL 元件的陰極產(chǎn)生的漏泄現(xiàn)象的附圖。圖11是適用于說明用于第1實施方式的特性參數(shù)取得動作的處理動作的流程圖。圖12是用于說明圖11所示的處理動作的、表示數(shù)據(jù)線電壓的變化(過渡曲線) 的一個例子的附圖。圖13是表示在顯示裝置的老化狀態(tài)下,適用于第1實施方式的特性參數(shù)取得動作 的處理動作的大致情況流程圖。圖14是表示適用了顯示裝置的老化狀態(tài)下的處理動作的情況下的、第1實施方式 的特性參數(shù)取得動作中的數(shù)據(jù)線電壓的變化(過渡曲線)的一個例子的附圖。圖15A是表示適用了顯示裝置的老化狀態(tài)下的處理動作的情況下的、第1實施方 式的特性參數(shù)取得動作中的檢測數(shù)據(jù)的電壓分布的直方圖。圖15B是表示適用了顯示裝置的老化狀態(tài)下的處理動作的情況下的、第1實施方 式的特性參數(shù)取得動作中的檢測數(shù)據(jù)的電壓分布的直方圖。圖16是表示第1實施方式的顯示裝置的特性參數(shù)取得動作的定時圖。圖17是表示第1實施方式的顯示裝置的檢測用電壓施加動作的動作示意圖。
圖18是表示第1實施方式的顯示裝置的自然衰減動作的動作示意圖。圖19是表示第1實施方式的顯示裝置的電壓檢測動作的動作示意圖。圖20是表示第1實施方式的顯示裝置的檢測數(shù)據(jù)送出動作的動作示意圖。圖21是表示第1實施方式的顯示裝置的校正數(shù)據(jù)算出動作的功能模塊圖。圖22是表示第1實施方式的顯示裝置的發(fā)光動作的定時圖。圖23是表示第1實施方式的顯示裝置的圖像數(shù)據(jù)的校正動作的功能模塊圖。圖M是表示第1實施方式的顯示裝置的校正后的圖像數(shù)據(jù)的寫入動作的動作示 意圖。圖25是表示第1實施方式的顯示裝置的發(fā)光動作的動作示意圖。圖26A是表示第2實施方式的數(shù)字照相機(camera)的結(jié)構(gòu)例的立體圖。圖^B是表示第2實施方式的數(shù)字照相機的結(jié)構(gòu)例的立體圖。圖27是表示第2實施方式的移動型的個人計算機的結(jié)構(gòu)例的立體圖。圖觀是表示第2實施方式的便攜電話的結(jié)構(gòu)例的附圖。
具體實施例方式<第1實施方式>以下,對本發(fā)明的第1實施方式的像素驅(qū)動裝置、發(fā)光裝置及其驅(qū)動控制方法、以 及電子設(shè)備進行說明。在這里,對將本發(fā)明的發(fā)光裝置作為顯示裝置使用的情況進行說明。(顯示裝置)圖1是表示適用了本發(fā)明的發(fā)光裝置的顯示裝置的一個例子的概略結(jié)構(gòu)圖。如圖 1所示,第1實施方式的顯示裝置(發(fā)光裝置)100大致具有顯示面板(發(fā)光面板)110、選 擇驅(qū)動器120、電源驅(qū)動器130、數(shù)據(jù)驅(qū)動器140、電壓控制電路150和控制器160。本發(fā)明 的像素驅(qū)動裝置構(gòu)成為包含選擇驅(qū)動器120、電源驅(qū)動器130、數(shù)據(jù)驅(qū)動器140、電壓控制電 路150和控制器160。顯示面板110如圖1所示,具有在行方向(圖左右方向)及列方向(圖上下方 向)上2維排列(例如ρ行Xq列;P、q為正整數(shù))的多個像素PIX、以與各個排列在行方 向上的像素PIX連接的方式設(shè)置的多個選擇線Ls及多個電源線La;與所有像素PIX共通設(shè) 置的共通電極Ec、以及以與排列在列方向上的像素PIX連接的方式配置的多條數(shù)據(jù)線Ld。 在這里,各像素PIX如后述那樣,具有像素驅(qū)動電路和發(fā)光元件。選擇驅(qū)動器120連接于設(shè)置在顯示面板110上的各選擇線Ls。選擇驅(qū)動器120根 據(jù)從后述的控制器160供給的選擇控制信號(例如掃描時鐘信號及掃描開始信號),在各行 的選擇線Ls上在規(guī)定的定時依次施加規(guī)定的電壓電平(選擇電平Vgh,或者非選擇電平 Vgl)的選擇信號kel。另外,省略了選擇驅(qū)動器120的詳細的結(jié)構(gòu)的圖示,選擇驅(qū)動器120例如具有根 據(jù)從控制器160供給的選擇控制信號,依次輸出與各行的選擇線Ls對應(yīng)的移位信號的移位 寄存器,以及將該移位信號轉(zhuǎn)換為規(guī)定的信號電平(選擇電平例如高電平)并作為選擇信 號^el依次輸出到各行的選擇線Ls的輸出緩沖器。電源驅(qū)動器130連接于設(shè)置在顯示面板110上的各電源線La。電源驅(qū)動器130根據(jù)從后述的控制器160供給的電源控制信號(例如輸出控制信號),在各行的電源線La上 在規(guī)定的定時施加規(guī)定的電壓電平(發(fā)光電平=ELVDD或者非發(fā)光電平DVSS)的電源電壓
Vsa0電壓控制電路150連接于共通電極Ec,該共通電極Ec共通地連接于在顯示面板 110上2維排列的各像素PIX。電壓控制電路150,根據(jù)從后述的控制器160供給的電壓控 制信號,在與設(shè)置于各像素Pix的有機EL元件(發(fā)光元件)OEL的例如陰極連接的共通電 極Ec上,在規(guī)定的定時施加規(guī)定的電壓電平(例如,接地電位GND,或者具有負極性的電壓 電平且絕對值具有基于后述的檢測數(shù)據(jù)n_s(t。)的平均值或者最大值的值的電壓值)的電 壓(設(shè)定電壓)ELVSS。數(shù)據(jù)驅(qū)動器140連接于顯示面板110的各數(shù)據(jù)線Ld,根據(jù)從后述控制器160供給 的數(shù)據(jù)控制信號,在顯示動作(寫入動作)時,生成與圖像數(shù)據(jù)對應(yīng)的灰度信號(灰度電壓 Vdata),經(jīng)由各數(shù)據(jù)線Ld供給到像素PIX。另外,數(shù)據(jù)驅(qū)動器140在后述的特性參數(shù)取得動 作時,將預(yù)先設(shè)定的電壓值的檢測用電壓Vdac,經(jīng)由各數(shù)據(jù)線Ld施加于作為特性參數(shù)取得 動作的對象的像素PIX。然后,數(shù)據(jù)驅(qū)動器140將施加檢測用電壓Vdac之后的、經(jīng)過規(guī)定的 衰減時間t之后的數(shù)據(jù)線Ld的電壓Vd(以下作為數(shù)據(jù)線電壓Vd)作為檢測電壓Vmeas (t) 取入,轉(zhuǎn)換為檢測數(shù)據(jù)n_s(t)并輸出。S卩,數(shù)據(jù)驅(qū)動器140構(gòu)成為具有數(shù)據(jù)驅(qū)動器功能和電壓檢測功能雙方,根據(jù)從后 述的控制器160供給的數(shù)據(jù)控制信號,切換這些功能。數(shù)據(jù)驅(qū)動器功能執(zhí)行如下動作,即, 將經(jīng)由控制器160供給的數(shù)字數(shù)據(jù)構(gòu)成的圖像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為模擬信號電壓,在數(shù)據(jù)線Ld上作 為灰度信號(灰度電壓Vdata)輸出。另外,電壓檢測功能執(zhí)行如下動作,即,將數(shù)據(jù)線電 壓Vd作為檢測電壓Vmeas (t)取入,轉(zhuǎn)換為數(shù)字數(shù)據(jù),作為檢測數(shù)據(jù)nmeas(t)輸出到控制器 160。圖2是表示適用于本實施方式的顯示裝置的數(shù)據(jù)驅(qū)動器的一個例子的概略模塊 圖。圖3是表示圖2所示的數(shù)據(jù)驅(qū)動器的主要結(jié)構(gòu)的例子的概略電路結(jié)構(gòu)圖。在這里,在 排列于顯示面板110的像素PIX的列數(shù)(q)中,僅表示一部分而將圖示省略化。在以下的 說明中,對設(shè)置于第j列(j為1 < j < q的正整數(shù))的數(shù)據(jù)線Ld的數(shù)據(jù)驅(qū)動器140內(nèi)部 的結(jié)構(gòu)進行詳細說明。在圖3中,將圖2所示的移位寄存器電路和數(shù)據(jù)寄存器電路簡略化 表不。數(shù)據(jù)驅(qū)動器140例如如圖2所示,具有移位寄存器電路141、數(shù)據(jù)寄存器電路142、 數(shù)據(jù)閂鎖電路143、DAC/ADC電路144和輸出電路145。包含移位寄存器電路141、數(shù)據(jù)寄存 器電路142和數(shù)據(jù)閂鎖電路143的內(nèi)部電路140A根據(jù)從邏輯電源146供給的電源電壓LVSS 及LVDD,執(zhí)行后述圖像數(shù)據(jù)的取入動作及檢測數(shù)據(jù)的送出動作。包含DAC/ADC電路144和 輸出電路145的內(nèi)部電路140B根據(jù)從模擬電源147供給的電源電壓DVSS及VEE,執(zhí)行后述 灰度信號的生成輸出動作及數(shù)據(jù)線電壓的檢測動作。移位寄存器電路141根據(jù)從控制器160供給的數(shù)據(jù)控制信號(開始脈沖信號SP、 時鐘信號CLK)生成移位信號,依次輸出到數(shù)據(jù)寄存器電路142。數(shù)據(jù)寄存器電路142具有排 列于上述顯示面板110的像素PIX的列數(shù)(q)的量的寄存器(圖示省略),根據(jù)從移位寄存 器電路141供給的移位信號的輸入定時,依次讀取1行的量的圖像數(shù)據(jù)Din(I) Din(q)。 在這里,圖像數(shù)據(jù)Din(I) Din(q)是由數(shù)字信號構(gòu)成的串行數(shù)據(jù)(serial data)。
數(shù)據(jù)閂鎖電路143在顯示動作時(圖像數(shù)據(jù)的取入動作以及灰度信號的生成輸出 動作),根據(jù)數(shù)據(jù)控制信號(數(shù)據(jù)閂鎖脈沖信號LP),對應(yīng)于各列保持將讀取到數(shù)據(jù)寄存器 電路142的1行的量的圖像數(shù)據(jù)Din(I) Din(q)。之后,數(shù)據(jù)閂鎖電路143在規(guī)定的定 時將該圖像數(shù)據(jù)Din(I) Din(q)送出至后述DAC/ADC電路144。另外,數(shù)據(jù)閂鎖電路143 在進行特性參數(shù)取得動作時(檢測數(shù)據(jù)的送出動作及數(shù)據(jù)線電壓的檢測動作),保持經(jīng)由 后述DAC/ADC電路144讀取的各檢測電壓Vmeas (t)對應(yīng)的檢測數(shù)據(jù)n_s (t)。之后,數(shù)據(jù) 閂鎖電路143在規(guī)定的定時將該檢測數(shù)據(jù)nmeas(t)作為串行數(shù)據(jù)輸出到控制器160。輸出 的檢測數(shù)據(jù)n_s(t)存儲在控制器160內(nèi)的存儲器中。數(shù)據(jù)閂鎖電路143具體來說如圖3所示,具有數(shù)據(jù)輸出用的開關(guān)SW3、對應(yīng)于各列 設(shè)置的數(shù)據(jù)閂鎖41(j)、以及連接切換用的開關(guān)SW4(j)、SW5(j)。數(shù)據(jù)閂鎖41 (j)在數(shù)據(jù)閂 鎖脈沖信號LP的例如上升定時,保持(閂鎖)經(jīng)由開關(guān)SW5(j)供給的數(shù)字數(shù)據(jù)(圖像數(shù) 據(jù) Din(I) Din(q))。開關(guān)SW5 (j)根據(jù)從控制器160供給的數(shù)據(jù)控制信號(切換控制信號S5),以將接 點Na側(cè)的數(shù)據(jù)寄存器電路142、或者接點Nb側(cè)的DAC/ADC電路144的ADC43 (j)、或者接點 Nc側(cè)的相鄰的列(j+Ι)的數(shù)據(jù)閂鎖41(j+l)中的任意一個選擇地連接于數(shù)據(jù)閂鎖41 (j)的 方式進行切換控制。由此,在開關(guān)SW5(j)連接設(shè)定于接點Na側(cè)的情況下,從數(shù)據(jù)寄存器電 路142供給的圖像數(shù)據(jù)Din (j)被數(shù)據(jù)閂鎖41 (j)保持。在開關(guān)SW5(j)連接設(shè)定于接點Nb 側(cè)的情況下,從數(shù)據(jù)線Ld(j)讀取到DAC/ADC電路144的ADC43(j)的數(shù)據(jù)線電壓Vd(檢測 電壓Vmeas(t))所對應(yīng)的檢測數(shù)據(jù)n_s(t)被數(shù)據(jù)閂鎖41 (j)保持。在開關(guān)SW5(j)連接設(shè) 定于接點Nc側(cè)的情況下,經(jīng)由相鄰的列(j+Ι)的開關(guān)SW4(j+l)保持于數(shù)據(jù)閂鎖41 (j+1) 的檢測數(shù)據(jù)n_s(t)被數(shù)據(jù)閂鎖41 (j)保持。另外,設(shè)置于最終列(q)的開關(guān)SW5(q)將邏 輯電源146的電源電壓LVSS連接于接點Ne。開關(guān)SW4 (j)根據(jù)從控制器160供給的數(shù)據(jù)控制信號(切換控制信號S4),以將接 點Na側(cè)的DAC/ADC電路144的DAC42 (j)或者接點Nb側(cè)的開關(guān)SW3 (或者相鄰的列(j_l) 的開關(guān)SW5(j-l);省略圖示)中的任意一個選擇性地連接于數(shù)據(jù)閂鎖41 (j)的方式進行切 換控制。由此,在開關(guān)SW4(j)連接設(shè)定于接點Na側(cè)的情況下,被數(shù)據(jù)閂鎖41 (j)保持的圖 像數(shù)據(jù)Din (j)被供給到DAC/ADC電路144的DAC42(j)。在開關(guān)SW4(j)連接設(shè)定于接點 Nb側(cè)的情況下,被數(shù)據(jù)閂鎖41 (j)保持的檢測電壓Vmeas (t)所對應(yīng)的檢測數(shù)據(jù)nmeas(t)經(jīng) 由開關(guān)SW3輸出到控制器160。輸出的檢測數(shù)據(jù)Iimeas(t)存儲于控制器160內(nèi)的存儲器中。開關(guān)SW3根據(jù)從控制器160供給的數(shù)據(jù)控制信號(切換控制信號S4、SQ,對數(shù)據(jù) 閂鎖電路143的開關(guān)SW4 (j) ,Sff5 (j)進行切換控制,在相鄰的列的數(shù)據(jù)閂鎖41⑴ 41 (q) 相互串聯(lián)地連接的狀態(tài)下,根據(jù)數(shù)據(jù)控制信號(切換控制信號S3、數(shù)據(jù)閂鎖脈沖信號LP), 控制為成為導(dǎo)通狀態(tài)。由此,被各列的數(shù)據(jù)閂鎖41(1) 41(q)保持的檢測電壓Vmeas (t) 所對應(yīng)的檢測數(shù)據(jù)nmeas(t)經(jīng)由開關(guān)SW3作為串行數(shù)據(jù)被依次讀取,并輸出到控制器160。圖4A、4B是表示適用于本實施方式的數(shù)據(jù)驅(qū)動器的數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換電路(DAC)及 模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換電路(ADC)的輸入輸出特性的附圖。圖4A是表示適用于本實施方式的DAC 的輸入輸出特性的附圖,圖4B是表示適用于本實施方式的ADC的輸入輸出特性的附圖。在 這里,表示出數(shù)字信號的輸入輸出比特數(shù)為10比特的情況下的、數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換電路及模 擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換電路的輸入輸出特性的一個例子。
DAC/ADC電路144如圖3所示,對應(yīng)于各列具有線性電壓數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換電路 (DAC 電壓施加電路)42( j)和模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換電路(ADC 電壓取得電路)43( j)。DAC42(j) 將由數(shù)據(jù)閂鎖電路143保持的數(shù)字數(shù)據(jù)構(gòu)成的圖像數(shù)據(jù)Din (j)轉(zhuǎn)換為模擬信號電壓Vpix 并輸出到輸出電路145。設(shè)置于各列的DAC42 (j)如圖4A所示,被輸出的模擬信號電壓相對于輸入的數(shù)字 數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)換特性(輸入輸出特性)具有線性。即,DAC42(j)例如如圖4A所示,將10比特(即 IOM等級)的數(shù)字數(shù)據(jù)(0,1, - 1023)轉(zhuǎn)換為具有線性地設(shè)定的模擬信號電壓(VojV1,... V1023)。該模擬信號電壓(Vtl Vltl23)設(shè)定在從后述模擬電源147供給的電源電壓DVSS VEE的范圍內(nèi)。另外,DVSS>VEE。例如,以輸入的數(shù)字數(shù)據(jù)的值為“0” (0等級)時被轉(zhuǎn)換 的模擬信號電壓值Vtl成為電源電壓DVSS的方式進行設(shè)定,數(shù)字數(shù)據(jù)的值為“1023” (1023 等級最大等級)時被轉(zhuǎn)換的模擬信號電壓值Vltl23比電源電壓VEE高并且成為該電源電壓 VEE附近的電壓值的方式進行設(shè)定。另外,ADC43(j)將由從數(shù)據(jù)線Ld(j)讀取的模擬信號電壓構(gòu)成的檢測電壓 Vmeas (t)轉(zhuǎn)換為由數(shù)字數(shù)據(jù)構(gòu)成的檢測數(shù)據(jù)nmeas (t)并送出到數(shù)據(jù)閂鎖41 (j)。在這里,設(shè) 置于各列的ADC43(j)如圖4B所示,被輸出的數(shù)字數(shù)據(jù)相對于被輸入的模擬信號電壓的轉(zhuǎn) 換特性(輸入輸出特性)具有線性。另外,ADC43(j)的電壓轉(zhuǎn)換時的數(shù)字數(shù)據(jù)的比特幅度 設(shè)定為與上述DAC42(j)相同。即,ADC43(j)的最小單位比特(1LSB 模擬分辨率)所對應(yīng) 的電壓幅度設(shè)定得與DAC42 (j)相同。ADC43 (j)例如如圖4B所示,將設(shè)定在電源電壓DVSS VEE的范圍內(nèi)的模擬信號 電壓(VojV1, -V1023)轉(zhuǎn)換為設(shè)定為具有線性的10比特(10M等級)的數(shù)字數(shù)據(jù)(0,1,... 1023)。以ADC43(j)例如在輸入的模擬信號電壓的電壓值為VQ( = DVSS)時將數(shù)字數(shù)據(jù)的 值轉(zhuǎn)換為“0”(0等級)的方式設(shè)定,以在模擬信號電壓的電壓值比電源電壓VEE高并且為 作為該電源電壓VEE附近的電壓值的模擬信號電壓Vltl23時轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號值“1023”(1023 等級最大等級)的方式設(shè)定。另外,在本實施方式中,包括移位寄存器電路141、數(shù)據(jù)寄存器電路142及數(shù)據(jù)閂 鎖電路143的內(nèi)部電路140A構(gòu)成低耐壓電路,包括DAC/ADC電路144及后述輸出電路145 的內(nèi)部電路140B構(gòu)成高耐壓電路。因此,在數(shù)據(jù)閂鎖電路143(開關(guān)SW4(j))與DAC/ADC 電路144的DAC42(j)之間,作為從低耐壓的內(nèi)部電路140A向著高耐壓的內(nèi)部電路140B的 電壓調(diào)整電路,設(shè)置有電平移位器LSI (j)。另外,在DAC/ADC電路144的ADC43(j)與數(shù)據(jù) 閂鎖電路143(開關(guān)SW5(j))之間,作為從高耐壓的內(nèi)部電路140B向著低耐壓的內(nèi)部電路 140A的電壓調(diào)整電路,設(shè)置有電平移位器LS2(j)。輸出電路145如圖3所示,具有用于向與各列對應(yīng)的數(shù)據(jù)線Ld(j)輸出灰度信 號的緩沖器44(j)及開關(guān)SWl (j)(連接切換電路)、用于讀取數(shù)據(jù)線電壓Vd(檢測電壓 Vmeas (t))的開關(guān)SW2(j)及緩沖器45( j)。緩沖器44 (j)將通過DAC42 (j)對圖像數(shù)據(jù)Din (j)進行模擬轉(zhuǎn)換而生成的模擬信 號電壓Vpix(j)放大為規(guī)定的信號電平,生成灰度電壓Vdata (j)。開關(guān)SWl (j)根據(jù)從控制 器160供給的數(shù)據(jù)控制信號(切換控制信號Si),控制灰度電壓Vdata (j)向數(shù)據(jù)線Ld (j) 的施加。另外,開關(guān)SW2(j)根據(jù)從控制器160供給的數(shù)據(jù)控制信號(切換控制信號S2),控制數(shù)據(jù)線電壓Vd (檢測電壓Vmeas (t))的讀取。緩沖器45(j)將經(jīng)由開關(guān)SW2(j)讀取的 檢測電壓Vmeas (t)放大為規(guī)定的信號電平并送出至ADC43 (j)。邏輯電源146供給用于驅(qū)動含有數(shù)據(jù)驅(qū)動器140的移位寄存器電路141、數(shù)據(jù)寄存 器電路142及數(shù)據(jù)閂鎖電路143的內(nèi)部電路140A的、由邏輯電壓構(gòu)成的低電位側(cè)的電源電 壓LVSS及高電位側(cè)的電源電壓LVDD。模擬電源147供給用于驅(qū)動含有DAC/ADC電路144 的DAC42 (j)及ADC43 (j)、輸出電路145的緩沖器44 (j)、45 (j)的內(nèi)部電路140B的、由模擬 電壓構(gòu)成的高電位側(cè)的電源電壓DVSS及低電位側(cè)的電源電壓VEE。另外,在圖2、圖3所示的數(shù)據(jù)驅(qū)動器140中,為了圖示方便,表示如下結(jié)構(gòu),即,用 于控制各部的動作的控制信號僅輸入至對應(yīng)于第j列(在圖中相當于第1列)的數(shù)據(jù)線 Ld(J)設(shè)置的數(shù)據(jù)閂鎖41及開關(guān)SWl SW5。但是,在本實施方式中,顯而易見,這些控制 信號共通地輸入到各列的結(jié)構(gòu)中。圖5是表示適用于本實施方式的顯示裝置的控制器的功能的功能模塊圖。另外, 在圖5中,為了圖示方便,各功能模塊間的數(shù)據(jù)的流動全部以實線的箭頭表示。事實上,如 后面所述,對應(yīng)于控制器160的動作狀態(tài),任意的數(shù)據(jù)的流動都是有效的。控制器160至少控制上述選擇驅(qū)動器120及電源驅(qū)動器130、數(shù)據(jù)驅(qū)動器140、電 壓控制電路150的動作狀態(tài)。因此,控制器160生成用于執(zhí)行顯示面板110的規(guī)定的驅(qū)動 控制動作的選擇控制信號、電源控制信號、數(shù)據(jù)控制信號、及電壓控制信號,輸出到上述各 驅(qū)動器120、130、140及控制電路150。特別是,在本實施方式中,控制器160通過供給選擇控制信號及電源控制信號、數(shù) 據(jù)控制信號、電壓控制信號,在規(guī)定的定時使選擇驅(qū)動器120、電源驅(qū)動器130、數(shù)據(jù)驅(qū)動器 140及電壓控制電路150分別動作,并控制取得顯示面板110的各像素PIX的特性參數(shù)的動 作(特性參數(shù)取得動作)。另外,控制器160控制將圖像信息顯示于顯示面板110的動作 (顯示動作),上述圖像信息與根據(jù)各像素PIX的特性參數(shù)校正的圖像數(shù)據(jù)對應(yīng)。具體來說,控制器160在特性參數(shù)取得動作中,根據(jù)與經(jīng)由數(shù)據(jù)驅(qū)動器140檢測的 各像素PIX的特性變化相關(guān)聯(lián)的檢測數(shù)據(jù)(具體在下文中說明),取得各種校正數(shù)據(jù)。另外, 控制器160在顯示動作中,根據(jù)在特性參數(shù)取得動作中取得的校正數(shù)據(jù)校正從外部供給的 圖像數(shù)據(jù),作為校正圖像數(shù)據(jù)供給到數(shù)據(jù)驅(qū)動器140。用于本實施方式的控制器160的圖像數(shù)據(jù)校正電路具體來說例如圖5所示,大致 具有具有參照表(LUT) 161的電壓振幅設(shè)定功能電路162、乘法計算功能電路(圖像數(shù)據(jù) 校正電路)163、加法計算功能電路(圖像數(shù)據(jù)校正電路)164、存儲器(存儲電路)165、校正 數(shù)據(jù)取得功能電路166。電壓振幅設(shè)定功能電路162對由從外部供給的數(shù)字數(shù)據(jù)構(gòu)成的圖像數(shù)據(jù),通過參 照參照表161,轉(zhuǎn)換為與紅(R)、綠(G)、藍(B)各種顏色相對應(yīng)的電壓振幅。在這里,轉(zhuǎn)換后 的圖像數(shù)據(jù)的電壓振幅的最大值設(shè)定為從上述數(shù)據(jù)驅(qū)動器140的DAC42的輸入范圍的最大 值減去基于各像素的特性參數(shù)的校正量所得到的值以下。乘法計算功能電路163將基于與各像素PIX的特性變化相關(guān)聯(lián)的檢測數(shù)據(jù)取得的 電流放大率β的校正數(shù)據(jù)與圖像數(shù)據(jù)進行乘法計算。加法計算功能電路164將基于與各 像素PIX的特性變化相關(guān)聯(lián)的檢測數(shù)據(jù)而取得的驅(qū)動晶體管的閾值電壓Vth的校正數(shù)據(jù)與 圖像數(shù)據(jù)相加,作為校正圖像數(shù)據(jù)供給到數(shù)據(jù)驅(qū)動器140。
校正數(shù)據(jù)取得功能電路166基于與各像素PIX的特性變化相關(guān)聯(lián)的檢測數(shù)據(jù),取 得對電流放大率β及閾值電壓Vth的校正數(shù)據(jù)進行規(guī)定的參數(shù)。存儲器165將從上述數(shù)據(jù)驅(qū)動器140送出的各像素PIX的檢測數(shù)據(jù)與各像素PIX 對應(yīng)來存儲。然后,在加法計算功能電路164的加法計算處理時以及在校正數(shù)據(jù)取得功能 電路166的校正數(shù)據(jù)取得處理時,從存儲器165讀出檢測數(shù)據(jù)。另外,存儲器165將在校正 數(shù)據(jù)取得功能電路166中取得的校正數(shù)據(jù)對應(yīng)于各像素PIX進行存儲。然后,在上述乘法 計算功能電路163的乘法計算處理時以及在加法計算功能電路164的加法計算處理時,從 存儲器165讀出校正數(shù)據(jù)。另外,在圖5所示的控制器160中,校正數(shù)據(jù)取得功能電路166也可以是設(shè)置于控 制器160的外部的運算裝置(例如個人計算機、CPU)。另外,在圖5所示的控制器160中, 如果檢測數(shù)據(jù)和校正數(shù)據(jù)與各像素PIX相關(guān)聯(lián)地被存儲,則存儲器165可以是單獨的存儲 器。另外,該存儲器165也可以是設(shè)置于控制器160的外部的存儲裝置。供給到控制器160的圖像數(shù)據(jù)例如從映像信號提取亮度等級信號成分,按照顯示 面板110的1行的量,形成為串行數(shù)據(jù),該串行數(shù)據(jù)通過將該亮度等級信號成分轉(zhuǎn)換為數(shù)字 信號而得到。(像素)接下來,對排列于本實施方式的顯示面板的像素及電壓控制電路進行具體說明。 圖6是表示適用于本實施方式的顯示面板的像素(像素驅(qū)動電路及發(fā)光元件)及電壓控制 電路的例子的電路結(jié)構(gòu)圖。適用于本實施方式的顯示面板110的像素PIX如圖6所示,配置在連接于選擇驅(qū) 動器120的選擇線Ls與連接于數(shù)據(jù)驅(qū)動器140的數(shù)據(jù)線Ld的交點附近。各像素PIX具有 作為電流驅(qū)動型的發(fā)光元件的有機EL元件OEL和生成用于對該有機EL元件OEL進行發(fā)光 驅(qū)動的電流的像素驅(qū)動電路DC。圖6所示的像素驅(qū)動電路DC具有晶體管Trll Trl3和電容器(電容元件)Cs。 晶體管(第2晶體管)Trll的柵極端子連接于選擇線Ls,漏極端子和源極端子的一方連接 于電源線La,漏極端子和源極端子的另一方連接于接點mi。晶體管Trl2的柵極端子連接 于選擇線Ls,漏極端子和源極端子的一方連接于數(shù)據(jù)線Ld,漏極端子和源極端子的另一方 連接于接點附2。晶體管(驅(qū)動控制元件,第1晶體管)Trl3的柵極端子連接于接點mi, 漏極端子和源極端子的一方連接于電源線La,漏極端子和源極端子的另一方連接于接點 N120電容器(電容元件)Cs連接于晶體管Trl3的柵極端子(接點mi)及漏極端子和源 極端子的另一方(接點之間。電容器Cs既可以是形成于晶體管Trl3的柵極 源極 端子間的寄生電容,也可以是在該寄生電容之外還在接點Nll及接點N12之間并聯(lián)連接單 獨的電容元件所得到的結(jié)構(gòu)。另外,有機EL元件OEL的陽極(陽極電極)連接于像素驅(qū)動電路DC的接點附2, 陰極(陰極電極)連接于共通電極Ec。共通電極Ec如圖6所示,連接于電壓控制電路150, 對應(yīng)于像素PIX的動作狀態(tài)設(shè)定并施加規(guī)定的電壓值的電壓ELVSS。另外,在圖6所示的像 素PIX中,除了電容器Cs以外,在有機EL元件OEL上還存在像素電容Cel,另外,在數(shù)據(jù)線 Ld上存在布線寄生電容Cp。電壓控制電路150例如具有電壓生成用的D/A轉(zhuǎn)換器(圖中,以「DAC(C)」表示)151和連接于D/A轉(zhuǎn)換器151的輸出端子的跟隨放大器152。D/A轉(zhuǎn)換器151在后述特 性參數(shù)取得動作時,將從控制器160供給的、基于各像素PIX的特性參數(shù)的數(shù)字值(檢測數(shù) 據(jù)n_s(t。))轉(zhuǎn)換為模擬信號電壓。跟隨放大器152作為與D/A轉(zhuǎn)換器151的輸出相對應(yīng) 的極性反轉(zhuǎn)電路及緩沖器電路而工作。由此,從D/A轉(zhuǎn)換器151輸出的模擬信號電壓,通過 跟隨放大器152轉(zhuǎn)換為電壓ELVSS,電壓ELVSS的絕對值具有與從D/A轉(zhuǎn)換器151輸出的 模擬信號電壓相當?shù)闹?,并具有負極性的電壓電平,電壓ELVSS施加于與顯示面板110的各 像素PIX連接的共通電極Ec。另外,在顯示面板110的顯示動作(寫入動作及發(fā)光動作) 時,例如由接地電位GND構(gòu)成的電壓ELVSS經(jīng)由電壓控制電路150或者從省略圖示的定電 壓源直接施加于共通電極Ec。在這里,在本實施方式的像素PIX的顯示動作(寫入動作及發(fā)光動作)時,從上述 電源驅(qū)動器130施加于電源線La的電源電壓Vsa (ELVDD,DVSS)、施加于共通電極Ec的電壓 ELVSS、從模擬電源147供給到數(shù)據(jù)驅(qū)動器140的電源電壓VEE之間的關(guān)系例如以滿足如下 (1)式所示的條件的方式設(shè)定。此時,施加于共通電極Ec的電壓ELVSS例如設(shè)定為接地電 位 GND。數(shù)學(xué)式1
dvss<elvdd“dvss = elvss (=gnd) - ■ ■ ■ (1)
vee<elvss另外,在(1)式中,施加于共通電極Ec的電壓ELVSS與電源電壓DVSS同電位,例 如設(shè)定為接地電位GND,但是不僅限定于此,也可以電壓ELVSS與電源電壓DVSS相比具有低 電位,電源電壓DVSS和電壓ELVSS的電位差設(shè)定為如下電壓值,該電壓值成為比有機EL元 件OEL開始發(fā)光的發(fā)光閾值電壓小的值。另外,在圖6所示的像素PIX中,對于晶體管Trll Trl3,可以使用例如具有相同 的溝道類型的薄膜晶體管(TFT)。晶體管Trll Trl3可以是非晶硅薄膜晶體管,也可以是 多晶硅薄膜晶體管。特別是如圖6所示,在作為晶體管Trll Trl3使用η溝道類型的薄膜晶體管并且 作為晶體管Trll Trl3使用非晶硅薄膜晶體管的情況下,使用已經(jīng)確立了的非晶硅制造 技術(shù),與多晶型或單晶型的硅薄膜晶體管相比,能夠以簡單的制造工藝實現(xiàn)動作特性(電 子移動性等)比較均勻穩(wěn)定的晶體管。另外,上述像素PIX采用了如下電路結(jié)構(gòu)例,該電路結(jié)構(gòu)例作為像素驅(qū)動電路DC 具有3個晶體管Trll Trl3,作為發(fā)光元件使用有機EL元件0EL。但本發(fā)明不僅限定于 該例子,也可以具有其它的電路結(jié)構(gòu),該電路結(jié)構(gòu)具有3個以上的晶體管。另外,被像素驅(qū) 動電路DC驅(qū)動的發(fā)光元件只要是電流驅(qū)動型的發(fā)光元件即可,例如也可以是發(fā)光二極管 等其它的發(fā)光元件。(顯示裝置的驅(qū)動控制方法)接下來,對本實施方式的顯示裝置100的驅(qū)動控制方法進行說明。本實施方式的 顯示裝置100的驅(qū)動控制動作具有特性參數(shù)取得動作和顯示動作。在特性參數(shù)取得動作中,顯示裝置100取得用于補償排列于顯示面板110的各像素PIX的電氣特性的變動的參數(shù)。更具體來說,顯示裝置100執(zhí)行取得如下參數(shù)的動作,即, 用于校正設(shè)置于各像素PIX的像素驅(qū)動電路DC的晶體管(驅(qū)動晶體管)Trl3的閾值電壓 Vth的變動的參數(shù),以及用于校正各像素PIX的電流放大率β的不均勻的參數(shù)。在顯示動作中,顯示裝置100根據(jù)通過上述特性參數(shù)取得動作按照像素PIX取得 的校正參數(shù),生成對由數(shù)字數(shù)據(jù)構(gòu)成的圖像數(shù)據(jù)進行了校正的校正圖像數(shù)據(jù),生成該校正 圖像數(shù)據(jù)所對應(yīng)的灰度電壓Vdata并寫入各像素PIX (寫入動作)。由此,各像素PIX (有 機EL元件0EL)以補償各像素PIX的電氣特性(晶體管Trl3的閾值電壓Vth、電流放大率 β)的變動或不均勻的、與圖像數(shù)據(jù)對應(yīng)的本來的亮度等級發(fā)光(發(fā)光動作)。以下,對各動作進行具體說明。(特性參數(shù)取得動作)在這里,首先對本實施方式的特性參數(shù)取得動作中使用的特有的方法進行說明。 之后,對使用該方法取得用于補償各像素Pix的閾值電壓Vth及電流放大率β的特性參數(shù) 的動作進行說明。首先,對在具有圖6所示的像素驅(qū)動電路DC的像素PIX上從數(shù)據(jù)驅(qū)動器140經(jīng)由 數(shù)據(jù)線Ld寫入圖像數(shù)據(jù)(施加與圖像數(shù)據(jù)對應(yīng)的灰度電壓Vdata)的情況下的、像素驅(qū)動 電路DC的電壓-電流(V-I)特性進行說明。圖7是適用了本實施方式的像素驅(qū)動電路的像素的圖像數(shù)據(jù)的寫入時的動作狀 態(tài)圖。另外,圖8是表示適用了本實施方式的像素驅(qū)動電路的像素的寫入動作時的電壓-電 流特性的附圖。在向本實施方式的像素PIX寫入圖像數(shù)據(jù)的動作中,如圖7所示,選擇驅(qū)動器120 經(jīng)由選擇線Ls施加選擇電平(高電平Vgh)的選擇信號kel,從而將像素PIX設(shè)定為選擇 狀態(tài)。此時,像素驅(qū)動電路DC的晶體管Trll、Trl2進行導(dǎo)通動作,從而晶體管Trl3的柵 極·漏極端子間被短路,設(shè)定為二極管連接狀態(tài)。在該選擇狀態(tài)下,在電源線La上從電源 驅(qū)動器130施加有非發(fā)光電平的電源電壓Vsa ( = DVSS 例如接地電位GND)。另外,在連接 于有機EL元件OEL的陰極的共通電極Ec上,從電壓控制電路150或者省略圖示的定電壓 源,施加有設(shè)定為與電源電壓DVSS同電位的、例如設(shè)定為接地電位GND的電壓ELVSS。另 夕卜,電壓ELVSS不僅限于與電源電壓DVSS同電位的電壓,也可以設(shè)定為電壓ELVSS具有比 電源電壓DVSS低的電位且電源電壓DVSS和電壓ELVSS的電位差成為比有機EL元件OEL 開始發(fā)光的發(fā)光閾值電壓小的值的電壓值。然后,在該狀態(tài)下,對數(shù)據(jù)線Ld從數(shù)據(jù)驅(qū)動器140施加與圖像數(shù)據(jù)對應(yīng)的電壓值 的灰度電壓Vdata。在這里,灰度電壓Vdata設(shè)定為比從電源驅(qū)動器130施加于電源線La 的電源電壓DVSS低的電壓值。S卩,在寫入動作時,在(1)式所示的例子中,電源電壓DVSS設(shè) 定為與施加于共通電極Ec的電壓ELVSS相同的電位(接地電位GND),所以,灰度電壓Vdata 設(shè)定為負極性的電壓電平。其結(jié)果是,如圖7所示,從電源驅(qū)動器130經(jīng)由電源線La、像素PIX (像素驅(qū)動電路 DC)的晶體管Trl3、Trl2,在數(shù)據(jù)線Ld方向上流過與灰度電壓Vdata對應(yīng)的漏電流Id。此 時,在有機EL元件OEL上施加有比發(fā)光閾值電壓低的電壓或者逆偏壓,所以不進行發(fā)光動作。該情況下的像素驅(qū)動電路DC的電路特性如下所述。在像素驅(qū)動電路DC中,設(shè)作為驅(qū)動晶體管的晶體管Trl3的閾值電壓Vth不產(chǎn)生變動并且像素驅(qū)動電路DC的電流放大 率β沒有不均勻的初始狀態(tài)的、晶體管Trl3的閾值電壓為Vthci,設(shè)電流放大率作為β,此 時,圖7所示的漏電流Id的電流值可以以如下的⑵式表示。Id = β (V0-Vdata-Vth0)2- (2)在這里,像素驅(qū)動電路DC的設(shè)計值或標準值的電流放大率β、以及晶體管Trl3的 初始閾值電壓Vthci都為常數(shù)。另外,Vtl為從電源驅(qū)動器130施加的非發(fā)光電平的電源電壓 Vsa( = DVSS),電壓(Vci-Vdata)與施加于串聯(lián)連接晶體管Trl3及Trl2的各電流路徑的電 路結(jié)構(gòu)上的電位差相當。此時的施加于像素驅(qū)動電路DC的電壓(Vci-Vdata)的值和像素驅(qū) 動電路DC中流動的漏電流Id的電流值的關(guān)系(V-I特性)如圖8中的特性線SPl所示。設(shè)晶體管Trl3的元件特性由于老化而產(chǎn)生變動(閾值電壓移位;閾值電壓Vth的 變動量為Δ Vth)后的閾值電壓為Vth ( = Vth0+ Δ Vth),此時,像素驅(qū)動電路DC的電路特 性如以下的⑶式那樣變化。在這里,Vth為常數(shù)。此時的像素驅(qū)動電路DC的電壓-電流 (V-I)特性如圖8中的特性線SP3所示。Id = β (V0-Vdata-Vth)2- (3)另外,在( 式所示的初始狀態(tài)下,在設(shè)電流放大率β產(chǎn)生不均勻的情況下的電 流放大率為β ‘時,像素驅(qū)動電路DC的電路特性可以以(4)式表示。Id = β ‘ (V0-Vdata-Vth0)2- (4)在這里,β ‘為常數(shù)。此時的像素驅(qū)動電路DC的電壓-電流(V-I)特性如圖8中 的特性線SP2所示。另外,圖8中所示的特性線SP2表示(4)式的電流放大率β ’比(2) 式所示的電流放大率β小的情況(β ‘ < β)的像素驅(qū)動電路DC的電壓-電流(V-I)特性。在( 式及(4)式中,在以設(shè)計值或標準值的電流放大率為β typ的情況下,設(shè)用 于以電流放大率β ‘成為β typ的值的方式進行校正的參數(shù)(校正數(shù)據(jù))為Δ β。此時, 以電流放大率β ‘和校正數(shù)據(jù)Δ β的乘積值成為設(shè)計值的電流放大率β typ的方式(即, 以β ‘ χ λ β = β typ的方式),對各個像素驅(qū)動電路DC賦予校正數(shù)據(jù)Δ β。然后,在本實施方式中,顯示裝置100根據(jù)上述像素驅(qū)動電路DC的電壓-電流特 性((2) (4)式及圖8),以以下的特有的方法取得用于校正晶體管Trl3的閾值電壓Vth 及電流放大率β'的特性參數(shù)。另外,在本說明書中,將以下所示的方法簡稱為“自動調(diào)零 法”。在適用于本實施方式的特性參數(shù)取得動作的方法(自動調(diào)零法)中,對于具有圖 6所示像素驅(qū)動電路DC的像素ΡΙΧ,在選擇狀態(tài)下,上述數(shù)據(jù)驅(qū)動器140使用數(shù)據(jù)驅(qū)動器功 能在數(shù)據(jù)線Ld上施加檢測用電壓Vdac。之后,使數(shù)據(jù)線Ld成為高阻抗(HZ)狀態(tài),使數(shù)據(jù) 線Ld的電位自然衰減。然后,數(shù)據(jù)驅(qū)動器140使用電壓檢測功能將進行了一定時間(衰減 時間t)的自然衰減后的數(shù)據(jù)線電壓Vd作為檢測電壓Vmeas (t)取入,轉(zhuǎn)換為由數(shù)字數(shù)據(jù)構(gòu) 成的檢測數(shù)據(jù)nmeas(t)。在這里,在本實施方式中,數(shù)據(jù)驅(qū)動器140根據(jù)來自控制器160的 數(shù)據(jù)控制信號,將該衰減時間t設(shè)定為不同的時間(定時、、、、、、、),多次執(zhí)行檢測電壓 Vmeas (t)的取入以及向檢測數(shù)據(jù)nmeas(t)的轉(zhuǎn)換。首先,對適用于本實施方式的特性參數(shù)取得動作的自動調(diào)零法的基本的想法進行 說明。圖9是表示適用于本實施方式的特性參數(shù)取得動作的方法(自動調(diào)零法)的數(shù)據(jù)線電壓的變化的附圖(過渡曲線)。在使用自動調(diào)零法的特性參數(shù)取得動作中,數(shù)據(jù)驅(qū)動器140首先在將像素PIX設(shè) 定為選擇狀態(tài)的狀態(tài)下,在像素驅(qū)動電路DC的晶體管Trl3的柵極 源極端子間(接點Nll 和N12間),以施加超過該晶體管Trl3的閾值電壓的電壓的方式,對數(shù)據(jù)線Ld施加檢測用 電壓Vdac0此時,在向像素PIX進行寫入動作時,電源驅(qū)動器130對電源線La施加非發(fā)光 電平的電源電壓DVSS( = Vtl ;接地電位GND),在晶體管Trl3的柵極 源極端子間施加 (V0-Vdac)的電位差。因此,檢測用電壓Vdac設(shè)定為滿足Vci-V(Iac)Vth的條件的電壓。此 外,檢測用電壓Vdac設(shè)定為比電源電壓DVSS低的負極性的電壓電平。在這里,施加在連接 于有機EL元件OEL的陰極的共通電極Ec上的電壓ELVSS設(shè)定為如下電壓值,即,該有機EL 元件OEL不通過其與施加在晶體管Trl3的源極端子上的檢測用電壓Vdac之間產(chǎn)生的電位 差而進行發(fā)光動作的電壓值。更具體來說,電壓ELVSS設(shè)定為與有機EL元件OEL進行發(fā)光 動作的程度的正偏壓和伴隨著對后述校正動作產(chǎn)生影響的程度的電流漏泄的逆偏壓中的 任意一個都不相符的電壓值(或電壓范圍)。另外,對于該電壓ELVSS的設(shè)定在后面進行說 明。其結(jié)果是,從電源驅(qū)動器130經(jīng)由電源線La、晶體管Trl3的漏極·源極端子間、 Trl2的漏極·源極端子間,在數(shù)據(jù)線Ld方向上流過與檢測用電壓Vdac對應(yīng)的漏電流Id。 此時,連接于晶體管Trl3的柵極 源極端子間(接點Nll和W2間)的電容器Cs被充電 到與檢測用電壓Vdac對應(yīng)的電壓。然后,數(shù)據(jù)驅(qū)動器140將數(shù)據(jù)線Ld的數(shù)據(jù)輸入側(cè)(數(shù)據(jù)驅(qū)動器140側(cè))設(shè)定為高 阻抗(HZ)狀態(tài)。在剛將數(shù)據(jù)線Ld設(shè)定為高阻抗狀態(tài)之后,將對電容器Cs進行充電的電壓 保持為與檢測用電壓Vdac對應(yīng)的電壓。因此,晶體管Trl3的柵極·源極端子間電壓Vgs 保持為對電容器Cs充電的電壓。其結(jié)果是,在剛將數(shù)據(jù)線Ld設(shè)定為高阻抗狀態(tài)之后,晶體管Trl3維持導(dǎo)通狀態(tài), 晶體管Trl3的漏極·源極端子間流過漏電流Id。在這里,晶體管Trl3的源極端子(接點 N12)的電位隨著時間的經(jīng)過而以接近漏極端子側(cè)的電位的方式漸漸上升,在晶體管Trl3 的漏極·源極端子間流過的漏電流Id的電流值減少。伴隨著該狀況,蓄積于電容器Cs的電荷的一部分被放電,從而,電容器Cs的兩端 間電壓(晶體管Trl3的柵極·源極端子間電壓Vgs)漸漸降低。其結(jié)果是,數(shù)據(jù)線電壓Vd 如圖9所示,隨著時間的經(jīng)過而從檢測用電壓Vdac以收斂到從晶體管Trl3的漏極端子側(cè) 的電壓(電源線La的電源電壓DVSS ( = V0))減去晶體管Tr 13的閾值電壓Vth的量的電 壓(Vci-Vth)的方式漸漸上升(自然衰減)。在這樣的自然衰減中,最終,當晶體管Trl3的漏極·源極端子間不流過漏電流Id 時,蓄積于電容器Cs的電荷的放電停止。此時的晶體管Trl3的柵極電壓(柵極·源極端 子間電壓Vgs)成為晶體管Trl3的閾值電壓Vth。在像素驅(qū)動電路DC的晶體管Trl3的漏極·源極端子間不流過漏電流Id的狀態(tài) 下,晶體管Trl2的漏極·源極端子間電壓大致成為0V,所以,在自然衰減結(jié)束時,數(shù)據(jù)線電 壓Vd與晶體管Tr 13的閾值電壓Vth大致相等。另外,在圖9所示的過渡曲線中,數(shù)據(jù)線電壓Vd隨著時間(衰減時間t)的經(jīng)過而收斂于晶體管Trl3的閾值電壓Vth(= IV0-Vth八=0力。在這里,數(shù)據(jù)線電壓Vd隨著 衰減時間t的經(jīng)過而無限地逐漸接近閾值電壓Vth。但是,即使將衰減時間t設(shè)定得足夠 長,理論上,也不能夠與閾值電壓Vth完全相等。這樣的過渡曲線(自然衰減導(dǎo)致的數(shù)據(jù)線 電壓Vd的動作)可以以如下的(11)式表示。數(shù)學(xué)式2
權(quán)利要求
1.一種像素驅(qū)動裝置,驅(qū)動多個像素, 上述多個像素的各像素具備發(fā)光元件;以及像素驅(qū)動電路,具有電流路徑的一端與上述發(fā)光元件的一端連接而該電流路徑的另一 端被施加電源電壓的驅(qū)動控制元件;上述像素驅(qū)動裝置還具備校正數(shù)據(jù)取得功能電路,該校正數(shù)據(jù)取得功能電路基于在將 上述發(fā)光元件的另一端的電壓設(shè)定為設(shè)定電壓的狀態(tài)下的、與上述多個像素的各像素連接 的多條數(shù)據(jù)線的各數(shù)據(jù)線的電壓值,取得包含上述各像素的上述驅(qū)動控制元件的閾值電壓 在內(nèi)的特性參數(shù);上述設(shè)定電壓設(shè)定為基于上述各數(shù)據(jù)線在規(guī)定的定時的電壓值的電壓; 上述規(guī)定的定時是將上述發(fā)光元件的另一端設(shè)定為初始電壓并在上述各數(shù)據(jù)線上施 加第1檢測用電壓來使電流經(jīng)由該各數(shù)據(jù)線流過上述驅(qū)動控制元件的上述電流路徑后的 定時;上述初始電壓設(shè)定為與上述電源電壓相同的電壓、或電位比上述電源電壓低且與上述 電源電壓的電位差成為比上述發(fā)光元件的發(fā)光閾值電壓小的值的電壓。
2.如權(quán)利要求1記載的像素驅(qū)動裝置,其特征在于,具有多個電壓取得電路,取得上述多條數(shù)據(jù)線的各數(shù)據(jù)線的電壓值,來作為多個檢測電壓;以及電壓控制電路,設(shè)定上述各像素的上述發(fā)光元件的另一端的電壓;上述校正數(shù)據(jù)取得功能電路基于上述多個檢測電壓的電壓值,取得上述特性參數(shù)。
3.如權(quán)利要求2記載的像素驅(qū)動裝置,其特征在于,上述設(shè)定電壓具有與上述各數(shù)據(jù)線在上述規(guī)定的定時的電壓相同的極性,上述設(shè)定電 壓的絕對值設(shè)定為在上述規(guī)定的定時通過上述多個電壓取得電路取得的上述各數(shù)據(jù)線的 電壓值的絕對值的平均值、最大值或上述平均值與上述最大值之間的值中的某一個值。
4.如權(quán)利要求2記載的像素驅(qū)動裝置,其特征在于,該像素驅(qū)動裝置具有多個電壓施加電路,該多個電壓施加電路與上述多條數(shù)據(jù)線對應(yīng) 設(shè)置,輸出規(guī)定的電壓;各電壓施加電路在上述校正數(shù)據(jù)取得功能電路取得上述特性參數(shù)時,與上述各數(shù)據(jù)線 連接,在該各數(shù)據(jù)線上,施加使上述驅(qū)動控制元件的電流路徑的兩端間的電壓成為超過該 驅(qū)動控制元件的閾值的值的第2檢測用電壓;上述各電壓取得電路取得上述各數(shù)據(jù)線在上述各數(shù)據(jù)線與上述各電壓施加電路的連 接被斷開后的多個不同的定時的多個電壓值,來作為上述多個檢測電壓;上述校正數(shù)據(jù)取得功能電路基于上述多個檢測電壓的電壓值,取得包含上述各像素的 上述驅(qū)動控制元件的上述閾值電壓在內(nèi)的上述像素驅(qū)動電路的第1特性參數(shù)、以及與上述 像素驅(qū)動電路的電流放大率相關(guān)聯(lián)的第2特性參數(shù),來作為上述特性參數(shù)。
5.如權(quán)利要求4記載的像素驅(qū)動裝置,其特征在于,該像素驅(qū)動裝置具有連接切換電路,該連接切換電路進行上述各數(shù)據(jù)線與上述各電壓 施加電路的連接及斷開,通過斷開上述各數(shù)據(jù)線與上述各電壓施加電路的連接,從而將上 述各數(shù)據(jù)線設(shè)定為高阻抗狀態(tài);上述各電壓取得電路在上述連接切換電路將上述數(shù)據(jù)線設(shè)定為上述高阻抗狀態(tài)之后, 取得經(jīng)過了與上述多個不同的定時對應(yīng)的時間后的時刻的上述數(shù)據(jù)線的電壓,來作為上述 多個檢測電壓。
6.如權(quán)利要求4記載的像素驅(qū)動裝置,其特征在于,該像素驅(qū)動裝置具有圖像數(shù)據(jù)校正電路,該圖像數(shù)據(jù)校正電路生成基于上述第1特性 參數(shù)及第2特性參數(shù)對從外部供給的圖像數(shù)據(jù)進行了校正的校正圖像數(shù)據(jù);在通過上述多個像素進行與上述圖像數(shù)據(jù)相應(yīng)的圖像顯示時,上述各電壓施加電路輸 出與通過上述圖像數(shù)據(jù)校正電路生成的上述校正圖像數(shù)據(jù)相應(yīng)的灰度電壓。
7.一種發(fā)光裝置,具備發(fā)光面板,具有多個像素及多條數(shù)據(jù)線,各數(shù)據(jù)線與各像素連接;以及 校正數(shù)據(jù)取得功能電路; 上述各像素具備 發(fā)光元件,一端與接點連接;以及,像素驅(qū)動電路,具有電流路徑的一端與上述接點連接而該電流路徑的另一端被施加電 源電壓的驅(qū)動控制元件;上述校正數(shù)據(jù)取得功能電路基于將上述發(fā)光元件的另一端的電壓設(shè)定為設(shè)定電壓的 狀態(tài)下的上述各數(shù)據(jù)線的電壓值,取得包含上述各像素的上述驅(qū)動控制元件的閾值電壓在 內(nèi)的特性參數(shù);上述設(shè)定電壓設(shè)定為基于上述各數(shù)據(jù)線在規(guī)定的定時的電壓值的電壓; 上述規(guī)定的定時是將上述發(fā)光元件的另一端設(shè)定為初始電壓并在上述各數(shù)據(jù)線上施 加第1檢測用電壓來使電流經(jīng)由該各數(shù)據(jù)線流過上述驅(qū)動控制元件的上述電流路徑后的 定時;上述初始電壓設(shè)定為與上述電源電壓相同的電壓、或電位比上述電源電壓低且與上述 電源電壓的電位差成為比上述發(fā)光元件的發(fā)光閾值電壓小的值的電壓。
8.如權(quán)利要求7記載的發(fā)光裝置,其特征在于,具有多個電壓取得電路,取得上述多條數(shù)據(jù)線的各數(shù)據(jù)線的電壓值,來作為多個檢測電壓; 以及,電壓控制電路,設(shè)定上述各像素的上述發(fā)光元件的另一端的電壓;上述校正數(shù)據(jù)取得功能電路基于上述多個檢測電壓的電壓值,取得上述特性參數(shù)。
9.如權(quán)利要求8記載的發(fā)光裝置,其特征在于,上述設(shè)定電壓具有與上述各數(shù)據(jù)線在上述規(guī)定的定時的電壓相同的極性,上述設(shè)定電 壓的絕對值設(shè)定為在上述規(guī)定的定時通過上述多個電壓取得電路取得的上述各數(shù)據(jù)線的 電壓值的絕對值的平均值、最大值及上述平均值與上述最大值之間的值中的某一個值。
10.如權(quán)利要求8記載的發(fā)光裝置,其特征在于,該發(fā)光裝置具有多個電壓施加電路,該多個電壓施加電路與上述多條數(shù)據(jù)線對應(yīng)設(shè) 置,輸出規(guī)定的電壓;各電壓施加電路在上述校正數(shù)據(jù)取得功能電路取得上述特性參數(shù)時,與上述各數(shù)據(jù)線 連接,在該各數(shù)據(jù)線上,施加使上述驅(qū)動控制元件的電流路徑的兩端間的電壓值成為超過 該驅(qū)動控制元件的閾值的值的第2檢測用電壓;上述各電壓取得電路取得上述各數(shù)據(jù)線在上述各數(shù)據(jù)線與上述各電壓施加電路的連 接被斷開后的多個不同的定時的多個電壓值,來作為上述多個檢測電壓;上述校正數(shù)據(jù)取得功能電路基于上述多個檢測電壓的電壓值,取得包含上述各像素的 上述驅(qū)動控制元件的上述閾值電壓在內(nèi)的上述像素驅(qū)動電路的第1特性參數(shù)、以及與上述 像素驅(qū)動電路的電流放大率相關(guān)聯(lián)的第2特性參數(shù),來作為上述特性參數(shù)。
11.如權(quán)利要求10記載的發(fā)光裝置,其特征在于, 該發(fā)光裝置具備選擇驅(qū)動器;上述發(fā)光面板具有沿行方向配置的多條掃描線; 上述多條數(shù)據(jù)線沿列方向配置;上述多個像素的各像素配置在上述多條掃描線與上述多條數(shù)據(jù)線的各交點附近; 上述選擇驅(qū)動器在各掃描線上依次施加選擇電平的選擇信號,來將各行的上述各像素 設(shè)定為選擇狀態(tài);上述各電壓取得電路經(jīng)由上述各數(shù)據(jù)線,取得與被設(shè)定為上述選擇狀態(tài)的行的上述各 像素的上述接點的電壓對應(yīng)的電壓值。
12.如權(quán)利要求11記載的發(fā)光裝置,其特征在于, 上述各像素的上述像素驅(qū)動電路至少具備第1晶體管,具有一端與上述接點連接而另一端被施加上述電源電壓的第1電流路徑;以及第2晶體管,控制端子與上述掃描線連接,具有一端與上述第1晶體管的控制端子連接 而另一端與上述第1晶體管的上述第1電流路徑的另一端連接的第2電流路徑; 上述驅(qū)動控制元件是上述第1晶體管;上述各像素在上述選擇狀態(tài)下,上述第2晶體管的上述第2電流路徑導(dǎo)通,上述第1晶 體管的上述第1電流路徑的另一端側(cè)與上述控制端子連接,在上述接點,施加基于從上述 各電壓施加電路施加的上述第1電壓的上述規(guī)定的電壓。
13.如權(quán)利要求10記載的發(fā)光裝置,其特征在于,該發(fā)光裝置具有連接切換電路,該連接切換電路進行上述各數(shù)據(jù)線與上述各電壓施加 電路的連接及斷開,通過斷開上述各數(shù)據(jù)線與上述各電壓施加電路的連接,將上述各數(shù)據(jù) 線設(shè)定為高阻抗狀態(tài);上述各電壓取得電路在上述連接切換電路將上述各數(shù)據(jù)線設(shè)定為上述高阻抗狀態(tài)之 后,取得與經(jīng)過了上述多個不同的定時對應(yīng)的時間后的時刻的上述各數(shù)據(jù)線的多個電壓, 來作為上述多個檢測電壓。
14.如權(quán)利要求10記載的發(fā)光裝置,其特征在于,該發(fā)光裝置具有圖像數(shù)據(jù)校正電路,該圖像數(shù)據(jù)校正電路生成基于上述第1特性參數(shù) 及第2特性參數(shù)對從外部供給的圖像數(shù)據(jù)進行了校正的校正圖像數(shù)據(jù);在上述發(fā)光面板上通過上述多個像素進行與上述圖像數(shù)據(jù)相應(yīng)的圖像顯示時,上述各 電壓施加電路輸出與通過上述圖像數(shù)據(jù)校正電路生成的上述校正圖像數(shù)據(jù)相應(yīng)的灰度電壓。
15.一種電子設(shè)備,具備 電子設(shè)備主體部;以及發(fā)光裝置,被從上述電子設(shè)備主體部供給圖像數(shù)據(jù),并與該圖像數(shù)據(jù)相應(yīng)地被驅(qū)動; 上述發(fā)光裝置具備發(fā)光面板,具有多個像素及多條數(shù)據(jù)線,各數(shù)據(jù)線與各像素連接;以及 校正數(shù)據(jù)取得功能電路; 上述各像素具有 發(fā)光元件;以及像素驅(qū)動電路,具有電流路徑的一端與上述發(fā)光元件的一端連接而該電流路徑的另一 端被施加電源電壓的驅(qū)動控制元件;上述校正數(shù)據(jù)取得功能電路基于將上述發(fā)光元件的另一端的電壓設(shè)定為設(shè)定電壓的 狀態(tài)下的上述各數(shù)據(jù)線的電壓值,取得包含上述各像素的上述驅(qū)動控制元件的閾值電壓在 內(nèi)的特性參數(shù);上述設(shè)定電壓設(shè)定為基于上述各數(shù)據(jù)線在規(guī)定的定時的電壓值的電壓; 上述規(guī)定的定時是將上述發(fā)光元件的另一端設(shè)定為初始電壓并在上述各數(shù)據(jù)線上施 加第1檢測用電壓來使電流經(jīng)由該各數(shù)據(jù)線流過上述驅(qū)動控制元件的上述電流路徑后的 定時;上述初始電壓設(shè)定為與上述電源電壓相同的電壓、或電位比上述電源電壓低且與上述 電源電壓的電位差成為比上述發(fā)光元件的發(fā)光閾值電壓小的值的電壓。
16.一種發(fā)光裝置的驅(qū)動控制方法,其中,上述發(fā)光裝置具備發(fā)光面板,該發(fā)光面板具有多個像素及多條數(shù)據(jù)線,各數(shù)據(jù)線與各 像素連接;上述各像素具備發(fā)光元件和像素驅(qū)動電路,該像素驅(qū)動電路具有電流路徑的一端與上 述發(fā)光元件的一端連接而該電流路徑的另一端被施加電源電壓的驅(qū)動控制元件; 上述發(fā)光裝置的驅(qū)動控制方法包括設(shè)定電壓取得步驟,基于將上述各像素的上述發(fā)光元件的另一端的電壓設(shè)定為初始電 壓并在上述各數(shù)據(jù)線上施加第1檢測用電壓來使電流經(jīng)由該各數(shù)據(jù)線流過上述驅(qū)動控制 元件的上述電流路徑后的、上述各數(shù)據(jù)線在規(guī)定的定時的電壓值,取得設(shè)定電壓的電壓值, 上述初始電壓設(shè)定為與上述電源電壓相同的電壓、或電位比上述電源電壓低且與上述電源 電壓的電位差成為比上述發(fā)光元件的發(fā)光閾值電壓小的值的電壓;以及校正數(shù)據(jù)取得步驟,基于將上述各像素的上述發(fā)光元件的另一端的電壓設(shè)定為上述設(shè) 定電壓的狀態(tài)下的上述各數(shù)據(jù)線的電壓值,取得包含上述各像素的上述驅(qū)動控制元件的閾 值電壓在內(nèi)的特性參數(shù)。
17.如權(quán)利要求16記載的發(fā)光裝置的驅(qū)動控制方法,其特征在于,上述設(shè)定電壓取得步驟包括電壓設(shè)定步驟,該電壓設(shè)定步驟將上述設(shè)定電壓設(shè)定為具 有與在上述規(guī)定的定時取得的上述各數(shù)據(jù)線的電壓值相同的極性,且其絕對值為上述各數(shù) 據(jù)線在上述規(guī)定的定時的電壓值的絕對值的平均值、最大值及上述平均值與上述最大值之 間的值中的某一個值。
18.如權(quán)利要求16記載的發(fā)光裝置的驅(qū)動控制方法,其特征在于, 上述校正數(shù)據(jù)取得步驟包括檢測電壓取得步驟,在將多個電壓施加電路的各電壓施加電路與上述各數(shù)據(jù)線連接,并通過該各電壓施加電路在上述各數(shù)據(jù)線上施加上述第2檢測用電壓之后,取得上述數(shù)據(jù) 線在經(jīng)過了與斷開上述數(shù)據(jù)線與上述電壓施加電路的連接后的多個不同的定時對應(yīng)的時 間后的時刻的多個電壓值,來作為上述多個檢測電壓;第1特性參數(shù)取得步驟,基于通過上述檢測電壓取得步驟取得的上述多個檢測電壓的 電壓值,取得包含上述各像素的上述驅(qū)動控制元件的上述閾值電壓在內(nèi)的上述像素驅(qū)動電 路的第1特性參數(shù),來作為上述特性參數(shù);以及第2特性參數(shù)取得步驟,基于通過上述檢測電壓取得步驟取得的上述多個檢測電壓的 電壓值,取得與上述像素驅(qū)動電路的電流放大率相關(guān)聯(lián)的第2特性參數(shù),來作為上述特性 參數(shù)。
19.如權(quán)利要求18記載的發(fā)光裝置的驅(qū)動控制方法,其特征在于,包括 圖像數(shù)據(jù)校正步驟,生成基于上述第1特征參數(shù)及第2特性參數(shù)對從外部供給的圖像 數(shù)據(jù)進行了校正的校正圖像數(shù)據(jù);以及校正圖像數(shù)據(jù)施加步驟,在上述發(fā)光面板上通過上述多個像素進行與上述圖像數(shù)據(jù) 相應(yīng)的圖像顯示時,將與上述圖像數(shù)據(jù)校正步驟中生成的上述校正圖像數(shù)據(jù)相應(yīng)的灰度電 壓,施加在上述各數(shù)據(jù)線上。
全文摘要
本發(fā)明提供像素驅(qū)動裝置、發(fā)光裝置及其驅(qū)動控制方法以及電子設(shè)備。在像素驅(qū)動裝置中多個像素分別具有發(fā)光元件和具有驅(qū)動控制元件的像素驅(qū)動電路;在控制器內(nèi)具有校正數(shù)據(jù)取得功能電路,基于將發(fā)光元件的另一端的電壓設(shè)定為設(shè)定電壓的狀態(tài)下的多條數(shù)據(jù)線各自的電壓值取得包含各像素的驅(qū)動控制元件的閾值電壓的特性參數(shù)。設(shè)定電壓設(shè)定為基于各數(shù)據(jù)線在規(guī)定的定時的電壓值的電壓,規(guī)定的定時是將發(fā)光元件的另一端設(shè)定為初始電壓并在各數(shù)據(jù)線上施加第1檢測用電壓而電流經(jīng)由各數(shù)據(jù)線流過驅(qū)動控制元件的電流路徑后的定時。初始電壓設(shè)定為與電源電壓相同的電壓或電位比上述電源電壓低且與電源電壓的電位差成為小于發(fā)光元件的發(fā)光閾值電壓的值的電壓。
文檔編號G09G3/32GK102110411SQ20101060996
公開日2011年6月29日 申請日期2010年12月28日 優(yōu)先權(quán)日2009年12月28日
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