專利名稱：有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件的驅(qū)動(dòng)電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件的驅(qū)動(dòng)電路，尤其涉及一種 改善有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件壽命的驅(qū)動(dòng)電路。
背景技術(shù)：
有機(jī)發(fā)光顯示器件(0LED)是主動(dòng)發(fā)光器件。相比現(xiàn)在的主流平板顯示技術(shù) 薄膜晶體管液晶顯示器(TFT-LCD) ， OLED具有高對(duì)比度，廣視角，低功耗，體積 更薄等優(yōu)點(diǎn)，是目前平板顯示技術(shù)中受到關(guān)注最多的技術(shù)之一。
0LED可以用被動(dòng)矩陣(PM)驅(qū)動(dòng)，也可以用主動(dòng)矩陣驅(qū)動(dòng)(AM)。相比PM 驅(qū)動(dòng)，AM驅(qū)動(dòng)具有顯示的信息容量較大，功耗較低，器件壽命長(zhǎng)，畫面對(duì)比度高 等優(yōu)點(diǎn)。而PM驅(qū)動(dòng)適用于低成本的、簡(jiǎn)單的顯示器件。
在玻璃基板上制作的用于細(xì)驅(qū)動(dòng)0LED的器件，目前有多種類型的器件被嘗 試，包括非晶硅(a-Si)薄膜晶體管(TFT)、微晶硅(u-Si)與低溫多晶硅(LTPS) TFT以及采用其他材料的TFT器件如氧化鋅TFT或者有機(jī)物材料TFT等。在商業(yè)化 生產(chǎn)的實(shí)踐中，a-Si是一種目前最廣泛應(yīng)用的可以大面積均勻且相對(duì)低成本成膜 的材料，a-Si TFT成為大尺寸產(chǎn)品有競(jìng)爭(zhēng)力的陣列基板器件。
TFT器件，包括a-Si、 u-Si與LTPSTFT，長(zhǎng)期工作在直流電壓偏置狀態(tài)下會(huì) 發(fā)生器件特性的漂移，其中尤以a-Si TFT最為嚴(yán)重。TFT特性衰減主要是由于驅(qū) 動(dòng)OLED器件的TFT柵極置于正向偏置，溝道有電流流過(guò)，引起電荷被俘獲在柵絕 緣層中，并且在溝道半導(dǎo)體層中產(chǎn)生缺陷態(tài)，使TFT閾值電壓發(fā)生漂移。如果不 采取某種措施處理這種漂移，發(fā)生特性漂移的器件驅(qū)動(dòng)OLED的電流下降，顯示器 件亮度降低，會(huì)導(dǎo)致器件過(guò)早失效。抑制TFT特性漂移是保證AM0LED畫質(zhì)，延長(zhǎng) 屈0LED壽命的重要手段。
為使像素顯示與輸入顯示數(shù)據(jù)信息對(duì)應(yīng)的亮度，需要對(duì)AMOLED像素進(jìn)行編 程。編程的方式有寫入電壓和寫入電流兩種方式，分別稱為電壓編程和電流編程。 電流編程采用恒定電流寫入的方式進(jìn)行，由于數(shù)據(jù)線和像素內(nèi)布線及器件存在寄
生的電阻電容參數(shù)，像素內(nèi)的OLED器件本身也存在較大的電容，因此電流編程所
需時(shí)間與編程的電流值有直接的關(guān)系。在亮度值較小的時(shí)候，由于電流較小，有 可能在訪問(wèn)一行像素的行掃描時(shí)間內(nèi)不能完成正確編程。也就是說(shuō)，電流編程需 要較多的時(shí)間。由于現(xiàn)實(shí)器件是通過(guò)掃描像素行完成顯示的，每一行的掃描時(shí)間 受到限制，因此必須解決電流編程速度較慢的問(wèn)題。
為抑制TFT，特別是a-Si TFT的特性衰減，已經(jīng)有多種方案被提出。
一種方法是通過(guò)像素電路設(shè)計(jì)來(lái)補(bǔ)償器件特性的漂移，如中國(guó)專利 CN1532789A， CN1949342A所公開(kāi)的技術(shù)。其中包括通過(guò)電流編程，在像素內(nèi)設(shè)定 合適的、反映了 TFT器件特性漂移因素的電壓偏置狀態(tài)抑制器件漂移的影響。這 種方法要增加像素的復(fù)雜度和器件數(shù)目，在認(rèn)OLED采用底部發(fā)光的情況下降低像 素的開(kāi)口率，同時(shí)，由于像素內(nèi)器件數(shù)目增加，制作中像素失效的可能性增大， 降低了顯示器件制作的良率。在實(shí)際的應(yīng)用中，像素電路需要外部系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)電路 配合產(chǎn)生一定時(shí)序的信號(hào)工作，因此往往會(huì)同時(shí)增加系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)電路的復(fù)雜性。
另一種抑制TFT特性漂移的方法是由像素區(qū)外的系統(tǒng)電路產(chǎn)生與像素中TFT 特性漂移程度對(duì)應(yīng)的驅(qū)動(dòng)信號(hào)，如中國(guó)專利CN1909042A， CN1977303A所公開(kāi)的技 術(shù)。其中像素電路以某種方式提供反饋給系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)電路，系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)電路根據(jù)反饋 信息調(diào)整確定輸出的驅(qū)動(dòng)信號(hào)。
圖1表示了一種現(xiàn)有技術(shù)的驅(qū)動(dòng)方法。通過(guò)混合驅(qū)動(dòng)電路向像素提供驅(qū)動(dòng)電 流，并采樣與驅(qū)動(dòng)電流相對(duì)應(yīng)的驅(qū)動(dòng)電壓。在顯示的時(shí)候結(jié)合輸入的顯示數(shù)據(jù)、 驅(qū)動(dòng)電流與采樣電壓來(lái)確定應(yīng)該采用的驅(qū)動(dòng)電壓值，對(duì)像素用電壓驅(qū)動(dòng)的方式進(jìn) 行驅(qū)動(dòng)。由于電流驅(qū)動(dòng)補(bǔ)償了像素中TFT特性漂移的影響，可以保證像素中OLED
的電流值。同時(shí)，由于通過(guò)采樣確定了對(duì)應(yīng)驅(qū)動(dòng)電流所需驅(qū)動(dòng)電壓數(shù)值，并采用 電壓驅(qū)動(dòng)代替電流驅(qū)動(dòng)，提高了對(duì)像素進(jìn)行編程的速度。
驅(qū)動(dòng)方法仍然需要采用電流編程的像素電路(盡管其實(shí)際驅(qū)動(dòng)使用的是電壓 編程)，像素電路不能最簡(jiǎn)化。在設(shè)定編程電壓信號(hào)的取樣過(guò)程中，采用的是電 流驅(qū)動(dòng)信號(hào)，采樣所需時(shí)間較長(zhǎng)，可能需要利用不同于正常顯示時(shí)編程的時(shí)序。 系統(tǒng)中編程與采樣都利用顯示區(qū)域的像素來(lái)實(shí)現(xiàn)，由于像素分布不同，反饋信息 會(huì)受到連線寄生電阻電容的影響，從而對(duì)相同的灰度可能由于采樣像素的不同得 到不同的采樣結(jié)果。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種改善有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件 壽命的驅(qū)動(dòng)電路，既保證顯示像素可以使用最簡(jiǎn)化的設(shè)計(jì)，又不會(huì)使行掃描電路變得 復(fù)雜。
本實(shí)用新型為解決上述技術(shù)問(wèn)題而采用的技術(shù)方案是提供一種有源矩陣有機(jī) 發(fā)光顯示器件驅(qū)動(dòng)電路，包括 驅(qū)動(dòng)電路； 顯示像素電路；
信號(hào)調(diào)整與校正電路，包括査詢表(LUX)，計(jì)數(shù)器，數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)，數(shù) 模轉(zhuǎn)換器(ADC)，驅(qū)動(dòng)與反饋控制器；
驅(qū)動(dòng)電路，輸出行掃描信號(hào)和顯示驅(qū)動(dòng)信號(hào)；
像素電路，包括檢測(cè)像素電路和顯示像素電路，所述檢測(cè)像素電路和所述信 號(hào)調(diào)整與校正電路相連；所述顯示像素電路和所述驅(qū)動(dòng)電路相連；
其中，在校正使能時(shí)，所述信號(hào)調(diào)整與校正電路根據(jù)電壓反饋控制產(chǎn)生和調(diào) 整檢測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)給所述檢測(cè)像素電路，并根據(jù)所述檢測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)更新所述查詢表； 在正常顯示時(shí)，所述信號(hào)調(diào)整與校正電路對(duì)輸入的顯示數(shù)據(jù)，根據(jù)査詢表產(chǎn)生校 正的顯示數(shù)據(jù)給所述驅(qū)動(dòng)電路。
上述的有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件驅(qū)動(dòng)電路，所述驅(qū)動(dòng)與反饋控制器包括有 電流源，放大器。
上述的有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件驅(qū)動(dòng)電路，所述檢測(cè)像素電路包括有與 0LED串聯(lián)的電阻。
上述的有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件驅(qū)動(dòng)電路，在校正使能有效時(shí)，所述計(jì)數(shù) 器逐次產(chǎn)生像素灰度數(shù)據(jù)，所述電流源產(chǎn)生的與之對(duì)應(yīng)的模擬數(shù)據(jù)電流Idat輸出 給放大器，所述放大器輸出檢測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)以驅(qū)動(dòng)檢測(cè)像素電路，所述檢測(cè)像素電路 通過(guò)電阻壓降返回反饋信號(hào)，所述驅(qū)動(dòng)與反饋控制器通過(guò)反饋信號(hào)調(diào)整檢測(cè)驅(qū)動(dòng)信 號(hào)保證流經(jīng)檢測(cè)像素電路的電流為Idat。
上述的有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件驅(qū)動(dòng)電路，所述檢測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)和反饋信號(hào) 均為電壓信號(hào)。
上述的有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件驅(qū)動(dòng)電路，所述檢測(cè)像素電路包括一列多
行或紅綠藍(lán)三列多行檢測(cè)像素單元。
上述的有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件驅(qū)動(dòng)電路，所述査詢表為一個(gè)或三個(gè)，統(tǒng) 一補(bǔ)償或分別補(bǔ)償紅綠藍(lán)像素單元。
上述的有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件驅(qū)動(dòng)電路，所述檢測(cè)像素電路的驅(qū)動(dòng)信號(hào)為 以下之一顯示像素電路所采用的行掃描信號(hào)，或信號(hào)調(diào)整與校正電路所提供的檢測(cè) 像素控制信號(hào)。
上述的有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件驅(qū)動(dòng)電路，所述檢測(cè)像素單元分布在所述信 號(hào)調(diào)整與校正電路的附近區(qū)域。
上述的有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件驅(qū)動(dòng)電路，所述檢測(cè)像素單元在正常顯示時(shí) 用作顯示像素單元。
上述的有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件驅(qū)動(dòng)電路，所述電路的數(shù)據(jù)位比顯示數(shù)據(jù)有 至少一位的擴(kuò)展。
本實(shí)用新型對(duì)比現(xiàn)有技術(shù)有如下的有益效果驅(qū)動(dòng)信號(hào)直接以電壓方式提 供，使像素編程和驅(qū)動(dòng)信號(hào)校正采樣所需時(shí)間基本相同，因此校正和正常顯示兩 種工作模式采用同樣的行掃描時(shí)序，使行掃描電路變得簡(jiǎn)單。校正采樣使用檢測(cè) 像素電路進(jìn)行，顯示像素電路可以使用最簡(jiǎn)化的設(shè)計(jì)，從而達(dá)到減少顯示像素中 的元件數(shù)目，降低像素失效的可能性，從而提升良率。此外，檢測(cè)像素可以布局 在靠近接收反饋信號(hào)的區(qū)域，以減小引線寄生電阻電容的影響。


圖1為現(xiàn)有的像素電路的驅(qū)動(dòng)原理圖。
圖2為本實(shí)用新型的像素電路的驅(qū)動(dòng)原理圖。
圖3為本實(shí)用新型的檢測(cè)像素的第一實(shí)施方式示意圖。
圖4為本實(shí)用新型的檢測(cè)像素的第二實(shí)施方式示意圖。
圖5為本實(shí)用新型的檢測(cè)像素的第三實(shí)施方式示意圖。
圖6為本實(shí)用新型的檢測(cè)像素的第四實(shí)施方式示意圖。
圖7為本實(shí)用新型的一種檢測(cè)像素的驅(qū)動(dòng)電路圖。
圖8為本實(shí)用新型的另一種檢測(cè)像素的驅(qū)動(dòng)電路圖。
圖9為本實(shí)用新型實(shí)施例的檢測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)的控制電路圖。
圖10為本實(shí)用新型實(shí)施例的顯示像素驅(qū)動(dòng)電路圖。 圖中-
20系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)電路 21像素電路
202驅(qū)動(dòng)電路 211檢測(cè)像素電路
2011査詢表 2012數(shù)模轉(zhuǎn)換器
2014計(jì)數(shù)器 2015驅(qū)動(dòng)與反饋控制器
201信號(hào)調(diào)整與校正電路
212顯示像素電路 2013模數(shù)轉(zhuǎn)換器 2111檢測(cè)像素單元
2112藍(lán)色檢測(cè)像素單元 2113綠色檢測(cè)像素單元 2114紅色檢測(cè)像素單元具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的描述。 圖2為本實(shí)用新型的像素電路的驅(qū)動(dòng)原理圖。
請(qǐng)參照?qǐng)D2，本實(shí)用新型的像素電路的驅(qū)動(dòng)包括系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)電路20與像素電路21。 驅(qū)動(dòng)電路20由信號(hào)調(diào)整與校正電路201與驅(qū)動(dòng)電路202組成。信號(hào)調(diào)整與校正 電路包含有査詢表(LUT) 2011，用于產(chǎn)生與輸入顯示數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)灰度的驅(qū)動(dòng)電路 202對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)輸入。通過(guò)LUT，將輸入的顯示數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為經(jīng)過(guò)校正的驅(qū)動(dòng)電路 202產(chǎn)生顯示數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)灰度的所需數(shù)據(jù)，即校正的顯示數(shù)據(jù)；信號(hào)調(diào)整與校正電 路201還包含有計(jì)數(shù)器2014，用于在校正時(shí)產(chǎn)生灰度數(shù)據(jù)；信號(hào)調(diào)整與校正電 路201還包含有數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC) 2012，用于將計(jì)數(shù)器2014產(chǎn)生的灰度數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換 為驅(qū)動(dòng)OLED相應(yīng)灰度對(duì)應(yīng)的電流或電壓信息；信號(hào)調(diào)整與校正電路201還包含 有模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC) 2013，用于將穩(wěn)定的檢測(cè)驅(qū)動(dòng)電壓轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)提供給 LUT 2011進(jìn)行更新；信號(hào)調(diào)整與校正電路201還包含有驅(qū)動(dòng)與反饋控制器2015， 用于協(xié)調(diào)LUT， DAC， ADC的動(dòng)作，產(chǎn)生檢測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)并根據(jù)反饋信號(hào)對(duì)檢測(cè)驅(qū)動(dòng) 信號(hào)進(jìn)行調(diào)整。
驅(qū)動(dòng)電路校正過(guò)的數(shù)據(jù)已經(jīng)對(duì)AMOLED像素電路21中的器件漂移進(jìn)行補(bǔ)償， 因此驅(qū)動(dòng)電路202輸出的驅(qū)動(dòng)信號(hào)可以顯示顯示數(shù)據(jù)所要求的灰度，畫面顯示抑 制了器件特性漂移的影響。
信號(hào)調(diào)整與校正電路中的LUT 2011根據(jù)像素電路21中器件特性漂移的程度 進(jìn)行更新，以保證根據(jù)LUT進(jìn)行的數(shù)據(jù)校正正確反映了器件漂移的實(shí)際情況。對(duì) LUT的更新接受信號(hào)調(diào)整與校正電路201的輸入'校正使能，信號(hào)的控制。在'校
正使能'有效的情況下，計(jì)數(shù)器2012逐次產(chǎn)生像素灰度的部分關(guān)鍵數(shù)據(jù)或全部 數(shù)據(jù)，對(duì)應(yīng)部分關(guān)鍵數(shù)據(jù)或全部數(shù)據(jù)的任何一個(gè)，產(chǎn)生驅(qū)動(dòng)像素0LED所需的電 流值，并輸出電壓信號(hào)驅(qū)動(dòng)檢測(cè)像素電路，并通過(guò)同樣是電壓信號(hào)的反饋信號(hào)保 證驅(qū)動(dòng)的電壓信號(hào)達(dá)到使像素0LED電流值達(dá)到要求，然后將驅(qū)動(dòng)電壓信號(hào)經(jīng)過(guò) 模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)，用得到的數(shù)字信息更新LUT 2011。
信號(hào)調(diào)整與校正電路201中的LUT2011， ADC，以及驅(qū)動(dòng)電路位長(zhǎng)比顯示數(shù)據(jù) 有至少一位對(duì)擴(kuò)展，以保證像素電路發(fā)生漂移的情況下，驅(qū)動(dòng)電路的輸出仍然能 夠覆蓋產(chǎn)生相應(yīng)電流所需的灰度電壓范圍。
本實(shí)用新型通過(guò)信號(hào)調(diào)整與校正電路產(chǎn)生可以保證像素中OLED電流的驅(qū)動(dòng) 信號(hào)，可以較全面補(bǔ)償像素器件的特性漂移，包括TFT的閾值漂移，遷移率的變 化，0LED器件的電特性的變化。驅(qū)動(dòng)信號(hào)直接以電壓方式提供，使像素編程和驅(qū) 動(dòng)信號(hào)校正采樣所需時(shí)間基本相同，因此校正和正常顯示兩種工作模式采用同樣 的行掃描時(shí)序，使行掃描電路變得簡(jiǎn)單。
本實(shí)用新型使用檢測(cè)像素單元進(jìn)行校正采樣，所述檢測(cè)像素可以比顯示像素 增加限制的少量器件以實(shí)現(xiàn)檢測(cè)的功能，顯示像素電路可以使用最簡(jiǎn)化的設(shè)計(jì)， 從而達(dá)到減少顯示像素中的元件數(shù)目，從而提升良率。此外，檢測(cè)像素可以布局 在靠近接收反饋信號(hào)的區(qū)域，以減小引線寄生電阻電容的影響。
本實(shí)用新型使用的檢測(cè)像素電路可以獨(dú)立于顯示像素電路之外單獨(dú)設(shè)置，也 可以作為顯示像素電路的部分特定像素，同時(shí)具有顯示和檢測(cè)的功能。圖3 圖 6為本實(shí)用新型的檢測(cè)像素的四個(gè)實(shí)施方式示意圖。
請(qǐng)參照?qǐng)D3，本實(shí)施例的檢測(cè)像素電路211位于顯示像素電路之外，包括多 行檢測(cè)像素單元2111，與顯示像素采用共同的柵極掃描信號(hào)。顯示驅(qū)動(dòng)信號(hào)與檢 測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)分別驅(qū)動(dòng)顯示像素與檢測(cè)像素。反饋信號(hào)從檢測(cè)像素取出并反饋到信 號(hào)調(diào)整與校正電路201。在校正模式，由計(jì)數(shù)器2014產(chǎn)生的灰度數(shù)據(jù)逐一通過(guò)DAC 2012轉(zhuǎn)換成模擬電壓或電流數(shù)據(jù)，有驅(qū)動(dòng)與反饋控制器2015輸出檢測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)， 并根據(jù)反饋信號(hào)進(jìn)行調(diào)整，穩(wěn)定的檢測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)輸入至ADC 2013，轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù) 據(jù)并據(jù)此數(shù)據(jù)更新LUT 2011。在正常顯示模式，輸入的顯示數(shù)據(jù)經(jīng)由LUT2011校 正后產(chǎn)生校正的顯示數(shù)據(jù)傳送到驅(qū)動(dòng)電路202，并由202驅(qū)動(dòng)顯示像素電路實(shí)現(xiàn)畫 面的顯示。
請(qǐng)參照?qǐng)D4，由于在彩色顯示器件中，紅綠藍(lán)三色像素一般在空間上形成一
定的分布。在OLED中，紅綠藍(lán)三色OLED器件特性存在差異，本實(shí)施例對(duì)三種OLED 分別形成檢測(cè)像素單元2112、 2113、 2114，分別進(jìn)行補(bǔ)償，并形成各自的査詢表。
請(qǐng)參照?qǐng)D5，本實(shí)施例中檢測(cè)像素在校正使能的情況下，不采用驅(qū)動(dòng)電路202 提供的行掃描信號(hào)，而是利用驅(qū)動(dòng)與反饋控制器提供的檢測(cè)像素控制信號(hào)，使檢 測(cè)像素保持開(kāi)啟，檢測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)對(duì)應(yīng)各個(gè)灰度變化并被檢測(cè)。
以上所有實(shí)施例中，在非校正使能情況下，即正常顯示模式下，由于檢測(cè)像 素電路采用了顯示驅(qū)動(dòng)電路的行掃描信號(hào)，其會(huì)根據(jù)實(shí)際驅(qū)動(dòng)信號(hào)的特定驅(qū)動(dòng)數(shù) 據(jù)或者由信號(hào)調(diào)整與校正電路產(chǎn)生的灰度數(shù)據(jù)進(jìn)行顯示，由于檢測(cè)像素所占面積 很小，不會(huì)對(duì)實(shí)際顯示的畫面造成影響。
請(qǐng)參照?qǐng)D6，本實(shí)施例中檢測(cè)像素211位于顯示像素電路內(nèi)，即一部分像素 同時(shí)起到顯示像素和檢測(cè)像素的作用。在校正使能情況下，檢測(cè)像素的顯示驅(qū)動(dòng) 信號(hào)輸入設(shè)定為高阻態(tài)，檢測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)有效。在正常顯示的時(shí)候，反饋信號(hào)與監(jiān) 測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)轉(zhuǎn)信號(hào)調(diào)整與校正電路201的一端均設(shè)定為高阻態(tài)，檢測(cè)像素接收顯 示驅(qū)動(dòng)信號(hào)的信息并正常顯示畫面。
檢測(cè)像素作為部分特定像素，其與顯示像素電路采用相似但不完全相同的設(shè) 計(jì)，所述檢測(cè)像素可以比顯示像素增加限制的少量器件以實(shí)現(xiàn)檢測(cè)的功能。圖7 和圖8為本實(shí)用新型的兩種檢測(cè)像素的驅(qū)動(dòng)電路圖。
請(qǐng)參照?qǐng)D7，本實(shí)施例中不同檢測(cè)像素分別采用不同的行掃描信號(hào)的方式。 在校正使能時(shí)，行掃描信號(hào)打開(kāi)第一薄膜晶體管T1與第三薄膜晶體管T3，檢測(cè)像 素驅(qū)動(dòng)信號(hào)通過(guò)第一薄膜晶體管Tl驅(qū)動(dòng)第二薄膜晶體管T2并通過(guò)后者向0LED提 供電流。該電流通過(guò)電阻R產(chǎn)生電壓降，并通過(guò)第三薄膜晶體管T3反映到反饋信 號(hào)。驅(qū)動(dòng)電路接受該驅(qū)動(dòng)信號(hào)并相應(yīng)校正檢測(cè)像素驅(qū)動(dòng)信號(hào)使之達(dá)到需要數(shù)值。 經(jīng)過(guò)校正的檢測(cè)像素驅(qū)動(dòng)信號(hào)被信號(hào)調(diào)整與校正電路存儲(chǔ)并寫入查詢表LUT2011。 本實(shí)施例提供的檢測(cè)像素電路適用于圖3，圖4和圖6所示的檢測(cè)像素的實(shí)施例。
請(qǐng)參照?qǐng)D8，本實(shí)施例提供了另一種檢測(cè)像素電路的實(shí)施方式，在校正使能 時(shí)，通過(guò)檢測(cè)像素控制信號(hào)打開(kāi)第一薄膜晶體管Tl，檢測(cè)像素驅(qū)動(dòng)信號(hào)通過(guò)第一 薄膜晶體管Tl驅(qū)動(dòng)第二薄膜晶體管T2并通過(guò)后者向OLED提供電流。該電流通過(guò) 電阻R產(chǎn)生電壓降，并反映到反饋信號(hào)。驅(qū)動(dòng)電路接受該驅(qū)動(dòng)信號(hào)并相應(yīng)校正檢
測(cè)像素驅(qū)動(dòng)信號(hào)使之達(dá)到需要數(shù)值。經(jīng)過(guò)校正的檢測(cè)像素驅(qū)動(dòng)信號(hào)被信號(hào)調(diào)整與
校正電路存儲(chǔ)并寫入査詢表LUT 2011。本實(shí)施例提供的檢測(cè)像素電路適用于圖5
所示的檢測(cè)像素的實(shí)施例。
圖9為本實(shí)用新型實(shí)施例的檢測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)的控制電路圖。
請(qǐng)參照?qǐng)D9，電流源產(chǎn)生的與灰度級(jí)對(duì)應(yīng)的模擬數(shù)據(jù)電流Idat輸入放大器 0P1， 0P1輸出電壓為VDD-Idat*R。反饋信號(hào)經(jīng)過(guò)緩沖后與0P1的輸出進(jìn)行比較以 調(diào)整檢測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)。對(duì)于理想運(yùn)算放大器，在穩(wěn)定狀態(tài)，反饋信號(hào)應(yīng)該等于OP1 的輸出，即檢測(cè)像素電路中OLED流經(jīng)的電流為Idat。此時(shí)的檢測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)為補(bǔ)償 了檢測(cè)像素中器件特性漂移的驅(qū)動(dòng)電壓。該信號(hào)供信號(hào)調(diào)整與校正電路用于更新 LUT 2011。
圖IO為本實(shí)用新型實(shí)施例的顯示像素驅(qū)動(dòng)電路圖。
請(qǐng)參照?qǐng)DIO，顯示像素驅(qū)動(dòng)電路包括OLED，第一薄膜晶體管T1，第二薄膜晶體 管T2，由于檢測(cè)像素進(jìn)行檢測(cè)和反饋像素內(nèi)器件特性的漂移，顯示像素?zé)o需進(jìn)行 器件特性漂移的電路處理，因而可以采用簡(jiǎn)單的電路結(jié)構(gòu)來(lái)實(shí)現(xiàn)，以達(dá)到提高開(kāi) 口率和提升器件工藝良率的目的。
雖然本實(shí)用新型已以較佳實(shí)施例揭示如上，然其并非用以限定本實(shí)用新型， 任何本領(lǐng)域技術(shù)人員，在不脫離本實(shí)用新型的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許的修改 和完善，因此本實(shí)用新型的保護(hù)范圍當(dāng)以權(quán)利要求書所界定的為準(zhǔn)。
權(quán)利要求1.一種有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件的驅(qū)動(dòng)電路，包括驅(qū)動(dòng)電路和顯示像素電路，其特征在于，還包括信號(hào)調(diào)整與校正電路，包括查詢表(LUT)，計(jì)數(shù)器，數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)，模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)，驅(qū)動(dòng)與反饋控制器；檢測(cè)像素電路，校正采樣使用的部分特定像素電路；其中，所述信號(hào)調(diào)整與校正電路輸入有校正使能和顯示數(shù)據(jù)，在校正使能有效時(shí)，所述信號(hào)調(diào)整與校正電路驅(qū)動(dòng)檢測(cè)像素電路對(duì)像素灰度的數(shù)據(jù)進(jìn)行校正，校正的顯示數(shù)據(jù)保存在查詢表中；在正常顯示時(shí)，所述信號(hào)調(diào)整與校正電路對(duì)輸入的顯示數(shù)據(jù)，根據(jù)查詢表進(jìn)行校正，校正后的顯示數(shù)據(jù)輸出給所述驅(qū)動(dòng)電路。
2、 如權(quán)利要求1所述的有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件的驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于， 所述驅(qū)動(dòng)與反饋控制器包括有電流源，放大器。
3、 如權(quán)利要求1所述的有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件的驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于， 所述檢測(cè)像素電路包括有與0LED串聯(lián)的電阻。
4、 如權(quán)利要求1、 2或3所述的有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件的驅(qū)動(dòng)電路，其 特征在于，在校正使能有效時(shí)，所述計(jì)數(shù)器逐次產(chǎn)生像素灰度數(shù)據(jù)，所述電流源產(chǎn) 生的與之對(duì)應(yīng)的模擬數(shù)據(jù)電流Idat輸出給放大器，所述放大器輸出檢測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào) 以驅(qū)動(dòng)檢測(cè)像素電路，所述檢測(cè)像素電路通過(guò)電阻壓降返回反饋信號(hào)，所述驅(qū)動(dòng)與 反饋控制器通過(guò)反饋信號(hào)調(diào)整檢測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)保證流經(jīng)檢測(cè)像素電路的電流為 Idat。
5、 如權(quán)利要求4所述的有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件的驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于， 所述檢測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)和反饋信號(hào)均為電壓信號(hào)。
6、 如權(quán)利要求1所述的有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件的驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于， 所述檢測(cè)像素電路包括一列多行或紅綠藍(lán)三列多行檢測(cè)像素單元。
7、 如權(quán)利要求1或6所述的有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件的驅(qū)動(dòng)電路，其特征 在于，所述查詢表為一個(gè)或三個(gè)，統(tǒng)一補(bǔ)償或分別補(bǔ)償紅綠藍(lán)像素單元。
8、 如權(quán)利要求1所述的有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件的驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于， 所述檢測(cè)像素電路的驅(qū)動(dòng)信號(hào)為以下之一-顯示像素電路所采用的行掃描信號(hào)； 信號(hào)調(diào)整與校正電路所提供的檢測(cè)像素控制信號(hào)。
9、 如權(quán)利要求6所述的有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件的驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于，所述檢測(cè)像素單元分布在所述信號(hào)調(diào)整與校正電路的附近區(qū)域。
10、 如權(quán)利要求6或9所述的有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件的驅(qū)動(dòng)電路，其特征在 于，所述檢測(cè)像素單元在正常顯示時(shí)用作顯示像素單元。
11、 如權(quán)利要求l所述的有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件的驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于， 所述電路的數(shù)據(jù)位比顯示數(shù)據(jù)有至少一位的擴(kuò)展。
專利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器件的驅(qū)動(dòng)電路，包括驅(qū)動(dòng)電路；顯示像素電路；信號(hào)調(diào)整與校正電路，包括查詢表(LUX)，計(jì)數(shù)器，數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)，數(shù)模轉(zhuǎn)換器(ADC)，驅(qū)動(dòng)與反饋控制器；驅(qū)動(dòng)電路，輸出行掃描信號(hào)和顯示驅(qū)動(dòng)信號(hào)；像素電路，包括檢測(cè)像素電路和顯示像素電路，所述檢測(cè)像素電路和所述信號(hào)調(diào)整與校正電路相連；所述顯示像素電路和所述驅(qū)動(dòng)電路相連；其中，在校正使能時(shí)，所述信號(hào)調(diào)整與校正電路根據(jù)電壓反饋控制產(chǎn)生和調(diào)整檢測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)給所述檢測(cè)像素電路，并根據(jù)所述檢測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)更新所述查詢表；在正常顯示時(shí)，所述信號(hào)調(diào)整與校正電路對(duì)輸入的顯示數(shù)據(jù)，根據(jù)查詢表產(chǎn)生校正的顯示數(shù)據(jù)給所述驅(qū)動(dòng)電路。該驅(qū)動(dòng)電路既保證顯示像素可以使用最簡(jiǎn)化的設(shè)計(jì)，又不會(huì)使行掃描電路變得復(fù)雜。
文檔編號(hào)G09G3/32GK201199425SQ20082005730
公開(kāi)日2009年2月25日 申請(qǐng)日期2008年4月15日 優(yōu)先權(quán)日2008年4月15日
發(fā)明者張曉建, 李俊峰 申請(qǐng)人:上海廣電光電子有限公司