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直觀光彈試樣的制作方法

文檔序號:2623352閱讀:414來源:國知局
專利名稱:直觀光彈試樣的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及一種應(yīng)用于教學(xué)與科學(xué)研究的光彈試樣,在外力作用下利用環(huán)境光不需借助外部設(shè)備便能直接觀察到試樣中的應(yīng)力變化與分布情況的光彈試樣,尤其是在明亮的環(huán)境中也能夠直接顯示出直觀光彈試樣中的光彈性應(yīng)力變化與分布情況。

背景技術(shù)
目前,公知的光彈性原理是應(yīng)力變化可以改變某些透明光學(xué)介質(zhì)的折射率特性,且光學(xué)介質(zhì)折射率變化的程度與應(yīng)力成正比,當(dāng)一束平面偏振光垂直入射一個受力透明光學(xué)平板模型時,它沿兩個主應(yīng)力方向分解為兩束平面偏振光,由于這兩束平面偏振光在平板模型內(nèi)傳播速度不同,它們通過平板后產(chǎn)生的光程差與平板厚度及兩個主應(yīng)力差之積成正比。再令這種光通過檢偏振片就產(chǎn)生了偏振光的干涉現(xiàn)象,即兩個分量都投影到檢偏振片的通光方向的振動的疊加,人眼看這種來光將看到視場中有與應(yīng)力分布相關(guān)的干涉花樣。在工程上將光彈試樣(受力構(gòu)件模型)置于特定的偏振光場中,利用應(yīng)力雙折射現(xiàn)象觀察使應(yīng)力變得可得看見。測定光彈試樣應(yīng)力值。由相似原理換算出實際應(yīng)力。傳統(tǒng)的光彈試樣必須在光彈儀上進行實驗,且只能在暗房環(huán)境下進行實驗,受光彈儀光場的限制,傳統(tǒng)的光彈試樣尺寸必須小于光場尺寸。

發(fā)明內(nèi)容
為了克服現(xiàn)有光彈試樣小尺寸且必須在暗房中實驗觀察的不足,本實用新型提供一種直觀光彈試樣,直觀光彈試樣不僅試樣尺寸不受光場限制,可加工成大尺寸試樣,而且可以方便地在自然光環(huán)境中直接施力同時觀察到直觀光彈試樣內(nèi)部的應(yīng)力分布。
本實用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是采用具有應(yīng)力雙折射性能的透明光學(xué)材料加工出光彈試樣基體,再在光彈試樣基體兩側(cè)表面分別粘貼或鍍制起偏膜與檢偏膜,偏光膜可以是線偏膜、圓偏光膜或橢圓偏光膜。即將光傳統(tǒng)光彈儀的起偏鏡與檢偏鏡直接制作于試樣基體的兩側(cè)外表面,集成為一體,實現(xiàn)偏振光場與試樣基體同尺寸,實現(xiàn)直接利用自然環(huán)境光就能觀察到直觀光彈試樣中的應(yīng)力分布情況。
本實用新型的有益效果是,無需借助任何外部其他實驗設(shè)備,便可以在明亮自然光環(huán)境中進行光彈實驗的教學(xué)實驗且能直接觀察到試樣的應(yīng)力變化情況。可制作大尺寸試樣或制作空間模型試樣,為光彈實驗研究提供了一種新手段。
以下結(jié)合附圖對本實用新型進一步說明。



圖1是本實用新型的試樣結(jié)構(gòu)原理圖。
圖2是本實用新型的橫截面剖面圖。
圖中1.起偏膜,2.試樣基體,3.檢偏膜。
具體實施方式

圖1中,采用具有應(yīng)力雙折射性能的透明光學(xué)材料加工出試樣基體2,根據(jù)不同的實驗?zāi)康暮托枨螅嚇踊w可加工成任何形狀,直接將起偏膜1和檢偏膜3通過粘貼或鍍制的方法附著在試樣基體2的兩側(cè)表面合為一體,起偏膜和檢偏膜可以使用線偏光膜,也可以使用圓偏光膜,還可以使用橢圓偏光膜。
權(quán)利要求1.直觀光彈試樣,在外力作用下利用自然環(huán)境光不需借助外部設(shè)備便能直接觀察到試樣基體中的應(yīng)力分布與變化情況的光彈試樣,其特征是由具有應(yīng)力雙折射性能的材料加工成所需形狀和尺寸的試樣基體(2),在試樣基體兩側(cè)表面分別粘貼或鍍制起偏膜(1)和檢偏膜(3),并緊密附著在試樣基體的表面合為一體,實現(xiàn)試樣、偏振光場與視場同體積同尺寸,在自然光環(huán)境下顯示出試樣基體的內(nèi)部應(yīng)力分布。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的直觀光彈試樣,其特征是起偏膜(1)與檢偏膜(3)可以是線偏光膜,也可以是圓偏光膜,或者是橢圓偏光膜。
專利摘要一種應(yīng)用于教學(xué)與科學(xué)研究的光彈試樣,在外力作用下利用自然環(huán)境光不需借助外部設(shè)備便能直接觀察到試樣基體中的應(yīng)力分布與變化情況的光彈試樣。直觀光彈試樣由具有應(yīng)力雙折射性能的材料根據(jù)實驗研究要求加工成各種形狀和尺寸的試樣基體及在試樣基體兩側(cè)表面分別粘貼或鍍制起偏膜和檢偏膜構(gòu)成,起偏膜與檢偏膜的形狀大小均與試樣基體完全相同,并緊密附著在試樣基體的表面合為一體,實現(xiàn)試樣、偏振光場與視場同體積同尺寸,使得應(yīng)力看得見。
文檔編號G09B23/08GK201166932SQ200720182130
公開日2008年12月17日 申請日期2007年10月23日 優(yōu)先權(quán)日2007年10月23日
發(fā)明者黃研昕, 黃躍平 申請人:黃研昕, 黃躍平
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