專利名稱：Led矩陣顯示器的檢查方法和設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于檢測(cè)有源矩陣顯示像素單元中發(fā)光元件的方法。還涉及一種有源矩陣顯示器，該有源矩陣顯示器包括多個(gè)像素單元，每個(gè)像素單元具有電流驅(qū)動(dòng)發(fā)光元件，諸如有機(jī)或聚合物發(fā)光二極管，以及可與驅(qū)動(dòng)元件和發(fā)光元件的電極相連的數(shù)據(jù)線。
背景技術(shù)：
諸如來(lái)自襯底或由裝置加工產(chǎn)生的粒子以及各層中的針孔和小丘之類的缺陷或結(jié)構(gòu)不均勻性，對(duì)于所有OLED顯示器(包括聚合物和小分子、分段、無(wú)源矩陣和有源矩陣顯示器)壽命而言，是一個(gè)嚴(yán)重問(wèn)題。
可采用初篩和老化措施減小制造過(guò)程中出現(xiàn)的缺陷，但是在顯示器使用期限中還可能激活這些缺陷。
在WO 01/22504中預(yù)先提出了在初篩和操作過(guò)程中用于識(shí)別矩陣顯示器中任何缺陷像素的一個(gè)選擇標(biāo)準(zhǔn)。根據(jù)該技術(shù)，通過(guò)在OLED上施加反向電壓，并一直檢測(cè)所產(chǎn)生的漏電流的變化，可檢查OLED的穩(wěn)定性。在理想裝置中這種漏電流較小，但是如果存在缺陷的話，則漏電流明顯變大。從而，可以識(shí)別出缺陷像素。相反，在二極管導(dǎo)通(ON)的正向模式中，流過(guò)二極管的電流較大，并且缺陷對(duì)電流的任何貢獻(xiàn)都被隱藏起來(lái)。圖1中對(duì)此進(jìn)行了說(shuō)明。
在使用像素作為傳感器時(shí)可利用相同效應(yīng)。當(dāng)受到諸如光、溫度、顏色、輻射或物理接觸之類的外部影響時(shí)，OLED的漏電流將改變?？砂凑丈厦嫠龅呐c檢測(cè)OLED中的缺陷相同的方式檢測(cè)這種改變。
還提出了對(duì)無(wú)源和有源矩陣顯示器校正像素缺陷的技術(shù)。按照反向模式向OLED施加強(qiáng)電壓脈沖。這種高電場(chǎng)能誘發(fā)高電流，可以既修復(fù)又隔離像素中的缺陷。
在有源矩陣的情形中，考慮具有兩個(gè)晶體管(尋址和驅(qū)動(dòng)晶體管)的簡(jiǎn)單電路。由列驅(qū)動(dòng)器通過(guò)數(shù)據(jù)線對(duì)該像素電路進(jìn)行電壓控制。在正常尋址時(shí)，在選擇像素之后，將電壓寫入存儲(chǔ)點(diǎn)，并控制從電源線通過(guò)驅(qū)動(dòng)晶體管流到OLED的電流。從而，OLED根據(jù)輸送給存儲(chǔ)點(diǎn)的電壓發(fā)光。
這種用于校正缺陷的已知技術(shù)包括，在電源線上施加相對(duì)于OLED陰極為負(fù)的電壓。從而在驅(qū)動(dòng)晶體管和OLED上提供負(fù)電壓。當(dāng)OLED通過(guò)這種方式被反向偏置時(shí)，流過(guò)驅(qū)動(dòng)晶體管的電流通常遠(yuǎn)小于OLED正向偏置時(shí)的電流，從而驅(qū)動(dòng)晶體管僅略微打開(kāi)。為了使OLED上具有最大電壓降，驅(qū)動(dòng)晶體管應(yīng)當(dāng)按照線性模式操作。由此使源-漏電壓最小。但是，由于并未直接控制OLED陽(yáng)極的電壓，并且晶體管非常寬(相當(dāng)于即使在低壓下電流也能夠較大)，晶體管非常難以實(shí)現(xiàn)按照線性模式操作。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服該問(wèn)題，并且向有源矩陣顯示器中發(fā)光元件提供改進(jìn)的反向偏置。
根據(jù)本發(fā)明第一方面，通過(guò)引言所述的這種方法實(shí)現(xiàn)這一目的，其中在重復(fù)輸出期間，數(shù)據(jù)線與驅(qū)動(dòng)元件相連，并且數(shù)據(jù)線上提供的驅(qū)動(dòng)信號(hào)使發(fā)光元件發(fā)光，而且在兩個(gè)輸出周期之間的檢測(cè)周期中，數(shù)據(jù)線與發(fā)光元件第一電極如陽(yáng)極相連，在數(shù)據(jù)線上提供檢測(cè)電壓，該檢測(cè)電壓相對(duì)于發(fā)光元件陰極電壓為負(fù)，從而使發(fā)光元件反向偏置，并檢測(cè)流過(guò)發(fā)光元件的任何漏電流。
根據(jù)本發(fā)明第二方面，通過(guò)引言所述類型的顯示裝置實(shí)現(xiàn)這一目的，還包括用于在數(shù)據(jù)線上提供檢測(cè)電壓的裝置，檢測(cè)電壓相對(duì)于發(fā)射元件陰極電壓為負(fù)，從而使發(fā)光元件反向偏置；以及用于檢測(cè)流過(guò)發(fā)光元件的任何漏電流的裝置。
因此，本發(fā)明的基本思想在于使用像素單元的數(shù)據(jù)線，向發(fā)光元件輸出負(fù)電壓，并檢測(cè)流過(guò)數(shù)據(jù)線的任何漏電流。這樣就避免發(fā)生了與使用電源線向發(fā)光元件輸送反向偏置有關(guān)的任何問(wèn)題。
通過(guò)在數(shù)據(jù)線與陽(yáng)極之間增加一開(kāi)關(guān)，可實(shí)現(xiàn)由數(shù)據(jù)線訪問(wèn)發(fā)光元件的陽(yáng)極。有些像素電路，例如單晶體管電流鏡(參見(jiàn)圖4)，已經(jīng)具有這種開(kāi)關(guān)，在其他電路中，可增加該開(kāi)關(guān)，以形成新穎像素電路，這是本發(fā)明的第三方面。
可間隔預(yù)定數(shù)量的輸出周期，例如每隔三個(gè)輸出周期，循環(huán)地執(zhí)行檢測(cè)周期。
最好，像素單元包括兩個(gè)開(kāi)關(guān)，用于將數(shù)據(jù)線分別與驅(qū)動(dòng)元件和/或發(fā)光元件陽(yáng)極相連。在此情形中，該方法進(jìn)一步包括控制開(kāi)關(guān)，從而在所述檢測(cè)周期期間數(shù)據(jù)線僅與發(fā)光元件陽(yáng)極相連。
兩個(gè)開(kāi)關(guān)可以串聯(lián)設(shè)置在數(shù)據(jù)線與驅(qū)動(dòng)元件之間，使發(fā)光元件的陽(yáng)極與開(kāi)關(guān)之間的某一點(diǎn)相連。這相當(dāng)于一種本身已知的像素單元。或者，每個(gè)像素單元包括設(shè)置在數(shù)據(jù)線與驅(qū)動(dòng)元件之間的第一開(kāi)關(guān)，和設(shè)置在數(shù)據(jù)線與發(fā)光元件的陽(yáng)極之間的第二開(kāi)關(guān)。這是根據(jù)本發(fā)明第三方面的像素單元。
該方法進(jìn)一步包括分析漏電流，以判斷發(fā)光元件是否存在缺陷，并且如果是存在缺陷的情形，則向該發(fā)光元件的陽(yáng)極提供修復(fù)電壓，以便消除發(fā)光元件中的任何缺陷。將修復(fù)電壓調(diào)節(jié)成用比檢測(cè)期間更大的電壓將發(fā)光元件反向偏置。已經(jīng)證明這種強(qiáng)反向偏置可消除發(fā)光元件中的缺陷。最好在下一相繼檢測(cè)周期期間施加修復(fù)電壓，即取代檢測(cè)電壓。
并非施加修復(fù)電壓，或者作為施加修復(fù)電壓的一個(gè)補(bǔ)充，本發(fā)明方法可包括根據(jù)缺陷調(diào)節(jié)像素的驅(qū)動(dòng)。例如，可降低驅(qū)動(dòng)電流，使發(fā)光元件發(fā)射更少的光?；蛘?，可以將缺陷像素去激勵(lì)。在這種調(diào)節(jié)像素驅(qū)動(dòng)的情形中，還可以調(diào)節(jié)周圍像素，以便掩蔽缺陷，即使其對(duì)于用戶而言是不可見(jiàn)的。最好在下一相繼輸出周期之前或期間對(duì)像素驅(qū)動(dòng)進(jìn)行調(diào)節(jié)。
已知可使用被施以反向偏置的LED作為檢測(cè)器。從而，根據(jù)本發(fā)明的方法還包括分析反向偏流，以確定發(fā)光元件是否受到任何外部影響，例如光、溫度、顏色、輻射或物理接觸。
電流驅(qū)動(dòng)的發(fā)光元件可以為發(fā)光二極管，如有機(jī)發(fā)光二極管(OLED)。


根據(jù)參照附圖更清楚地描述的優(yōu)選實(shí)施例，本發(fā)明的這些和其他方面將是顯而易見(jiàn)的。
圖1表示作為電壓函數(shù)的流過(guò)OLED的電流的曲線圖，
圖2為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的裝置的示意框圖。
圖3為表示根據(jù)本發(fā)明不同驅(qū)動(dòng)方案的時(shí)序圖。
圖4為根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的示意性像素電路，適于實(shí)現(xiàn)圖2中所示的裝置。
圖5為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的示意性像素電路，也適于實(shí)現(xiàn)圖2中所示的裝置。
圖6為圖2中檢測(cè)部件部分的電路圖。
具體實(shí)施例方式
通過(guò)圖2中的框圖示意地說(shuō)明本發(fā)明的功能。
利用處于顯示區(qū)外部的數(shù)據(jù)列線2頂部上的開(kāi)關(guān)1，數(shù)據(jù)列線2可以在提供代表圖像顯示數(shù)據(jù)的驅(qū)動(dòng)信號(hào)(此處為電壓(V)，但是也可以為電流)的常規(guī)列驅(qū)動(dòng)器3與提供負(fù)(相對(duì)于OLED陰極)檢測(cè)電壓(V1)的檢測(cè)部件4之間進(jìn)行切換。該負(fù)電壓將反向偏置當(dāng)前尋址的像素單元5中的OLED，并能夠使漏電流(IL)流過(guò)數(shù)據(jù)列線2。
根據(jù)本發(fā)明的方法需要特殊的尋址，將時(shí)間分成輸出周期和檢測(cè)周期。在輸出周期(或幀)期間，開(kāi)關(guān)1與列驅(qū)動(dòng)器3相連，將數(shù)據(jù)編程到像素5中，以便點(diǎn)亮OLED。在這些輸出周期之前，開(kāi)關(guān)1與檢測(cè)部件4相連。從而像素5未點(diǎn)亮，代替地檢測(cè)來(lái)自O(shè)LED的漏電流IL。
由于檢測(cè)不需要如輸出那樣的高速率，因此兩種周期(檢測(cè)和輸出周期)不必交替。
在某些應(yīng)用中，可以非定期地進(jìn)行檢測(cè)，例如每次打開(kāi)裝置時(shí)執(zhí)行檢測(cè)。在圖3所示的例子中，每三幀執(zhí)行檢測(cè)。
在檢測(cè)期間，正如在輸出期間那樣，采用正常的線掃描以便能訪問(wèn)每個(gè)單獨(dú)像素，一般是逐線地。由行選擇線6上的信號(hào)決定當(dāng)前掃描的線。但是，選擇信號(hào)(或者如下面所述，多個(gè)選擇信號(hào))將根據(jù)當(dāng)前周期是輸出周期還是檢測(cè)周期而不同。在輸出周期期間，具有像素?cái)?shù)據(jù)電壓V(或數(shù)據(jù)電流I)的數(shù)據(jù)列與每個(gè)像素5的存儲(chǔ)點(diǎn)相連。在檢測(cè)期間，具有檢測(cè)電壓V1的數(shù)據(jù)列代替地與每個(gè)像素中的OLED陽(yáng)極相連。下面將對(duì)其進(jìn)行進(jìn)一步地描述。
檢測(cè)部件4還包括用于檢測(cè)反向饋送期間流過(guò)OLED的漏電流的裝置。通過(guò)訪問(wèn)存儲(chǔ)器8，可以將所檢測(cè)的電流IL與閾值進(jìn)行比較，以便檢測(cè)高泄漏，并與前面的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行比較，以便檢測(cè)穩(wěn)定性(波動(dòng)或增大/減小)。然后可以將所檢測(cè)到的電流保存到存儲(chǔ)器8中。如引言中所提及的，可使用檢測(cè)出的漏電流IL作為檢測(cè)器信號(hào)，或者作為缺陷像素的指示符。
存儲(chǔ)器8還可以由與列驅(qū)動(dòng)器3進(jìn)行通信的控制器9訪問(wèn)。這使得控制器9能夠調(diào)節(jié)下一輸出周期期間的像素驅(qū)動(dòng)電壓V。
檢測(cè)部件還被設(shè)置成交替地提供更強(qiáng)的反向電壓V2，其以與檢測(cè)電壓V1相同的方式可以施加給像素。該電壓V2稱作修復(fù)電壓，因?yàn)槠湟庠谌刍疧LED，從而有望消除缺陷。
在此處引作參考的共同未決的歐洲申請(qǐng)EP01130166.0中描述了這種熔化。
圖3示出了與不同缺陷校正策略有關(guān)的時(shí)序圖示例。
在第一種情形10a中，在第一檢測(cè)周期11a期間沒(méi)有檢測(cè)到缺陷，該像素在輸出周期12a期間可以繼續(xù)照常起作用，并在下一檢測(cè)周期13a期間再次被檢測(cè)。
在第二種情形10b中，在第一檢測(cè)周期11b期間檢測(cè)到缺陷。在相繼的輸出周期12b期間，該像素照常被驅(qū)動(dòng)。在下一相繼的檢測(cè)周期13b期間，向該缺陷像素施加修復(fù)電壓，試圖消除該缺陷。
此外，在第三種情形10c中，在第一檢測(cè)周期11c期間檢測(cè)到缺陷，但是在輸出周期12c期間適應(yīng)了像素行為。可以將像素驅(qū)動(dòng)調(diào)節(jié)成更加柔和的驅(qū)動(dòng)，例如僅僅降低尋址時(shí)施加給該像素的數(shù)據(jù)信號(hào)電壓。還可以完全去激勵(lì)。在這兩種情形中，也可以適應(yīng)周圍像素或整個(gè)顯示器，以便減小該缺陷像素的影響，即屏蔽光輸出降低。
圖4示出了本領(lǐng)域中已知的自補(bǔ)償(單晶體管)電流鏡像素單元20的示意電路圖?？墒褂眠@種像素實(shí)現(xiàn)本發(fā)明。像素單元20具有數(shù)據(jù)線21、電源線22、存儲(chǔ)元件23、驅(qū)動(dòng)元件24和OLED形式的發(fā)光元件25。兩個(gè)開(kāi)關(guān)26、27串聯(lián)設(shè)置在存儲(chǔ)點(diǎn)28與數(shù)據(jù)線22之間，并且OLED陽(yáng)極29與這些開(kāi)關(guān)26、27之間的點(diǎn)30相連。驅(qū)動(dòng)元件24為晶體管。驅(qū)動(dòng)開(kāi)關(guān)也可以為PMOS或NMOS型晶體管。
一般地，在尋址像素時(shí)(列信號(hào)饋送給存儲(chǔ)點(diǎn)28和OLED陽(yáng)極29)，兩個(gè)開(kāi)關(guān)26、27導(dǎo)通。在該像素驅(qū)動(dòng)OLED 25時(shí)(電壓從存儲(chǔ)元件23提供給驅(qū)動(dòng)元件24)，它們都關(guān)斷。在輸出周期期間將采用這部分的像素尋址。
根據(jù)本發(fā)明，在檢測(cè)周期期間對(duì)像素進(jìn)行不同的尋址。在此期間，第一開(kāi)關(guān)26關(guān)斷，同時(shí)第二開(kāi)關(guān)27導(dǎo)通。然后，將相對(duì)于OLED陰極電壓31為負(fù)的檢測(cè)電壓從數(shù)據(jù)線21提供給OLED25的陽(yáng)極29，從而使二極管25處于反向模式。這導(dǎo)致漏電流IL流過(guò)OLED 25，并流過(guò)數(shù)據(jù)線21，如上所述，可檢測(cè)、保存和分析該電流。
注意在檢測(cè)期間，對(duì)于顯示器中的所有像素可同時(shí)控制第一開(kāi)關(guān)26，同時(shí)第二開(kāi)關(guān)27從線到線是獨(dú)立的。
圖5表示根據(jù)本發(fā)明的新穎像素單元20’的示意電路圖。用相同附圖標(biāo)記表示與圖4中的元件相應(yīng)的元件。該像素基本上基于傳統(tǒng)像素電路，具有一個(gè)連接在數(shù)據(jù)線與存儲(chǔ)點(diǎn)之間的開(kāi)關(guān)32。根據(jù)本發(fā)明，在數(shù)據(jù)線21與OLED陽(yáng)極29之間設(shè)置第二開(kāi)關(guān)33，從而能夠從數(shù)據(jù)線21直接訪問(wèn)OLED陽(yáng)極29。
在輸出周期期間，第二開(kāi)關(guān)33關(guān)斷，而在像素的尋址期間第一開(kāi)關(guān)32導(dǎo)通，在驅(qū)動(dòng)OLED期間關(guān)斷。
在檢測(cè)周期期間，第一開(kāi)關(guān)32關(guān)斷，同時(shí)第二開(kāi)關(guān)33導(dǎo)通。然后從數(shù)據(jù)線21向OLED 25施加負(fù)的(相對(duì)于OLED陰極31)檢測(cè)電壓V1，從而使二極管25處于反向模式。而且，這也導(dǎo)致漏電流IL流過(guò)OLED 25和數(shù)據(jù)線21，可如上所述檢測(cè)、保存和分析該電流。
要注意的是，通過(guò)使用互補(bǔ)開(kāi)關(guān)，例如一個(gè)NMOS和一個(gè)PMOS晶體管和適當(dāng)?shù)男行盘?hào)，可以將圖5中的兩個(gè)選擇信號(hào)合并成一個(gè)。
在兩個(gè)所述實(shí)施例(圖4和5)中，在檢測(cè)期間驅(qū)動(dòng)元件24(此處為驅(qū)動(dòng)晶體管)需要關(guān)斷，以便使從電源線22流過(guò)驅(qū)動(dòng)晶體管24的漏電流最小，否則其將影響所檢測(cè)的漏電流IL。
最好在檢測(cè)周期一開(kāi)始時(shí)，對(duì)于顯示器中的所有像素進(jìn)行驅(qū)動(dòng)晶體管24的復(fù)位。這可以無(wú)需逐線掃描而完成，可僅僅通過(guò)用所選擇的所有行在所有數(shù)據(jù)列上施加適當(dāng)?shù)碾妷憾M(jìn)行。該電壓應(yīng)該為使得驅(qū)動(dòng)晶體管關(guān)斷，即不會(huì)泄漏任何電流。
還可以通過(guò)減小電源線22電壓、或者甚至通過(guò)完全斷開(kāi)電源線22，來(lái)實(shí)現(xiàn)復(fù)位。
另一種方法是在OLED陽(yáng)極29與驅(qū)動(dòng)晶體管24之間設(shè)置附加開(kāi)關(guān)(未示出)，以便能夠?qū)Ⅱ?qū)動(dòng)晶體管24從數(shù)據(jù)線斷開(kāi)，從而不會(huì)干擾所檢測(cè)的漏電流。還可以將這些選擇方法中的一部分或全部組合。
圖6a-d表示對(duì)于與圖5中所示相類似的電壓可編程像素電路，用于實(shí)現(xiàn)圖2中的檢測(cè)部件4的一個(gè)示例。該電路包括具有負(fù)反饋電容器42的運(yùn)算放大器41，作為電荷靈敏放大器工作。開(kāi)關(guān)43與電容器42平行地設(shè)置，從而能將放大器41旁路。
圖6a表示正常尋址過(guò)程中，即輸出周期期間的電路。在此情形中，從列驅(qū)動(dòng)器3為運(yùn)算放大器41的輸入提供數(shù)據(jù)列信號(hào)(V)，且閉合開(kāi)關(guān)43。從而信號(hào)V通過(guò)數(shù)據(jù)列線2提供給被尋址的像素5。
圖6b表示檢測(cè)期間的電路。此時(shí)，運(yùn)算放大器41的輸入電壓為將OLED 25設(shè)置成反向模式所需的電壓V1，并保持恒定。該檢測(cè)電壓V1通過(guò)數(shù)據(jù)列線2提供給被尋址的像素5。開(kāi)關(guān)43打開(kāi)，從而使得放大器41接收來(lái)自反向偏置像素5的任何漏電流IL，并將輸出電壓Vout發(fā)送給存儲(chǔ)器8。
將另一開(kāi)關(guān)44設(shè)置成使數(shù)據(jù)列2直接與修復(fù)電壓V2相連。為了將該電壓施加給數(shù)據(jù)列2，切換開(kāi)關(guān)44，從而斷開(kāi)數(shù)據(jù)列線與運(yùn)算放大器41，并將其與V2端相連。在圖6c中表示出了這種情形。然后修復(fù)電壓V2通過(guò)數(shù)據(jù)列線2施加給被尋址的像素5。通過(guò)改變放大器輸入端上的電壓，可交替地施加修復(fù)電壓V2。
另一種選擇是使用開(kāi)關(guān)45在三個(gè)不同端之間，即V，V2和運(yùn)算放大器41之間切換，如圖6d中所示。根據(jù)該電路，在檢測(cè)期間運(yùn)算放大器41僅與數(shù)據(jù)列線2相連。在修復(fù)期間，開(kāi)關(guān)45將數(shù)據(jù)列2與V端相連，而在修復(fù)期間與V2端相連。
本領(lǐng)域技術(shù)人員可想到上述實(shí)施例的多種變型。例如，顯然盡管在本說(shuō)明書(shū)中，數(shù)據(jù)信號(hào)逐列連接，選擇信號(hào)逐行連接，但是本發(fā)明不限于此。不必與輸出期間使用相同類型的掃描來(lái)進(jìn)行檢測(cè)，或者為此完全使用任何掃描。
此外，可使用其他部件作為開(kāi)關(guān)和驅(qū)動(dòng)元件，取代或者補(bǔ)充上述晶體管。存儲(chǔ)元件并非必須為電容器，另一種靜態(tài)存儲(chǔ)器同樣良好。
而且，已經(jīng)就OLED顯示器描述了本發(fā)明，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員顯然可知，可以將本發(fā)明的原理擴(kuò)展到用有源矩陣尋址的其他電流驅(qū)動(dòng)發(fā)光顯示器，例如場(chǎng)致發(fā)射顯示器和電致發(fā)光顯示器。
權(quán)利要求
1.一種用于檢測(cè)有源矩陣顯示像素單元(20；20’)中發(fā)光元件(25)的方法，還包括可與驅(qū)動(dòng)元件(24)和發(fā)光元件(25)的第一電極(29)相連的數(shù)據(jù)線(21)，所述方法包括在重復(fù)的輸出周期期間，將數(shù)據(jù)線(21)與驅(qū)動(dòng)元件(24)相連，并在數(shù)據(jù)線(21)上提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)(V)以便使發(fā)光元件(25)產(chǎn)生光，并且在兩個(gè)輸出周期之間的檢測(cè)周期期間，將數(shù)據(jù)線(21)與發(fā)光元件(25)的第一電極(29)相連，在數(shù)據(jù)線(21)上提供檢測(cè)電壓(V1)以便反向偏置發(fā)光元件(25)，并檢測(cè)流過(guò)發(fā)光元件(25)的任何漏電流(IL)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，以預(yù)定數(shù)量的輸出周期為間隔，循環(huán)地執(zhí)行檢測(cè)周期。
3.根據(jù)權(quán)利要求1-2所述的方法，其中所述像素單元(20；20’)包括用于將所述數(shù)據(jù)線(21)與驅(qū)動(dòng)元件(24)和/或發(fā)光元件(25)的陽(yáng)極(29)相連的兩個(gè)開(kāi)關(guān)(26，27；32，33)，所述方法還包括控制所述開(kāi)關(guān)，從而在所述檢測(cè)周期期間，數(shù)據(jù)線(21)僅與所述第一電極(29)相連。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3所述的方法，還包括分析漏電流(IL)，以便判斷該發(fā)光元件(25)是否受到任何外部影響。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-3所述的方法，還包括分析所述漏電流，以便判斷該發(fā)光元件(25)是否是缺陷的，并且如果是這種情況，則向發(fā)光元件(25)的第一電極(29)提供修復(fù)電壓，以消除發(fā)光元件中的任何缺陷。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其中，在相繼的檢測(cè)周期期間施加所述修復(fù)電壓。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-3所述的方法，還包括分析所述漏電流，以便判斷該發(fā)光元件是否是缺陷的，并且如果是這種情況，則根據(jù)該缺陷調(diào)節(jié)像素的驅(qū)動(dòng)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中將該缺陷像素去除激勵(lì)。
9.根據(jù)權(quán)利要求7-8所述的方法，其中，為了屏蔽缺陷，調(diào)節(jié)周圍像素的驅(qū)動(dòng)。
10.根據(jù)權(quán)利要求7-9所述的方法，其中，在下一相繼輸出周期之前或期間，執(zhí)行所述調(diào)節(jié)步驟。
11.根據(jù)前面任一權(quán)利要求所述的方法，其中該發(fā)光元件為有機(jī)或聚合物發(fā)光二極管。
12.一種有源矩陣顯示裝置，包括多個(gè)像素單元(20；20’)，每個(gè)具有電流驅(qū)動(dòng)發(fā)光元件(25)和用于將數(shù)據(jù)線(21)與發(fā)光元件的第一電極(29)相連的裝置，其特征還在于用于在數(shù)據(jù)線上提供檢測(cè)電壓(V1)的裝置(1；43，44)，所述檢測(cè)電壓(V1)相對(duì)于發(fā)光元件陰極電壓(31)為負(fù)，從而反向偏置發(fā)光元件(25)；以及用于檢測(cè)流過(guò)發(fā)光元件的任何漏電流的裝置(41，42)。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的顯示裝置，其中每個(gè)像素單元(20)包括串聯(lián)設(shè)置在數(shù)據(jù)線(21)與驅(qū)動(dòng)元件(24)之間的兩個(gè)開(kāi)關(guān)(26，27)，發(fā)光元件第一電極(29)與所述開(kāi)關(guān)之間的點(diǎn)(30)相連。
14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的顯示裝置，其中每個(gè)像素單元(20’)包括設(shè)置在數(shù)據(jù)線(21)與驅(qū)動(dòng)元件(24)之間的第一開(kāi)關(guān)(32)，以及設(shè)置在數(shù)據(jù)線(2)與發(fā)光元件的第一電極(29)之間的第二開(kāi)關(guān)(33)。
15.根據(jù)權(quán)利要求12-14所述的顯示裝置，其中，該發(fā)光元件(25)是有機(jī)或聚合物發(fā)光二極管。
16.一種有源矩陣顯示裝置中的像素單元，包括數(shù)據(jù)線(21)、驅(qū)動(dòng)元件(24)、發(fā)光元件(25)、以及設(shè)置在數(shù)據(jù)線(21)與驅(qū)動(dòng)元件(24)之間的第一開(kāi)關(guān)(32)，其特征在于設(shè)置在數(shù)據(jù)線(21)與發(fā)光元件的第一電極(29)之間的第二開(kāi)關(guān)(33)。
全文摘要
一種檢測(cè)有源矩陣顯示像素單元(20；20’)中發(fā)光元件的方法，該有源矩陣顯示像素單元還包括可與驅(qū)動(dòng)元件(24)和發(fā)光元件(25)的第一電極(29)相連的數(shù)據(jù)線(21)。數(shù)據(jù)線(21)與發(fā)光元件(25)的陽(yáng)極(29)相連，檢測(cè)電壓(V1)將發(fā)光元件(25)反向偏置，并檢測(cè)流過(guò)發(fā)光元件(25)的任何漏電流(IL)。
文檔編號(hào)G09G3/00GK1711479SQ200380102877
公開(kāi)日2005年12月21日 申請(qǐng)日期2003年11月3日 優(yōu)先權(quán)日2002年11月6日
發(fā)明者A·吉拉多, M·T·約翰遜 申請(qǐng)人:皇家飛利浦電子股份有限公司