技術(shù)編號：2637653
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及用于檢測有源矩陣顯示像素單元中發(fā)光元件的方法。還涉及一種有源矩陣顯示器，該有源矩陣顯示器包括多個像素單元，每個像素單元具有電流驅(qū)動發(fā)光元件，諸如有機(jī)或聚合物發(fā)光二極管，以及可與驅(qū)動元件和發(fā)光元件的電極相連的數(shù)據(jù)線。背景技術(shù)諸如來自襯底或由裝置加工產(chǎn)生的粒子以及各層中的針孔和小丘之類的缺陷或結(jié)構(gòu)不均勻性，對于所有OLED顯示器(包括聚合物和小分子、分段、無源矩陣和有源矩陣顯示器)壽命而言，是一個嚴(yán)重問題?？刹捎贸鹾Y和老化措施減小制造過程中出現(xiàn)的缺陷...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。