本實(shí)用新型涉及工業(yè)測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及用于承載待測(cè)器件的托盤。

背景技術(shù)：

為提高電子產(chǎn)品的質(zhì)量，通常需要對(duì)產(chǎn)品的器件進(jìn)行測(cè)試，這樣才能保證用于產(chǎn)品的器件的性能符合標(biāo)準(zhǔn)。用于放置待測(cè)試器件的托盤(以下稱為“測(cè)試托盤”)是工業(yè)生產(chǎn)基礎(chǔ)的裝備。隨著科技的發(fā)展，諸如手機(jī)、計(jì)算機(jī)、監(jiān)控系統(tǒng)、智能機(jī)器人等的電子產(chǎn)品得到全面且飛速的發(fā)展。大部分電子產(chǎn)品包括高精密器件，例如高清晰攝像頭。大部分高精密產(chǎn)品的器件(例如，相機(jī)的鏡頭)測(cè)試都需要治具的輔助，治具設(shè)計(jì)技術(shù)的高低，已形成衡量產(chǎn)品制造水平高低的一個(gè)重要標(biāo)志，在很大程度上決定這產(chǎn)品的質(zhì)量、效益和開發(fā)的能力。

另外，為了準(zhǔn)確地測(cè)試器件性能，對(duì)測(cè)試托盤與用于測(cè)試器件的測(cè)試設(shè)備(以下稱為“測(cè)試設(shè)備”)的空間相對(duì)位置精度要求極高，同時(shí)對(duì)測(cè)試托盤與待測(cè)器件之間的配合精度要求也很高。

當(dāng)前使用的一體式托盤在與用于測(cè)試器件的測(cè)試設(shè)備一起使用時(shí)，由于適應(yīng)性不強(qiáng)而大多不能實(shí)現(xiàn)與工業(yè)設(shè)備的自動(dòng)化結(jié)合，因此需要人工將器件一一擺放在托盤中，耗時(shí)耗力。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

根據(jù)本公開的一個(gè)實(shí)施方式，一種托盤包括：子盤，包括多個(gè)第一貫穿孔和多個(gè)第一接納孔；母盤，包括多個(gè)定位槽和多個(gè)接納槽；其特征在于，每個(gè)定位槽中設(shè)置有第一定位柱，第一定位柱從定位槽延伸并貫穿子盤中的第一貫穿孔，托盤還包括：多個(gè)第一調(diào)節(jié)件，其一端接納到母盤的接納槽中，另一端連接至子盤的第一接納孔中，每個(gè)第一調(diào)節(jié)件配置為調(diào)節(jié)子盤與母盤之間的平行度。

可選地，母盤還包括多個(gè)第二貫穿孔，每個(gè)第二貫穿孔中設(shè)置有可滑動(dòng)地貫穿其中的第二定位柱。

可選地，托盤還包括多個(gè)第二調(diào)節(jié)件，其一端連接到托盤的安置表面，另一端連接至母盤的第二接納孔中，每個(gè)第二調(diào)節(jié)件配置為調(diào)節(jié)安置表面與母盤之間的平行度。

可選地，母盤包括多個(gè)第一取放凹槽，子盤包括多個(gè)第二取放凹槽，多個(gè)第一取放凹槽中的兩個(gè)與多個(gè)第二取放凹槽中的兩個(gè)在同一直線上對(duì)準(zhǔn)。

可選地，子盤在接納待測(cè)器件的表面上設(shè)置有適于接納待測(cè)器件的多個(gè)放置部，多個(gè)放置部能夠任意排列。

可選地，多個(gè)第一貫穿孔在子盤成中心對(duì)稱。

可選地，多個(gè)第一接納孔在子盤成中心對(duì)稱。

可選地，多個(gè)第二貫穿孔在母盤成中心對(duì)稱。

可選地，多個(gè)第二接納孔在母盤成中心對(duì)稱。

可選地，子盤包括：用于放置多個(gè)放置部的放置區(qū)；以及圍繞放置區(qū)的非放置區(qū)，其中多個(gè)第一貫穿孔和多個(gè)第一接納孔設(shè)置在非放置區(qū)中。

可選地，母盤包括承靠子盤的承靠區(qū)和圍繞承靠區(qū)的非承靠區(qū)，多個(gè)定位槽和多個(gè)接納槽設(shè)置在承靠區(qū)中，多個(gè)第二貫穿孔設(shè)置在非承靠區(qū)中。

可選地，母盤包括承靠子盤的承靠區(qū)和圍繞承靠區(qū)的非承靠區(qū)，多個(gè)第二接納孔設(shè)置在非承靠區(qū)中。

有益效果

由于工業(yè)生產(chǎn)設(shè)備由于成本高大多不宜進(jìn)行改造，因此，在工業(yè)生產(chǎn)應(yīng)用中，根據(jù)本實(shí)用新型的托盤為子母可分離的分體式托盤，可單獨(dú)對(duì)子盤進(jìn)行設(shè)計(jì)，例如，子盤可設(shè)置成各種形狀、可設(shè)置有放置待測(cè)器件的、可排列成任意形狀的放置部等以適應(yīng)于工業(yè)生產(chǎn)設(shè)備，這樣可根據(jù)產(chǎn)生設(shè)備的結(jié)構(gòu)及功能來設(shè)計(jì)子盤，實(shí)現(xiàn)高效的工業(yè)化生產(chǎn)。另外，在例如應(yīng)用于工業(yè)測(cè)試時(shí)，根據(jù)本實(shí)用新型的托盤可根據(jù)需要來調(diào)節(jié)子盤與母盤之間的平行度，從而提高測(cè)試精度，保證器件質(zhì)量。

根據(jù)上述的至少一個(gè)方案，采用了子母分體式測(cè)試托盤設(shè)計(jì)，在托盤精度調(diào)試過程中，由于待測(cè)器件對(duì)托盤的精度要求很高，因此托盤增加了可調(diào)節(jié)裝置(例如,第一調(diào)節(jié)件和第二調(diào)節(jié)件)，保證了托盤的測(cè)試精度，可以彌補(bǔ)由于加工誤差引起的測(cè)試誤差。

此外，根據(jù)上述子母分體式測(cè)試托盤設(shè)計(jì)，可例如把待測(cè)器件以直接扣翻板的方式扣在子盤上，承靠母盤上測(cè)試，節(jié)省傳統(tǒng)模式人工一一擺放在測(cè)試托盤中的人力，而大大提高測(cè)試效率，節(jié)省人力。而且，通過分別在母盤和子盤中配置多個(gè)第一取放凹槽和多個(gè)第二取放凹槽，可便于子盤的取放，提高子盤的取放效率。

附圖說明

圖1示意性地示出了根據(jù)本公開的一個(gè)實(shí)施方式的托盤的俯視圖；

圖2示意性地示出了根據(jù)本公開一個(gè)實(shí)施方式的子盤的俯視圖；

圖3是根據(jù)本公開一個(gè)實(shí)施方式的母盤的俯視圖；

圖4是根據(jù)本公開實(shí)施方式的托盤的俯視圖；以及

圖5是示出了根據(jù)本公開實(shí)施方式的托盤的俯視圖。

具體實(shí)施方式

為了更好地理解本申請(qǐng)，將參考附圖對(duì)本申請(qǐng)的各個(gè)方面做出更詳細(xì)的說明。可以理解，所述附圖和詳細(xì)說明只是對(duì)本申請(qǐng)示例性實(shí)施方式的描述，而非以任何方式限制本申請(qǐng)的范圍。

應(yīng)理解的是，雖然用語第一、第二等在本文中可以用來描述各種元件、區(qū)域或部件，但是這些元件、區(qū)域或部件不應(yīng)被這些用語限制。這些用語僅用于將一個(gè)元件、部件、區(qū)域與另一個(gè)元件、部件、區(qū)域區(qū)分開。

還應(yīng)理解的是，用語“包括”、“包括有”、“具有”、“包含”和/或“包含有”，當(dāng)在本說明書中使用時(shí)表示存在所陳述的特征，但不排除存在或附加有一個(gè)或多個(gè)其它特征。此外，當(dāng)描述本申請(qǐng)的實(shí)施方式時(shí)，使用“可以”表示“本申請(qǐng)的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式”。并且，用語“示例性的”旨在指代示例或舉例說明。

如在本文中使用的，用語“基本上”、“大約”以及類似的用語用作表近似的用語，而不用作表程度的用語，并且旨在說明將由本領(lǐng)域普通技術(shù)人員認(rèn)識(shí)到的、測(cè)量值或計(jì)算值中的固有偏差。

附圖中所示出各個(gè)部件和區(qū)域的尺寸僅為示例性的。

除非另外限定，否則本文中使用的所有用語(包括技術(shù)用語和科學(xué)用語)均具有與本申請(qǐng)所屬領(lǐng)域普通技術(shù)人員的通常理解相同的含義。還應(yīng)理解的是，用語(例如在常用詞典中定義的用語)應(yīng)被解釋為具有與它們?cè)谙嚓P(guān)技術(shù)的上下文中的含義一致的含義，并且將不被以理想化或過度正式意義解釋，除非本文中明確如此限定。

圖1示意性地示出了根據(jù)本公開的一個(gè)實(shí)施方式的托盤1的俯視圖，圖2示意性地示出了根據(jù)本公開一個(gè)實(shí)施方式的子盤20的俯視圖，以及圖3是根據(jù)本公開一個(gè)實(shí)施方式的母盤10的俯視圖。

如圖1和圖3所示，托盤1包括母盤10和子盤20。母盤10和子盤20不限于圖中所示出的形狀，并且可設(shè)計(jì)成適于與測(cè)試設(shè)備一起操作的任何形狀。

子盤20可包括多個(gè)第一貫穿孔21和多個(gè)第一接納孔22。第一貫穿孔21可為貫穿子盤20的孔。第一接納孔22可貫穿子盤20?？蛇x地，第一接納孔22也可不貫穿子盤20。

母盤10包括多個(gè)定位槽11和多個(gè)接納槽12，其中，每個(gè)定位槽11中設(shè)置有第一定位柱(未示出)。第一定位柱從定位槽11延伸并貫穿子盤20中的第一貫穿孔21。在該實(shí)施方式中，定位槽11和接納槽12可設(shè)計(jì)成不貫穿母盤10?？蛇x地，定位槽11和接納槽12也可貫穿母盤10。第一定位柱可設(shè)計(jì)成能夠在第一貫穿孔21中在其長(zhǎng)度方向上滑動(dòng)，第一定位柱可與定位槽11固定連接。第一定位柱可設(shè)置成圓柱形、棱柱等形狀，相應(yīng)地，定位槽11和第一貫穿孔21不限于圖中所示的形狀，并且可設(shè)置成適于與第一定位柱配合的形狀，并且通過這種配合可在與母盤的平面平行的方向上限制子盤20在母盤10上的位置。

另外，托盤1還包括多個(gè)第一調(diào)節(jié)件(未示出)。第一調(diào)節(jié)件的一端接納到母盤10的接納槽12中，另一端連接至子盤20的第一接納孔22中。，每個(gè)第一調(diào)節(jié)件通過與接納槽12和第一接納孔22配合可在與母盤10垂直的方向上固定子盤20，并且通過調(diào)節(jié)第一調(diào)節(jié)件來調(diào)節(jié)子盤20與母盤10的平行度。

例如，每個(gè)第一調(diào)節(jié)件均可以可旋轉(zhuǎn)地固定在接納槽12和第一接納孔22中，以通過旋轉(zhuǎn)來調(diào)節(jié)子盤20與母盤10的平行度。例如，第一調(diào)節(jié)件可為螺釘，接納槽12適于將螺釘?shù)牟粠菁y的一端可旋轉(zhuǎn)地接納到其中，第一接納孔22可以為帶有適于與螺釘?shù)穆菁y配合的螺紋。這樣通過旋轉(zhuǎn)螺釘，可調(diào)節(jié)子盤20上接納該螺釘?shù)奈恢门c母盤10的垂直距離，進(jìn)而調(diào)節(jié)子盤20與母盤10的平行度，從而調(diào)節(jié)子盤20與母盤10的安置平面的平行度。

當(dāng)然，第一調(diào)節(jié)件可為其他器件，作為另一示例，第一調(diào)節(jié)件可為可升降構(gòu)件，即長(zhǎng)度可調(diào)的構(gòu)件。因此，第一調(diào)節(jié)件可通過調(diào)節(jié)長(zhǎng)度來調(diào)節(jié)子盤20與母盤10的平行度。

通過這種實(shí)施方式，可實(shí)現(xiàn)分體式托盤，子盤10通過第一定位柱和第一調(diào)節(jié)件承靠在母盤上，并且可通過第一調(diào)節(jié)件調(diào)節(jié)子盤20與母盤10的平行度。

如圖1和圖2所示，子盤20除包括參照?qǐng)D1所述的特征外，子盤20還可在接納待測(cè)器件的表面上設(shè)置有適于接納待測(cè)器件的多個(gè)放置部PP，所述多個(gè)放置部PP不限于圖中所示的形狀，多個(gè)放置部PP不限于排列成圖2中所示的形狀，并且可排列成任何形。由于子盤20的形狀及其多個(gè)放置PP可任意進(jìn)行設(shè)置，因此，根據(jù)本實(shí)用新型的托盤可僅通過改變子盤來適應(yīng)工業(yè)生產(chǎn)設(shè)備及待測(cè)器件。

如圖1所示，子盤20可包括：用于放置多個(gè)放置部PP的放置區(qū)PA；以及圍繞所述放置區(qū)PA的非放置區(qū)NPA，其中，多個(gè)第一貫穿孔21和多個(gè)第一接納孔22可設(shè)置在非放置區(qū)NPA中。多個(gè)第一貫穿孔21可在子盤20成中心對(duì)稱，多個(gè)第一接納孔22可在子盤20成中心對(duì)稱。

子盤20還可包括多個(gè)第二取放凹槽23。第二取放凹槽23可設(shè)置于子盤20的非放置區(qū)NPA中，并且第二取放凹槽23的形狀不限于圖中所示的形狀并且可為任意形狀。

如圖3所示，母盤10還可包括多個(gè)第二接納孔14和多個(gè)第二貫穿孔15，第二貫穿孔15中設(shè)置有可滑動(dòng)地貫穿其中的第二定位柱(未示出)。第二定位柱的另一端可連接至托盤1的安置表面上，即安置到測(cè)試設(shè)備上。多個(gè)第二接納孔14可在母盤10成中心對(duì)稱。多個(gè)第二貫穿孔15可在母盤10成中心對(duì)稱。

第二定位柱可設(shè)計(jì)成能夠在第二貫穿孔15中在其長(zhǎng)度方向上滑動(dòng)，第二定位柱可與托盤1的安置表面固定連接。第二定位柱可設(shè)置成圓柱形、棱柱等形狀，相應(yīng)地，第二貫穿孔15可設(shè)置成適于與第二定位柱配合的形狀，并且通過這種配合可在與安置表面平行的方向上限制母盤10的位置。

母盤10還可包括承靠子盤20的承靠區(qū)BA和圍繞承靠區(qū)BA的非承靠區(qū)NBA，圖多個(gè)定位槽11和多個(gè)接納槽12可設(shè)置在承靠區(qū)BA中，個(gè)第二接納孔14和多個(gè)第二貫穿孔15可設(shè)置在所述非承靠區(qū)NBA中。

圖4是根據(jù)本公開實(shí)施方式的托盤1的俯視圖。

參照?qǐng)D4，托盤1還包括第二調(diào)節(jié)件(未示出)，第二調(diào)節(jié)件的一端連接至托盤1的安置表面，另一端連接至母盤10的第二接納孔14中，每個(gè)第二調(diào)節(jié)件配置為調(diào)節(jié)安置表面與母盤10之間的平行度。

每個(gè)第二調(diào)節(jié)件的一端接納到母盤10的第二接納孔14中，另一端連接至托盤1的安置表面。進(jìn)一步地，每個(gè)第二調(diào)節(jié)件通過與第二接納孔14和安置表面的配合可在與安置表面垂直的方向上固定母盤10，并且通過調(diào)節(jié)第二調(diào)節(jié)件可調(diào)節(jié)母盤10與安置表面的平行度。例如，每個(gè)第二調(diào)節(jié)件均可以可旋轉(zhuǎn)地固定在安置表面和第二接納孔14中，以通過旋轉(zhuǎn)來調(diào)節(jié)子盤20與母盤10的平行度，例如安置表面設(shè)置有用于接納第二調(diào)節(jié)件的槽。例如，第二調(diào)節(jié)件可為螺釘，設(shè)置于安置表面中的槽適于將螺釘?shù)牟粠菁y的一端可旋轉(zhuǎn)地接納到其中，第二接納孔14可以為帶有適于與螺釘?shù)穆菁y配合的螺紋。這樣通過旋轉(zhuǎn)螺釘可調(diào)節(jié)母盤10上接納該螺釘?shù)奈恢门c安置表面的垂直距離，進(jìn)而調(diào)節(jié)母盤10與安置表面的平行度。

當(dāng)然，第二調(diào)節(jié)件可為其他器件，作為另一示例，第二調(diào)節(jié)件可為可升降構(gòu)件，即長(zhǎng)度可調(diào)的構(gòu)件。因此，第二調(diào)節(jié)件可通過調(diào)節(jié)長(zhǎng)度來調(diào)節(jié)母盤10與安置表面的平行度。

雖然未在圖4中示出第二貫穿孔15以及可滑動(dòng)貫穿其中的第二定位柱，但是，根據(jù)參照?qǐng)D4所述的實(shí)施方式的托盤1可包括第二貫穿孔15以及第二定位柱，或者可包括可實(shí)現(xiàn)類似功能的結(jié)構(gòu)或結(jié)構(gòu)的組合。

圖5是示出了根據(jù)本公開實(shí)施方式的托盤1的俯視圖。

如圖5所示，托盤1可包括母盤20和子盤10。子盤20包括如參照?qǐng)D1所述的實(shí)施方式的多個(gè)第一貫穿孔21和多個(gè)第一接納孔22，以及可包括參照?qǐng)D2所述的多個(gè)放置部PP和多個(gè)第二取放凹槽23。母盤10可包括參照?qǐng)D3和圖4所示的多個(gè)定位槽11、多個(gè)接納槽12、多個(gè)第二接納孔14和多個(gè)第二貫穿孔15，另外母盤10還可包括多個(gè)第一取放凹槽13。如圖5所示，多個(gè)第一取放凹槽13中的兩個(gè)與所述多個(gè)第二取放凹槽23中的兩個(gè)可優(yōu)選地在同一直線上對(duì)準(zhǔn)，這樣可便于子盤20的取放，從而提高人員取放效率。

本公開不限于以上所描述的實(shí)施方式，并且附圖中所示出的實(shí)施方式僅是示例性的，并非對(duì)本公開進(jìn)行限制，因此，在不背離本公開的精神和范圍的情況下，本領(lǐng)域技術(shù)人員可對(duì)本公開的實(shí)施方式做出形式和細(xì)節(jié)上的各種改變。