具有測試托盤和自動化測試托盤翻轉(zhuǎn)器的測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明可提供一種測試系統(tǒng)，在所述測試系統(tǒng)中，將待測裝置(DUT)加載到測試托盤中?？墒褂脗魉蛶箿y試托盤在測試工位之間移動。所述測試系統(tǒng)可包括加載設(shè)備以用于以所需的間隔將測試托盤放置在所述傳送帶上?？墒褂醚刂鰝魉蛶Фㄎ坏臏y試工位對每個測試托盤進(jìn)行測試。第一組測試工位可被配置為測試在其豎直取向中的DUT，而第二組測試工位可被配置為測試在其倒置取向中的DUT。測試托盤翻轉(zhuǎn)設(shè)備可介于所述第一組測試工位和所述第二組測試工位之間。所述翻轉(zhuǎn)設(shè)備可包括活動臂，所述活動臂被配置為接收傳入托盤，抓取所述托盤，將所述托盤從所述傳送帶提升，旋轉(zhuǎn)所述托盤，以及將所述托盤下降回到所述傳送帶上。
【專利說明】具有測試托盤和自動化測試托盤翻轉(zhuǎn)器的測試系統(tǒng)
[0001] 本申請要求2012年7月19日提交的美國專利申請No. 13/553,034以及2012年 2月6日提交的美國臨時專利申請61/595, 572的優(yōu)先權(quán)，所述專利申請據(jù)此以引用方式全 文并入本文。

【背景技術(shù)】
[0002] 本發(fā)明整體涉及自動化，并且更具體地涉及用于制造操作諸如測試中的自動化設(shè) 備。
[0003] 常常在組裝之后對電子裝置進(jìn)行測試以確保裝置性能滿足設(shè)計規(guī)范。例如，可在 一系列測試工位處對裝置進(jìn)行測試以確保裝置中的組件和軟件令人滿意地工作。在每個測 試工位處，操作者可使用電纜將裝置耦接至測試設(shè)備。在所有測試工位處成功測試之后，可 將裝置運送至最終用戶。
[0004] 對于測試系統(tǒng)操作者而言，附接以及拆卸測試電纜連接器的過程以及與執(zhí)行測試 工位處的測試相關(guān)聯(lián)的手動操作可為麻煩的且繁重的。如果不小心，測試可能不太準(zhǔn)確并 且消耗比所期望的時間更多的時間。
[0005] 因此，將需要能夠提供在電子裝置上執(zhí)行制造操作諸如測試操作的改進(jìn)方式。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0006] 本發(fā)明可提供一種測試系統(tǒng)，在所述測試系統(tǒng)中，將待測裝置加載到測試托盤中。 可在測試工位處對測試系統(tǒng)中的測試托盤進(jìn)行測試。可使用傳送帶將測試托盤從一個測試 工位移動到另一個測試工位。每個測試工位可包括用于對待測裝置執(zhí)行所需測試的測試設(shè) 備。
[0007] 測試系統(tǒng)可包括：第一組測試工位，其被配置為對取向為堅直位置的裝置進(jìn)行測 試；第二組測試工位，其被配置為對取向為倒置位置的裝置進(jìn)行測試；以及測試托盤翻轉(zhuǎn) 設(shè)備，其沿著傳送帶介于第一組測試工位和第二組測試工位之間。
[0008] 測試托盤翻轉(zhuǎn)設(shè)備可包括第一傳感器（例如，射頻識別傳感器）、第二傳感器（例 如，基于光的傳感器）、翻轉(zhuǎn)臂、和用于移動翻轉(zhuǎn)臂的相關(guān)聯(lián)的計算機控制的定位器。第一傳 感器可用于檢測與測試托盤相關(guān)聯(lián)的序列號，而第二傳感器可用于確定傳入測試托盤是否 已被翻轉(zhuǎn)臂成功地接收。
[0009] 響應(yīng)于使用第一傳感器檢測到需要翻轉(zhuǎn)的傳入測試托盤，翻轉(zhuǎn)臂可朝向傳送帶的 表面降低以接收傳入測試托盤。當(dāng)?shù)诙鞲衅鳈z測到測試托盤已被成功地接收在翻轉(zhuǎn)臂內(nèi) 時，翻轉(zhuǎn)臂可閂鎖到測試托盤上（例如，通過使翻轉(zhuǎn)臂接合特征與所接收的測試托盤中的 對應(yīng)測試托盤接合特征接合）。當(dāng)測試托盤閂鎖在翻轉(zhuǎn)臂內(nèi)時，可將測試托盤升高至傳送帶 上方預(yù)先確定的高度處。然后可通過使翻轉(zhuǎn)臂圍繞樞轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)而使測試托盤倒置。測試托 盤可旋轉(zhuǎn)180°、90°、270°、120°、135°或其他合適的度數(shù)以改變待測測試托盤的取向。 然后翻轉(zhuǎn)臂可使倒置的測試托盤下降到傳送帶上并返回至傳送帶上方的待用位置。
[0010] 通過附圖和以下【具體實施方式】，本發(fā)明的更多特征、其性質(zhì)和各種優(yōu)點將會更加 顯而易見。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0011] 圖IA為可使用根據(jù)本發(fā)明一實施例的自動化設(shè)備制造的類型的一種示例性電子 裝置的前透視圖，該示例性電子裝置諸如是手持裝置。
[0012] 圖IB為可使用根據(jù)本發(fā)明一實施例的自動化設(shè)備制造的類型的一種示例性電子 裝置的后透視圖，該示例性電子裝置諸如是手持裝置。
[0013] 圖2為根據(jù)本發(fā)明一實施例的一種示例性電子裝置的示意圖，該示例性電子裝置 具有輸入/輸出裝置和無線通信電路系統(tǒng)。
[0014] 圖3為根據(jù)本發(fā)明一實施例的所述類型的制造設(shè)備的圖示，該制造設(shè)備可用于制 造電子裝置。
[0015] 圖4A為根據(jù)本發(fā)明一實施例的一種示例性待測裝置、焊盤延伸器以及測試托盤 的分解透視圖。
[0016] 圖4B為根據(jù)本發(fā)明一實施例的一種示例性待測裝置、焊盤延伸器以及測試托盤 的透視圖。
[0017] 圖5A為根據(jù)本發(fā)明一實施例的一種示例性測試托盤的頂部透視圖。
[0018] 圖5B為根據(jù)本發(fā)明一實施例的一種示例性測試托盤的底部透視圖。
[0019] 圖5C為根據(jù)本發(fā)明一實施例的一種示例性測試托盤的底部透視圖，該測試托盤 具有容納測試的開口。
[0020] 圖ro為根據(jù)本發(fā)明一實施例的一種示例性測試托盤的透視圖，在該測試托盤中 已安裝有待測裝置。
[0021] 圖6為根據(jù)本發(fā)明一實施例的測試托盤翻轉(zhuǎn)設(shè)備的示意圖。
[0022] 圖7為根據(jù)本發(fā)明一實施例的待測裝置抓取臂的剖面端視圖，該待測裝置抓取臂 已與配對測試托盤接合。
[0023] 圖8為根據(jù)本發(fā)明一實施例的圖，其示出了使用射頻識別傳感器檢測到的傳入測 試托盤。
[0024] 圖9為根據(jù)本發(fā)明一實施例的圖，其示出了使用基于光的傳感器檢測到的傳入測 試托盤。
[0025] 圖10為根據(jù)本發(fā)明一實施例的圖，其示出了通過活動臂接收傳入測試托盤。
[0026] 圖11為根據(jù)本發(fā)明一實施例的圖，其示出了通過活動臂升高測試托盤。
[0027] 圖12為根據(jù)本發(fā)明一實施例的圖，其示出了通過旋轉(zhuǎn)活動臂翻轉(zhuǎn)測試托盤。
[0028] 圖13為根據(jù)本發(fā)明一實施例的圖，其示出了已經(jīng)通過活動臂翻轉(zhuǎn)的測試托盤。
[0029] 圖14為根據(jù)本發(fā)明一實施例的圖，其示出了通過活動臂使測試托盤下降。
[0030] 圖15為根據(jù)本發(fā)明一實施例的圖，其示出了活動臂在使翻轉(zhuǎn)后的測試托盤下降 之后返回至待用位置。
[0031] 圖16為根據(jù)本發(fā)明一實施例的示例性步驟的流程圖，所述示例性步驟用于操作 圖3和圖6中示出的類型的測試系統(tǒng)。
[0032] 圖17和18為根據(jù)本發(fā)明一實施例的可用于翻轉(zhuǎn)測試托盤的合適活動臂配置的 圖。

【具體實施方式】
[0033] 可使用自動化制造設(shè)備來制造電子裝置諸如圖IA的電子裝置10。自動化制造設(shè) 備可包括用于將裝置組件組裝在一起以形成電子裝置的設(shè)備。自動化制造設(shè)備還可包括用 于評估裝置是否已被適當(dāng)?shù)亟M裝并且正適當(dāng)?shù)匕l(fā)揮作用的測試系統(tǒng)。
[0034] 可使用自動化制造系統(tǒng)來組裝和測試裝置，諸如圖IA的裝置10。該制造系統(tǒng)可包 括一個或多個工位，諸如用于執(zhí)行測試操作的一個或多個測試工位。
[0035] 正在測試系統(tǒng)中測試的裝置有時可被稱為待測裝置（DUT)?？墒褂脗魉蛶?、使用機 械臂、或使用其他加載設(shè)備將待測裝置提供至測試工位。
[0036] 可使用測試設(shè)備對任何合適的裝置進(jìn)行測試。例如，可對圖IA的裝置10進(jìn)行測 試。裝置10可為具有集成計算機的計算機監(jiān)視器、臺式計算機、電視機、筆記本電腦、其他 便攜式電子設(shè)備（諸如蜂窩電話、平板電腦、媒體播放器、腕表裝置、吊墜裝置、耳機裝置、 其他緊湊型便攜式裝置）或其他電子設(shè)備。在圖IA所示的配置中，裝置10為手持式電子 設(shè)備，諸如蜂窩電話、媒體播放器、導(dǎo)航系統(tǒng)裝置、或游戲裝置。
[0037] 如圖IA所示，裝置10可包括外殼，諸如外殼12。外殼12 (有時可被稱為殼體）可 由塑料、玻璃、陶瓷、纖維復(fù)合材料、金屬（例如，不銹鋼、鋁等）、其他合適的材料、或這些材 料的組合形成。在一些情況下，外殼12的部分可由電介質(zhì)或其他低導(dǎo)電率材料形成。在其 他情況下，外殼12或構(gòu)成外殼12的結(jié)構(gòu)中的至少一些可由金屬元件形成。
[0038] 如果需要，裝置10可具有顯示器，諸如顯示器14。顯示器14可為并入了電容 式觸摸電極的觸摸屏或者可對觸摸不敏感。顯示器14可包括由發(fā)光二極管（LED)、有機 LED(OLED)、等離子單元、電泳顯示器元件、電濕潤顯示器元件、液晶顯示器（IXD)組件或其 他合適的圖像像素結(jié)構(gòu)形成的圖像像素。蓋玻層可覆蓋顯示器14的表面。如果需要，用于 按鈕諸如按鈕20的開口、用于揚聲器端口諸如揚聲器端口 22的開口、以及其他開口可形成 在顯示器14的覆蓋層中。
[0039] 顯示器14的中心部分（S卩，有源區(qū)16)可包括有源圖像像素結(jié)構(gòu)。周圍矩形環(huán)狀 無源區(qū)（區(qū)域18)可缺乏有源圖像像素結(jié)構(gòu)。如果需要，可使無源區(qū)18的寬度最小化（例 如，以產(chǎn)生無邊界顯示器）。
[0040] 裝置10可包括組件諸如正面照相機24。照相機24可被取向為在裝置10的操作 期間獲取用戶圖像。如果需要，背面照相機諸如照相機24'可形成于外殼12的后表面上 (如圖IB中的裝置10的后透視圖中所示）。光源諸如光源25也可形成于裝置10的背面 中，并且可在用裝置10捕獲圖像時結(jié)合照相機24'來使用。
[0041] 裝置10可在無源區(qū)18的部分26中包括傳感器。這些傳感器可包括例如基于紅 外光的接近傳感器，其包括紅外光發(fā)射器和對應(yīng)的光檢測器以發(fā)射和檢測來自附近物體的 反射光。部分26中的傳感器還可包括用于檢測在裝置10的周圍環(huán)境中的光的量的環(huán)境光 傳感器。如果需要，可在裝置10中使用其他類型的傳感器。圖IA的例子僅是示例性的。
[0042] 裝置10可包括輸入輸出端口，諸如端口 28。端口 28可包括音頻輸入輸出端口、模 擬輸入輸出端口、數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)輸入輸出端口、或其他端口。
[0043] 傳感器（諸如與圖IA的區(qū)域26相關(guān)聯(lián)的傳感器）、照相機（諸如照相機24)、按 鈕（諸如按鈕20)以及端口（諸如端口 28)可位于裝置外殼12的任何合適部分上（例如， 前外殼面諸如顯示器蓋玻璃部分、后外殼面諸如后平面外殼壁、側(cè)壁結(jié)構(gòu)等）。
[0044] 圖2示出了一種電子裝置（諸如電子裝置10)的示意圖。如圖2所示，電子裝置 10可包括存儲和處理電路系統(tǒng)27。存儲和處理電路系統(tǒng)27可包括存儲裝置，諸如硬盤驅(qū) 動器存儲裝置、非易失性存儲器（例如，閃存存儲器或其他被配置為形成固態(tài)驅(qū)動器的電 可編程只讀存儲器）、易失性存儲器（例如，靜態(tài)或動態(tài)隨機存取存儲器）等。處理電路系 統(tǒng)可基于一個或多個微處理器、微控制器、數(shù)字信號處理器、基帶處理器、電源管理單元、音 頻編解碼器芯片、專用集成電路等。
[0045] 存儲和處理電路系統(tǒng)27可用于運行裝置10上的軟件，諸如互聯(lián)網(wǎng)瀏覽應(yīng)用程序、 互聯(lián)網(wǎng)語音協(xié)議（VOIP)電話呼叫應(yīng)用程序、電子郵件應(yīng)用程序、媒體回放應(yīng)用程序、操作 系統(tǒng)功能等。為了支持與外部設(shè)備進(jìn)行交互，存儲和處理電路系統(tǒng)27可用于實現(xiàn)通信協(xié) 議?？墒褂么鎯吞幚黼娐废到y(tǒng)27實現(xiàn)的通信協(xié)議包括互聯(lián)網(wǎng)協(xié)議、無線局域網(wǎng)（WLAN) 協(xié)議（例如，IEEE 802. 11協(xié)議--有時稱為WiFi:K )、用于其他短程無線通信鏈路的協(xié)議， 諸如:Bluetooth?協(xié)議、蜂窩電話協(xié)議等。
[0046] 電路系統(tǒng)27可被配置為實現(xiàn)對裝置10中的天線的使用進(jìn)行控制的控制算法。例 如，為支持天線分集方案以及MIMO方案或波束形成或其他多天線方案，電路系統(tǒng)27可執(zhí)行 信號質(zhì)量監(jiān)視操作、傳感器監(jiān)視操作以及其他數(shù)據(jù)采集操作，并且可響應(yīng)于所采集的數(shù)據(jù) 而控制正在使用裝置10內(nèi)的哪些天線結(jié)構(gòu)來接收和處理數(shù)據(jù)。例如，電路系統(tǒng)27可控制 正在使用兩個或更多個天線中的哪一者來接收傳入射頻信號，可控制正在使用兩個或更多 個天線中的哪一者來傳輸射頻信號，可控制通過裝置10中兩個或更多個天線來對傳入數(shù) 據(jù)流并行地進(jìn)行路由的過程，等等。
[0047] 輸入/輸出電路系統(tǒng)29可用于允許將數(shù)據(jù)提供至裝置10,并且允許將數(shù)據(jù)從裝 置10提供至外部裝置。輸入/輸出電路系統(tǒng)29可包括輸入/輸出裝置31。輸入/輸出裝 置31可包括觸摸屏、不具有觸摸傳感器功能的顯示器、按鈕、操縱桿、點擊式觸摸轉(zhuǎn)盤、滾 輪、觸摸板、小鍵盤、鍵盤、麥克風(fēng)、揚聲器、音調(diào)生成器、振動器、照相機、傳感器、發(fā)光二極 管及其他狀態(tài)指示器、光源、音頻插孔及其他音頻端口組件、數(shù)據(jù)端口、光傳感器、運動傳感 器（加速計）、電容傳感器、接近傳感器等。用戶可通過借由輸入/輸出裝置31提供命令來 控制裝置10的操作，并且可使用輸入/輸出裝置31的輸出資源來接收來自裝置10的狀態(tài) 信息及其他輸出。
[0048] 無線通信電路系統(tǒng)33可包括由一個或多個集成電路形成的射頻（RF)收發(fā)器電路 系統(tǒng)、功率放大器電路系統(tǒng)、低噪聲輸入放大器、無源RF組件、一個或多個天線、傳輸線路 以及用于處理RF無線信號的其他電路系統(tǒng)。無線信號也可使用光（例如，使用紅外通信） 進(jìn)行發(fā)送。
[0049] 無線通信電路系統(tǒng)33可包括衛(wèi)星導(dǎo)航系統(tǒng)接收器電路系統(tǒng)35、收發(fā)器電路系統(tǒng) 諸如收發(fā)器電路系統(tǒng)37和39、以及天線電路系統(tǒng)諸如天線電路系統(tǒng)41。衛(wèi)星導(dǎo)航系統(tǒng)接 收器電路系統(tǒng)35可用于支持諸如美國全球定位系統(tǒng)（GPS)(例如，用于在1575MHz下接收 衛(wèi)星定位信號）和/或其他衛(wèi)星導(dǎo)航系統(tǒng)的衛(wèi)星導(dǎo)航服務(wù)。
[0050] 收發(fā)器電路系統(tǒng)37可處理用于WiFi'K (IEEE 802. 11)通信的2. 4GHz和5GHz的頻 帶，并且可處理2. 4 Bluetooth?通信頻帶。電路系統(tǒng)37有時可被稱為無線局域網(wǎng)（WLAN) 收發(fā)器電路系統(tǒng)（以支持WiFi?通信）和：81116仿(^11@<收發(fā)器電路系統(tǒng)。電路系統(tǒng)33可 使用蜂窩電話收發(fā)器電路系統(tǒng)（有時被稱為蜂窩無線電）39用于處理蜂窩電話頻帶中的無 線通信，例如850MHz、900MHz、1800MHz、1900MHz和2100MHz下的頻帶或所關(guān)注的其他蜂窩 電話頻帶。
[0051] 無線電路系統(tǒng)33和裝置10可支持的蜂窩電話標(biāo)準(zhǔn)的例子包括：全球移動通信系 統(tǒng)（GSM) "2G"蜂窩電話標(biāo)準(zhǔn)、演進(jìn)數(shù)據(jù)優(yōu)化（EVDO)蜂窩電話標(biāo)準(zhǔn)、"3G"通用移動電信系 統(tǒng)（UMTS)蜂窩電話標(biāo)準(zhǔn)、"3G"碼分多址2000(CDMA 2000)蜂窩電話標(biāo)準(zhǔn)、以及"4G"長期 演進(jìn)（LTE)蜂窩電話標(biāo)準(zhǔn)。如果需要，可使用其他蜂窩電話標(biāo)準(zhǔn)。這些蜂窩電話標(biāo)準(zhǔn)僅是 示例性的。
[0052] 如果需要，無線通信電路系統(tǒng)33可包括用于其他短程和遠(yuǎn)程無線鏈路的電路系 統(tǒng)。例如，無線通信電路系統(tǒng)33可包括用于接收無線電信號和電視信號的無線電路系統(tǒng)、 尋呼電路等。在WiFi?和:BIuetoOth li.路以及其他短程無線鏈路中，無線信號通常用于在 數(shù)千英尺范圍內(nèi)傳送數(shù)據(jù)。在蜂窩電話鏈路和其他遠(yuǎn)程鏈路中，無線信號通常用于在幾千 英尺或英里范圍內(nèi)傳送數(shù)據(jù)。
[0053] 無線通信電路系統(tǒng)33可包括一個或多個天線41?？墒褂萌魏魏线m的天線類型來 形成天線41。例如，天線41可包括具有共振元件的天線，所述天線由環(huán)形天線結(jié)構(gòu)、貼片天 線結(jié)構(gòu)、倒F形天線結(jié)構(gòu)、隙縫天線結(jié)構(gòu)、平面倒F形天線結(jié)構(gòu)、螺旋形天線結(jié)構(gòu)以及這些設(shè) 計的組合等形成。不同類型的天線可以用于不同的頻帶和頻帶組合。例如，可將一種類型 的天線用于形成本地?zé)o線鏈路天線，并且可將另一種類型的天線用于形成遠(yuǎn)程無線鏈路天 線。
[0054] 圖3為所述類型的一種示例性系統(tǒng)的圖示，該示例性系統(tǒng)可用于制造操作諸如裝 置測試。如圖3所示，系統(tǒng)30可包括一個或多個工位，諸如測試工位36。通常，測試系統(tǒng) 30可包括自動化設(shè)備，該自動化設(shè)備用于加載以及卸載待測裝置，用于在測試工位之間傳 送待測裝置，以及用于執(zhí)行測試并維護(hù)測試結(jié)果的數(shù)據(jù)庫。如果需要，待測裝置10可被安 裝在測試托盤、諸如托盤32中。托盤32可被配置為接收一個或多個待測裝置。例如，托盤 32可具有多個狹槽，所述狹槽中的每一個被配置為接收對應(yīng)的待測裝置。如果需要，托盤 32可被配置為接收僅僅單個待測裝置。
[0055] 可手動地或使用自動化設(shè)備將裝置10安裝在測試托盤32中。為了有利于手動安 裝，測試托盤32可包括有利于人為操縱的特征。例如，測試托盤32可包括有助于操作者打 開和關(guān)閉測試托盤32中的夾具或其他裝置保持特征的特征?？墒褂脗魉蛶А⒅T如傳送帶 38(例如，在方向40上移動的皮帶）在測試工位36之間傳送被安裝在測試托盤32中的待 測裝置10?？稍贒UT 10沿著傳送帶38向下行進(jìn)時，使用測試工位36中的至少一些來測試 DUT 10。
[0056] 可能需要調(diào)節(jié)將待測裝置放置在系統(tǒng)30中的傳送帶38上的速率。測試系統(tǒng)30 可包括被配置為將測試托盤32放置在傳送帶38上使得測試托盤32彼此不會間隔太近或 太遠(yuǎn)的加載設(shè)備（諸如加載設(shè)備200)。采用這種類型的布置，測試托盤32可用作DUT 10 和加載設(shè)備200之間的接口。測試托盤32可例如比DUT 10更穩(wěn)固，可具有被配置為與加 載設(shè)備200配對的接合特征，可具有有利于跟蹤的標(biāo)識號，并且可具有有利于將DUT 10加 載到傳送帶38上的其他特征。
[0057] 每個測試工位36可例如包括用于對待測裝置10執(zhí)行一個或多個測試的測試設(shè) 備。例如，第一種類型的測試工位36可具有用于對DUT 10中的顯示器進(jìn)行測試的設(shè)備。 第二種類型的測試工位36可具有用于對DUT 10中的音頻組件進(jìn)行測試的設(shè)備。另一種類 型的測試工位36可具有用于對DUT 10中的光傳感器進(jìn)行測試的設(shè)備。另一種類型的測試 工位36可具有用于對DUT 10中的無線通信電路系統(tǒng)進(jìn)行測試的設(shè)備。如果需要，測試系 統(tǒng)30可包括沿著傳送帶38布置的相同類型的多于一個的測試工位，使得可并行地測試多 個 DUT。
[0058] 在圖3的例子中，測試系統(tǒng)30可包括：第一組測試工位50,其沿著傳送帶38的 第一部分定位；以及第二組測試工位52,其沿著傳送帶38的第二部分定位。第一組測試 工位可包括具有用于測試以堅直取向安裝在測試托盤32中的DUT 10的設(shè)備的測試工位 36(即，用于測試可從DUT 10的前面訪問的輸入-輸出裝置和/或用戶界面組件）。第二 組測試工位可包括具有用于測試以倒置（或翻轉(zhuǎn)）取向安裝在測試托盤32中的DUT 10的 設(shè)備的測試工位36 ( S卩，用于測試可從DUT 10的背面訪問的輸入-輸出裝置和/或用戶界 面組件）。
[0059] 測試系統(tǒng)30可包括沿著傳送帶38介于第一組測試工位（即，用于測試堅直位置 中的測試托盤32中的DUT 10的測試工位）與第二組測試工位（即，用于測試翻轉(zhuǎn)位置中 的測試托盤32中的DUT 10的測試工位）之間的測試托盤翻轉(zhuǎn)設(shè)備（例如測試托盤翻轉(zhuǎn)設(shè) 備202)。當(dāng)測試托盤32通過測試托盤翻轉(zhuǎn)設(shè)備202時，設(shè)備202可使用計算機控制的活動 臂從傳送帶38拾取測試托盤（如箭頭204指示），可通過使活動臂旋轉(zhuǎn)180°來使測試托 盤翻轉(zhuǎn)，并且可將倒置的測試托盤下降回到傳送帶38上（如箭頭206指示）。該實例僅是 示例性的。如果需要，可使測試托盤旋轉(zhuǎn)小于或大于180°。因此，測試托盤翻轉(zhuǎn)設(shè)備202 有時可稱為測試托盤旋轉(zhuǎn)器、測試托盤翻轉(zhuǎn)器、或測試托盤倒置器。使用設(shè)備202翻轉(zhuǎn)的測 試托盤32可沿著傳送帶向下行進(jìn)以使用第二組測試工位中的測試工位36進(jìn)行測試。如果 需要，測試系統(tǒng)30可包括不止一個用于使安裝于相應(yīng)的測試托盤內(nèi)的待測裝置的取向倒 置的翻轉(zhuǎn)器202。
[0060] 測試工位36可將測試結(jié)果提供至計算設(shè)備諸如測試主機42 (例如，一個或多個聯(lián) 網(wǎng)的計算機）以用于處理。測試主機42可維護(hù)測試結(jié)果的數(shù)據(jù)庫，可用于控制加載設(shè)備 200將測試托盤加載到傳送帶38上的速率（例如，通過經(jīng)由路徑41發(fā)送命令），可用于向 測試工位36發(fā)送測試命令（例如，通過經(jīng)由路徑43發(fā)送命令），可在托盤和待測裝置通過 系統(tǒng)30時追蹤各個托盤和待測裝置，并且可執(zhí)行其他控制操作。
[0061] 圖4A為示出了可如何將待測裝置10接收在測試托盤32內(nèi)的圖。如圖4A所示， 測試托盤32可具有被配置為接收待測裝置諸如DUT 10的側(cè)壁100。待測裝置10可具有一 個或多個連接器端口諸如端口 28 (參見例如圖1)。
[0062] 焊盤延伸器諸如焊盤延伸器144可具有配對連接器諸如插頭146。插頭146可被 配置為當(dāng)已將DUT 10安裝到測試托盤32中時以及當(dāng)在方向148上已將焊盤延伸器144朝 著DUT 10移動時，與端口 28中的連接器配對。
[0063] 在將DUT 10插入到測試托盤32中之后以及在將焊盤延伸器144的插頭連接器 146插入到DUT 10的連接器28中之后，圖4A的測試托盤32可表現(xiàn)為圖4B中所示。焊盤 延伸器144可包含將連接器28中的銷釘連接至焊盤延伸器144上的對應(yīng)觸點62的信號路 徑。觸點62可被配置為在系統(tǒng)30中的測試期間與耦接至測試儀44和/或測試主機42的 對應(yīng)觸點配對。
[0064] 由于使用與測試托盤32相關(guān)聯(lián)的焊盤延伸器144將DUT 10連接至測試托盤32 中的測試觸點62,因此在每個測試工位36處不必重復(fù)地連接待測裝置10以及將待測裝置 10從布線斷開連接。相反，可通過將測試托盤32中的觸點62耦接至每個測試工位36中的 對應(yīng)觸點（例如，裝有彈簧的銷釘）來形成DUT 10與在每個測試工位36處的測試設(shè)備之 間的連接。通過使電纜需要與每個待測裝置連接以及斷開的次數(shù)最小化，可延長測試儀電 纜以及連接器的壽命。
[0065] 測試托盤32和加載機46的使用可允許DUT 10準(zhǔn)確地放置在測試工位36內(nèi)（例 如，以+/-0. Imm或更好的精確度）。測試托盤32可保護(hù)待測裝置10在測試期間免受劃傷 或其他損壞。通常，可以面朝上配置或面朝下配置來將DUT 10接收在測試托盤32中，在面 朝上配置中，顯示器14面朝外遠(yuǎn)離托盤32 ;在面朝下配置中，顯示器14面朝下至測試托盤 32的基座上。
[0066] 圖5A為測試托盤32的一個合適的實施例的透視圖。如圖5A所示，托盤32可具 有接合特征諸如孔160。接合特征諸如孔160可形成于測試托盤32的一個側(cè)面、兩個側(cè)面、 三個側(cè)面或所有四個側(cè)面上，并且可被配置為與自動化測試設(shè)備（諸如加載機200和翻轉(zhuǎn) 器202)(圖3)上的對應(yīng)接合特征配對。例如，孔160可形成于測試托盤32的相對端部（例 如，測試托盤32的端部32A和32B)上。以孔的形式實施接合特征160的圖5A的例子僅為 示例性的。接合特征160可以如下形式來實施：狹槽、凹口、凹痕、開口、凹槽、突起、或允許 測試設(shè)備與測試托盤32接合的其他特征。
[0067] 例如，自動化翻轉(zhuǎn)器202可包括具有接合銷釘?shù)挠嬎銠C控制的臂（有時稱為測試 托盤抓取器），該接合銷釘被配置為同時與端部32A和32B接合，從而允許翻轉(zhuǎn)器202拾取、 保持、旋轉(zhuǎn)裝置10和/或?qū)⒀b置10輸送至期望的位置。在圖5A的例子中，測試托盤32被 顯示為在每個端部上具有四個接合孔。然而，這僅是示例性的。如果需要，托盤32可包括 少于四個接合孔、多于四個接合孔、多于六個接合孔、多于十個接合孔等。
[0068] 托盤32可使用非玷污性材料形成，該非玷污性材料為諸如乙?；芰稀eIHn (一種聚甲醛塑料）、其他塑料、或其他合適的非玷污性材料。非玷污材料的使用可有助于 在待測裝置10放置于測試托盤32內(nèi)時，避免對待測裝置10的擦傷或其他損壞。如果需要， 材料156的層可形成于測試托盤32的一部分（諸如基座部分48)上。例如，可使用與用于 形成托盤32的材料相同的材料來形成材料156。又如，可使用彈性體材料諸如橡膠化泡沫 來形成材料156。通?？墒褂萌魏魏线m的非玷污性材料來形成材料156。
[0069] 測試托盤32可具有導(dǎo)向結(jié)構(gòu)，所述導(dǎo)向結(jié)構(gòu)被配置為將待測裝置10準(zhǔn)確地放置 在托盤32中凹槽部分154內(nèi)的所需位置中。如圖5Α所示，導(dǎo)向結(jié)構(gòu)諸如導(dǎo)向表面150可 用作用于確定待測裝置相對于測試托盤32和/或測試工位36的位置的參考點。例如，可 通過抵靠導(dǎo)向表面150配準(zhǔn)待測裝置而將待測裝置定位于相對于測試托盤32的已知位置 中。托盤32的端部上的導(dǎo)向結(jié)構(gòu)可具有暴露端部導(dǎo)向表面諸如導(dǎo)向表面150Α。托盤32的 側(cè)面上的導(dǎo)向結(jié)構(gòu)可具有暴露側(cè)面導(dǎo)向表面諸如導(dǎo)向表面150Β。導(dǎo)向表面諸如導(dǎo)向表面 150Α和150Β有時可稱為基準(zhǔn)面。
[0070] 圖5B為測試托盤32的一個合適的實施例的底部透視圖。如圖5B所示，孔、開口 或間隙諸如間隙80可形成于測試托盤32的側(cè)壁100中。側(cè)壁100中的間隙80可允許裝 置10的部分被測試托盤32暴露。例如，結(jié)構(gòu)，諸如按鈕、開關(guān)、端口（例如，授權(quán)蜂窩電話 服務(wù)的用戶身份模塊（SIM)卡片端口）以及其他輸入-輸出裝置，可形成于裝置10的外殼 側(cè)壁中。如果需要，間隙80可形成于與這些結(jié)構(gòu)相鄰（例如，對齊）的側(cè)壁100的部分中。 該類型的配置可確保裝置10中結(jié)構(gòu)諸如按鈕或開關(guān)不被測試托盤32無意地致動或以其他 方式不必要地阻礙。然而，這僅是示例性的。如果需要，測試托盤32的側(cè)壁100可無間隙。
[0071] 測試托盤32可在基座48中具有一個或多個開口，以有利于對DUT 10的背面的測 試測量。例如，如圖5C的底部透視圖中所示，開口諸如開口 82可形成于基座48中，并且可 被配置為當(dāng)裝置10安裝于托盤32中時，與待測裝置10中的一個或多個輸入-輸出裝置對 齊。測試工位處的測試設(shè)備可經(jīng)由開口 82與裝置10中的組件連通。在圖5C的例子中，開 口 82具有倒錐形形狀以有利于裝置10中的背面照相機24'和光源25(圖1)的測試。在 測試期間，來自測試光源的光信號可透射穿過開口 82以到達(dá)DUT 10中的照相機24'，和/ 或來自裝置10中的光源25的發(fā)光二極管閃爍可穿過開口 82發(fā)射光以到達(dá)測試工位處的 光傳感器?？墒褂脺y試托盤32中的開口諸如開口 82來進(jìn)行測試的裝置10中的組件的其 他例子包括環(huán)境光傳感器、基于光的近距離傳感器、電容傳感器、發(fā)光二極管（例如，用于 狀態(tài)指示器）、顯示器組件、磁性傳感器或其他電氣組件。
[0072] 當(dāng)裝置10安裝于測試托盤32中時，裝置10中的一些組件可背對測試托盤32 (例 如，形成于裝置10的前側(cè)面上的組件）并且裝置10中的一些組件可面向測試托盤32 (例 如，形成于裝置10的后側(cè)面上的組件）。如果需要，開口諸如開口 82可僅形成于與裝置10 中面向測試托盤32的組件對齊的基座48的部分中。
[0073] 圖為在已將待測裝置10插入到測試托盤32中之后測試托盤32的透視圖。如 圖所示，測試托盤32可具有用于將待測裝置10保持在測試托盤32內(nèi)的夾具164。夾具 164的內(nèi)表面可用作導(dǎo)向表面150 (圖5A)，或在需要時，可為與導(dǎo)向表面150相鄰的單獨結(jié) 構(gòu)。
[0074] 測試托盤32可具有一個或多個凹口或狹槽（諸如狹槽170)。狹槽170可被配置 為接收焊盤延伸器144。如果需要，當(dāng)裝置10安裝于測試托盤32中時（例如，當(dāng)焊盤延伸 器144的連接器146連接至裝置10中的連接器端口 28時）以及當(dāng)裝置10未安裝于測試 托盤32中時（例如，當(dāng)測試托盤32為空的時），焊盤延伸器144可保持在狹槽170內(nèi)。
[0075] 圖6為示出翻轉(zhuǎn)器202可如何包括用于使傳入測試托盤32倒置的活動臂的圖。如 圖6所示，翻轉(zhuǎn)器202可包括測試托盤翻轉(zhuǎn)器固定裝置（諸如固定裝置210)、附接至固定裝 置210的待測裝置傳感器（諸如傳感器212和214)、以及活動臂218 (本文中有時可稱為翻 轉(zhuǎn)臂）。傳感器212可為被配置為識別與傳入托盤32相關(guān)聯(lián)的序列號的射頻標(biāo)識（RFID) 傳感器?；谒R別的序列號，測試主機42可用于確定是否需要對安裝在傳入托盤內(nèi)的 DUT 10進(jìn)行翻轉(zhuǎn)。
[0076] 傳感器214可（例如）為基于激光的距離傳感器或其他類型的光學(xué)傳感器，其用 于檢測傳入托盤32是否已被成功地接收在臂218內(nèi)。例如，傳感器214可檢測到托盤32正 朝著臂218傳送通過檢測平面216。如果傳感器214檢測到托盤32在稍后的時間點處已完 全移動通過傳感器檢測平面216,則DUT 10已被成功地接收在臂218內(nèi)。如果傳感器214 檢測到托盤32尚未完全移動通過檢測平面216,則臂218將保持在接收位置直到DUTlO被 成功地接收在臂218內(nèi)。
[0077] 翻轉(zhuǎn)器202可具有用于移動臂18的計算機控制的定位器?？蓪⒈?18垂直地移 動以拾取測試托盤32。例如，在需要使用臂218以從傳送帶38上拾取新的測試托盤32時， 可在方向240上使臂218降低。在圖6的例子中，翻轉(zhuǎn)器202可使用基于螺桿的提升機構(gòu) 或其他提升機構(gòu)以垂直地提升和降低臂218。翻轉(zhuǎn)設(shè)備202可具有臂延伸器板諸如板226。 板226可具有螺紋孔，諸如孔225?？墒褂糜嬎銠C控制的電機230來使螺桿228在方向232 上圍繞旋轉(zhuǎn)軸234旋轉(zhuǎn)。通過使螺桿228旋轉(zhuǎn)，電機230可用于使板226升高和降低，并因 此使臂218垂直地朝向或遠(yuǎn)離傳送帶38的表面。
[0078] 臂218可包括可收縮構(gòu)件（諸如臂構(gòu)件220)和相關(guān)聯(lián)的計算機控制的空氣驅(qū)動 或電機驅(qū)動的致動器（諸如致動器242)(參見例如圖7)。臂218的構(gòu)件220可具有接合特 征諸如銷釘160'。致動器242可用于使構(gòu)件220中的銷釘160'延伸及回縮。如圖7的剖 面端視圖所示，致動器242可將銷釘160'插入至測試托盤32中的孔160中，使得可從傳送 帶38拾取測試托盤32。
[0079] 臂218還可包括用于使臂構(gòu)件220旋轉(zhuǎn)的空氣驅(qū)動或電機驅(qū)動的致動器。例如， 當(dāng)測試托盤接收在臂218內(nèi)并且當(dāng)將臂升高至傳送帶38上方足夠高度時，可使臂構(gòu)件220 在方向222上圍繞軸224 (有時稱為樞轉(zhuǎn)軸）旋轉(zhuǎn)，使得測試托盤從其堅直取向翻轉(zhuǎn)至倒置 取向（參見圖6)。
[0080] 圖8-15示出了不同的時間快照，表明了在翻轉(zhuǎn)傳入測試托盤32過程中所涉及的 操作。最初可使用射頻識別傳感器212來檢測傳入測試托盤（例如，傳感器212可識別與 傳入測試托盤相關(guān)聯(lián)的序列號），如圖8所示。臂218最初可配置為在升高的待用位置中。
[0081] 基于傳入測試托盤的序列號，測試主機42可確定是否需要使用翻轉(zhuǎn)器202翻轉(zhuǎn)測 試托盤。如果測試主機42確定需要翻轉(zhuǎn)測試托盤，則可使用計算機控制的定位器300 (例 如，使用結(jié)合圖6所描述的基于螺桿的提升機構(gòu)）使臂218朝向傳送帶38的表面下降至接 收位置。同時，傳感器214可用于檢測測試托盤32的存在（參見圖9)。
[0082] 傳感器214可用于檢測臂218是否已經(jīng)成功接收測試托盤。例如，如果傳感器 214檢測到測試托盤已完全移動通過平面216,則測試托盤已成功接收于臂218內(nèi)（參見圖 10)。然而，如果傳感器214檢測到測試托盤尚未通過平面216,則臂218可保持處于降低的 接收位置中，直至測試托盤完全移動通過平面216。
[0083] 當(dāng)測試托盤被成功地接收在臂218內(nèi)時，臂接合特征諸如銷釘160'可插入對應(yīng)測 試托盤接合特征諸如孔160(圖7)中，使得測試托盤牢固地閂鎖在臂218內(nèi)。在該接合狀 態(tài)下，可使用定位器300 (參見圖11)將臂218垂直地升高至傳送帶38的表面上方預(yù)先確 定的高度H。測試托盤升高至的高度H可足夠高，使得測試托盤可圍繞軸224自由地旋轉(zhuǎn)而 不接觸傳送帶38的表面。
[0084] 當(dāng)通過臂218將測試托盤升高至傳送帶38上方預(yù)先確定的高度H時,可使構(gòu)件 220在箭頭302 (參見圖12)的方向上圍繞軸224旋轉(zhuǎn)?？墒箿y試托盤旋轉(zhuǎn)180°，使得DUT 10處于倒置（或翻轉(zhuǎn)）取向（參見圖13)。
[0085] 然后可使測試托盤降低至傳送帶38的表面以用于下降（參見圖14)。具體地講， 翻轉(zhuǎn)器臂接合結(jié)構(gòu)（例如，銷釘160'）可與測試托盤接合結(jié)構(gòu)（例如，孔160)脫離以從臂 218中釋放測試托盤。在下降之后，翻轉(zhuǎn)的測試托盤可沿著傳送帶38向下繼續(xù)行進(jìn)以用第 二組測試工位52進(jìn)行測試，并且臂218可預(yù)期返回至其待用位置以用于另一個傳入測試托 盤（參見圖15)。
[0086] 圖16示出了在操作圖6的測試托盤翻轉(zhuǎn)設(shè)備202中所涉及的示例性步驟。在步 驟400處，可使用內(nèi)置于翻轉(zhuǎn)器202中的射頻識別（RFID)讀取器（例如，圖6中的傳感器 212)監(jiān)視傳入測試托盤32的RFID。每個測試托盤32可包含RFID標(biāo)簽（例如，將對應(yīng)的 托盤標(biāo)識符無線地傳輸至系統(tǒng)30中的RFID讀取設(shè)備的標(biāo)簽）。如果RFID讀取器確定測試 托盤的托盤ID匹配先前所接收的指令（例如，如果測試主機42確定傳入測試托盤32需要 翻轉(zhuǎn)），則可使翻轉(zhuǎn)臂218降低至傳送帶38的表面以接收測試托盤32 (步驟402)。如果需 要，可使用唯一識別每個傳入測試托盤的其他方式。
[0087] 在步驟404處，被配置為監(jiān)視臂218的入口的光傳感器（例如，圖6的傳感器214) 可檢測測試托盤32的存在，并且然后在托盤32沿著傳送帶38移動時檢測測試托盤32的 不存在。這說明托盤32已進(jìn)入臂218 (有時稱為測試托盤抓取器），因此臂218上的銷釘 (即，由圖7的銷釘160'和致動器242形成的抓取器機構(gòu)）可延伸到測試托盤32中的配對 孔160中以抓取測試托盤32 (步驟406)。臂218中內(nèi)置的附加的光傳感器可用于確認(rèn)臂 218已令人滿意地抓取了測試托盤32。銷釘160'可延伸到測試托盤32中的兩個或更多個 孔160中、測試托盤32中的四個或更多個孔160中、或者任何其他合適數(shù)量的孔160中。
[0088] 在步驟408處，可將臂218升高至傳送帶38的表面上方預(yù)先確定的高度。在步驟 410處，可使臂構(gòu)件220旋轉(zhuǎn)180°，使得將測試托盤從堅直取向翻轉(zhuǎn)至傾覆取向。這僅是 示例性的。如果需要，可使測試托盤旋轉(zhuǎn)90°、120°、135°、223°、270°、或其他合適的量 以改變待測測試托盤的取向。如果需要，與臂218相關(guān)聯(lián)的光傳感器可確認(rèn)臂218是否已 經(jīng)完全旋轉(zhuǎn)。
[0089] 在步驟412處，可將臂218降低至傳送帶38的表面。在步驟414處，臂218可釋 放測試托盤32 (例如，通過使銷釘160'從托盤32中的孔160脫離）以將測試托盤32下降 到傳送帶38上。臂218中內(nèi)置的附加的光傳感器可用于確認(rèn)臂218已令人滿意地釋放了 測試托盤32。
[0090] 在步驟416處，臂218可預(yù)期返回至其升高的待用位置以用于翻轉(zhuǎn)另一個傳入測 試托盤（參見例如圖15)。圖16的步驟僅為示例性的并且并不用于限制本發(fā)明的范圍。如 果需要，可在倒置測試托盤32的取向時執(zhí)行其他步驟，翻轉(zhuǎn)器202可包括用于處理并旋轉(zhuǎn) 測試托盤32的其他合適設(shè)備等。
[0091] 在另一合適的布置中（參見例如圖17)，翻轉(zhuǎn)器202可包括臂218,臂218被配置 為使測試托盤32在箭頭502的方向上圍繞旋轉(zhuǎn)軸500翻轉(zhuǎn)，而不必將臂218升高至傳送帶 38的表面上方。該配置可能需要在翻轉(zhuǎn)臂218內(nèi)具有足夠的空隙以為旋轉(zhuǎn)測試托盤32提 供自由空間，而不會被周邊測試結(jié)構(gòu)阻礙。
[0092] 在另一合適的布置中（參見例如圖18)，翻轉(zhuǎn)器可包括臂218,臂218被配置為使 測試托盤32圍繞與測試托盤32的中心對齊的旋轉(zhuǎn)軸510旋轉(zhuǎn)。在圖18的例子中，可在使 測試托盤32旋轉(zhuǎn)之前以及之后將臂構(gòu)件220升高至傳送帶38的表面上方的高度H'，其中 高度H'至少大于測試托盤32的寬度W的一半。高度H'可基本上小于預(yù)先確定的高度H， 如結(jié)合圖11-13所述。
[0093] 根據(jù)一實施例，提供了用于使用測試系統(tǒng)測試待測裝置的方法，其中測試系統(tǒng)包 括傳送帶，所提供的方法包括：用翻轉(zhuǎn)臂從傳送帶拾取待測裝置，在翻轉(zhuǎn)臂保持該待測裝置 的同時，通過使該翻轉(zhuǎn)臂旋轉(zhuǎn)而使待測裝置倒置；以及用翻轉(zhuǎn)臂將倒置的待測裝置下降到 傳送帶上。
[0094] 根據(jù)另一實施例，待測裝置包括手持式電子設(shè)備。
[0095] 根據(jù)另一實施例，該方法還包括在翻轉(zhuǎn)臂保持待測裝置的同時，在使待測裝置倒 置之前，將待測裝置升高至傳送帶上方預(yù)先確定的高度。
[0096] 根據(jù)另一實施例，將待測裝置放置在測試托盤內(nèi)，并且其中拾取待測裝置包括用 翻轉(zhuǎn)臂從傳送帶拾取測試托盤。
[0097] 根據(jù)另一實施例，將待測裝置放置在具有測試托盤接合特征的測試托盤內(nèi)，其中 翻轉(zhuǎn)臂包括翻轉(zhuǎn)臂接合特征，并且其中拾取待測裝置包括使翻轉(zhuǎn)臂接合特征與測試托盤接 合特征配對以將測試托盤保持在翻轉(zhuǎn)臂內(nèi)。
[0098] 根據(jù)另一實施例，翻轉(zhuǎn)臂接合特征包括銷釘，其中測試托盤接合特征包括孔，并且 其中翻轉(zhuǎn)臂接合特征與測試托盤接合特征配對包括將翻轉(zhuǎn)臂中的銷釘插入至測試托盤中 的對應(yīng)孔中。
[0099] 根據(jù)另一實施例，該方法還包括：用傳感器在傳送帶上檢測待測裝置，其中從傳送 帶拾取待測裝置包括響應(yīng)于使用傳感器檢測到待測裝置而使翻轉(zhuǎn)臂降低以接收待測裝置。 [0100] 根據(jù)另一實施例，將待測裝置放置在測試托盤內(nèi)，其中傳感器包括射頻識別傳感 器，并且其中檢測傳送帶上的傳入待測裝置包括用射頻識別傳感器來識別與測試托盤相關(guān) 聯(lián)的序列號。
[0101] 根據(jù)另一實施例，將待測裝置放置在測試托盤內(nèi)，其中翻轉(zhuǎn)臂包括翻轉(zhuǎn)臂接合特 征，并且其中測試托盤包括測試托盤接合特征，該方法包括用傳感器檢測待測裝置是否已 被翻轉(zhuǎn)臂成功地接收，其中從傳送帶拾取待測裝置包括響應(yīng)于檢測到待測裝置已被翻轉(zhuǎn)臂 成功地接收而使翻轉(zhuǎn)臂接合特征與測試托盤接合特征接合。
[0102] 根據(jù)另一實施例，測試系統(tǒng)還包括計算機控制的致動器，并且其中使待測裝置倒 置包括在翻轉(zhuǎn)臂保持待測裝置的同時，用計算機控制的致動器使翻轉(zhuǎn)臂旋轉(zhuǎn)。
[0103] 根據(jù)一實施例，提供了一種用于使用測試系統(tǒng)測試待測裝置的方法，其中測試系 統(tǒng)包括傳送帶，所提供的方法包括：在待測裝置在傳送帶上以堅直位置取向時，用沿著傳送 帶放置的第一組測試設(shè)備測試待測裝置；在待測裝置在傳送帶上以倒置位置取向時，用沿 著傳送帶放置的第二組測試設(shè)備測試待測裝置；以及用沿著傳送帶介于第一組測試設(shè)備與 第二組測試設(shè)備之間的翻轉(zhuǎn)設(shè)備將待測裝置從堅直位置翻轉(zhuǎn)至倒置位置。
[0104] 根據(jù)另一實施例，待測裝置包括手持式電子設(shè)備。
[0105] 根據(jù)另一實施例，該方法還包括將待測裝置安裝在測試托盤內(nèi)。
[0106] 根據(jù)另一實施例，翻轉(zhuǎn)設(shè)備包括翻轉(zhuǎn)臂，并且其中翻轉(zhuǎn)待測裝置包括：用翻轉(zhuǎn)臂接 收測試托盤；用翻轉(zhuǎn)臂閂鎖到所接收的測試托盤上；以及在測試托盤閂鎖至翻轉(zhuǎn)臂期間， 通過使翻轉(zhuǎn)臂旋轉(zhuǎn)而使測試托盤倒置，從而將待測裝置從其堅直位置翻轉(zhuǎn)至其倒置位置。
[0107] 根據(jù)另一實施例，該方法還包括：用與翻轉(zhuǎn)設(shè)備相關(guān)聯(lián)的第一傳感器在傳送帶上 檢測測試托盤；響應(yīng)于用第一傳感器檢測到測試托盤而將翻轉(zhuǎn)臂降低以接收測試托盤；以 及用與翻轉(zhuǎn)設(shè)備相關(guān)聯(lián)的第二傳感器檢測待測裝置是否已被翻轉(zhuǎn)臂成功地接收，其中閂鎖 到所接收的測試托盤上包括響應(yīng)于檢測到測試托盤已被翻轉(zhuǎn)臂成功地接收而閂鎖到所接 收的測試托盤上。
[0108] 根據(jù)一實施例，提供了被配置為使傳送帶上的含有待測裝置的測試托盤翻轉(zhuǎn)的設(shè) 備，該設(shè)備包括：翻轉(zhuǎn)臂，其被配置為從傳送帶拾取測試托盤；樞軸，翻轉(zhuǎn)臂被配置為圍繞 該樞軸旋轉(zhuǎn)并且使該測試托盤倒置；以及致動器，其被配置為將翻轉(zhuǎn)臂以及倒置的測試托 盤降低至傳送帶。
[0109] 根據(jù)另一實施例，待測裝置包括手持式電子設(shè)備。
[0110] 根據(jù)另一實施例，測試托盤包括測試托盤接合特征，并且其中翻轉(zhuǎn)臂包括被配置 為與測試托盤接合特征配對的翻轉(zhuǎn)臂接合特征。
[0111] 根據(jù)另一實施例，該設(shè)備還包括射頻識別傳感器，其被配置為識別與測試托盤相 關(guān)聯(lián)的序列號。
[0112] 根據(jù)另一實施例，該設(shè)備還包括光學(xué)傳感器，其被配置為檢測待測裝置是否已被 翻轉(zhuǎn)臂成功地接收。
[0113] 以上所述僅是說明本發(fā)明的原理，并且在不脫離本發(fā)明范圍和實質(zhì)的情況下，本 領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員可以做出各種修改。上述實施例可以單獨實施，也可以任意組合實施。
【權(quán)利要求】
1. 一種用于使用測試系統(tǒng)來測試待測裝置的方法，其中所述測試系統(tǒng)包括傳送帶，所 述方法包括： 利用翻轉(zhuǎn)臂，從所述傳送帶拾取所述待測裝置； 在所述翻轉(zhuǎn)臂保持所述待測裝置時，通過旋轉(zhuǎn)所述翻轉(zhuǎn)臂來倒置待測裝置；以及 利用所述翻轉(zhuǎn)臂，使所述倒置的待測裝置下降到所述傳送帶上。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述待測裝置包括手持式電子設(shè)備。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括： 在所述翻轉(zhuǎn)臂保持所述待測裝置時，在倒置所述待測裝置之前，將所述待測裝置升高 至所述傳送帶上方預(yù)先確定的高度。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中將所述待測裝置放置在測試托盤內(nèi)，并且其中拾 取所述待測裝置包括用所述翻轉(zhuǎn)臂從所述傳送帶拾取所述測試托盤。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中將所述待測裝置放置在具有測試托盤接合特征的 測試托盤內(nèi)，其中所述翻轉(zhuǎn)臂包括翻轉(zhuǎn)臂接合特征，并且其中拾取所述待測裝置包括將所 述翻轉(zhuǎn)臂接合特征與所述測試托盤接合特征配對以將所述測試托盤保持在所述翻轉(zhuǎn)臂內(nèi)。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中所述翻轉(zhuǎn)臂接合特征包括銷釘，其中所述測試托 盤接合特征包括孔，并且其中所述翻轉(zhuǎn)臂接合特征與所述測試托盤接合特征配對包括將所 述翻轉(zhuǎn)臂中的所述銷釘插入所述測試托盤中的對應(yīng)孔中。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括： 用傳感器在所述傳送帶上檢測所述待測裝置，其中從所述傳送帶拾取所述待測裝置包 括響應(yīng)于使用所述傳感器檢測到所述待測裝置而降低所述翻轉(zhuǎn)臂以接收所述待測裝置。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中將所述待測裝置放置在測試托盤內(nèi)，其中所述傳 感器包括射頻識別傳感器，并且其中在所述傳送帶上檢測所述傳入待測裝置包括用所述射 頻識別傳感器來識別與所述測試托盤相關(guān)聯(lián)的序列號。
9. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中將所述待測裝置放置在測試托盤內(nèi)，其中所述 翻轉(zhuǎn)臂包括翻轉(zhuǎn)臂接合特征，并且其中所述測試托盤包括測試托盤接合特征，所述方法包 括： 用傳感器檢測所述待測裝置是否已被所述翻轉(zhuǎn)臂成功地接收，其中從所述傳送帶拾取 所述待測裝置包括響應(yīng)于檢測到所述待測裝置已被所述翻轉(zhuǎn)臂成功地接收而使所述翻轉(zhuǎn) 臂接合特征與所述測試托盤接合特征接合。
10. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述測試系統(tǒng)還包括計算機控制的致動器，并且 其中使待測裝置倒置包括在所述翻轉(zhuǎn)臂保持所述待測裝置時，用所述計算機控制的致動器 來旋轉(zhuǎn)所述翻轉(zhuǎn)臂。
11. 一種用于使用測試系統(tǒng)來測試待測裝置的方法，其中所述測試系統(tǒng)包括傳送帶，所 述方法包括： 在所述待測裝置在所述傳送帶上以堅直位置取向時，用沿著所述傳送帶放置的第一組 測試設(shè)備來測試所述待測裝置； 在所述待測裝置在所述傳送帶上以倒置位置取向時，用沿著所述傳送帶放置的第二組 測試設(shè)備來測試所述待測裝置；以及 利用沿著所述傳送帶介于所述第一組測試設(shè)備與所述第二組測試設(shè)備之間的翻轉(zhuǎn)設(shè) 備，將所述待測裝置從所述堅直位置翻轉(zhuǎn)至所述倒置位置。
12. 根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其中所述待測裝置包括手持式電子設(shè)備。
13. 根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，還包括： 將所述待測裝置安裝在測試托盤內(nèi)。
14. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其中所述翻轉(zhuǎn)設(shè)備包括翻轉(zhuǎn)臂，并且其中翻轉(zhuǎn)所述 待測裝置包括： 利用所述翻轉(zhuǎn)臂，接收所述測試托盤； 利用所述翻轉(zhuǎn)臂，閂鎖到所接收的測試托盤上；以及 在所述測試托盤R鎖至所述翻轉(zhuǎn)臂時，通過旋轉(zhuǎn)所述翻轉(zhuǎn)臂來倒置所述測試托盤，使 得所述待測裝置從其堅直位置翻轉(zhuǎn)至其倒置位置。
15. 根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法，還包括： 利用與所述翻轉(zhuǎn)設(shè)備相關(guān)聯(lián)的第一傳感器，在所述傳送帶上檢測所述測試托盤； 響應(yīng)于用所述第一傳感器檢測到所述測試托盤，降低所述翻轉(zhuǎn)臂以接收所述測試托 盤；以及 利用與所述翻轉(zhuǎn)設(shè)備相關(guān)聯(lián)的第二傳感器，檢測所述待測裝置是否已被所述翻轉(zhuǎn)臂成 功地接收，其中閂鎖到所接收的測試托盤上包括響應(yīng)于檢測到所述測試托盤已被所述翻轉(zhuǎn) 臂成功地接收而閂鎖到所接收的測試托盤上。
16. -種被配置為使傳送帶上的包含待測裝置的測試托盤翻轉(zhuǎn)的設(shè)備，包括： 翻轉(zhuǎn)臂，其被配置為從所述傳送帶拾取所述測試托盤； 樞軸，所述翻轉(zhuǎn)臂被配置為圍繞所述樞軸旋轉(zhuǎn)并使所述測試托盤倒置；以及 致動器，其被配置為將所述翻轉(zhuǎn)臂以及倒置的測試托盤降低至所述傳送帶。
17. 根據(jù)權(quán)利要求16所述的設(shè)備，其中所述待測裝置包括手持式電子設(shè)備。
18. 根據(jù)權(quán)利要求16所述的設(shè)備，其中所述測試托盤包括測試托盤接合特征，并且其 中所述翻轉(zhuǎn)臂包括被配置為與測試托盤接合特征配對的翻轉(zhuǎn)臂接合特征。
19. 根據(jù)權(quán)利要求16所述的設(shè)備，還包括： 射頻識別傳感器，其被配置為識別與所述測試托盤相關(guān)聯(lián)的序列號。
20. 根據(jù)權(quán)利要求16所述的設(shè)備，還包括： 光學(xué)傳感器，其被配置為檢測所述待測裝置是否已被所述翻轉(zhuǎn)臂成功地接收。
【文檔編號】B25J15/00GK104245248SQ201380016717
【公開日】2014年12月24日 申請日期:2013年1月24日 優(yōu)先權(quán)日:2012年2月6日
【發(fā)明者】P·G·帕納蓋斯 申請人:蘋果公司