成的總體單元可共同地形成最終可連接到例如控制器(以下將詳細(xì)解釋)的傳感器系統(tǒng)和/或傳感器的測量鏈。因此，傳感器本身可為傳感器系統(tǒng)或可為傳感器系統(tǒng)的構(gòu)成部分。測量鏈和所述測量鏈的設(shè)計可以最終確定狀態(tài)變量的特定值和/或這個值的變化如何影響可提供給控制器的一個或多個傳感器信號。因此，在總體上，傳感器可包括至少一個傳感器元件以及至少一個其它元件，具體而言選自包括以下的組中的至少一個其它元件:致動和/或估計電路(特別地，用于處理至少一個測量值或傳感器值)、接口、模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器(A/D轉(zhuǎn)換器)、無線和/或有線傳輸元件、信號線路和/或數(shù)據(jù)線路、電源、A/D轉(zhuǎn)換器、指示器元件、數(shù)據(jù)存儲器和無線電模塊。然而，其它變型方案同樣是可能的。
[0024]通過示例的方式，傳感器可包括至少一個溫度傳感器，具體而言是以例如溫度相關(guān)的電阻器形式的至少一個傳感器元件，例如NTC和/或PTC。作為替代或附加地，傳感器可包括以壓力傳感器形式的、例如以微機(jī)械壓力傳感器形式的至少一個傳感器元件。然而，其它變型方案同樣是可行的。
[0025]方法包括以下優(yōu)選但不必要以所示順序進(jìn)行的步驟。此外，方法可以包括未示出的附加方法步驟。此外，方法步驟還能夠以不同順序進(jìn)行。另外，方法步驟的單個、多個或所有步驟可重復(fù)地進(jìn)行。此外，單個或多個方法步驟可在時間上并行地或在時間上重疊地進(jìn)行。
[0026]方法步驟如下:
[0027]a)進(jìn)行校準(zhǔn)測量，在校準(zhǔn)測量中檢測至少一個狀態(tài)變量，并且獨(dú)立于清潔設(shè)備的傳感器通過至少一個校準(zhǔn)傳感器來確定至少一個參考值；
[0028]b)在校準(zhǔn)傳感器與清潔設(shè)備的控制器之間建立電子連接，并且將參考值電子地傳輸?shù)娇刂破?；以?br>[0029]c)將參考值與清潔設(shè)備的傳感器的至少一個測量值進(jìn)行比較，并且根據(jù)比較來調(diào)整至少一個校正函數(shù)，其中使用校正函數(shù)自動地校正清潔設(shè)備的傳感器的未來測量值。
[0030]在這種情況下，校準(zhǔn)測量旨在通常理解為如所解釋那樣確定參考值的過程。在以上限定的含義內(nèi)，校準(zhǔn)傳感器旨在通常理解為這樣的傳感器:其不是清潔設(shè)備的構(gòu)成部分或者其可獨(dú)立于清潔設(shè)備的其它構(gòu)成部分來操縱或操作，并且其優(yōu)選地通常具有高度可靠性。如以上解釋的，校準(zhǔn)傳感器可包括校準(zhǔn)傳感器元件，并還任選地包括至少一個其它元件，例如，在每種情況下選自包括以下各項的組中的一個或多個元件:致動和/或估計電路(特別地，用于處理至少一個測量值或傳感器值)、接口、模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器(A/D轉(zhuǎn)換器)、無線和/或有線傳輸元件、信號線路和/或數(shù)據(jù)線路、電源、A/D轉(zhuǎn)換器、指示器元件、數(shù)據(jù)存儲器和無線電模塊。然而，其它變型方案同樣是可能的。通過示例的方式，校準(zhǔn)傳感器可為這樣的傳感器:其獨(dú)立于清潔設(shè)備的其它構(gòu)成部分來校準(zhǔn)，并且可例如在工廠和/或在本方法的范圍內(nèi)，例如根據(jù)對應(yīng)校準(zhǔn)規(guī)范進(jìn)行校準(zhǔn)。例如，可使用一個或多個校準(zhǔn)器，所述校準(zhǔn)器設(shè)計成設(shè)定校準(zhǔn)環(huán)境中的限定環(huán)境條件，例如校準(zhǔn)器的腔室中的限定校準(zhǔn)溫度和/或限定校準(zhǔn)壓力。校準(zhǔn)器可以是例如便攜式裝置。通過示例的方式，校準(zhǔn)傳感器可包括校準(zhǔn)溫度傳感器，該校準(zhǔn)溫度傳感器在+10°c至+100°C范圍內(nèi)具有至少+/-1.(TC或更好的準(zhǔn)確性、尤其具有+/-0.5 °C或更好的準(zhǔn)確性。
[0031]在本發(fā)明的范圍內(nèi)，獨(dú)立于清潔設(shè)備的傳感器來獨(dú)立檢測至少一個狀態(tài)變量旨在被理解為以下過程，即也通過清潔設(shè)備的傳感器檢測的相同狀態(tài)變量在校準(zhǔn)傳感器進(jìn)行的測量未受到清潔設(shè)備的傳感器的影響情況下也被校準(zhǔn)傳感器測量。因此，校準(zhǔn)傳感器檢測狀態(tài)變量，并且在該過程中形成表征狀態(tài)變量的量級的至少一個參考值。因此，參考值(也被稱為比較值)旨在通常理解為通過由校準(zhǔn)傳感器檢測狀態(tài)變量而形成的測量值或測量值集合，也即由校準(zhǔn)傳感器檢測的狀態(tài)變量的至少一個測量值。在這種情況下，還可對多個參考值進(jìn)行檢測，例如相同狀態(tài)變量的一系列參考值，例如時序。作為替代，還可使用用于檢測多種類型狀態(tài)變量的多個校準(zhǔn)傳感器，如設(shè)計成同時檢測多個狀態(tài)變量并因此來確定不同狀態(tài)變量的多個參考值的校準(zhǔn)傳感器那樣。
[0032]在方法步驟b)中建立電子連接旨在通常理解為允許將至少一個參考值電子傳輸?shù)角鍧嵲O(shè)備的控制器的過程。通過示例的方式，為此目的可以使用有線和/或無線連接，其中無線連接是優(yōu)選的，特別地是無需附加有線連接的完全無線連接。一旦建立了電子連接，所述電子連接可保持用于傳輸另外的參考值，或可在已傳輸參考值之后斷開連接。
[0033]清潔設(shè)備的控制器旨在通常理解為表示作為清潔設(shè)備的構(gòu)成部分并設(shè)計為控制和/或管理清潔設(shè)備的一個或多個功能的設(shè)備。控制器可采用單個部分或多部分式設(shè)計。特別地，控制器可具有至少一個數(shù)據(jù)處理設(shè)備，例如至少一個微計算機(jī)。如以下將更詳細(xì)解釋的，清潔設(shè)備的控制器可例如設(shè)計成設(shè)定清潔設(shè)備的一個或多個狀態(tài)變量和/或一個或多個參數(shù)。作為替代或附加地，控制器還可設(shè)計成控制清潔設(shè)備的程序序列。通過示例的方式，可將控制器設(shè)計成進(jìn)行一個或多個清潔程序和/或設(shè)定清潔過程的其它參數(shù)?？刂破骺梢允抢缜鍧嵲O(shè)備的中央機(jī)器控制器。控制器可以是集中式或分散式的。此外，控制器可包括例如用于在外部設(shè)備(例如，計算機(jī))與清潔設(shè)備之間傳輸數(shù)據(jù)和/或命令和/或用于傳輸信息的一個或多個接口。傳輸可為單向或多向的。此外，控制器可包括一個或多個用戶接口，例如一個或多個顯示器和/或一個或多個鍵盤。然而，在原則上其它變型方案同樣是可行的。
[0034]在這種情況下，將參考值傳輸?shù)娇刂破髦荚谕ǔ＠斫鉃樵诓簧婕叭斯鬏攧幼?尤其不涉及手動輸入)的情況下將參考值從校準(zhǔn)傳感器傳輸?shù)娇刂破鞯倪^程。因此，電子傳輸可例如排他性地以有線和/或無線信號形式執(zhí)行。
[0035]方法步驟c)中將參考值與清潔設(shè)備的傳感器的至少一個測量值進(jìn)行比較旨在通常理解為檢查參考值和測量值的對應(yīng)性和/或偏差的過程。如果在這種情況下，使用不同種類的狀態(tài)變量的參考值和/或測量值，那么方法步驟c)中的比較僅包括狀態(tài)變量的至少一個參考值與同一狀態(tài)變量的至少一個測量值的比較。不管是否如此，另外仍可能任選地執(zhí)行另一狀態(tài)變量的至少一個參考值與相同另一狀態(tài)變量的至少一個測量值的至少一個比較。
[0036]如以下將更詳細(xì)地解釋，比較可包括例如從測量值減去參考值和/或從參考值減去測量值的差值計算。然而，作為替代或附加地，比較還可包括例如計算參考值與測量值的商和/或測量值與參考值的商的商數(shù)計算。
[0037]在本發(fā)明的范圍內(nèi)，校正函數(shù)旨在通常理解為以下算法，其設(shè)計成影響由清潔設(shè)備的傳感器提供的測量值以使測量值至少在預(yù)定公差范圍(例如，一個或多個公差閾值)內(nèi)對應(yīng)于對應(yīng)狀態(tài)變量的由傳感器檢測的實(shí)際值。在這種情況下，校正函數(shù)可直接應(yīng)用于測量值，或者也可在進(jìn)一步處理測量值的范圍內(nèi)，例如當(dāng)通過溫度測量值和一個或多個其它變量(例如，溫度施加操作持續(xù)時間)計算熱當(dāng)量時輸入校正函數(shù)。
[0038]在這種情況下，調(diào)整校正函數(shù)旨在通常理解為在考慮到參考值與測量值的比較的情況下影響校正函數(shù)。校正函數(shù)可能在調(diào)整前就已存在，或者還可在調(diào)整范圍內(nèi)首次生成。
[0039]使用校正函數(shù)自動校正清潔設(shè)備的傳感器的未來測量值。如上所述，這種校正可通過直接應(yīng)用于測量值的校正函數(shù)直接執(zhí)行，或者也可在進(jìn)一步處理測量值范圍內(nèi)首次執(zhí)行。例如，測量值可輸入一個或多個估計函數(shù)作為變量，其中估計函數(shù)可根據(jù)校正函數(shù)來校正。在原則上，其它變型方案同樣是可能的。
[0040]尤其可在至少較大程度上以自動的方式進(jìn)行該方法。例如可以至少近似模擬清潔程序的方式來進(jìn)行校準(zhǔn)測量。此外，校準(zhǔn)測量可進(jìn)行使得基于確定的參考值來設(shè)定已知的或至少可檢測到的某些狀態(tài)變量。例如，實(shí)際或假設(shè)的清潔程序可以在校準(zhǔn)測量范圍內(nèi)進(jìn)行，例如通過將校準(zhǔn)傳感器放置在清潔設(shè)備的清潔腔室中或操作清潔設(shè)備來進(jìn)行。通過示例的方式，清潔流體的施加和/或溫度應(yīng)用操作可以在這種投入運(yùn)行的范圍內(nèi)執(zhí)行。
[0041]特別地，方法步驟b)和/或c)可例如在沒有用戶干預(yù)的情況下完全或部分地自動進(jìn)行。然而，特別地，方法步驟b)還可例如以部分自動的方式進(jìn)行，例如通過在校準(zhǔn)傳感器與控制器之間手動建立電子連接，但隨后自動執(zhí)行參考值到控制器的電子傳輸。方法步驟
c)可特別地完全自動進(jìn)行?？赡苄枰缤ㄟ^清潔設(shè)備的對應(yīng)校準(zhǔn)程序發(fā)起的用戶動作，以發(fā)起方法步驟b)和/或C)。這種發(fā)起可例如通過在校準(zhǔn)傳感器與控制器之間建立電子連接來自動執(zhí)行，和/或可由用戶和/或維護(hù)人員調(diào)用對應(yīng)校準(zhǔn)程序來執(zhí)行。
[0042]如以上所解釋的，方法步驟c)中將參考值與傳感器的至少一個測量值進(jìn)行比較和/或?qū)πＵ瘮?shù)進(jìn)行調(diào)整可以不同的方式執(zhí)行。因此，在使用校正函數(shù)校正測量值的范圍內(nèi)，校正函數(shù)可以包含例如至少一個偏移量，也即從測量值中減去預(yù)定值和/或?qū)㈩A(yù)定值添加到測量值。因此，例如在方法步驟c)中可以計算參考值與測量值之間的至少一個差值，反之亦然，其中校正函數(shù)可以包含所述差值作為偏移量，和/或其中所述差值可添加到校正函數(shù)作為偏移量。偏移量可以從清潔設(shè)備的傳感器的未來測量值中自動減去，或可以加到清潔設(shè)備的傳感器的未來測量值。作為替代或附加地，方法步驟c)中的參考值與測量值之間的至少一個商數(shù)還可在參考值與傳感器的至少一個測量值的比較期間進(jìn)行計算，其中校正函數(shù)可以包含商數(shù)或該商數(shù)的倒數(shù)作為校正系數(shù)，和/或其中商數(shù)或該商數(shù)的倒數(shù)可加到校正函數(shù)作為校正系數(shù)。校正系數(shù)可特別地自動乘以清潔設(shè)備的傳感器的未來測量值。
[0043]然而，這些簡單的可能校正函數(shù)僅僅是對應(yīng)校正函數(shù)的示例性實(shí)施方式。一般地講，相對復(fù)雜的校正函數(shù)同樣是可能的，例如，應(yīng)用相對復(fù)雜的校正算法和/或應(yīng)用相對復(fù)雜的校正曲線。通過示例的方式，校正函數(shù)可包含至少一個多項式，其中多項式的參數(shù)可以在方法步驟c)的范圍內(nèi)確定。因此，例如可以在例如不同溫度和/或不同壓力下對被給定不同量級的狀態(tài)變量進(jìn)行比較，并且可以對校正函數(shù)的參數(shù)(例如，多項式)進(jìn)行相應(yīng)調(diào)整。隨后，可使用這些調(diào)整過的參數(shù)來提供可自動應(yīng)用于清潔設(shè)備的未來測量值的校正函數(shù)。作為替代或附加地，可根據(jù)該比較選擇的對應(yīng)校正函數(shù)也可存儲在例如控制器的數(shù)據(jù)存儲器中。各種選擇方案是可行的。
[0044]如上所述，特別地，至少一個狀態(tài)變量可以包含選自包括以下各項的組中的至少一個變量:溫度，特別是清潔設(shè)備的清潔腔室中的溫度和/或清潔設(shè)備的至少一種清潔流體的溫度;壓力，特別是清