線管、干涉儀和探測單元。距離L必須例如以這樣的方式通過平移平臺被調(diào)諧:在探測器的寬度D上出現(xiàn)至少一個完整的莫爾條紋?？梢赃M一步增加莫爾條紋的數(shù)量。然而，例如，低于4的每條紋的探測器線的數(shù)量到達上限。
[0023]本發(fā)明的這些和其他方面將從下文描述的實施例變得顯而易見并將參考下文描述的實施例得到闡述。
【附圖說明】
[0024]在下文中將參考以下附圖來描述本發(fā)明的示范性實施例:
[0025]圖1示出了第一范例中的示意性設(shè)置中的X射線成像系統(tǒng)的范例；
[0026]圖2示出了圖2A中的第一另外的設(shè)置和圖2B中的第二另外的設(shè)置；
[0027]圖3示出了與圖3A中的移動布置的第一范例、圖3B中的移動布置的第二范例和圖3C中的移動布置的第三范例相關(guān)的X射線成像系統(tǒng)的另外的范例。
[0028]圖4示出了用于處理用于微分相位對比成像的X射線成像系統(tǒng)中的錯位的方法的范例的基本步驟；以及
[0029]圖5示出了用于微分相位對比成像的X射線成像系統(tǒng)的范例的另一設(shè)置。
【具體實施方式】
[0030]圖1示出了用于微分相位對比成像的X射線成像系統(tǒng)10，X射線成像系統(tǒng)10包括具有X射線源14和X射線探測器16的微分相位對比設(shè)置12。另外，提供了光柵布置18，光柵布置18包括源光柵20、相位光柵22和分析器光柵24。源光柵被布置在X射線源與相位光柵之間，并且分析器光柵被布置在相位光柵與探測器之間。另外，提供了用于在檢查中的對象與光柵中的至少一個之間的相對移動的移動布置(未進一步示出)。虛線橢圓形結(jié)構(gòu)26指示對象，并且扇形形成的X射線射束28以及X射線投影方向30 —起被指示。另夕卜，提供了處理單元32和用于平移源光柵的平移布置34。相位光柵、分析器光柵和探測器被提供作為剛性干涉儀單元36，在所述剛性干涉儀單元中，相位光柵和分析器光柵平行于彼此被安裝。
[0031]使源光柵相對于干涉儀單元36錯位，使得在探測器16的平面中能檢測到莫爾條紋。處理單元32被配置為在X射線輻射后由探測器16提供的信號中檢測這樣的莫爾圖樣。處理單元32還被配置為計算平移信號以用于平移源光柵20以實現(xiàn)預(yù)定的莫爾圖樣，所述平移信號利用箭頭38指示。雙箭頭40指示在X射線投影方向30上的平移。平移布置34被配置為基于平移信號的值至少在X射線投影方向30上調(diào)整源光柵20的定位。
[0032]例如，未進一步示出，平移布置34被配置為使源光柵20傾斜。
[0033]如圖2中所指示的，平移布置34可以包括至少一個致動器42，所述至少一個致動器用于使X射線源單元和/或X射線探測單元對齊，例如源光柵20能夠通過作為致動器42的許多壓電致動器或電機驅(qū)動的微米螺絲而被移動。當然，如圖2B中所示出的，也能夠提供致動器42，致動器42用于使干涉儀單元相對于源光柵20和X射線源14移動，如利用第二雙箭頭44所指示的。
[0034]如圖3A、3B和3C中所示出的，提供了用于在檢查中的對象與光柵中的至少一個之間的相對移動的移動布置46。如圖3A中所示出的，移動布置被提供作為步進布置48，步進布置48用于例如在各自的光柵平面中使干涉儀單元36的相位光柵步進，如利用第三雙箭頭50所指示的。根據(jù)圖3A中所示出的范例，源光柵20也能夠在X射線投影方向30上被移動，即被對齊，并且利用上述雙箭頭40指示。
[0035]如圖3B中所示出的，移動布置46也能夠被提供具有對象支撐物52，以及在對象支撐物與微分相位對比設(shè)置12之間的相對移動，其中，所述光柵在針對至少一次圖像采集的掃描期間以彼此恒定的對齊被提供。圖3B中的對象支撐物被提供為固定的；微分相位對比設(shè)置例如通過利用樞轉(zhuǎn)指示箭頭54指示的繞X射線源14的位置的樞轉(zhuǎn)移動在橫向于X射線方向的方向上被移動。例如，這樣的移動布置46能夠被提供用于乳腺攝影。必須指出，未進一步示出乳腺攝影調(diào)查裝置的另外的關(guān)鍵元件，例如乳房壓迫槳。
[0036]根據(jù)圖3C，移動布置46被提供具有固定微分相位對比設(shè)置，而諸如輸送帶的移動對象支撐物52’，用于在橫向于X射線方向的方向上的移動，如利用輸送帶方向箭頭56指示的，例如用于行李檢查。
[0037]圖4示出了用于處理用于微分相位對比成像的X射線成像系統(tǒng)中的錯位的方法100的范例。在第一步驟110中，利用用于微分相位對比成像的X射線成像系統(tǒng)來采集至少第一微分相位對比成像X射線掃描，所述用于微分相位對比成像的X射線成像系統(tǒng)包括微分相位對比設(shè)置，所述微分相位對比設(shè)置具有X射線源、X射線探測器以及包括源光柵、相位光柵和分析器光柵的光柵布置。使源光柵相對于干涉儀單元錯位，使得在探測器的平面中能檢測到莫爾條紋。在第二步驟112中，在X射線輻射后由探測器提供的信號中檢測莫爾圖樣。在第三步驟114中，計算平移信號，所述平移信號用于平移源光柵以實現(xiàn)預(yù)定的莫爾圖樣。在第四步驟116中，基于平移信號至少在X射線投影方向上調(diào)整源光柵的定位。在第五步驟118中，采集至少一個另外的微分相位對比成像X射線掃描。第一步驟110也被稱為步驟a)，第二步驟112也被稱為步驟b)，第三步驟114也被稱為步驟c)，第四步驟116也被稱為步驟d)，并且第五步驟118也被稱為步驟e)。
[0038]根據(jù)另一范例，未示出，在步驟a)中，針對不同投影角度來采集多個第一微分相位對比成像X射線掃描，并且所述掃描被提供作為參考圖樣，所述參考圖樣用于針對每個投影角度單獨地調(diào)整X射線源光柵的位置。
[0039]圖5示出了微分相位對比設(shè)置12的另一范例，其中，第一起始點表示X射線源14，接著是源光柵20。提供了用于例如在移動方向62上接收對象60的空間58。利用直線示出在第一位置的對象60，并且利用虛線圖樣64示出被移動后在第二位置的對象。更進一步地，相位光柵22和分析器光柵24被提供作為剛性單元，利用虛線框66指示。更進一步地，探測器結(jié)構(gòu)指示探測器16。其中，探測器的特征在于通過利用箭頭68指示的探測器寬度。另外，相位光柵22和分析器光柵24被提供具有距離70，并且相位光柵22相對于源光柵20被提供具有距離72。探測器寬度68也被稱為寬度D，在相位光柵22與分析器光柵24之間的距離70也被稱為寬度d，并且在源光柵與干涉儀單元之間的距離被稱為距離L。雙箭頭74指示以+/-delta L的delta 76對源光柵20的對齊移動。由于對光柵布置和掃描方向的提供，能夠測得探測器通量78，利用曲線圖指示。第一箭頭80涉及圖中的最大點，并且虛線箭頭82涉及圖78中的最小點。
[0040]在不采用相位對比的理想系統(tǒng)中，每個探測器線將測得相同的正弦圖，而無測量噪聲。在上述的系統(tǒng)中，由于在源與干涉儀單元之間在z上的有意的錯位，不同的探測器線采集不同的強度。該錯位引起由不同探測器線測得的強度從一個線振蕩到下一個，其中，空間周期λ與該誤匹配成反比，這種現(xiàn)象稱為莫爾條紋。為了確保均勻相位采集，探測器元件的數(shù)量N，在兩個探測器之間的距離D以及莫爾周期λ必須服從以下關(guān)系:
[0041 ] ND = η λ，
[0042]其中，η是每整個探測器陣列的條紋周期的數(shù)量。針對相位的采樣點的數(shù)量因此由λ /D = Ν/η給出，并且至少應(yīng)當為至少4個，因此，對于N = 20的探測器線，η應(yīng)當最多為5，通常為2。
[0043]在本發(fā)明的另一示范性實施例中，提供了一種計算機程序或一種計算機程序單元，其特征在于適于在適當?shù)南到y(tǒng)上執(zhí)行根據(jù)前面的實施例之一所述的方法的方法步驟。
[0044]因此，所述計算機程序單元可以被存儲在計算機單元上，所述計算機單元也可以是本發(fā)明的實施例的部分。該計算單元可以適于執(zhí)行以上描述的方法的步驟或誘發(fā)以上描述的方法的步驟的執(zhí)行。此外，所述計算單元可以適于操作以上描述的裝置的部件。所述計算單元能夠適于自動地操作和/或執(zhí)行用戶的命令。計算機程序可以被下載到數(shù)據(jù)處理器的工作存儲器中。所述數(shù)據(jù)處理器因此可以被配備為執(zhí)行本發(fā)明的方法。
[0045]本發(fā)明的該示范性實施例涵蓋從一開始就使用本發(fā)明的計算機程序或借助于更新將現(xiàn)有程序轉(zhuǎn)變?yōu)槭褂帽景l(fā)明的程序的計算機程序兩者。
[0046]更進一步地，所述計算機程序單元能夠提供實現(xiàn)如以