技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明的特征在于，測(cè)量具備磁場(chǎng)調(diào)整機(jī)構(gòu)的磁場(chǎng)發(fā)生裝置內(nèi)的預(yù)先決定的評(píng)價(jià)區(qū)域的磁場(chǎng)分布，上述磁場(chǎng)調(diào)整機(jī)構(gòu)通過配置磁矩來調(diào)整靜磁場(chǎng)，計(jì)算上述測(cè)量出的磁場(chǎng)分布與上述評(píng)價(jià)區(qū)域的預(yù)先決定的目標(biāo)磁場(chǎng)強(qiáng)度的差即誤差磁場(chǎng)分布，在將上述誤差磁場(chǎng)分布分解為通過奇異值分解得到的由上述磁場(chǎng)發(fā)生裝置產(chǎn)生的磁場(chǎng)的各固有模式的成分時(shí)，將上述固有模式中的低次模式的成分的修正與高次模式的成分的修正進(jìn)行組合，來進(jìn)行用于對(duì)上述誤差磁場(chǎng)分布近似地進(jìn)行修正的上述磁矩的配置的計(jì)算，上述低次模式為按照奇異值從大到小的順序向各固有模式賦予的固有模式編號(hào)從第1固有模式編號(hào)至通過第一閾值確定的固有模式編號(hào)為止的固有模式群，上述高次模式為比上述第一閾值大的固有模式群，上述高次模式的成分的修正量小于上述低次模式的成分的修正量。

技術(shù)研發(fā)人員：花田光;榊原健二;阿部充志;藤川拓也
受保護(hù)的技術(shù)使用者：株式會(huì)社日立制作所
技術(shù)研發(fā)日：2016.01.27
技術(shù)公布日：2017.09.26