本發(fā)明涉及正電子發(fā)射斷層成像系統(tǒng)，尤其涉及正電子發(fā)射斷層成像系統(tǒng)的校正技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)：

正電子發(fā)射斷層成像(Positron Emission Tomography，PET)已成為預(yù)臨床研究和臨床診斷的重要分子影像工具，其成像性能與圖像重建之前數(shù)據(jù)預(yù)處理方法密切相關(guān)。數(shù)據(jù)預(yù)處理包括歸一化校正，隨機校正，散射校正，衰減校正等。其中，歸一化校正為預(yù)處理的第一步，其準(zhǔn)確性直接決定后續(xù)散射校正和隨機校正的準(zhǔn)確性，從而影響最終重建圖像的性能，如均一性、噪聲特性及偽影特性等。

受PET系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計、前端晶體與光電轉(zhuǎn)換器件的耦合方式、各電子學(xué)探測通道性能差異的影響，對于置中均勻分布的射源，PET晶體探測器所探測的計數(shù)卻各不相同，因此需要通過該計數(shù)差異對各計數(shù)通道的探測效率進行校正，此即歸一化校正。現(xiàn)有技術(shù)中，PET歸一化校正方法分為三大類：直接歸一化校正，自歸一化校正及多因子歸一化校正。

直接歸一化校正方法采用置于PET中心的均勻分布的桶狀射源(cylinder source，簡稱桶源，例如，對于臨床PET，直徑通常為20cm)，采集足夠長的時間收集滿足計數(shù)統(tǒng)計的數(shù)據(jù)量，然后將各探測晶體上計數(shù)值的倒數(shù)作為該晶體的探測效率系數(shù)用于校正。此方法所需的數(shù)據(jù)采集時間極長，而且系統(tǒng)狀態(tài)變化后，需要重新從低活度到高活度進行數(shù)據(jù)采集，獲得各活度對應(yīng)的探測效率系數(shù)，例如，對于已經(jīng)普及的3D PET系統(tǒng)而言，需要幾個甚至十幾個小時，這在實際應(yīng)用中是不可接受的。

自歸一化校正的校正系數(shù)是基于實際采集的模體或者臨床數(shù)據(jù)獲取的.該方法認為系統(tǒng)所接受的計數(shù)受射源幾何分布和各探測器通道探測效率兩部分的影響，其在頻率分布上存在差異，由此提出通過濾波方法進行幾何分布信息剔除，將剩余部分作為各通道探測效率。此方法無需事先采集置中桶源數(shù)據(jù)獲取探測效率，實現(xiàn)簡單，對活度相關(guān)的因素有較高的兼容性，只是系統(tǒng)計數(shù)分布包含的頻率范圍較廣，濾波方法的低頻濾波性能對探測效率的準(zhǔn)確性有較大影響，導(dǎo)致成像均一性不佳或存在偽影。

多因子歸一化方法將影響系統(tǒng)探測效率的物理因素分解為幾何校正因子、隨活度變化的因子和活度無關(guān)因子，通過采集少量的中心桶源數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分別計算各因素所對應(yīng)的探測效率系數(shù)，可以避免直接歸一化校正方法的缺陷，也可以避免自歸一化校正受濾波方法的影響。此方法為當(dāng)前廣泛采用的歸一化校正方法。其中，活度無關(guān)的因子與系統(tǒng)特性有關(guān)，主要是針對晶體特性，稱為固有晶體探測效率。該方法假設(shè)系統(tǒng)電子學(xué)性能足夠穩(wěn)定時，該因子(固有晶體探測效率)與活度不相關(guān)。

然而，對于實際系統(tǒng)考慮節(jié)省光電轉(zhuǎn)換器件數(shù)量的設(shè)計或者電子學(xué)設(shè)計本身并不完美的情況下，基本模塊隨活度變化的性能并不是穩(wěn)定不變的，這使得固有晶體探測效率并非完全與活度無關(guān)，而是隨活度增大呈現(xiàn)無規(guī)律的變化，因而，上述多因子校正方法依然存在準(zhǔn)確性的問題。

因此，有必要提出一種新的正電子發(fā)射斷層成像系統(tǒng)探測效率檢測、校正方法及校正裝置，以方便、準(zhǔn)確地完成系統(tǒng)歸一化校正。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明解決的是：現(xiàn)有的正電子發(fā)射斷層成像系統(tǒng)多因子歸一化校正方法因固有晶體探測效率隨活度變化造成的準(zhǔn)確性不理想及不易實現(xiàn)的問題。

為了解決所述問題，本發(fā)明提供一種正電子發(fā)射斷層成像系統(tǒng)探測效率檢測方法，包括：使用該正電子發(fā)射斷層成像系統(tǒng)進行第一采集，獲取影響探測效率的第一活度相關(guān)因子；使用該正電子發(fā)射斷層成像系統(tǒng)進行第二采集，并根據(jù)第二采集所得數(shù)據(jù)及所述第一活度相關(guān)因子獲取影響探測效率的第二活度相關(guān)因子；在所述第二采集所得數(shù)據(jù)中，去除受所述第二活度相關(guān)因子影響的信息，及去除受被采集物體的幾何分布信息影響的信息，以獲取探測器固有晶體探測效率。

在本發(fā)明的一種實施方式中，所述第一采集為對置于該正電子發(fā)射斷層成像系統(tǒng)采集視野中心的活度均勻分布的桶源進行的采集。

在本發(fā)明的一種實施方式中，所述第一采集包括對不同活度的桶源進行采集。

在本發(fā)明的一種實施方式中，所述“獲取影響探測效率的第一活度相關(guān)因子”包括：分別計算不同活度下的軸向活度相關(guān)因子及徑向活度相關(guān)因子。

在本發(fā)明的一種實施方式中，所述第二采集為模體數(shù)據(jù)采集或臨床數(shù)據(jù)采集。

在本發(fā)明的一種實施方式中，所述“根據(jù)第二采集所得數(shù)據(jù)及所述第一活度相關(guān)因子獲取影響探測效率的第二活度相關(guān)因子”包括：根據(jù)第一活度相關(guān)因子進行函數(shù)擬合，將第二采集數(shù)據(jù)代入該函數(shù)以計算獲得第二活度相關(guān)因子。

在本發(fā)明的一種實施方式中，所述“去除受被采集物體的幾何分布信息影響的信息”包括：對去除了第二活度相關(guān)因子的第二采集數(shù)據(jù)進行低頻濾波處理。

進一步地，本發(fā)明還提供一種正電子發(fā)射斷層成像系統(tǒng)探測效率校正方法，包括：獲取影響該成像系統(tǒng)探測效率的幾何結(jié)構(gòu)因子；獲取影響探測效率的活度相關(guān)因子；根據(jù)上述述檢測方法獲取探測器固有晶體探測效率；利用所述幾何結(jié)構(gòu)因子、活度相關(guān)因子及探測器固有晶體探測效率，對采集數(shù)據(jù)進行歸一化校正。

在本發(fā)明的一種實施方式中，所述“獲取影響該成像系統(tǒng)探測效率的幾何結(jié)構(gòu)因子”包括：對圍繞系統(tǒng)采集視野中心軸旋轉(zhuǎn)的均勻棒源進行數(shù)據(jù)采集，并分別計算其徑向幾何因子及晶體干涉因子，根據(jù)該徑向幾何因子及晶體干涉因子確定所述幾何結(jié)構(gòu)因子。

進一步地，本發(fā)明還提供一種正電子發(fā)射斷層成像系統(tǒng)探測效率校正裝置，包括：幾何結(jié)構(gòu)因子獲取單元，用于獲取影響該探測系統(tǒng)探測效率的幾何結(jié)構(gòu)因子；活度相關(guān)因子獲取單元，用于獲取影響探測效率的活度相關(guān)因子；探測器固有晶體探測效率獲取單元，用于根據(jù)權(quán)利要求1至7任一項所述檢測方法，獲取探測器固有晶體探測效率；校正單元，用于利用所述幾何結(jié)構(gòu)因子、活度相關(guān)因子及探測器固有晶體探測效率，對采集數(shù)據(jù)進行歸一化校正。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的探測效率檢測方法因為事先去除了采集數(shù)據(jù)中的活度相關(guān)因子，將射源(被采集物體)幾何分布相關(guān)的信息剔除，可以更準(zhǔn)確地得到正確的與當(dāng)前活度條件相匹配的固有晶體探測效率。進一步地，本發(fā)明提供的探測效率校正方法及裝置，既改善了歸一化校正的成像均一性，又能解決固有晶體探測效率隨活度不規(guī)律變化的難題，且易于實現(xiàn)。

附圖說明

圖1是本發(fā)明一實施例中正電子發(fā)射成像系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本發(fā)明一實施例中探測器環(huán)的示意性橫斷面圖；

圖3是本發(fā)明一實施例中探測效率檢測方法流程示意圖；

圖4是本發(fā)明一實施例中探測效率校正方法流程示意圖；

圖5是本發(fā)明一實施例中活度相關(guān)因子擬合函數(shù)示意圖。

具體實施方式

為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點能夠更為明顯易懂，下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的具體實施例做詳細的說明。

在本發(fā)明的一個實施例中，如圖1所示，PET裝置1以控制部10為中樞，具有機架20、信號處理部30、同時計數(shù)部40、存儲部50、重建部60、顯示部70以及操作部80。

圖2為配置在機架20上的探測器環(huán)100的示意性橫斷面圖。機架20具有沿圓周的中心軸Z排列的多個探測器環(huán)100組成的探測器陣列。探測器環(huán)100具有排列在中心軸Z周圍的圓周上的多個探測器200。探測器環(huán)100的開口部上形成有采集視野(Field Of View，F(xiàn)OV)。將載有被檢體P的床板500插入探測器環(huán)100的開口部，以使得被檢體P的攝像部位進入FOV。被檢體P以使體軸與中心軸Z一致的方式被載置在床板500上。在被檢體P內(nèi)，為了PET攝影而注入利用放射性同位素標(biāo)識的藥劑。探測器200檢測從被檢體P內(nèi)部放出的成對湮沒γ射線，生成與檢測出的成對湮沒γ射線的光量相應(yīng)的脈沖狀電信號。

具體情況可以是，探測器200具有多個閃爍體器件300與多個光電轉(zhuǎn)換器件400。閃爍體器件300接收來自被檢體P內(nèi)的放射性同位素的成對湮沒γ射線，產(chǎn)生閃爍光。各閃爍體器件被配置為各閃爍體器件的長軸方向與探測器環(huán)100的徑向大致一致。光電轉(zhuǎn)換器件400被設(shè)置在與正交于中心軸Z的徑向有關(guān)的、閃爍體器件300的一端部上。典型情況可以是，探測器環(huán)100中所包含的多個閃爍體器件300與多個光電轉(zhuǎn)換器件400被排列成同心圓筒狀。在閃爍體器件300中所產(chǎn)生的閃爍光在閃爍體器件300內(nèi)傳播，并朝向光電轉(zhuǎn)換器件400。光電轉(zhuǎn)換器件400產(chǎn)生與閃爍光的光量相應(yīng)的脈沖狀電信號。所產(chǎn)生的電信號，如圖1所示，被供給信號處理部30。

信號處理部30根據(jù)來自光電轉(zhuǎn)換器件400的電信號生成單事件數(shù)據(jù)(Single Event Data)。具體情況可以是，信號處理部30實施檢測時刻測量處理、位置計算處理以及能量計算處理。在檢測時刻測量處理中，信號處理部30測量探測器200的γ射線的檢測時刻。具體情況可以是，信號處理部30監(jiān)視來自光電倍增管400的電信號的峰值。然后，信號處理部30測量電信號的峰值超過預(yù)先設(shè)定的閾值的時刻作為檢測時刻。即，信號處理部30通過檢出電信號的強度超過閾值這一情況，從而電檢測湮沒γ射線。在位置計算處理中，信號處理部30根據(jù)來自光電轉(zhuǎn)換器件400的電信號，計算湮沒γ射線的入射位置。湮沒γ射線的入射位置與湮沒γ射線入射到的閃爍體器件300的位置坐標(biāo)對應(yīng)。在能量計算處理中，信號處理部30根據(jù)來自光電轉(zhuǎn)換器件400的電信號，計算入射至閃爍體器件300的湮沒γ射線的能量值。所生成的單事件數(shù)據(jù)被供給至同時計數(shù)部40。

同時計數(shù)部40對與多個單事件有關(guān)的單事件數(shù)據(jù)實施同時計數(shù)處理。具體情況可以是，同時計數(shù)部40從重復(fù)供給的單事件數(shù)據(jù)中重復(fù)確定容納在與預(yù)先設(shè)定的時間范圍內(nèi)的2個單事件有關(guān)的事件數(shù)據(jù)。時間范圍被設(shè)定為例如6ns～18ns左右。該成對的單事件被推測為由來于從同一成對湮沒點產(chǎn)生的成對湮沒γ射線。成對的單事件概括地被稱為符合事件。連結(jié)檢測出該成對湮沒γ射線的成對的探測器200(更詳細說是閃爍體器件300)的線被稱為響應(yīng)線(Line OfResponse，LOR)。這樣，同時計數(shù)部40針對每一LOR計數(shù)符合事件。與構(gòu)成LOR的成對的事件有關(guān)的事件數(shù)據(jù)(以下，稱為符合事件數(shù)據(jù))被存儲至存儲部50。重建部60根據(jù)與多個符合事件有關(guān)的符合事件數(shù)據(jù)，重建表現(xiàn)被檢體內(nèi)的放射性同位素的濃度的空間分布的圖像數(shù)據(jù)。

在采集數(shù)據(jù)并重建圖像過程中，受PET系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計、前端晶體與光電轉(zhuǎn)換器件的耦合方式、各電子學(xué)探測通道性能差異的影響，對于置中均勻分布的射源，PET晶體探測器所探測的計數(shù)卻各不相同(理論上此種情況計數(shù)應(yīng)相同)，因此需要通過該計數(shù)差異對各計數(shù)通道的探測效率進行檢測及校正，以獲得更高質(zhì)量的成像，此過程即歸一化校正。

多因子歸一化方法將影響系統(tǒng)探測效率的因素分解為幾何校正因子、隨活度變化的因子和活度無關(guān)因子，采集少量的中心桶源數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分別計算各因素所對應(yīng)的探測效率系數(shù)，可以避免直接歸一化校正方法的缺陷，也可以避免自歸一化校正受濾波方法的影響。幾何校正因子受限于系統(tǒng)幾何結(jié)構(gòu)設(shè)計，在系統(tǒng)出廠前測量一次即可；考慮光電轉(zhuǎn)換器件的探測效率和系統(tǒng)電子學(xué)設(shè)計隨射源活度增大呈現(xiàn)規(guī)律性的變化，隨活度變化的因子基于系統(tǒng)基本結(jié)構(gòu)單元被單獨計算，稱為活度相關(guān)因子，將其隨活度變化規(guī)律通過曲線擬合得到，從而在應(yīng)用中僅測量低活度的因子，高活度因子通過擬合的參數(shù)計算即可；活度無關(guān)的因子與系統(tǒng)特性有關(guān)，主要是針對晶體特性，稱為固有晶體探測效率，并認為系統(tǒng)電子學(xué)性能足夠穩(wěn)定時，該因子與活度不相關(guān)。該方法存在的缺陷如背景技術(shù)部分所述，固有晶體探測效率并非完全與活度無關(guān)，而是隨活度增大呈現(xiàn)無規(guī)律的變化，因而該方法存在準(zhǔn)確性的問題。

不同于現(xiàn)有方案，本發(fā)明利用事先已獲取的活度相關(guān)因子，在采集過程中事先去除了采集數(shù)據(jù)中的活度相關(guān)因子的影響，將射源(被采集物體)幾何分布相關(guān)的信息剔除，可以更準(zhǔn)確地得到正確的與當(dāng)前活度條件相匹配的固有晶體探測效率。

在本發(fā)明提供探測效率檢測方法的一個實施例中，獲取影響探測效率的第一活度相關(guān)因子；使用該正電子發(fā)射斷層成像系統(tǒng)進行第二采集，并根據(jù)第二采集所得數(shù)據(jù)及所述第一活度相關(guān)因子獲取影響探測效率的第二活度相關(guān)因子；在所述第二采集所得數(shù)據(jù)中，去除受所述第二活度相關(guān)因子影響的信息，及去除受被采集物體的幾何分布信息影響的信息，以獲取探測器固有晶體探測效率。

以下結(jié)合圖3，對該實施例的實現(xiàn)細節(jié)做進一步說明。

首先執(zhí)行步驟S101，使用該正電子發(fā)射斷層成像系統(tǒng)進行第一采集，獲取探測效率的第一活度相關(guān)因子。第一采集的目的在于獲取系統(tǒng)的活度相關(guān)因子的變化曲線(規(guī)律)，以在后續(xù)的實際采集過程中，根據(jù)該變化規(guī)律進行實際采集數(shù)據(jù)活度相關(guān)因子的獲取。在本實施例中，第一采集的方式可以為對置于成像系統(tǒng)采集視野中心的活度均勻分布(如局部均勻分布、及整體均勻分布)的放射源(例如桶源)進行的采集，采集的內(nèi)容可為對不同活度的桶源進行的采集，亦可為對多個相同活度的桶源(桶源之間活度不相同)進行的采集。此處活度相關(guān)的因子是指影響探測系統(tǒng)效率的物理因素中和活度相關(guān)的因素，可分解成軸向(即圖2中平行于中心軸Z的方向)和徑向(即沿圖2中探測器環(huán)100的半徑方向)兩部分，例如，以系統(tǒng)電子學(xué)結(jié)構(gòu)為一個模組為例，分別稱為該模組的軸向活度相關(guān)因子(axial profile)和徑向活度相關(guān)因子(transaxial profile)。在本實施例中，采集不同活度的置中桶源數(shù)據(jù)，針對各活度分別計算軸向活度因子和徑向活度因子，以獲得第一活度相關(guān)因子。

執(zhí)行步驟S102，使用該正電子發(fā)射斷層成像系統(tǒng)進行第二采集，并根據(jù)第二采集所得數(shù)據(jù)及所述第一活度相關(guān)因子獲取探測效率的第二活度相關(guān)因子。第二采集對被掃描物體的形狀、活度分布、掃描視野的位置等沒有限制，例如，可以為對模體數(shù)據(jù)進行的采集，或者在臨床成像時對受檢者的臨床數(shù)據(jù)進行的采集。此處，可根據(jù)S1步驟中第一采集數(shù)據(jù)所獲取的第一活度相關(guān)因子(徑向及軸向活度相關(guān)因子)進行函數(shù)擬合，其中“根據(jù)第二采集所得數(shù)據(jù)及所述第一活度相關(guān)因子獲取探測效率的第二活度相關(guān)因子”可包括：根據(jù)第一活度相關(guān)因子進行函數(shù)擬合，將第二采集數(shù)據(jù)代入該函數(shù)以計算獲得第二活度相關(guān)因子。具體地，如圖5所示，可將第一活度相關(guān)因子(如圖5中a區(qū)域?qū)?yīng)的軸向/徑向活度相關(guān)因子)作為各活度計數(shù)率的函數(shù)進行擬合，給出相應(yīng)的多項式參數(shù)，進行多項式擬合獲得一定規(guī)律的函數(shù)(如圖中曲線所示)，并將第二采集數(shù)據(jù)(如b區(qū)所對應(yīng)的活度計數(shù)信息)代入該函數(shù)，用于按計數(shù)率查找對應(yīng)的值，以獲得第二活度相關(guān)因子(如b區(qū)所對應(yīng)的軸向/徑向活度相關(guān)因子)。

執(zhí)行步驟S103，在所述第二采集所得數(shù)據(jù)中去除所述第二活度相關(guān)因子的信息，并去除第二采集中被采集物體的幾何分布信息，以獲取探測器固有晶體探測效率。此處，所述去除第二采集數(shù)據(jù)中的第二活度相關(guān)因子信息，即利用第二活度相關(guān)因子對第二采集數(shù)據(jù)進行校正，以去除該部分因子對數(shù)據(jù)的影響，所得數(shù)據(jù)為計算活度相關(guān)因子校正后的各探測通道的計數(shù)分布。進一步地，并去除第二采集中被采集物體的幾何分布信息，即消除因射源幾何分布對探測數(shù)據(jù)的影響。理論上可認為，系統(tǒng)所接受的計數(shù)受射源幾何分布和各探測器通道探測效率兩部分因素的影響，前者在接收計數(shù)分布上表現(xiàn)為低頻分布，后者在接收計數(shù)分布上表現(xiàn)為高頻分布，因此對此計數(shù)分布進行濾波處理(低頻濾波)，即可剔除射源幾何分布對第二采集數(shù)據(jù)帶來的影響，生成最終的固有晶體探測效率。此固有晶體探測效率是從實際的模體或者受檢體數(shù)據(jù)獲得，因而是與實際射源的活度相匹配的，進一步地，可以較好地實現(xiàn)實際數(shù)據(jù)(第二采集數(shù)據(jù))的校正。此方法因為事先剔除了實際數(shù)據(jù)(第二采集數(shù)據(jù))中的活度相關(guān)因子，減少了計數(shù)分布中的居于中間的頻率分布信息，使得低頻濾波方法可以更準(zhǔn)確地將射源幾何分布相關(guān)的信息剔除，得到正確的與當(dāng)前活度條件相匹配的固有晶體探測效率。此方法既改善了自歸一化校正的成像均一性，又能解決固有晶體探測效率隨活度不規(guī)律變化的難題。

在本發(fā)明提供的探測效率檢測方法基礎(chǔ)上，本發(fā)明還提供一種探測效率校正方法，以下結(jié)合圖4進行進一步說明。

執(zhí)行步驟S201，獲取影響該成像系統(tǒng)探測效率的幾何結(jié)構(gòu)因子。該步驟可具體為，對圍繞系統(tǒng)采集視野中心軸旋轉(zhuǎn)的均勻棒源進行數(shù)據(jù)采集(亦可采用平板源，或采用平掃的棒源的方式進行)，并分別計算其徑向幾何因子及晶體干涉因子，根據(jù)該徑向幾何因子(radial geometrical factor)及晶體干涉因子(Crystal interference)確定所述幾何結(jié)構(gòu)因子。值得一提的是，此兩個因子僅與系統(tǒng)結(jié)構(gòu)相關(guān)，對一固定的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，僅測量一次即可。因此，此步驟對于幾何結(jié)構(gòu)因子的獲取，可以是實時進行的測量獲得的，亦可以是通過讀取或輸入已存儲的幾何結(jié)構(gòu)因子的方式進行的獲取，本發(fā)明對該因子的獲取方式不做限定。

執(zhí)行步驟S202，獲取探測效率的第一活度相關(guān)因子。該步驟的實現(xiàn)過程可類似于S102步驟內(nèi)容，其方式可以為對置于成像系統(tǒng)采集視野中心的活度均勻分布的放射源(例如桶源)進行的采集，采集的內(nèi)容可為對不同活度的桶源進行的采集，針對各活度分別計算軸向活度因子和徑向活度因子，以獲得第一活度相關(guān)因子。此處，對于固定的系統(tǒng)而言，其影響探測效率的活度相關(guān)因子在一定時期內(nèi)對采集數(shù)據(jù)的影響也是保持相對穩(wěn)定的(即活度相關(guān)因子根據(jù)采集數(shù)據(jù)的變化在一定時間內(nèi)遵循誤差可接受范圍的規(guī)律變化)，因而該第一采集也并非每次臨床掃描均需執(zhí)行，所述的第一活度相關(guān)因子，可以是通過實時采集放射源數(shù)據(jù)的方式獲取的，亦可以是通過讀取或輸入已存儲的活度相關(guān)因子的方式進行的獲取。

執(zhí)行步驟S203，獲取探測器固有晶體探測效率。具體地，可根據(jù)上述圖3所示的S101至S103步驟方法獲取探測器固有晶體探測效率，在此不予贅述。

繼續(xù)如圖4所示，執(zhí)行步驟S204，利用所述幾何結(jié)構(gòu)因子、第一活度相關(guān)因子及探測器固有晶體探測效率，對采集數(shù)據(jù)進行歸一化校正。具體地，可首先利用幾何結(jié)構(gòu)因子對采集數(shù)據(jù)進行校正，再利用活度相關(guān)因子(第一活度相關(guān)因子)對校正后的采集數(shù)據(jù)進行活度相關(guān)因子的校正，例如，將第一活度相關(guān)因子作為各活度計數(shù)率的函數(shù)進行擬合，給出相應(yīng)的多項式參數(shù)，并將第二采集數(shù)據(jù)代入該函數(shù)，用于按計數(shù)率查找對應(yīng)的值，以獲得第二活度相關(guān)因子，并利用第二活度相關(guān)因子對利用幾何結(jié)構(gòu)因子校正后的采集數(shù)據(jù)進行校正，再利用步驟S203所提供的根據(jù)采集數(shù)據(jù)自適應(yīng)的探測器固有晶體探測效率進行校正，以獲得校正后數(shù)據(jù)。本領(lǐng)域技術(shù)人員理解，上述校正步驟也可根據(jù)實際采集需求進行順序的變更，如先進行探測器固有晶體效率的校正，再進行活度相關(guān)因子的校正，最后進行幾何結(jié)構(gòu)因子的校正等。

隨后再校正后數(shù)據(jù)進行包括隨機校正、散射校正、衰減校正等至少一種的其他種類校正，進行數(shù)據(jù)重建以獲得圖像。

本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解上述實施例的各種方法中的全部或部分步驟是可以通過程序來指令相關(guān)的硬件來完成，該程序可以存儲于計算機可讀存儲介質(zhì)中，存儲介質(zhì)可以包括但不限于：軟盤、光盤、CD-ROM、磁光盤、ROM(只讀存儲器)、RAM(隨機存取存儲器)、EPROM(可擦除可編程只讀存儲器)、EEPROM(電可擦除可編程只讀存儲器)、磁卡或光卡、閃存、或適于存儲機器可執(zhí)行指令的其他類型的介質(zhì)/機器可讀介質(zhì)。

例如，進一步地，本發(fā)明還提供一種正電子發(fā)射斷層成像系統(tǒng)探測效率校正裝置包括：幾何結(jié)構(gòu)因子獲取單元，用于獲取影響該探測系統(tǒng)探測效率的幾何結(jié)構(gòu)因子；第一活度相關(guān)因子獲取單元，用于獲取所述第一活度相關(guān)因子；探測器固有晶體探測效率獲取單元，用于根據(jù)前述實施例提供的檢測方法，獲取探測器固有晶體探測效率；校正單元，用于利用所述幾何結(jié)構(gòu)因子、第一活度相關(guān)因子及探測器固有晶體探測效率，對采集數(shù)據(jù)進行歸一化校正。

雖然本發(fā)明披露如上，但本發(fā)明并非限定于此。任何本領(lǐng)域技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，均可作各種更動與修改，因此本發(fā)明的保護范圍應(yīng)當(dāng)以權(quán)利要求所限定的范圍為準(zhǔn)。