1.一種用于針對(duì)伽馬相機(jī)（18）的死區(qū)時(shí)間確定的方法，所述方法包括：
利用伽馬相機(jī)（18）來(lái)檢測(cè)（34）來(lái)自被連接成鄰近于伽馬相機(jī)（18）的放射性同位素源（26）的計(jì)數(shù)率；
在檢測(cè)所述計(jì)數(shù)率的同時(shí)利用伽馬相機(jī)（18）來(lái)檢測(cè)（36）來(lái)自患者（22）體內(nèi)的發(fā)射；
根據(jù)所述計(jì)數(shù)率來(lái)確定（40）死區(qū)時(shí)間；以及
根據(jù)所述死區(qū)時(shí)間來(lái)校正（42）發(fā)射的計(jì)數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中檢測(cè)（34）計(jì)數(shù)率包括在所述放射性同位素源（26）是被連接以向伽馬相機(jī)（18）的拐角發(fā)射的經(jīng)屏蔽的源（26）的情況下進(jìn)行檢測(cè)（34）。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中檢測(cè)（34）計(jì)數(shù)率包括響應(yīng)于放射性同位素源（26）的放射性同位素而進(jìn)行檢測(cè)（34），所述放射性同位素具有是生成（46）來(lái)自患者（22）體內(nèi)的發(fā)射的放射性示蹤劑的至少十倍的半衰期。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中檢測(cè)（36）發(fā)射包括以完全整合的模式操作伽馬相機(jī)（18）。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中根據(jù)所述計(jì)數(shù)率來(lái)確定（40）死區(qū)時(shí)間包括計(jì)算（44）所述計(jì)數(shù)率與來(lái)自沒(méi)有系統(tǒng)死區(qū)時(shí)間的情況下的計(jì)數(shù)率的比率。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中校正（42）計(jì)數(shù)包括將所述計(jì)數(shù)除以所述比率。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括：
根據(jù)經(jīng)校正的計(jì)數(shù)來(lái)生成（46）單光子發(fā)射計(jì)算機(jī)斷層掃描圖像。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括：
根據(jù)經(jīng)校正的計(jì)數(shù)來(lái)計(jì)算（44）放射性濃度。
9.一種單光子發(fā)射計(jì)算機(jī)斷層掃描（SPECT）系統(tǒng)，其包括：
伽馬相機(jī)（18）；
被連接以向伽馬相機(jī)（18）發(fā)射輻射的經(jīng)屏蔽的點(diǎn)源（26）；
被配置成檢測(cè)發(fā)射的檢測(cè)電子器件（20），所述發(fā)射包括來(lái)自經(jīng)屏蔽的點(diǎn)源（26）的輻射和來(lái)自患者（22）的放射性同位素發(fā)射；以及
被配置成針對(duì)檢測(cè)電子器件（20）的死區(qū)時(shí)間而進(jìn)行校正的處理器（12），所述校正是來(lái)自經(jīng)屏蔽的點(diǎn)源（26）的輻射的實(shí)時(shí)檢測(cè)的函數(shù)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的SPECT系統(tǒng)，其中所述經(jīng)屏蔽的點(diǎn)源（26）連接到伽馬相機(jī)（18），其中屏蔽中的孔指向伽馬相機(jī)（18）。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的SPECT系統(tǒng)，其中經(jīng)屏蔽的點(diǎn)源（26）包括相對(duì)于放射性同位素的輻射的長(zhǎng)壽命源（26）。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的SPECT系統(tǒng)，其中所述檢測(cè)電子器件（20）被配置成在沒(méi)有積聚分離的情況下檢測(cè)發(fā)射。
13.根據(jù)權(quán)利要求9所述的SPECT系統(tǒng)，其中所述檢測(cè)電子器件（20）被配置成利用針對(duì)不同于針對(duì)放射性同位素發(fā)射的能量范圍的能量窗口來(lái)檢測(cè)來(lái)自經(jīng)屏蔽的點(diǎn)源（26）的輻射。
14.根據(jù)權(quán)利要求9所述的SPECT系統(tǒng)，其中所述檢測(cè)電子器件（20）被配置成在針對(duì)患者（22）的掃描會(huì)話期間檢測(cè)發(fā)射，包括輻射和放射性同位素發(fā)射。
15.根據(jù)權(quán)利要求9所述的SPECT系統(tǒng)，其中所述處理器（12）被配置成計(jì)算輻射的發(fā)射的第一數(shù)目與來(lái)自在其期間不發(fā)生放射性同位素發(fā)射的時(shí)段的第二數(shù)目的比率。
16.根據(jù)權(quán)利要求9所述的SPECT系統(tǒng)，其中所述處理器（12）被配置成根據(jù)作為校正的輻射的發(fā)射的數(shù)目來(lái)對(duì)放射性同位素發(fā)射的計(jì)數(shù)進(jìn)行加權(quán)。
17.一種用于針對(duì)發(fā)射檢測(cè)器的死區(qū)時(shí)間確定的方法，所述方法包括：
利用檢測(cè)器檢測(cè)（32）來(lái)自患者（22）的第一發(fā)射和來(lái)自點(diǎn)源（26）的第二發(fā)射，所述第二發(fā)射經(jīng)受來(lái)自第一發(fā)射的檢測(cè)的死區(qū)時(shí)間；以及
通過(guò)處理器（12）來(lái)根據(jù)第二發(fā)射的計(jì)數(shù)而校正（38）第一發(fā)射的計(jì)數(shù)。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其中檢測(cè)包括在患者（22）掃描期間實(shí)時(shí)地檢測(cè)第一和第二發(fā)射；
還包括檢測(cè)（30）不在患者（22）掃描期間并且不經(jīng)受死區(qū)時(shí)間的第三發(fā)射；
其中校正（42）包括根據(jù)第二發(fā)射的計(jì)數(shù)和第三發(fā)射的計(jì)數(shù)來(lái)進(jìn)行校正（42）。
19.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其中檢測(cè)（32）包括以單光子發(fā)射計(jì)算機(jī)斷層掃描（SPECT）系統(tǒng)的完全整合的模式來(lái)進(jìn)行檢測(cè)（32）。
20.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其中檢測(cè)（32）包括以第一能量范圍來(lái)檢測(cè)（36）第一發(fā)射并且以不同于第一能量范圍的第二能量范圍來(lái)檢測(cè)（34）第二發(fā)射。