技術(shù)編號(hào)：12281449
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。使用長(zhǎng)壽命放射性同位素的實(shí)時(shí)伽馬相機(jī)死區(qū)時(shí)間確定相關(guān)申請(qǐng)本專利文獻(xiàn)要求2014年6月6日提交的序列號(hào)為62/008,791的臨時(shí)美國(guó)專利申請(qǐng)?jiān)?5U.S.C.下的申請(qǐng)日的權(quán)益，所述美國(guó)專利申請(qǐng)由此通過(guò)引用被并入。背景技術(shù)本實(shí)施例涉及單光子發(fā)射計(jì)算機(jī)斷層掃描（SPECT）。特別地，本實(shí)施例涉及SPECT中的死區(qū)時(shí)間校正。在SPECT成像期間，檢測(cè)器電子器件花費(fèi)時(shí)間來(lái)執(zhí)行對(duì)發(fā)射的檢測(cè)。在該時(shí)段期間，由于檢測(cè)器電子器件的不可用性，附加的發(fā)射沒有被檢測(cè)到。結(jié)果，實(shí)際的發(fā)射可能少計(jì)。針對(duì)死區(qū)時(shí)間校正所檢測(cè)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。