1.一種醫(yī)學(xué)設(shè)備，包括：
細(xì)長體(14)；
多個傳感器(10)，其在沿所述細(xì)長體的多個縱向位置處在所述細(xì)長體上共形地形成，所述多個傳感器被配置為根據(jù)探測到的用于成像系統(tǒng)的能量來生成信號；以及
單個電跡線(24)，其連接至所述多個傳感器中的每個，所述多個傳感器被并聯(lián)連接以形成沿所述細(xì)長體的傳感器陣列。
2.如權(quán)利要求1中所述的設(shè)備，其中，所述傳感器包括壓電聚合物傳感器。
3.如權(quán)利要求1中所述的設(shè)備，其中，所述傳感器圍繞所述設(shè)備(14)的圓周的至少部分被共形地形成。
4.如權(quán)利要求1中所述的設(shè)備，還包括傳導(dǎo)屏蔽(28)，其被形成在介電材料上的所述電跡線上方。
5.如權(quán)利要求4中所述的設(shè)備，其中，所述傳導(dǎo)屏蔽形成針對所述多個傳感器的公共電極。
6.如權(quán)利要求1中所述的設(shè)備，其中，所述細(xì)長體包括探針(14)，并且所述探針形成針對所述多個傳感器的電極。
7.如權(quán)利要求1中所述的設(shè)備，其中，所述電跡線(24)連接至集線器觸點(diǎn)(126)，所述集線器觸點(diǎn)提供電接觸，以連接至用于處理和測量來自所述多個傳感器的信號的電路。
8.如權(quán)利要求1中所述的設(shè)備，其中，所述電跡線包括導(dǎo)電油墨或沉積層中的一個。
9.一種醫(yī)學(xué)設(shè)備，包括：
細(xì)長體(102)；
三個或更多個傳感器(110、112、114)，其在沿所述細(xì)長體的多個縱向位置處在所述細(xì)長體上共形地形成，所述三個或更多個傳感器通過間隙(A、B)與相鄰傳感器間隔開，每個間隙具有距離，所述距離被配置為協(xié)助計(jì)算哪個傳感器接收了測量信號，所述三個或更多個傳感器被配置為根據(jù)探測到的用于成像系統(tǒng)的能量來生成信號；以及
電跡線(124)，其連接至所述三個或更多個傳感器，所述三個或更多個傳感器被并聯(lián)連接，以形成沿所述細(xì)長體的傳感器陣列。
10.如權(quán)利要求9中所述的設(shè)備，其中，所述傳感器包括壓電聚合物傳感器。
11.如權(quán)利要求9中所述的設(shè)備，其中，所述傳感器圍繞所述設(shè)備(102)的圓周的至少部分被共形地形成。
12.如權(quán)利要求9中所述的設(shè)備，還包括傳導(dǎo)屏蔽(28)，其被形成在介電材料上的所述電跡線上方。
13.如權(quán)利要求12中所述的設(shè)備，其中，所述傳導(dǎo)屏蔽形成針對所述多個傳感器的公共電極。
14.如權(quán)利要求9中所述的設(shè)備，其中，所述細(xì)長體(102)包括探針，并且所述探針形成針對所述多個傳感器的電極。
15.如權(quán)利要求9中所述的設(shè)備，其中，所述電跡線(124)連接至集線器觸點(diǎn)(126)，所述集線器觸點(diǎn)提供電接觸，以連接至用于處理和測量來自所述三個和更多個傳感器的信號的電子電路。
16.如權(quán)利要求9中所述的設(shè)備，其中，相鄰傳感器之間的間隙(A、B)在長度上不相等。
17.如權(quán)利要求9中所述的設(shè)備，其中，所述電跡線包括導(dǎo)電油墨或沉積層中的一個。
18.一種用于確定解釋在醫(yī)學(xué)設(shè)備中接收到的信號的方法，包括：
提供(202)具有細(xì)長體的醫(yī)學(xué)設(shè)備，多個傳感器在沿所述細(xì)長體的多個縱向位置處在所述細(xì)長體上被共形地形成，電跡線連接至所述多個傳感器，所述多個傳感器被并聯(lián)連接以形成沿所述細(xì)長體的傳感器陣列；
由成像系統(tǒng)在一位置處生成(204)信號；
由所述多個傳感器接收(206)所述信號；以及
通過采用在所述多個傳感器之間的可變間距和所述多個傳感器的幾何位置將由所述多個傳感器接收到的所述信號分離，以確定哪個傳感器接收到了哪些信號。
19.如權(quán)利要求18中所述的方法，其中，所述多個傳感器之間的所述可變間距(A、B)和所述多個傳感器的幾何位置在所述信號中提供根據(jù)其傳感器被確定的不同的延遲。
20.如權(quán)利要求18中所述的方法，其中，所述細(xì)長體(102)包括探針，并且所述探針的插入距離被用于確定哪個傳感器接收了哪些信號。