專利名稱：X射線診斷裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及X射線診斷裝置。
背景技術：
在X射線診斷裝置中，有為了取得診斷部位的立體信息、而能夠從不同的方向對 被檢體照射X射線的雙平面型的X射線診斷裝置。在該雙平面型的X射線診斷裝置中，具 備兩組作為X射線發(fā)生源的X射線管以及檢測該X射線的檢測裝置。另外，為了專用于各 自的X射線管而具備高電壓發(fā)生裝置。近年來，作為醫(yī)用X射線系統(tǒng)中的高電壓發(fā)生裝置，使用了大功率半導體元件的 逆變器式高電壓發(fā)生裝置得到了普及。該逆變器式高電壓發(fā)生裝置的特征在于，能夠通過 頻率的高頻化而實現(xiàn)高電壓發(fā)生裝置的小型/輕量化，從而實現(xiàn)省空間化，并且不論用單 相還是三相的電源都能夠得到接近定電壓的管電壓波形，從而實現(xiàn)高效化。例如，循環(huán)器的診斷中使用的X射線診斷裝置不僅是檢查而且還多用于治療中。 因此，例如，如果在手術中的醫(yī)生的導管操作中，X射線的輸出停止，則導管操作變得困難， 對被檢體的危險性增大。因此，X射線診斷裝置穩(wěn)定工作的重要性非常高，強烈要求高可靠性。因此，還提供 了具備多個高電壓發(fā)生裝置，即使在包括逆變器的高電壓發(fā)生裝置的一個中發(fā)生了異常的 情況下，也可以持續(xù)輸出X射線的裝置(專利文獻1 參照日本特開平10-27697號公報)。但是，在所述專利文獻1公開的發(fā)明中，擔心以下問題。即，在所述專利文獻1所示的醫(yī)療用X射線系統(tǒng)中，僅具備1組作為X射線發(fā)生源 的X射線管以及檢測該X射線的檢測裝置。因此，雖然對該1個X射線管設置了多個(兩 個)高電壓發(fā)生裝置，但無法進行具備兩組作為X射線發(fā)生源的X射線管以及檢測該X射 線的檢測裝置的雙平面型的X射線診斷裝置的應用。該雙平面型的X射線診斷裝置的特征在于，如上所述，能夠通過來自不同方向的 照射來得到診斷部位的立體信息。因此，為了在擔保裝置的穩(wěn)定工作的基礎上使該特征發(fā) 揮，需要采用如下結構為了在即使設置于一個平面(攝影系統(tǒng))內的高電壓發(fā)生裝置中發(fā) 生了異常的情況下，也可以確保安全性，并且盡可能繼續(xù)用作雙平面型的X射線診斷裝置， 而能夠接收來自針對另一個平面(攝影系統(tǒng))的高電壓發(fā)生裝置的輸出。另外，即使在雙平面型的X射線診斷裝置中，例如，有時根據(jù)診斷的內容的不同， 而希望優(yōu)先使用某一個平面。特別在發(fā)生異常而無法使用的平面是應優(yōu)先使用的平面的情 況下，期望使另一個平面停止、或者即使輸出限制也使該優(yōu)先使用的平面工作。另一方面， 如果為了能夠應對異常而在各個平面中設置多個高電壓發(fā)生裝置，則存在X射線診斷裝置 的電路結構變得復雜，并且有可能成為昂貴的裝置這樣的問題。


圖1是示出本發(fā)明的實施方式中的X射線診斷裝置的整體的立體圖。
圖2是示出本發(fā)明的實施方式中的X射線診斷裝置的整體結構的框圖。圖3是示出本發(fā)明的第1實施方式中的高電壓發(fā)生部的電路結構的電路圖。圖4是示出本發(fā)明的第1實施方式中的X射線診斷裝置中產生了異常的情況下的 大致的控制流程的流程圖。圖5是示出圖3所示的電路的一部分中發(fā)生了異常的情況下的電路結構的電路 圖。圖6是示出本發(fā)明的第2實施方式中的高電壓發(fā)生部的電路結構的電路圖。圖7是示出本發(fā)明的第2實施方式中的X射線診斷裝置中產生了異常的情況下的 大致的控制流程的流程圖。圖8是示出圖6所示的電路的一部分中發(fā)生了異常的情況下的電路結構的電路 圖。圖9是示出本發(fā)明的第3實施方式中的高電壓發(fā)生部的電路結構的電路圖。圖10是示出圖9所示的電路的一部分中發(fā)生了異常的情況下的電路的控制方法 的一個例子的表。
具體實施例方式本發(fā)明的實施方式的X射線診斷裝置具備多個X射線發(fā)生部、多個X射線檢測部、 多個高電壓發(fā)生部、切換裝置、異常發(fā)生檢測部以及控制部。多個X射線檢測部對應于多個 X射線發(fā)生部。多個高電壓發(fā)生部對多個X射線發(fā)生部施加電壓。切換裝置切換從多個高 電壓發(fā)生部向多個X射線發(fā)生部的輸出。異常發(fā)生檢測部對多個高電壓發(fā)生部中的異常的 發(fā)生進行檢測?？刂撇繉η袚Q裝置進行控制，以將從在異常發(fā)生檢測部中檢測出異常的高 電壓發(fā)生部向對應的X射線發(fā)生部的輸出切換為來自其他高電壓發(fā)生部的輸出。 以下，參照附圖，對本發(fā)明的實施方式進行詳細說明。(第1實施方式)圖1是示出本發(fā)明的實施方式中的X射線診斷裝置1的整體的立體圖。X射線診 斷裝置1具備夾著在臥臺上的頂板T上載置的未圖示的被檢體而配置的具有第IX射線發(fā) 生部加以及第IX射線檢測部2b的第1攝影系統(tǒng)2、和具有第2X射線發(fā)生部3a以及第2X 射線檢測部北的第2攝影系統(tǒng)3。因此，本發(fā)明的實施方式中的X射線診斷裝置1是具備 多個攝影系統(tǒng)的所謂雙平面型的X射線診斷裝置。在第1保持機構4的兩端部具備構成第1攝影系統(tǒng)2的第IX射線發(fā)生部加以及 第IX射線檢測部2b。另外，在第2保持機構5的兩端部具備構成第2攝影系統(tǒng)3的第2X 射線發(fā)生部3a以及第2X射線檢測部北。第1保持機構4以及第2保持機構5相互獨立， 能夠分別進行驅動。另外，在X射線診斷裝置1中，具備用于顯示圖像數(shù)據(jù)的顯示部9。圖2是示出本發(fā)明的實施方式中的X射線診斷裝置1的整體結構的框圖。如圖2 所示，X射線診斷裝置1構成為能夠對設置在頂板T上的被檢體P從兩個方向進行攝像。一 個是第1攝影系統(tǒng)2，另一個是第2攝影系統(tǒng)3。如上所述各個攝影系統(tǒng)分別具備X射線發(fā) 生部2a、3a和X射線檢測部2b、3b。另外，圖1中示出的第1保持機構4、第2保持機構5雖然在圖2中被省略，但這些機構以及構成X射線診斷裝置1的各工作部由驅動部6對其工作進行控制。第IX射線發(fā)生部加以及第2X射線發(fā)生部3a具備對被檢體P照射在圖2中未 示出的X射線的X射線管R ；以及針對從X射線管R照射的X射線形成X射線錐(錐束) 的X射線聚焦器2c、3c。X射線管R是發(fā)生X射線的真空管，利用高電壓使從陰極(絲極) 放出的電子加速并碰撞到鎢陽極而發(fā)生X射線。另外，X射線聚焦器2c、3c位于X射線管R 與被檢體P之間，具有將從X射線管R照射的X射線束聚焦到X射線檢測部2b、3b中的具 有規(guī)定的尺寸的照射范圍的功能。高電壓發(fā)生部7對第IX射線發(fā)生部加以及第2X射線發(fā)生部3a施加高電壓。對 于本發(fā)明的實施方式中的關于高電壓發(fā)生部7的詳細結構，將后文中描述。第IX射線檢測部2b以及第2X射線檢測部北對照射了 X射線的被檢體P的投影 數(shù)據(jù)進行檢測。作為X射線檢測部，能夠采用使用了 X射線I. I. (image intensifier，圖像 增強器)的方式或二維地排列了 X射線檢測元件的所謂X射線平面檢測器(二維陣列型X 射線檢測器)的方式。在第IX射線檢測部2b或者第2X射線檢測部北中檢測出的信息被發(fā)送到圖像運 算存儲部8。在圖像運算存儲部8中，根據(jù)所接收到的信息進行重構處理并生成體數(shù)據(jù)。進 而，根據(jù)該體數(shù)據(jù)生成三維圖像數(shù)據(jù)或MPR(Multi-Planar Reconstruction，多平面重建) 圖像數(shù)據(jù)等二維圖像數(shù)據(jù)。所生成的圖像數(shù)據(jù)被發(fā)送到顯示部9而顯示。根據(jù)來自輸入部10的輸入指示或者X射線診斷裝置1的內部中設置的存儲部內 存儲的步驟依照來自控制部11的控制信號，控制所述第1攝影系統(tǒng)2、第2攝影系統(tǒng)3、驅 動部6、高電壓發(fā)生部7、圖像運算存儲部8、以及顯示部9的動作。圖3是主要示出本發(fā)明的第1實施方式中的高電壓發(fā)生部7的電路結構的電路 圖。如圖3所示，在該電路圖中示出了從商用電源E經由高電壓發(fā)生部7、切換裝置12、14 直到第1攝影系統(tǒng)2以及第2攝影系統(tǒng)3的X射線發(fā)生部(X射線管R)的連接結構。在第 1實施方式中，第1攝影系統(tǒng)2和第2攝影系統(tǒng)3分別各具備一個高電壓發(fā)生部。另外，從 商用電源E到第IX射線發(fā)生部2a (第IX射線管Rl)、或者從商用電源E到第2X射線發(fā)生 部3a(第2X射線管R2)的電路結構相同。因此，在圖3的說明中，集中說明第1攝影系統(tǒng) 2和第2攝影系統(tǒng)3的電路結構。此處，為便于說明，將與商用電源E連接并把后述直流高電壓施加到第IX射線管 Rl的高電壓發(fā)生部表示為第1高電壓發(fā)生部71。將與商用電源E連接并把后述的直流高 電壓施加到第2X射線管R2的高電壓發(fā)生部表示為第2高電壓發(fā)生部72。如圖3所示，對第1攝影系統(tǒng)2和第2攝影系統(tǒng)3，都從商用電源E供給電源。從 商用電源E供給的交流通過全波整流電路71a、7h和電容器71b、72b進行整流/平滑而成 為直流。該直流被供給到具備大功率半導體元件(高速大容量的開關元件。在圖3中作為 例子示出了 IGBTansulated Gate Bipolar ^Transistor，絕緣柵雙極型晶體管))的逆變器 電路71c、72c。通過在逆變器電路71c、72c的上游側與電容器71b、7^并聯(lián)連接的電壓檢 測器71d，72d，對從商用電源E向逆變器電路71c、72c供給的電壓值進行檢測。該逆變器電路71c、72c被逆變器驅動電路71e、7&驅動。在逆變器電路71c、72c 的輸入側的一端，插入了熔絲(熔絲切斷檢測器)71f、72f，在輸出側的另一端插入了電流 檢測器71g、72g。另外，在逆變器電路71c、72c上，連接了檢測其溫度的溫度檢測器71h、72h。通過該逆變器電路71c、72c將直流變換為高頻交流，該高頻交流被高電壓變壓器 71i、72i升壓到高電壓交流。然后，通過由高耐壓的硅整流器等構成的高電壓整流器71j、 72j和電容器71k、7^平滑化后的直流高電壓經由切換裝置12、14而施加到第IX射線管 Rl或者第2X射線管R2。另外，在電容器71k、7^與切換裝置12、14之間連接了二極管711、721。在切換裝 置12、14與第IX射線管R1、第2X射線管R2之間，連接了未圖示的分壓電阻，該分壓電阻中 的電壓作為管電壓檢測值(與向X射線管R的施加電壓對應的檢測值)經由管電壓檢測器 16、17被發(fā)送到控制部11。另外，電壓檢測器71d，72d、熔絲切斷檢測器71f、72f、電流檢測器71g、72g、以及 溫度檢測器71Κ7 !都發(fā)揮作為異常發(fā)生檢測部的作用，將分別檢測出的信息發(fā)送到控制 部11。在圖3中，用從各異常發(fā)生檢測部發(fā)出的實線的箭頭示出了發(fā)送到控制部11的信 息?？刂撇?1根據(jù)這些信息進行逆變器驅動電路71e、72e、切換裝置12、14的控制。在圖 3中，用進入到逆變器驅動電路71e、72e、切換裝置12、14的實線的箭頭，表示了來自控制部 11的控制信號。切換裝置12具備4個切換器12a、12b、12c、12d。同樣地，切換裝置14具備4個切 換器 14a、14b、14c、14d。在第1實施方式中，如上所述與第1攝影系統(tǒng)2和第2攝影系統(tǒng)3分別對應地各 設置了一個高電壓發(fā)生部71、72。因此通常如圖3所示，連接切換器12a以及12c，所以來 自第1高電壓發(fā)生部71的高電壓被供給到第IX射線管R1。另外，同樣地，連接切換器Ha 以及14c，所以來自第2高電壓發(fā)生部72的高電壓被供給到第2X射線管R2。但是，由高電壓發(fā)生部以及X射線管構成的系統(tǒng)并不是完全獨立的，而是在切換 裝置12與第IX射線管Rl之間、或者切換裝置14與第2X射線管R2之間，相互連接了另一 方的高電壓發(fā)生部和X射線管。具體而言，在切換器12a與第IX射線管Rl之間連接切換 器14b。另外，在第IX射線管Rl與切換器12c之間連接切換器14d。而在切換器1 與第 2X射線管R2之間連接切換器12b。另外，在第2X射線管R2與切換器Hc之間連接切換器 12d。S卩，通過閉合切換裝置12的兩個切換器12a、12c，第1高電壓發(fā)生部71與第IX射 線管Rl成為連接狀態(tài)。而通過閉合兩個切換器12b、12d，第1高電壓發(fā)生部71與第2X射 線管R2成為連接狀態(tài)。另外，通過閉合切換裝置14的兩個切換器14a、14c，第2高電壓發(fā) 生部72與第2X射線管R2成為連接狀態(tài)。而通過閉合兩個切換器14b、14d，第2高電壓發(fā) 生部72與第IX射線管Rl成為連接狀態(tài)。由于這樣連接，通過切換切換裝置12、14，從而能夠從第1高電壓發(fā)生部71向第 2X射線管R2、或者從第2高電壓發(fā)生部72向第IX射線管Rl施加高電壓。接下來，對異常發(fā)生檢測部檢測到高電壓發(fā)生部7中的異常發(fā)生的情況下的X射 線診斷裝置1的控制進行說明。圖4是示出本發(fā)明的第1實施方式中的X射線診斷裝置1 中發(fā)生了異常的情況下的大致的控制流程的流程圖。本發(fā)明的第1實施方式中的X射線診斷裝置1如上所述是所謂的雙平面型的X射 線診斷裝置。因此具備兩種攝影系統(tǒng)，可由手術者選擇主要使用哪一個攝影系統(tǒng)、或者作為單平面型而僅使用其中的一個攝影系統(tǒng)。實際上，根據(jù)例如檢查項目、檢查部位等檢查內 容、診斷內容來進行最佳的選擇。因此，預先進行優(yōu)先使用的攝影系統(tǒng)的設定(STl)。在該設定時，例如，通過選擇檢 查內容而自動地進行設定。當然也可以通過手術者操作輸入部10來個別地輸入各種條件 而設定優(yōu)先使用的攝影系統(tǒng)。在進行了該設定后，手術者使用X射線診斷裝置1來進行針 對被檢體P的檢查、診斷。在X射線診斷裝置1的使用中發(fā)生了某種異常的情況下，在異常發(fā)生檢測部中檢 測該異常(ST2)。例如，有時就出現(xiàn)過在溫度檢測器中檢測出構成逆變器電路的開關元件上 升至規(guī)定的溫度以上等的情況。接收到來自異常發(fā)生檢測部的信號的控制部11判斷檢測到異常的攝影系統(tǒng)是否 為規(guī)定為優(yōu)先使用的攝影系統(tǒng)(ST3)?？刂撇?1通過確認檢測到異常的攝影系統(tǒng)，根據(jù)其 掌握的狀態(tài)來判斷從哪個高電壓發(fā)生部向哪個X射線管R施加高電壓。在由異常發(fā)生檢測部檢測到異常的攝影系統(tǒng)并非作為優(yōu)先使用的對象的攝影系 統(tǒng)的情況下(ST3的“否”)，原樣地繼續(xù)使用優(yōu)先使用的攝影系統(tǒng)(ST4)。例如，以第1實施方式中的高電壓發(fā)生部7與X射線管R的關系為例子進行說明。 如上所述，第1高電壓發(fā)生部71接收來自商用電源E的電源供給而向第IX射線管Rl施加 高電壓。另外，第2高電壓發(fā)生部72接收來自商用電源E的電源供給而向第2X射線管R2 施加高電壓。因此，例如，將包含第IX射線管Rl的第1攝影系統(tǒng)2設定為優(yōu)先使用的攝影 系統(tǒng)(參照STl)。在該情況下，如果在與第2攝影系統(tǒng)對應的第2高電壓發(fā)生部72中異常發(fā)生檢測 部(此處為電壓檢測器72d、熔絲切斷檢測器72f、電流檢測器72g、以及溫度檢測器72h中 的某一個檢測器)檢測到異常(參照SD)，則控制部11確認異常。一并地，控制部11確認 檢測到異常的高電壓發(fā)生部是并非為優(yōu)先使用的設定對象的攝影系統(tǒng)(第2攝影系統(tǒng)3) 施加高電壓的第2高電壓發(fā)生部72 (ST3)。即，由于在優(yōu)先使用的攝影系統(tǒng)中并未檢測到異 常，所以控制部11對切換裝置12、14進行控制，以便對于作為優(yōu)先使用的對象的第1攝影 系統(tǒng)2保持原樣不變地進行繼續(xù)使用。另一方面，檢測到異常的第2高電壓發(fā)生部72無法再對第2X射線管R2穩(wěn)定地施 加高電壓。因此，例如，切斷切換器14a、14c，斷開檢測到異常的第2高電壓發(fā)生部72和第 2X射線管R2。在由異常發(fā)生檢測部檢測到異常的攝影系統(tǒng)是作為優(yōu)先使用的對象的攝影系統(tǒng) 的情況下(ST3的“是”)，為了使用優(yōu)先使用的攝影系統(tǒng)，切換切換裝置12、14，以接收來自 沒有檢測到異常的正常的高電壓發(fā)生部的高電壓施加(ST5)。參照圖5對該流程進行說明。圖5是示出圖3所示的電路的一部分中發(fā)生了異常 的情況下的電路結構的電路圖。圖5示出雖然作為優(yōu)先使用的對象設定了第1攝影系統(tǒng)2， 但在第1高電壓發(fā)生部71中檢測到異常的情況下的電路結構。另一方面，雖然第2攝影系 統(tǒng)3未被設定為優(yōu)先使用的對象，但第2高電壓發(fā)生部72正常地發(fā)揮功能。在這樣的情況下，首先控制部11根據(jù)從異常發(fā)生檢測部發(fā)送的信息，確認在與優(yōu) 先使用的對象即第1攝影系統(tǒng)2對應的第1高電壓發(fā)生部71中檢測到異常(ST3的“是”) 的情況。之后，為了斷開首先檢測到異常的第1高電壓發(fā)生部71和第IX射線管R1，而斷開之前已連接的切換器12a、12c。通過斷開切換器12a、12c，由于切換器12b、12d本來就沒有 連接，所以第1高電壓發(fā)生部71和第IX射線管Rl被斷開。之后，斷開連接第2高電壓發(fā) 生部72與第2X射線管R2的切換器14a、14c，連接切換器14b、14d(參照ST5)。S卩，通過如上所述分別斷開并連接各個切換裝置12、14，切換器14b、第IX射線管 Rl以及切換器14d被連接。因此，能夠對優(yōu)先使用的攝影系統(tǒng)即第1攝影系統(tǒng)2(第IX射 線管Rl)施加來自正常的第2高電壓發(fā)生部72的高電壓。通過進行這樣的控制，可靠地向優(yōu)先使用的對象即攝影系統(tǒng)施加高電壓。因此，可 以采用廉價的裝置結構，并且即使在診斷中必需的一個平面中設置的高電壓發(fā)生裝置中發(fā) 生了異常的情況下也可以接收來自另一個平面中設置的高電壓發(fā)生裝置的輸出來使一個 平面的繼續(xù)使用成為可能。因此，能夠提供一種減小異常發(fā)生時的裝置的使用限制范圍而 進一步提高被檢體的安全性，并且確保了手術者方便使用的雙平面型的X射線診斷裝置。(第2實施方式)接下來對本發(fā)明中的第2實施方式進行說明。另外，在第2實施方式中，與在所述 第1實施方式中說明的結構要素相同的結構要素的說明由于重復所以省略。在第2實施方式中，在設置了對一個攝影系統(tǒng)施加高電壓的多個(兩個)高電壓 發(fā)生部這一點上，與第1實施方式不同。另外，對另一個攝影系統(tǒng)施加高電壓的高電壓發(fā)生 部是1個，該點與第1實施方式相同。圖6是示出本發(fā)明的第2實施方式中的高電壓發(fā)生部的電路結構的電路圖。如上 所述，在一個攝影系統(tǒng)、此處例如第1攝影系統(tǒng)2上連接了兩個高電壓發(fā)生部。對于該兩個 高電壓發(fā)生部，在第2實施方式中表現(xiàn)為第1高電壓發(fā)生部71和第2高電壓發(fā)生部72。在另一個攝影系統(tǒng)、此處例如第2攝影系統(tǒng)3上，連接了 1個高電壓發(fā)生部。對于 該高電壓發(fā)生部，在第2實施方式中記載為第3高電壓發(fā)生部73。另外，當然也可以是在 第1攝影系統(tǒng)2上連接了 1個高電壓發(fā)生部，在第2攝影系統(tǒng)3上連接了兩個高電壓發(fā)生 部的方式。對于第1高電壓發(fā)生部71至第3高電壓發(fā)生部73，如圖6所示其電路結構相同。 但是，第1高電壓發(fā)生部71至第3高電壓發(fā)生部73分別如下所述與X射線管R連接。首先，如圖6所示，對第1攝影系統(tǒng)2供給高電壓的第1高電壓發(fā)生部71經由切 換裝置12的切換器12a、12c與第IX射線管Rl連接。另外，第2高電壓發(fā)生部72經由切 換裝置13的切換器13a、13c與第IX射線管Rl連接。此處，第1高電壓發(fā)生部71和第2高電壓發(fā)生部72與第IX射線管Rl連接。在 該情況下，向第IX射線管Rl的輸出成為通過1個高電壓發(fā)生部無法維持的輸出。因此，為 了從第IX射線管Rl對被檢體P照射期望的輸出的放射線，需要使第1高電壓發(fā)生部71和 第2高電壓發(fā)生部72協(xié)動而對第IX射線管Rl施加高電壓。這意味著，與第1高電壓發(fā)生 部71并聯(lián)連接的第2高電壓發(fā)生部72是必需的結構。另一方面，在僅通過第1高電壓發(fā)生部71能夠維持作為X射線診斷裝置而假設的 輸出的情況下，第2高電壓發(fā)生部72處于在第1高電壓發(fā)生部71中發(fā)生了異常的情況下 的預備機的地位。因此，在第1高電壓發(fā)生部71正常地工作的情況下，形成圖6所示的切 換器13a、13c都被斷開的狀態(tài)。第3高電壓發(fā)生部73經由切換裝置14的切換器14a、14c與第2X射線管R2連接。第3高電壓發(fā)生部73是能夠發(fā)生第2X射線管R2中所需的輸出的高電壓發(fā)生部。進而，在 切換器12a與第IX射線管Rl之間連接切換器14b。另外，在第IX射線管Rl與切換器12c 之間連接切換器14d。另一方面，在切換器1 與第2X射線管R2之間連接切換器12b、切 換器13b。另外，在第2X射線管R2與切換器Hc之間連接切換器12d、切換器13d。通過如上所述相互連接第1高電壓發(fā)生部71、第2高電壓發(fā)生部72、以及第3高 電壓發(fā)生部73，即使在某一個高電壓發(fā)生部中發(fā)生了異常的情況下，也可以從正常地工作 的某一個高電壓發(fā)生部對第IX射線管R1、第2X射線管R2施加高電壓。接下來，對異常發(fā)生檢測部檢測到高電壓發(fā)生部7中的異常發(fā)生的情況下的X射 線診斷裝置1的控制進行說明。圖7是示出本發(fā)明的第2實施方式中的X射線診斷裝置中產 生了異常的情況下的大致的控制流程的流程圖。此處，優(yōu)先使用的攝影系統(tǒng)的設定(STl)、 來自高電壓發(fā)生部7的異常檢測以及控制部11中的異常發(fā)生的確認(SD)與第1實施方 式的說明相同。在控制部11確認了在某一個高電壓發(fā)生部中發(fā)生了異常的情況下(ST2)，控制 部11首先打開與發(fā)生了異常的高電壓發(fā)生部對應的切換器而斷開與X射線管R的連接 (STll)。之后，確認是否將X射線診斷裝置1用作雙平面型的裝置(ST12)。也可以預先決 定在哪一個高電壓發(fā)生部中發(fā)生了異常的情況下將X射線診斷裝置1作為雙平面型使用、 或者作為單平面型使用。另外，也可以設定在高電壓發(fā)生部中發(fā)生了異常的狀態(tài)下通過哪 一個方式來使用X射線診斷裝置1。在作為雙平面型而使用X射線診斷裝置1的情況下(ST12的“是”)，控制部11對 切換裝置13進行控制，進行連接的切換，以使正常的高電壓發(fā)生部的連接成為能夠將X射 線診斷裝置1用作雙平面型的組合(ST13)。具體而言，在第2高電壓發(fā)生部72提供了作為第1高電壓發(fā)生部71的預備機的 作用的情況下在第1高電壓發(fā)生部71中檢測到異常的情況下，斷開切換器12a、12c，為了對 第IX射線管Rl從第2高電壓發(fā)生部72施加高電壓，而連接切換器13a、13c。由此，從第2 高電壓發(fā)生部72向第IX射線管Rl施加高電壓。相反在第2高電壓發(fā)生部72中檢測到異 常的情況下，原本第2高電壓發(fā)生部72提供了作為第1高電壓發(fā)生部71的預備機的作用， 所以無需特別進行切換，第1高電壓發(fā)生部71就直接地與第IX射線管Rl連接。另外，如上所述，第3高電壓發(fā)生部73也能夠對第IX射線管Rl施加高電壓。但 是，為了使X射線診斷裝置1作為雙平面的裝置而工作，需要使第3高電壓發(fā)生部73經由 切換器14a、14b向第2X射線管R2施加高電壓。因此，即使在第1高電壓發(fā)生部71中發(fā)生 了異常的情況下，只要第2高電壓發(fā)生部72以及第3高電壓發(fā)生部73這兩者都正常地工 作，則如上所述，第2高電壓發(fā)生部72向第IX射線管R1、第3高電壓發(fā)生部73向第2X射 線管R2分別施加高電壓。另外，在第2高電壓發(fā)生部72中發(fā)生了異常的情況下，第1高電 壓發(fā)生部71向第IX射線管R1、第3高電壓發(fā)生部73向第2X射線管R2分別施加高電壓。以上，在第2高電壓發(fā)生部72的性質是預備機的情況下，通過進行所述連接，不論 哪個攝影系統(tǒng)是優(yōu)先使用的攝影系統(tǒng)，都能夠用作雙平面型。另一方面，在第2高電壓發(fā)生部72的性質是必須與第1高電壓發(fā)生部71協(xié)動的 結構的情況下，如果在第1高電壓發(fā)生部71或者第2高電壓發(fā)生部72中的某一個中發(fā)生了異常，則雖然可以作為雙平面型的X射線診斷裝置1使用，但可對第IX射線管Rl施加的 高電壓的輸出不足，而在其使用中存在限制。因此，針對哪一個攝影系統(tǒng)是優(yōu)先使用的攝影 系統(tǒng)，以下分情況來進行說明。首先，在第1攝影系統(tǒng)2是優(yōu)先使用的攝影系統(tǒng)的情況下，在第1高電壓發(fā)生部71 中發(fā)生了異常的情況下，僅通過第2高電壓發(fā)生部72輸出不足。因此，控制部11切換切換 裝置14而將第3高電壓發(fā)生部73連接到第IX射線管R1。第3高電壓發(fā)生部73由于能 夠單獨對X射線管R施加充分的高電壓，所以將第3高電壓發(fā)生部73連接到優(yōu)先使用的第 1攝影系統(tǒng)2的第IX射線管Rl。另一方面，由于需要將X射線診斷裝置1作為雙平面型使 用，所以對本來連接了第3高電壓發(fā)生部73的第2X射線管R2連接正常的第2高電壓發(fā)生 部72。通過這樣連接，能夠優(yōu)先使用第1攝影系統(tǒng)2，并且能夠將X射線診斷裝置1作為雙 平面型使用。另外，在第2高電壓發(fā)生部72中發(fā)生了異常的情況下，將第3高電壓發(fā)生部73連 接到優(yōu)先使用的第1攝影系統(tǒng)2的第IX射線管Rl，并且需要將X射線診斷裝置1作為雙平 面型使用，所以對原本連接了第3高電壓發(fā)生部73的第2X射線管R2連接正常的第1高電 壓發(fā)生部71。通過這樣連接，能夠優(yōu)先使用第1攝影系統(tǒng)2，并且能夠將X射線診斷裝置1 作為雙平面型使用。另外，在第1攝影系統(tǒng)2是優(yōu)先使用的攝影系統(tǒng)的情況、且在第3高電壓發(fā)生部73 中發(fā)生了異常的情況下如以下那樣連接。在該情況下，如上所述第3高電壓發(fā)生部73從第 2X射線管R2被斷開，但依舊保持原樣地被用作單平面型。此處，由于前提是將X射線診斷 裝置1用作雙平面型，所以將第1高電壓發(fā)生部71或者第2高電壓發(fā)生部72中的某一個 與第2X射線管R2連接。由此，至少作為雙平面型的使用得到了確保。圖8是示出圖6所示的電路的一部分中發(fā)生了異常的情況下的電路結構的電路 圖。例如，如圖8所示，斷開切換器13a、13c，連接切換器13b、13d。由此，切換器13b、第2X 射線管R2、以及切換器13d被連接。因此，能夠對第2攝影系統(tǒng)3(第2X射線管R2)施加來 自正常的第2高電壓發(fā)生部72的高電壓。接下來，對第2攝影系統(tǒng)3是優(yōu)先使用的攝影系統(tǒng)的情況進行說明。在第1高電 壓發(fā)生部71或者第2高電壓發(fā)生部72中的某一個中發(fā)生了異常的情況下，沒有向構成第1 攝影系統(tǒng)2的第IX射線管Rl充分地施加高電壓。但是，由于第3高電壓發(fā)生部73正常， 所以向構成優(yōu)先使用的第2攝影系統(tǒng)3的第2X射線管R2施加充分的高電壓。因此，通過 將某一個正常的第1高電壓發(fā)生部71或者第2高電壓發(fā)生部72連接到第IX射線管R1，并 將第3高電壓發(fā)生部73連接到第2X射線管R2，能夠優(yōu)先使用第2攝影系統(tǒng)3，并且能夠將 X射線診斷裝置1作為雙平面型使用。另一方面，在第3高電壓發(fā)生部73中發(fā)生了異常的情況下，為了將X射線診斷裝 置1用作雙平面型，將正常的第1高電壓發(fā)生部71或者第2高電壓發(fā)生部72連接成都分 配給第IX射線管Rl和第2X射線管R2。通過這樣連接，能夠至少將X射線診斷裝置1確保 為作為雙平面型的使用。例如，如圖8所示，控制切換裝置13、14，以對第2X射線管R2施加 來自正常的第2高電壓發(fā)生部72的高電壓即可。在將X射線診斷裝置1不是作為雙平面型而是作為單平面型使用的情況下(ST12 的“否”)，判斷檢測到異常的高電壓發(fā)生部是否為對優(yōu)先使用的攝影系統(tǒng)進行輸出的高電壓發(fā)生部(ST3)，如以下那樣進行控制。首先，對將第2高電壓發(fā)生部72設為預備機的情況、且優(yōu)先使用第1攝影系統(tǒng) 2(作為單平面型而使用)的情況進行說明。在第1高電壓發(fā)生部71中發(fā)生了異常的情況 下(ST3的“是”)，控制部11切換切換裝置12、13而將第2高電壓發(fā)生部72連接到第IX 射線管R1(ST5)。通過該連接，能夠確保優(yōu)先地使用第1攝影系統(tǒng)2。另一方面，在第2高 電壓發(fā)生部72中發(fā)生了異常的情況下，第1高電壓發(fā)生部71原樣地被連接到第IX射線管 Rl (ST5)，從而能夠同樣地優(yōu)先使用第1攝影系統(tǒng)2。另外，由于是優(yōu)先使用第1攝影系統(tǒng)2的前提，所以即使在第3高電壓發(fā)生部73 中發(fā)生了異常，也不會對第1攝影系統(tǒng)2的優(yōu)先使用造成影響(ST3的“否”)。對第2高電壓發(fā)生部72的性質是預備機、且優(yōu)先使用第2攝影系統(tǒng)3 (作為單平 面型而使用)的情況進行說明。在該情況下，不論在第1高電壓發(fā)生部71或者第2高電壓 發(fā)生部72中的哪一個中發(fā)生了異常，只要對構成第2攝影系統(tǒng)3的第2X射線管R2施加 高電壓的第3高電壓發(fā)生部73常，就不會對第2攝影系統(tǒng)3的優(yōu)先使用造成影響(ST3的 “否”)。另一方面，在第3高電壓發(fā)生部73中發(fā)生了異常的情況下(ST3的“是”)，通過將 第1高電壓發(fā)生部71或者第2高電壓發(fā)生部72中的某一個連接到第2X射線管R2，確保優(yōu) 先使用第2攝影系統(tǒng)3 (ST5)。對第2高電壓發(fā)生部72的性質是必須與第1高電壓發(fā)生部71協(xié)動的結構，且優(yōu) 先使用第1攝影系統(tǒng)2 (作為單平面型使用)的情況進行說明。在該情況下，如上所述，無 法通過第1高電壓發(fā)生部71或者第2高電壓發(fā)生部72中的某一個對X射線管R施加充分 的高電壓。因此，在優(yōu)先使用第1攝影系統(tǒng)2的情況、且在第1高電壓發(fā)生部71或者第2 高電壓發(fā)生部72中的某一個中發(fā)生了異常的情況下(ST3的“是”)，第1高電壓發(fā)生部71 以及第2高電壓發(fā)生部72都從第IX射線管Rl被斷開，將第3高電壓發(fā)生部73連接到第 IX射線管Rl (ST5)。這樣連接，雖然不再對第2X射線管R2施加高電壓，但確保了將第1攝 影系統(tǒng)2作為單平面型優(yōu)先地使用。另外，在第3高電壓發(fā)生部73中發(fā)生了異常的情況下(ST3的“否”)，不會對本來 優(yōu)先使用的第1攝影系統(tǒng)2施加高電壓、即第3高電壓發(fā)生部73對并非是優(yōu)先使用的攝影 系統(tǒng)的第2攝影系統(tǒng)3施加高電壓，所以不會對第1攝影系統(tǒng)2的優(yōu)先使用造成影響(ST3 的“否”)。另一方面，對第2高電壓發(fā)生部72的性質是必須與第1高電壓發(fā)生部71協(xié)動的 結構、且優(yōu)先使用第2攝影系統(tǒng)3 (作為單平面型使用)的情況進行說明。在該情況下，不 論在第1高電壓發(fā)生部71或者第2高電壓發(fā)生部72中的哪一個中發(fā)生了異常都沒有對優(yōu) 先使用的對象即第2攝影系統(tǒng)3施加高電壓，所以不會對第2攝影系統(tǒng)3的優(yōu)先使用造成 影響(ST3的“否”)。另一方面，在對構成第2攝影系統(tǒng)3的第2X射線管R2施加高電壓的第3高電壓 發(fā)生部73中發(fā)生了異常的情況下(ST3的“是”)，將正常的第1高電壓發(fā)生部71以及第2 高電壓發(fā)生部72中的某一個連接到第2X射線管R2 (ST5)。通過這樣連接，能夠對優(yōu)先使用 的第2攝影系統(tǒng)3的第2X射線管R2施加充分的高電壓。S卩，能夠控制切換裝置12、13、14，以將從檢測到異常的高電壓發(fā)生部到對應的X射線發(fā)生部的輸出切換為來自對共通的X射線發(fā)生部輸出的多個高電壓發(fā)生部中的至少 一個的輸出。通過這樣的控制，可靠地向優(yōu)先使用的對象即攝影系統(tǒng)施加高電壓。因此，能 夠采用廉價的裝置結構，并且即使在診斷中必需的一個平面中設置的高電壓發(fā)生裝置中發(fā) 生了異常的情況下也可以接收來自另一個平面中設置的高電壓發(fā)生裝置的輸出來繼續(xù)使 用一個平面。由此，能夠提供一種縮小異常發(fā)生時的裝置的使用限制范圍而進一步提高被 檢體的安全性，并且確保了手術者方便使用的雙平面型的X射線診斷裝置。(第3實施方式)接下來對本發(fā)明中的第3實施方式進行說明。另外，在第3實施方式中，與所述第 1或者第2實施方式中說明的結構要素相同的結構要素的說明由于重復所以省略。在第3實施方式中，在設置了對設有多個的攝影系統(tǒng)施加高電壓的多個(兩個) 高電壓發(fā)生部這一點上，與第1或者第2實施方式不同。如圖9所示，在第3實施方式中， 為了對第IX射線管Rl施加高電壓而連接了第1高電壓發(fā)生部71以及第2高電壓發(fā)生部 72，為了對第2X射線管R2施加高電壓而連接了第3高電壓發(fā)生部73以及第4高電壓發(fā)生 部74。第1高電壓發(fā)生部71以及第2高電壓發(fā)生部72相互并聯(lián)連接，第3高電壓發(fā)生部 73以及第4高電壓發(fā)生部74相互并聯(lián)連接。另外，由于采用了這樣的結構，對從商用電源E供給的交流進行整流/平滑而使之 成為直流的全波整流電路和電容器以及電壓檢測器在第1高電壓發(fā)生部71以及第2高電 壓發(fā)生部72中共用。同樣地在第3高電壓發(fā)生部73以及第4高電壓發(fā)生部74中，也共用 全波整流電路和電容器以及電壓檢測器。另外，第1高電壓發(fā)生部71至第4高電壓發(fā)生部 74的內部的主要的電路結構與在所述第1或者第2實施方式中說明的結構相同。此處，將 從第1高電壓發(fā)生部71到第4高電壓發(fā)生部74中分別設置的逆變器驅動電路記載為71e、 72e、73e、74e。另外，將在第1高電壓發(fā)生部71以及第2高電壓發(fā)生部72中共通的電壓檢 測器記為71d，將在第3高電壓發(fā)生部73以及第4高電壓發(fā)生部74中共通的電壓檢測器記 為 73d。另外，經由4個切換裝置12、13、14、15，對第1高電壓發(fā)生部71至第4高電壓發(fā) 生部74與第IX射線管Rl以及第2X射線管R2之間進行切換。即，各切換裝置12、13、14、 15 分別具備 4 個切換器 12a、12b、12c、12d、13a、13b、13c、13d、14a、14b、14c、14d、15a、15b、 15c、15d。于是，通過閉合切換裝置12的兩個切換器12a、12c，第1高電壓發(fā)生部71與第 IX射線管Rl成為連接狀態(tài)，另一方面，通過閉合兩個切換器12b、12d，第1高電壓發(fā)生部71 與第2X射線管R2成為連接狀態(tài)。對于其他各切換裝置13、14、15，也是同樣的。圖10是示出圖9所示的電路的一部分中發(fā)生了異常的情況下的電路的控制方法 的一個例子的表。在第3實施方式中，其前提為，不論是哪一個高電壓發(fā)生部71、72、73、74， 僅通過其中的1個，無法充分地供給施加到X射線管R的高電壓。但是，通過從兩個高電壓發(fā)生部施加高電壓，能夠向X射線管R充分地施加高電 壓。因此，對于圖10所示的表的“操作面板顯示例”中的各X射線管R1、R2的輸出，將能夠 對各X射線管Rl、R2充分地施加高電壓的情況記為“充分”，將無法充分地施加高電壓的情 況記為“不充分”。另外，在從兩個高電壓發(fā)生部向單一的X射線管R的輸出的比例是1 1的情況 下，通過從1個高電壓發(fā)生部對X射線管R施加高電壓，能夠從X射線管R輸出最大輸出的50%。因此，在該情況下，也可以代替針對各X射線管R1、R2的輸出顯示為“充分”以及“不 充分”，而針對各X射線管Rl、R2的最大輸出分別顯示為“100%”以及“50%”。在表中，在最上一行中，示出了項目。即，從最左欄依次是“異常檢測內容”、“逆變 器驅動電路”、“切換裝置”、以及“操作面板顯示例”。其中，“操作面板”是指例如輸入部10。 對于“逆變器驅動電路”、“切換裝置”，由于分別設置在第1高電壓發(fā)生部71至第4高電壓 發(fā)生部 74 中，所以依次記為 “71e、72e、73e、74e”、“12、13、14、15”。在示出項目的欄的正下，為了比較，示出了異常檢測內容是“無異?！钡那闆r。在 任意一個高電壓發(fā)生部71、72、73、74中都沒有發(fā)生異常的情況下，各逆變器驅動電路71e、 72e、73e、7^正常地工作。因此，對第IX射線管Rl以及第2X射線管R2中的任意一個都能 夠充分地施加高電壓。因此，在“操作面板顯示例”的“第IX射線管Rl輸出”以及“第2X 射線管R2輸出”的欄中都示出為“充分”。另外，當然在該情況下還可以將X射線診斷裝置 1用作雙平面型的X射線診斷裝置。在“無異?！钡南聶谥?，作為“異常檢測內容”示出了 “電源供給異?！薄＿@是在各 高電壓發(fā)生部中設置的電壓檢測器71d或者73d檢測到的異常。例如，表示對逆變器驅動 電路71 e、7 或者逆變器驅動電路73e、74e完全沒有供給電源或者沒有供給充分的電源等異常。在圖10所示的表中，示出了電壓檢測器71d檢測到電源供給的異常的情況。電壓 檢測器71d是檢測是否對第1高電壓發(fā)生部71以及第2高電壓發(fā)生部72施加了適合的電 壓的異常發(fā)生檢測部。因此，在電壓檢測器71d檢測到電源供給的異常的情況下，第1高電 壓發(fā)生部71的逆變器驅動電路71e以及第2高電壓發(fā)生部72的逆變器驅動電路7 都停 止。另一方面，對向第3高電壓發(fā)生部73以及第4高電壓發(fā)生部74的電源供給的異常進 行檢測的電壓檢測器73d沒有檢測到異常。因此，第3高電壓發(fā)生部73的逆變器驅動電路 73e以及第4高電壓發(fā)生部74的逆變器驅動電路7 被正常地驅動(在圖10的表中顯示 為“運轉”)。如果逆變器驅動電路71e以及逆變器驅動電路7 停止，則不向第IX射線管Rl 施加高電壓。在該情況下，控制部11能夠控制的選擇肢如圖10所示有3種。第1選擇肢是將X射線診斷裝置1始終用作雙平面型的X射線診斷裝置的情況。 對于該情況下的切換裝置的控制，在圖10的“電源供給異?！钡臋谥械念^一行中示出。另外，在“電源供給異?！钡那闆r下，如上所述逆變器驅動電路71e、7&中都停止， 所以切換裝置12、13成為被完全斷開的狀態(tài)、即成為第1高電壓發(fā)生部71以及第2高電壓 發(fā)生部72這雙方沒有與第IX射線管Rl以及第2X射線管R2這雙方連接的狀態(tài)。將該狀 態(tài)在圖10所示的表中表示為“OFF”。在將X射線診斷裝置1用作雙平面型的X射線診斷裝置的情況下，必需向第IX射 線管Rl施加高電壓。因此，斷開切換器14a、14c，替代地連接切換器14b、14d。切換器14b、 14d與第IX射線管Rl連接。因此，通過閉合切換器14b、14d，能夠從第3高電壓發(fā)生部73 向第IX射線管Rl施加高電壓。進而，由于切換器15a、15c被閉合，所以來自第4高電壓發(fā)生部74的高電壓被施 加到第2X射線管R2。通過這樣連接，對第IX射線管Rl和第2X射線管R2都施加高電壓， 所以能夠將X射線診斷裝置1作為雙平面型的X射線診斷裝置而使用。
但是，如上所述，第1高電壓發(fā)生部71至第4高電壓發(fā)生部74都不具備僅通過1 個分別對X射線管R施加充分的高電壓的能力。因此，即使伴隨第1高電壓發(fā)生部71以及 第2高電壓發(fā)生部72的停止而將對第2X射線管R2施加了高電壓的第3高電壓發(fā)生部73 的輸出供給到第IX射線管R1，也無法向第IX射線管Rl施加充分的高電壓。另一方面，對于第2X射線管R2，也由于所施加的高電壓被供給到第IX射線管Rl， 所以無法施加充分的高電壓。將對第IX射線管Rl或者第2X射線管R2未施加充分的高電 壓的狀態(tài)在圖10的表中，表示為“不充分”?？刂撇?1能夠控制的選擇肢的剩余兩個是將施加到某一個X射線管R的高電壓 集中，不是雙平面型而是作為單平面型來使用X射線診斷裝置1的情況。通過對第IX射線 管Rl集中高電壓、或者對第2X射線管R2集中高電壓，來區(qū)分選擇肢。例如，根據(jù)優(yōu)先使用 的攝影系統(tǒng)是哪一個，來進行該選擇。在對第IX射線管Rl集中高電壓，而使用第1攝影系統(tǒng)2的情況下，控制部11連 接切換器14b、14d(切換器14a、Hc斷開)，連接切換器15b、15d(切換器15a、15c斷開)。 由此，從第3高電壓發(fā)生部73以及第4高電壓發(fā)生部74輸出的高電壓被全部施加到第IX 射線管Rl。因此，在圖10的表中，“第IX射線管Rl的輸出”的欄是“充分”，“第2X射線管 R2的輸出”的欄是“0”。另外，在該情況下如上所述，無法作為雙平面型的X射線診斷裝置 使用，所以“雙平面”的項目成為“不可”。即，在異常發(fā)生檢測部中檢測到向對第IX射線管Rl輸出的多個高電壓發(fā)生部71、 72的電源供給的異常的情況下，能夠控制切換裝置12、13、14、15，以將向第IX射線管Rl的 輸出從檢測到異常的高電壓發(fā)生部71、72切換到對第2X射線管R2輸出的多個高電壓發(fā)生 部73、74中的至少一個的輸出。另一方面，在對第2X射線管R2集中高電壓，而使用第2攝影系統(tǒng)3的情況下，控制 部11連接切換器14a、14c (切換器14b、14d斷開)，連接切換器15a、15c (切換器15b、15d 斷開)。由此，從第3高電壓發(fā)生部73以及第4高電壓發(fā)生部74輸出的高電壓被全部施加 到第2X射線管R2。因此，在圖10的表中，“第IX射線管Rl的輸出”的欄為“0”，“第2X射 線管R2的輸出”的欄為“充分”。另外，在該情況下如上所述，無法作為雙平面型的X射線 診斷裝置而使用，所以“雙平面”的項目成為“不可”。在“電源供給異?！钡那闆r下，如上所述，如果發(fā)生異常，則并聯(lián)連接的第1高電壓 發(fā)生部71和第2高電壓發(fā)生部72這雙方或者第3高電壓發(fā)生部73和第4高電壓發(fā)生部 74這雙方中的某兩個高電壓發(fā)生部停止。另一方面，在熔絲切斷檢測器、電流檢測器或者溫度檢測器中的某一個的異常發(fā) 生檢測部呈現(xiàn)異常的發(fā)生的情況下，表示在逆變器電路中發(fā)生異常。因此，停止的部分限于 相應的發(fā)生了異常的高電壓發(fā)生部。在圖10的表中，例如，示出了在第2高電壓發(fā)生部72 的逆變器電路72c中發(fā)生了異常的情況。以下，以該狀態(tài)為例子而進行說明。在該情況下，逆變器驅動電路7 停止。但是，由于剩下的第1高電壓發(fā)生部71、 第3高電壓發(fā)生部73以及第4高電壓發(fā)生部74工作，所以它們各自的逆變器驅動電路71e、 73e、74e 運轉。即，由于4個高電壓發(fā)生部中的3個正常地工作，所以控制部11對將從這些3個 高電壓發(fā)生部施加的高電壓如何分配給兩個X射線管R進行控制。另外，在該狀態(tài)下作為單平面型使用X射線診斷裝置的選擇肢消失，在任何情況下都成為雙平面型下的使用。具體而言，在圖10所示的例子的情況下，需要決定將從第3高電壓發(fā)生部73施加 的高電壓分配給第IX射線管R1、或者分配給第2X射線管R2。在將從第3高電壓發(fā)生部73施加的高電壓分配給第IX射線管Rl的情況下，進行 連接切換器14b、14d，斷開切換器14a、14c的控制。通過這樣控制切換裝置14，向第IX射 線管R1，從第1高電壓發(fā)生部71以及第3高電壓發(fā)生部73施加高電壓。另一方面，原本對第2X射線管R2施加了高電壓的第3高電壓發(fā)生部73向第IX射 線管Rl施加高電壓，所以施加到第2X射線管R2的高電壓并不充分。即，第IX射線管Rl的 輸出成為“充分”，第2X射線管R2的輸出成為“不充分”。施加到第2X射線管R2的高電壓 變?yōu)椴怀浞?，雖然在使用狀態(tài)中存在限制，但能夠將X射線診斷裝置1作為雙平面型使用。接下來，在將從第3高電壓發(fā)生部73施加的高電壓分配給第2X射線管R2的情況 下，進行連接切換器14a、14c，斷開切換器14b、14d的控制。S卩，控制部11進行不變更此前 的運轉狀態(tài)的控制。通過這樣控制切換裝置14，對第2X射線管R2，從第3高電壓發(fā)生部73 以及第4高電壓發(fā)生部74施加高電壓。另一方面，第2高電壓發(fā)生部72停止，向第IX射線管Rl施加高電壓的僅為第1 高電壓發(fā)生部71，所以施加到第IX射線管Rl的高電壓并不充分。即，第IX射線管Rl的輸 出成為“不充分”。但是，雖然施加到第IX射線管Rl的高電壓成為不充分而在使用狀態(tài)中 存在限制，但施加到第2X射線管R2的高電壓如此前那樣仍為“充分”，所以能夠將X射線診 斷裝置1作為雙平面型使用。通過進行這樣的控制，可靠地向作為優(yōu)先使用的對象的攝影系統(tǒng)施加高電壓施 加。因此，能夠采用廉價的裝置結構，并且即使在診斷中必需的一個平面中設置的高電壓發(fā) 生裝置中發(fā)生了異常的情況下也可以接收來自另一個平面中設置的高電壓發(fā)生裝置的輸 出而繼續(xù)使用一個平面。由此，能夠提供減小異常發(fā)生時的裝置的使用限制范圍而進一步 提高被檢體的安全性，并且確保了手術者方便使用的雙平面型的X射線診斷裝置。以上，記載了特定的實施方式，但所記載的實施方式僅為一個例子，而不限定發(fā)明 的范圍。此處記載的新的方法以及裝置能夠通過各種其他樣式來具體化。另外，在此處記 載的方法以及裝置的樣式中，能夠在不脫離發(fā)明的要旨的范圍內進行各種省略、置換以及 變更。所附的權利要求及其等同物也包含在發(fā)明的范圍以及要旨中，包括這樣的各種樣式 以及變形例。例如，在所述本發(fā)明的實施方式中，控制部設定了優(yōu)先使用的攝影系統(tǒng)，但也可以 設置設定所優(yōu)先使用的攝影系統(tǒng)的優(yōu)先使用設定部這樣的專用裝置。在該情況下，構成為 控制部根據(jù)優(yōu)先使用設定部的設定結果來確定優(yōu)先使用的攝影系統(tǒng)。
權利要求
1.一種X射線診斷裝置，其特征在于，具備 多個X射線發(fā)生部；多個X射線檢測部，對應于所述多個X射線發(fā)生部； 多個高電壓發(fā)生部，對所述多個X射線發(fā)生部施加電壓；切換裝置，對從所述多個高電壓發(fā)生部向所述多個X射線發(fā)生部的輸出進行切換； 異常發(fā)生檢測部，對所述多個高電壓發(fā)生部中的異常的發(fā)生進行檢測；以及 控制部，對所述切換裝置進行控制，使其將從在所述異常發(fā)生檢測部中檢測到異常的 高電壓發(fā)生部向對應的X射線發(fā)生部的輸出切換為來自其他高電壓發(fā)生部的輸出。
2.根據(jù)權利要求1所述的X射線診斷裝置，其特征在于，所述控制部對所述切換裝置進行控制，使其將從所述檢測到異常的高電壓發(fā)生部向所 述對應的X射線發(fā)生部的輸出切換為來自對同一個X射線發(fā)生部進行輸出的多個高電壓發(fā) 生部中的至少一個的輸出。
3.根據(jù)權利要求1所述的X射線診斷裝置，其特征在于，所述控制部對所述切換裝置進行控制，使其在所述異常發(fā)生檢測部中檢測到向對第IX 射線發(fā)生部進行輸出的多個高電壓發(fā)生部的電源供給的異常的情況下，將向所述第IX射 線發(fā)生部的輸出切換為來自對與所述第IX射線發(fā)生部不同的第2X射線發(fā)生部進行輸出的 多個高電壓發(fā)生部中的至少一個的輸出。
4.根據(jù)權利要求1所述的X射線診斷裝置，其特征在于， 所述異常發(fā)生檢測部具備如下檢測器中的至少一個電流檢測器，對流向分別構成所述多個高電壓發(fā)生部的逆變器電路的電流進行檢測； 電壓檢測器，對向所述逆變器電路的輸入電壓進行檢測； 溫度檢測器，對所述逆變器電路的溫度進行檢測；以及 熔絲切斷檢測器，對所述逆變器電路的熔絲的切斷進行檢測。
5.根據(jù)權利要求1所述的X射線診斷裝置，其特征在于，所述控制部構成為能夠將具備始終接收來自至少1個沒有檢測到異常的高電壓發(fā)生 部的輸出的X射線發(fā)生部的攝影系統(tǒng)設定為優(yōu)先使用的攝影系統(tǒng)。
6.根據(jù)權利要求1所述的X射線診斷裝置，其特征在于，還具備優(yōu)先使用設定部，將具備始終接收來自至少1個沒有檢測到異常的高電壓發(fā)生 部的輸出的X射線發(fā)生部的攝影系統(tǒng)設定為優(yōu)先使用的攝影系統(tǒng)，所述控制部構成為對所述切換裝置進行控制，使其根據(jù)由所述優(yōu)先使用設定部設定的 設定內容從所述檢測到異常的高電壓發(fā)生部切換到所述其他高電壓發(fā)生部。
全文摘要
本發(fā)明的X射線診斷裝置具備多個X射線發(fā)生部、多個X射線檢測部、多個高電壓發(fā)生部、切換裝置、異常發(fā)生檢測部以及控制部。多個X射線檢測部對應于多個X射線發(fā)生部。多個高電壓發(fā)生部對多個X射線發(fā)生部施加電壓。切換裝置對從多個高電壓發(fā)生部向多個X射線發(fā)生部的輸出進行切換。異常發(fā)生檢測部對多個高電壓發(fā)生部中的異常的發(fā)生進行檢測?？刂撇繉η袚Q裝置進行控制，以將從在異常發(fā)生檢測部中檢測到異常的高電壓發(fā)生部向對應的X射線發(fā)生部的輸出切換為來自其他高電壓發(fā)生部的輸出。
文檔編號A61B6/00GK102078198SQ20101051468
公開日2011年6月1日 申請日期2010年10月21日 優(yōu)先權日2009年11月30日
發(fā)明者井川勝家, 坂田充, 福原學 申請人:東芝醫(yī)療系統(tǒng)株式會社, 株式會社東芝