專利名稱：放射線成像設(shè)備及其暗電流校正方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種獲得放射線圖像的放射線成像設(shè)備和用于該設(shè)備的暗電流(dark current)校正方法。
背景技術(shù)：
在獲得放射線圖像(例如，X射線圖像)時，通過使用具有保持膠片和增感屏 (intensifying screen)的暗盒(cassette)的膠片/屏幕或者用于計算機放射線成像 (computed radiography)的暗盒中的成像板，來獲取被攝體的X射線圖像。近年來，提出了實時將X射線圖像直接轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號的X射線檢測器。這類X 射線檢測器包括例如將固態(tài)光檢測器和閃爍體相互層疊而成的X射線檢測器。固態(tài)光檢測 器使均由透明導(dǎo)電膜和導(dǎo)電膜形成的固態(tài)光檢測元件以矩陣形式排列在由石英玻璃制成 的基板上的非晶態(tài)半導(dǎo)體上。閃爍體將X射線轉(zhuǎn)換成可見光。還有各種已知的在不使用閃爍體的情況下利用固態(tài)光檢測器直接獲取X射線的X 射線檢測器。與使用閃爍體的X射線檢測器不同，這類X射線檢測器不受由閃爍體引起的 光散射的影響，因此通常被認(rèn)為具有高的分辨率。還已知一種包括(XD或CMOS檢測器和閃 爍體的組合以增加每單位時間拍攝的圖像數(shù)量的X射線檢測器。通常，這些X射線檢測器將X射線的強度檢測為電荷量。由于該原因，為了獲取X 射線圖像，需要復(fù)位像素中的電荷，積累電荷，傳送像素中的電荷，并且進行預(yù)定周期的驅(qū) 動。在X射線檢測器中，與由X射線產(chǎn)生的信號電荷一起積累與該信號電荷的積累時 間成比例的暗電流成分的電荷。由于該原因，獲取的X射線圖像包含X射線信號成分和暗 電流成分，因此在X射線成像中進行暗電流校正處理。在暗電流校正處理中，在沒有X射線 照射的情況下，獲取僅包含暗電流成分的暗電流圖像。然后從X射線圖像減去獲取的暗電 流圖像，以從X射線圖像去除暗電流成分。在這種情況下，如上所述，在沒有X射線照射的情況下獲取暗電流圖像。由于該原 因，通常，在獲得靜止圖像時，X射線檢測器在緊挨著X射線照射之前或之后獲取圖像。在 獲得以X射線熒光圖像為代表的運動圖像時，由于通常需要實時觀察X射線圖像，因而X射 線檢測器在X射線照射之前或者在數(shù)次X射線照射之間獲取圖像。在每單位時間獲取較大 量圖像(例如，60fps)的IVR、血管造影術(shù)或CT等高速成像中，難以獲取數(shù)次X射線照射之 間的暗電流圖像。由于該原因，在這類情況下，X射線檢測器經(jīng)常使用在X射線照射之前獲 取的暗電流圖像。然而，通常，在這類X射線檢測器中，暗電流成分在驅(qū)動剛開始之后常常是不穩(wěn)定 的。因此，為了提高獲得的圖像的質(zhì)量，需要保證從開始驅(qū)動到X射線照射有一定時間段。 另一方面，為了提高X射線成像設(shè)備的可操作性，優(yōu)選在操作者按下開始開關(guān)(例如，X射 線照射開關(guān))時迅速開始X射線照射。為了解決該權(quán)衡問題，日本特開平07-236093號公報公開了一種用于根據(jù)成像時間、固態(tài)成像裝置的溫度、像素值和像素位置等改變和使用預(yù)先存儲的暗電流成分的技術(shù)。 日本特開2007-222501號公報還公開了一種用于將驅(qū)動開始(供應(yīng)電力)和像素特性變得 穩(wěn)定之間的時間分割成多個間隔并且預(yù)先測量并存儲各間隔中的暗電流成分的技術(shù)。該技 術(shù)在成像時通過減去與各間隔相對應(yīng)的暗電流成分來進行校正。在日本特開平07-236093號公報所公開的技術(shù)的情況下，當(dāng)要根據(jù)成像時的狀況 來改變和使用預(yù)先存儲的暗電流成分時，需要監(jiān)視成像時的狀況。這使得需要設(shè)置新的結(jié) 構(gòu)。另外，難以根據(jù)可能發(fā)生的所有狀況精確地改變暗電流成分。在日本特開2007-222501號公報所公開的技術(shù)的情況下，當(dāng)要在各間隔中存儲開 始驅(qū)動之后的暗電流成分時，不可能充分考慮到由于成像時的實際狀況例如成像幀頻和固 態(tài)成像裝置的溫度而引起的誤差。用以解決上述權(quán)衡問題的簡單對策是通過始終驅(qū)動X射線檢測器，即始終向X射 線檢測器通電來穩(wěn)定暗電流成分。然而，在這種情況下，恐怕例如電力消耗將會增加并且該 設(shè)備的使用壽命將會縮短。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種通過使用基于在發(fā)出成像開始指示和開始X射線照射之間的間 隔中檢測到的多個暗電流圖像所生成的校正數(shù)據(jù)來執(zhí)行暗電流校正處理的技術(shù)。根據(jù)本發(fā)明的第一方面，提供一種放射線成像設(shè)備，用于獲得被攝體的放射線圖 像，所述放射線成像設(shè)備包括照射單元；放射線檢測單元，用于檢測放射線；指示單元，用 于發(fā)出放射線成像開始指示；設(shè)置單元，用于設(shè)置所述指示單元發(fā)出成像開始指示的時刻 和開始所述照射單元的照射的時刻之間的照射延遲時間；第一獲取單元，用于在所述設(shè)置 單元所設(shè)置的照射延遲時間期間，從所述放射線檢測單元獲取多個暗電流圖像；第二獲取 單元，用于在所述設(shè)置單元所設(shè)置的照射延遲時間結(jié)束之后，從所述放射線檢測單元獲取 所述被攝體的放射線圖像；校正數(shù)據(jù)生成單元，用于基于所述第一獲取單元所獲取的多個 暗電流圖像，生成對于所述第二獲取單元所獲取的放射線圖像的校正數(shù)據(jù)；以及校正單元， 用于通過使用所述校正數(shù)據(jù)生成單元所生成的校正數(shù)據(jù)，對所述第二獲取單元所獲取的放 射線圖像執(zhí)行暗電流校正處理。根據(jù)本發(fā)明的第二方面，提供一種放射線成像設(shè)備的暗電流校正方法，所述放射 線成像設(shè)備包括照射單元和放射線檢測單元，所述暗電流校正方法包括以下步驟發(fā)出放 射線成像開始指示；設(shè)置發(fā)出成像開始指示的時刻和開始所述照射單元的照射的時刻之間 的照射延遲時間；在所設(shè)置的照射延遲時間期間，從所述放射線檢測單元獲取多個暗電流 圖像；在所設(shè)置的照射延遲時間結(jié)束之后，獲取被攝體的、基于所述放射線檢測單元檢測到 的放射線的放射線圖像；基于所獲取的多個暗電流圖像，生成對于所獲取的被攝體的放射 線圖像的校正數(shù)據(jù)；以及使用所生成的校正數(shù)據(jù)，對所述被攝體的所述放射線圖像執(zhí)行暗 電流校正處理。通過以下參考附圖對典型實施例的說明，本發(fā)明的其它特征將顯而易見。


圖1是示出根據(jù)本發(fā)明實施例的X射線成像設(shè)備100的結(jié)構(gòu)的框圖2是示出圖1所示的X射線成像設(shè)備100中的處理過程的例子的流程圖；圖3是示出暗電流圖像的概況的例子的圖；圖4是示出暗電流圖像中給定像素的像素值如何改變的概況的例子的圖；圖5是示出根據(jù)第二實施例的X射線成像設(shè)備100的結(jié)構(gòu)的例子的框圖；圖6是示出根據(jù)第二實施例的X射線成像設(shè)備100中的處理過程的例子的流程 圖；以及圖7是示出成像區(qū)域和照射延遲時間之間的對應(yīng)關(guān)系的例子的圖。
具體實施例方式下面參考附圖詳細(xì)說明本發(fā)明的典型實施例。應(yīng)該注意，除非特別說明，否則這些 實施例中所述的組件的相對配置、數(shù)值表達式和數(shù)值不限制本發(fā)明的范圍。盡管下面的實施例將舉例說明使用X射線作為放射線的情況，但是，放射線不局 限于X射線，并且可以使用包括、射線的電磁波以及還有a射線和0射線等。第一實施例圖1是示出根據(jù)本發(fā)明實施例的X射線成像設(shè)備100的結(jié)構(gòu)的例子的框圖。X射線成像設(shè)備100包括一個或多個計算機。計算機包括例如CPU等主控制單元 以及ROM(只讀存儲器)和RAM(隨機存取存儲器)等存儲單元。該計算機還可包括網(wǎng)卡等 通信單元以及鍵盤、鼠標(biāo)、顯示器和觸摸面板等輸入/輸出單元。注意，這些構(gòu)件通過總線 等相互連接，并且通過使主控制單元執(zhí)行存儲在存儲單元中的程序來控制這些構(gòu)件。在這種情況下，X射線成像設(shè)備100包括X射線檢測單元101、成像開始指示單元 102、照射延遲設(shè)置單元103、暗電流圖像獲取單元104、X射線圖像獲取單元105、暗電流校 正數(shù)據(jù)生成單元106和暗電流校正單元107。X射線成像設(shè)備100還設(shè)置有幀頻設(shè)置單元 119、X射線照射單元120、成像控制單元121、圖像處理單元122和圖像顯示單元123。X射線照射單元120用作放射線照射單元，并且將放射線(X射線)照射(發(fā)射) 至被攝體(例如，人體)。幀頻設(shè)置單元119設(shè)置X射線成像時的幀頻。X射線檢測單元101用作放射線檢測單元，并且檢測透過被攝體的放射線。這使 得X射線成像設(shè)備100可以獲得基于被攝體的放射線圖像(在本實施例中為X射線圖像)。 成像開始指示單元102發(fā)出X射線成像開始指示。成像開始指示單元102基于例如操作者 的操作(例如，按下X射線發(fā)射開關(guān))發(fā)出成像開始指示。照射延遲設(shè)置單元103設(shè)置從成像開始指示單元102發(fā)出成像開始指示的時刻起 到開始X射線照射的時刻為止的時間(以下稱為照射延遲時間)，即發(fā)出成像開始指示和開 始X射線照射之間的時間段。暗電流圖像獲取單元104從X射線檢測單元101讀出并獲取 多個暗電流圖像，直到在成像開始指示單元102發(fā)出成像開始指示之后經(jīng)過了通過照射延 遲設(shè)置單元103所設(shè)置的照射延遲時間為止。X射線圖像獲取單元105用作放射線圖像獲取單元，并且基于通過X射線檢測單元 101檢測到的X射線，讀出并獲取一個或多個X射線圖像。在照射延遲時間過去之后X射線 照射單元120正在照射X射線時，X射線圖像獲取單元105重復(fù)獲取X射線圖像。暗電流校正數(shù)據(jù)生成單元106基于由暗電流圖像獲取單元104獲取的多個暗電流 圖像，生成暗電流校正數(shù)據(jù)。暗電流校正數(shù)據(jù)生成單元106根據(jù)由X射線圖像獲取單元105獲取的一個或多個X射線圖像，生成暗電流校正數(shù)據(jù)。暗電流校正數(shù)據(jù)生成單元106設(shè)置 有分析多個暗電流圖像的分析單元110。也就是說，暗電流校正數(shù)據(jù)生成單元106基于通過 分析單元110獲得的分析結(jié)果，生成暗電流校正數(shù)據(jù)。暗電流校正單元107通過對X射線圖像執(zhí)行暗電流校正處理，從由X射線圖像獲 取單元105獲取的一個或多個X射線圖像去除暗電流成分。暗電流校正單元107通過從由 X射線圖像獲取單元105獲取的X射線圖像減去由暗電流校正數(shù)據(jù)生成單元106生成的暗 電流校正數(shù)據(jù)，進行暗電流校正處理。圖像處理單元122對暗電流校正后的X射線圖像執(zhí)行圖像處理。注意，圖像處理 包括例如增強處理、動態(tài)范圍壓縮處理、降噪處理和半色調(diào)處理。圖像顯示單元123顯示通 過圖像處理單元122處理后的X射線圖像。成像控制單元121全面控制X射線成像設(shè)備100中的成像處理。盡管圖1未示出， 但是成像控制單元121與各組件連接。成像控制單元121控制例如X射線檢測單元101的 驅(qū)動和X射線照射單元120的X射線照射等的處理。盡管至此為止說明了 X射線成像設(shè)備100的結(jié)構(gòu)的例子，但是不是必須以圖1所 示的方式實現(xiàn)該設(shè)備中設(shè)置的組件。例如，可以將上述各功能結(jié)構(gòu)配置為多個裝置，并且作 為系統(tǒng)來實現(xiàn)上述各功能結(jié)構(gòu)。接著參考圖2 4說明圖1所示的X射線成像設(shè)備100中的成像處理的例子。圖 2是示出圖1所示的X射線成像設(shè)備100中的處理過程的例子的流程圖。圖3是示出暗電 流圖像的概況的例子的圖。圖4是示出暗電流圖像中給定像素的像素值如何改變的概況的 例子的圖。當(dāng)開始該處理時，首先，X射線成像設(shè)備100使幀頻設(shè)置單元119設(shè)置X射線成像 時的幀頻FHS201)。根據(jù)成像技術(shù)自動設(shè)置幀頻Fr的設(shè)置值。在這種情況下，例如，將幀 頻Fr設(shè)置為60[fps]。一旦設(shè)置了幀頻，X射線成像設(shè)備100就使照射延遲設(shè)置單元103設(shè)置表示從發(fā) 出成像開始指示的時刻起到開始x射線照射的時刻為止的時間的照射延遲時間Td(S202)。 如果這種情況下設(shè)置了長的照射延遲時間，則由于可在暗電流成分穩(wěn)定的狀態(tài)下獲取暗電 流圖像，因而提高了通過成像所獲得的圖像的質(zhì)量。如果設(shè)置了短的照射延遲時間，則由于 該設(shè)備快速進行X射線照射，因而提高了可操作性。盡管照射延遲時間的設(shè)置值和設(shè)置方 法沒有特別限制，但是在本實施例中，假定該設(shè)備自動設(shè)置預(yù)定的固定值(Td = 0. 3 [秒])。X射線成像設(shè)備100使成像開始指示單元102發(fā)出X射線成像開始指示(S203)。 如上所述，成像開始指示單元102基于操作者的操作(例如，按下X射線發(fā)射開關(guān))發(fā)出該 指示。一旦發(fā)出了成像開始指示，X射線成像設(shè)備100就使成像控制單元121驅(qū)動X射 線檢測單元101(S204)。X射線成像設(shè)備100使暗電流圖像獲取單元104獲取由X射線檢 測單元101檢測到的多個暗電流圖像，直到在步驟S203的處理中發(fā)出成像開始指示之后經(jīng) 過了照射延遲時間Td為止(S205)。圖3示意性示出步驟S205的暗電流圖像獲取處理。橫
坐標(biāo)表示從發(fā)出成像開始指示起的經(jīng)過時間。附圖標(biāo)記Idl、Id2、Id3........Idn表示以
幀頻Fr獲取的暗電流圖像。暗電流圖像保持各像素的像素值p(x，y)，其中，通過坐標(biāo)(x， y)指定或表示各像素。
然后，X射線成像設(shè)備100使分析單元110使用多個暗電流圖像生成表示各像素值 隨時間變化的暗電流函數(shù)Fxy(t) (S206)。換句話說，對于每一像素，使用多個暗電流圖像生 成表示像素值隨時間變化的函數(shù)Fxy(t)。更具體地，如圖4所示，假定各暗電流圖像Idl、
Id2、Id3........Idn中以坐標(biāo)(x，y)表示的各像素的像素值p (x，y)是已知數(shù)據(jù)，則生成
表示像素值在時間方向上的變化的暗電流函數(shù)Fxy(t)。對于每一暗電流圖像中的所有坐標(biāo) &，7)，生成暗電流函數(shù)？^(0。換句話說，對于每一暗電流圖像中的各像素生成暗電流函 數(shù) Fxy(t)。存在各種用于根據(jù)多個已知數(shù)據(jù)生成近似函數(shù)(在這種情況下為暗電流函數(shù) Fxy(t))的已知方法。要使用的方法沒有特別限制。本實施例生成下面的近似函數(shù)，該 近似函數(shù)的特征在于相對于經(jīng)過時間的增加，該近似函數(shù)單調(diào)非增(還稱為單調(diào)非遞 增)或單調(diào)非減(還稱為單調(diào)非遞減)，這是暗電流成分的典型特征之一；并且在經(jīng)過時 間無限大時，該近似函數(shù)收斂至預(yù)定值。例如，本實施例通過指數(shù)函數(shù)模型“Fxy(t)= A*exp(B*t)+C”估計A、B和C(其中，t表示在發(fā)出成像開始指示之后的經(jīng)過時間)。利 用該運算，本實施例生成近似函數(shù)。在這種情況下，C表示在經(jīng)過時間無限大時的收斂值。 已知，如果C是已知值，則可以通過最小二乘法估計A和B，并且可以計算出R平方值，作為 近似函數(shù)的適合指標(biāo)之一。由于該原因，向C賦予給定初始值，并且搜索在改變C的同時使 R平方值最大的A和B。這使得可以生成暗電流函數(shù)Fxy(t)。還可以通過使用多個函數(shù)模 型進行上述估計，并且基于適當(dāng)指標(biāo)選擇被設(shè)置為候選近似函數(shù)的函數(shù)模型中的一個?！┥闪嗣恳幌袼氐陌惦娏骱瘮?shù)，X射線成像設(shè)備100就使X射線照射單元120 開始X射線照射(S207)。X射線照射單元120在成像控制單元121的控制下進行該照射。 照射的X射線在衰減的同時透過被攝體(未示出)，并且到達X射線檢測單元101。結(jié)果， 在X射線檢測單元101中積累表示被攝體的放射線圖像的電荷。當(dāng)開始X射線照射時，X射線成像設(shè)備100重復(fù)步驟S208 S212的處理，以進 行X射線成像處理。X射線成像設(shè)備100以與在步驟S202的處理中所設(shè)置的幀頻Fr相對 應(yīng)的頻率執(zhí)行該處理。當(dāng)開始X射線成像處理時，首先，X射線成像設(shè)備100使X射線圖像 獲取單元105獲取積累在X射線檢測單元101中的被攝體的放射線圖像，作為X射線圖像
(5208)。X射線成像設(shè)備100使暗電流校正數(shù)據(jù)生成單元106基于通過步驟S207的處理 所生成的暗電流函數(shù)Fxy(t)和從發(fā)出成像開始指示起的經(jīng)過時間t，生成暗電流校正數(shù)據(jù)
(5209)。更具體地，暗電流校正數(shù)據(jù)生成單元106將經(jīng)過時間t輸入至對應(yīng)于暗電流圖像的 坐標(biāo)(x，y)處的各像素所生成的暗電流函數(shù)Fxy(t)，并且通過各像素的函數(shù)獲得輸出值。 暗電流校正數(shù)據(jù)生成單元106可視化(或者獲得)該輸出值，作為相應(yīng)像素的像素值，從而 生成暗電流校正數(shù)據(jù)。一旦生成了暗電流校正數(shù)據(jù)，X射線成像設(shè)備100就使暗電流校正單元107通過執(zhí) 行暗電流校正處理獲得校正圖像(S210)。也就是說，暗電流校正單元107從通過步驟S208 的處理所獲取的X射線圖像中的各X射線圖像減去先前與相應(yīng)X射線圖像對應(yīng)生成的相關(guān) 暗電流校正數(shù)據(jù)。在這種情況下，進行減法就是進行圖像間相應(yīng)坐標(biāo)處的像素的像素值之 間的運算。換句話說，從X射線圖像的各像素值減去各像素的暗電流數(shù)據(jù)。在圖像處理單元122對校正后的各X射線圖像執(zhí)行圖像處理之后(S211)，X射線 成像設(shè)備100使圖像顯示單元123顯示經(jīng)過了圖像處理的X射線圖像(S212)。
隨后，X射線成像設(shè)備100判斷是否發(fā)出了成像結(jié)束指示。例如，基于操作者的操 作(釋放X射線發(fā)射開關(guān))發(fā)出成像結(jié)束指示。如果發(fā)出了成像結(jié)束指示(步驟S213為 “是”)，那么終止該處理；否則(步驟S213為“否”)，處理返回至步驟S208。注意，成像結(jié)束指示不必總是基于操作者的操作。例如，當(dāng)經(jīng)過了預(yù)定成像時間 時，可以自動發(fā)出成像結(jié)束指示。如上所述，第一實施例基于在發(fā)出成像開始指示的時刻和開始X射線照射的時刻 之間的間隔中檢測到的多個暗電流圖像，生成校正數(shù)據(jù)，并且通過使用該校正數(shù)據(jù)執(zhí)行暗 電流校正處理。與不具有該結(jié)構(gòu)的設(shè)備相比，這使得可以根據(jù)成像時的狀況執(zhí)行精確的暗 電流校正。由于該原因，例如，本實施例不存在下面的問題被配置成通過始終驅(qū)動X射線 檢測單元來校正暗電流的結(jié)構(gòu)所遇到的電力消耗的增加和產(chǎn)品的使用壽命的縮短。另外， 無需設(shè)置任何用于監(jiān)視成像時例如成像裝置的溫度等的狀況的新結(jié)構(gòu)。第二實施例接著說明第二實施例。圖5是示出根據(jù)第二實施例的X射線成像設(shè)備100的結(jié)構(gòu) 的例子的框圖。該結(jié)構(gòu)與第一實施例中所述的圖1所示的結(jié)構(gòu)的不同在于設(shè)置有用于輸入 與被攝體有關(guān)的成像信息的成像信息輸入單元508。注意，其余結(jié)構(gòu)與第一實施例中的相 同，因此省略對這些結(jié)構(gòu)的說明，并且下面主要對不同之處進行說明。接著參考圖6和7說明根據(jù)第二實施例的X射線成像設(shè)備100中的成像處理的例 子。圖6是示出根據(jù)第二實施例的X射線成像設(shè)備100中的處理過程的例子的流程圖。圖 7是示出成像區(qū)域和照射延遲時間之間的對應(yīng)關(guān)系的例子的圖。當(dāng)開始該處理時，首先，X射線成像設(shè)備100使成像信息輸入單元508從該設(shè)備 的外部(或者該設(shè)備的內(nèi)部)輸入成像信息，并且將成像信息發(fā)送至照射延遲設(shè)置單元 103(S601)。成像信息可被預(yù)先存儲在信息輸入單元中，可被從X射線設(shè)備的內(nèi)部存儲部件 (例如，存儲器)輸入至輸入單元508，或者可被從CD、閃存存儲器裝置等外部存儲部件輸 入至輸入單元508。還可以通過LAN、WAN或因特網(wǎng)等網(wǎng)絡(luò)將成像信息輸入至輸入單元508。 例如，成像信息包括成像技術(shù)、成像區(qū)域、成像體位、X射線照射條件(放射線照射條件)、成 像請求源、被攝體(要檢查的被攝體)的大小和被攝體的年齡。本實施例將舉例說明成像 信息是成像區(qū)域(例如，胸部區(qū)域、腹部區(qū)域、四肢、兒童的胸部區(qū)域和頭部區(qū)域)的情況。 例如，基于操作者通過操作面板等的操作輸入成像信息。注意，如果成像信息是成像區(qū)域或 成像體位等，則可以通過模式匹配處理等在該設(shè)備側(cè)自動識別該信息。然后，X射線成像設(shè)備100使幀頻設(shè)置單元119設(shè)置X射線成像時的幀頻 FHS602)。根據(jù)成像技術(shù)自動設(shè)置幀頻Fr的設(shè)置值。在這種情況下，將幀頻Fr設(shè)置為 60[fps]。一旦設(shè)置了幀頻，X射線成像設(shè)備100就使照射延遲設(shè)置單元103設(shè)置照射延遲 時間Td(S603)。在本實施例中，基于通過步驟S601的處理輸入的成像信息(在這種情況下 為成像區(qū)域)設(shè)置照射延遲時間。這樣最佳地控制圖像質(zhì)量和可操作性。例如，通過使用 圖7所示的表等設(shè)置基于成像區(qū)域的照射延遲時間。假定將使用圖7所示的表。在這種情 況下，如果成像區(qū)域是“兒童的胸部區(qū)域”，則設(shè)置相對短的時間段Td = 0. 1 [秒]。這是因 為，在對“兒童的胸部區(qū)域”成像時，重要的是開始成像的定時。然而，例如，對于頭部區(qū)域， 開始成像的定時不大重要，并且Td = 0. 6 [秒]。
然后，X射線成像設(shè)備100使成像開始指示單元102發(fā)出X射線成像開始指示 (S604)。如上所述，例如，基于操作者的操作(例如，按下X射線發(fā)射開關(guān))發(fā)出該指示。注 意，步驟S604和隨后的步驟的處理與第一實施例所述的圖2的步驟S203和隨后的步驟的 處理相同，因此不再重復(fù)進行說明。如上所述，第二實施例輸入成像信息，并且基于輸入的成像信息設(shè)置成像延遲時 間。這使得可以在滿足對X射線成像設(shè)備的可操作性的要求和通過成像所獲得的圖像的質(zhì) 量這兩者的同時，進行成像處理。以上是本發(fā)明的代表性實施例的例子。然而，本發(fā)明不局限于附圖示出的上述實 施例，并且在不改變本發(fā)明的精神的范圍內(nèi)，可以根據(jù)需要修改并實施本發(fā)明。注意，本發(fā)明可以作為系統(tǒng)、設(shè)備、方法、程序和記錄介質(zhì)等來實施。更具體地，本 發(fā)明可應(yīng)用于包括多個裝置的系統(tǒng)或者實施為單個裝置的設(shè)備。本發(fā)明基于在發(fā)出成像開始指示的時刻和開始放射線照射的時刻之間的間隔中 檢測到的多個暗電流圖像，生成校正數(shù)據(jù)，并且通過使用該校正數(shù)據(jù)執(zhí)行暗電流校正處理。 這使得與不具有該結(jié)構(gòu)的設(shè)備相比，可以根據(jù)成像時的狀況精確地執(zhí)行暗電流校正。其它實施例還可以通過讀出并執(zhí)行記錄在存儲裝置上的程序以執(zhí)行上述實施例的功能的系 統(tǒng)或設(shè)備的計算機(或者CPU或MPU等裝置)、以及下面的方法實現(xiàn)本發(fā)明的各方面，其中， 系統(tǒng)或設(shè)備的計算機通過例如讀出并執(zhí)行記錄在存儲裝置上的程序以執(zhí)行上述實施例的 功能，來執(zhí)行上述方法的各步驟。由于該原因，例如，通過網(wǎng)絡(luò)或者通過用作存儲裝置的各 種類型的記錄介質(zhì)(例如，計算機可讀存儲介質(zhì))，將該程序提供至計算機。該程序可被承 載于計算機可讀存儲介質(zhì)等載體介質(zhì)或傳輸介質(zhì)(信號)上。盡管參考典型實施例說明了本發(fā)明，但是應(yīng)該理解，本發(fā)明不局限于所公開的典 型實施例。所附權(quán)利要求書的范圍符合最寬的解釋，以包含所有這類修改、等同結(jié)構(gòu)和功 能。
權(quán)利要求
一種放射線成像設(shè)備，用于獲得被攝體的放射線圖像，所述放射線成像設(shè)備包括照射單元；放射線檢測單元，用于檢測放射線；指示單元，用于發(fā)出放射線成像開始指示；設(shè)置單元，用于設(shè)置所述指示單元發(fā)出成像開始指示的時刻和開始所述照射單元的照射的時刻之間的照射延遲時間；第一獲取單元，用于在所述設(shè)置單元所設(shè)置的照射延遲時間期間，從所述放射線檢測單元獲取多個暗電流圖像；第二獲取單元，用于在所述設(shè)置單元所設(shè)置的照射延遲時間結(jié)束之后，從所述放射線檢測單元獲取所述被攝體的放射線圖像；校正數(shù)據(jù)生成單元，用于基于所述第一獲取單元所獲取的多個暗電流圖像，生成對于所述第二獲取單元所獲取的放射線圖像的校正數(shù)據(jù)；以及校正單元，用于通過使用所述校正數(shù)據(jù)生成單元所生成的校正數(shù)據(jù)，對所述第二獲取單元所獲取的放射線圖像執(zhí)行暗電流校正處理。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的放射線成像設(shè)備，其特征在于，所述校正數(shù)據(jù)生成單元包括 用于分析所述多個暗電流圖像在時間方向上的變化的分析單元，并且基于所述分析單元所 獲得的分析結(jié)果，生成與所述放射線圖像相對應(yīng)的所述校正數(shù)據(jù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的放射線成像設(shè)備，其特征在于，所述分析單元生成表示所述多個暗電流圖像在時間方向上的變化的函數(shù)；以及 所述校正數(shù)據(jù)生成單元基于所述分析單元所生成的函數(shù)、以及從所述指示單元發(fā)出所 述成像開始指示的時刻到所述第二獲取單元獲取所述被攝體的所述放射線圖像的時刻的 經(jīng)過時間，生成所述校正數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的放射線成像設(shè)備，其特征在于，表示所述多個暗電流圖像在 時間方向上的變化的所述函數(shù)的特征是相對于所述經(jīng)過時間的增加為單調(diào)非增或單調(diào)非 減函數(shù)，并且在所述經(jīng)過時間無限大時變?yōu)槌?shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1 4中任一項所述的放射線成像設(shè)備，其特征在于，所述設(shè)置單元基 于所述被攝體的成像信息，設(shè)置所述指示單元發(fā)出所述成像開始指示的時刻和開始所述照 射的時刻之間的所述照射延遲時間。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的放射線成像設(shè)備，其特征在于，所述成像信息包括成像技術(shù)、 成像區(qū)域、成像體位、X射線照射條件、成像請求源、被攝體的大小和被攝體的年齡中的至少 一個。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的放射線成像設(shè)備，其特征在于，還包括圖像處理單元，用于對由所述校正單元校正后的所述放射線圖像執(zhí)行圖像處理；以及 顯示單元，用于顯示由所述圖像處理單元處理后的所述放射線圖像。
8.一種放射線成像設(shè)備的暗電流校正方法，所述放射線成像設(shè)備包括照射單元和放射 線檢測單元，所述暗電流校正方法包括以下步驟發(fā)出放射線成像開始指示；設(shè)置發(fā)出成像開始指示的時刻和開始所述照射單元的照射的時刻之間的照射延遲時間；在所設(shè)置的照射延遲時間期間，從所述放射線檢測單元獲取多個暗電流圖像；在所設(shè)置的照射延遲時間結(jié)束之后，獲取被攝體的、基于所述放射線檢測單元檢測到 的放射線的放射線圖像；基于所獲取的多個暗電流圖像，生成對于所獲取的被攝體的放射線圖像的校正數(shù)據(jù)；以及使用所生成的校正數(shù)據(jù)，對所述被攝體的所述放射線圖像執(zhí)行暗電流校正處理。
全文摘要
一種放射線成像設(shè)備及其暗電流校正方法，該放射線成像設(shè)備包括照射單元；放射線檢測單元，用于檢測放射線；指示單元，用于發(fā)出放射線成像開始指示；設(shè)置單元，用于設(shè)置指示單元發(fā)出成像開始指示的時刻和開始照射單元的照射的時刻之間的照射延遲時間；第一獲取單元，用于在所設(shè)置的照射延遲時間期間，獲取多個暗電流圖像；第二獲取單元，用于在所設(shè)置的照射延遲時間結(jié)束之后，獲取被攝體的放射線圖像；校正數(shù)據(jù)生成單元，用于基于所述多個暗電流圖像，生成對于所獲取的放射線圖像的校正數(shù)據(jù)；以及校正單元，用于通過使用該校正數(shù)據(jù)，對所獲取的放射線圖像執(zhí)行暗電流校正處理。
文檔編號A61B6/00GK101849834SQ201010141919
公開日2010年10月6日 申請日期2010年3月31日 優(yōu)先權(quán)日2009年3月31日
發(fā)明者松浦友彥 申請人:佳能株式會社