專利名稱：射線照相設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及使用例如平面?zhèn)鞲衅?flat panel sensor)等 的射線照相設(shè)備。
背景技術(shù)：
傳統(tǒng)地，對對象物照射射線，檢測透過對象物的射線的強 度分布，并且獲得對象物的射線照相圖像的裝置已被廣泛且普 遍地應用在工業(yè)非石皮壞性才企查和醫(yī)學i貪斷領(lǐng)域。作為這種射線 照相的一般方法，可利用使用射線照相用的膠片/屏幕方法。這 是通過使用感光膠片和具有輻射敏感性的熒光體的組合進行射 線照相的方法。
在這種方法中，使當施加射線時發(fā)光的稀土熒光體片材與 感光膠片的兩面保持緊密接觸，并且熒光體片材將透過將被射 線照相的被攝體的射線轉(zhuǎn)換成可見光。接著使通過捕獲該可見 光而形成在感光膠片上的潛像顯影，因此使射線照相圖像可視 化。
隨著數(shù)字技術(shù)的最新發(fā)展，在CRT等上重放通過處理轉(zhuǎn)換 射線照相圖像得到的電信號獲得的可視圖像的方案已經(jīng)變得普遍。
該方法暫時將射線的透過圖像作為潛像存儲在熒光體中。 已提出了射線照相圖像記錄/重放系統(tǒng)，該射線照相圖像記錄/ 重放系統(tǒng)通過向熒光體照射諸如激光束等激勵光，光電地讀出 潛像作為可視圖像。另外，隨著近年來半導體處理技術(shù)的進步， 已開發(fā)出通過使用半導體傳感器以相同方式拍攝射線照相圖像 的設(shè)備。這些系統(tǒng)與傳統(tǒng)的使用感光膠片的射線照相系統(tǒng)相比具有 非常寬的動態(tài)范圍，并且能夠獲得對射線曝光量的變化的影響 抵抗強的射線照相圖像。同時，與傳統(tǒng)的感光膠片方案不同， 該方法不需要進行任何化學處理并且可以立即獲得輸出圖像。
圖13是示出使用上述半導體傳感器的射線照相系統(tǒng)的配 置的圖。安裝在射線照相臺l上的射線照相設(shè)備2包括作為半導 體傳感器的射線傳感器3，該射線傳感器3具有二維地配置有多
個光電轉(zhuǎn)換元件的纟全測面。
置于射線傳感器3上的焚光體將從射線發(fā)生器4向被攝體S
照射的射線轉(zhuǎn)換成可見光，并且射線傳感器3使該光成像。控 制單元5對從射線傳感器3輸出的電信號進行數(shù)字圖像處理。然 后監(jiān)視器6基于該被處理的圖像信號顯示被攝體S的射線照相 圖像。
該射線照相系統(tǒng)允許操作者即時觀察圖像。這種射線照相
系統(tǒng)的檢測面板安裝在專用于諸如立式姿勢或臥式姿勢下的射
線照相的射線照相形式的支架上，并且可根據(jù)需要選擇使用。
該系統(tǒng)固定地安裝在放射室里。最近，已開發(fā)出便攜式檢測單
元，當需要對任意的射線照相姿態(tài)下的被攝體進行射線照相時
可以使用該便攜式檢測單元。
這種射線照相設(shè)備是電子設(shè)備，因此包括數(shù)字化必需的許
多電子部件，與傳統(tǒng)的膠片/屏幕方法相比，其必然暴露出發(fā)熱 問題。由于該原因，必須高效地對這些電子部件進行散熱。對 于防止由于射線照相設(shè)備內(nèi)部溫度的上升而改變射線檢測器的 特性，和對于改善產(chǎn)生熱的電子部件的正常操作和耐久性來說，
散熱都是非常重要的。
另外，在醫(yī)學設(shè)備領(lǐng)域中，從被攝體的安全觀點出發(fā)必須
抑制射線照相設(shè)備的外殼的溫度的上升。如"日本工業(yè)標準的電子醫(yī)療設(shè)備用安全標準(JIST0601-1 )"所標示的，對被攝 體接觸的部分的表面溫度存在限制。
注意到日本特開2000-37374號7>報/〉開了 一種具有冷卻 機構(gòu)的設(shè)備，該冷卻機構(gòu)通過驅(qū)動冷卻風扇從真空口抽取空氣 并且使空氣在檢測單元周圍循環(huán)來冷卻檢測單元產(chǎn)生的熱量。 日本特開2005-370號公報公開了 一種具有冷卻機構(gòu)的設(shè)備，該 冷卻機構(gòu)根據(jù)例如立式姿勢或臥式姿勢等設(shè)置形式，切換散熱 路徑以有效地散熱。
具有將類似如上所述的具有冷卻機構(gòu)的檢測單元應用到射 線照相移動圖像用的射線照相設(shè)備上的需求。在射線照相移動 圖像的情況下，由于連續(xù)進行射線照相，與傳統(tǒng)的靜止圖像的 射線照相相比產(chǎn)生的熱量增加。也就是，需要進一步提高冷卻 性能。
也具有獨立使用可從支架上拆卸的檢測單元的射線照相設(shè) 備，該檢測單元作為取代固定型單元的暗盒類單元。當該設(shè)備 要獲得射線照相移動圖像時，為了改善上述冷卻性能，需要在 檢測單元上安裝新的冷卻機構(gòu)。這降低了檢測單元的緊湊、重 量輕的優(yōu)點。另外，在射線照相移動圖像的情況下，由于X-射 線的照射量增加，需要提高安全性。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的 一 個目的在于提供能夠根據(jù)射線照相形式控制用 于射線照相圖像的處理的射線照相設(shè)備。
本發(fā)明的另 一個目的在于根據(jù)射線照相形式提高射線照相 圖像檢測單元的可靠性和射線照相設(shè)備的安全性。
為了達到至少一個上述目的，本發(fā)明的一個實施例使用射 線照相設(shè)備的配置包括安裝檢測單元，該安裝檢測單元4企測射線照相圖像檢測單 元是否已被安裝在用于支撐該射線照相圖像檢測單元的支撐部
上；以及
控制器，當所述安裝檢測單元未檢測到所述射線照相圖像 檢測單元被安裝在所述支撐部上時，所述控制器執(zhí)行用于限制 由所述射線照相圖像檢測單元進行的移動圖像的射線照相的處 理。
根據(jù)本發(fā)明的另 一 方面，實施例使用射線照相設(shè)備的配置 包括
獲得射線照相圖像的射線照相圖像檢測單元；
安裝檢測單元，該安裝檢測單元檢測射線照相圖像檢測單
元是否已被安裝在用于冷卻所述射線照相圖像檢測單元的冷卻
部上；以及
控制器，當所述安裝檢測單元未檢測到所述射線照相圖像 檢測單元被安裝在所述冷卻部上時，所述控制器執(zhí)行用于限制 由所述射線照相圖像檢測單元進行的移動圖像的射線照相的處 理。
從以下參照附圖對典型實施例的說明中，本發(fā)明的其它特 征將變得明顯。


結(jié)合在說明書部分中并構(gòu)成說明書 一部分的附解了本 發(fā)明的實施例，并且附圖與說明 一起用來解釋本發(fā)明的原理。 圖l是第 一實施例中的射線照相圖像檢測單元的剖視圖； 圖2是示出射線照相設(shè)備的配置的圖； 圖3是示出第 一 實施例中的冷卻機構(gòu)的配置視圖； 圖4是用于說明第 一 實施例中操作畫面的圖；圖5是第 一 實施例的操作用的流程圖6是示出第二實施例中的冷卻機構(gòu)的配置的圖7是第二實施例的操作用的流程圖8是說明第二實施例中操作畫面用的圖9是示出根據(jù)第三實施例的射線照相設(shè)備的配置的圖IO是示出冷卻機構(gòu)的另 一種形式的配置的圖ll是示出圖10所示的形式的冷卻機構(gòu)的配置的圖12是另 一射線照相圖像檢測單元的剖視圖；以及
圖13是示出傳統(tǒng)的射線照相系統(tǒng)的配置的圖。
具體實施例方式
參照圖l至圖12，將對本發(fā)明的優(yōu)選實施例進行詳細說明。 第一實施例
圖l是射線照相圖像檢測單元ll的剖視圖。射線照相圖像 才企測單元ll可以-坡作為暗盒(cassette)單獨使用，并且可以
結(jié)合各種支架使用。由高x-射線透過性的材料制成的殼體蓋
12b覆蓋殼體本體12a的X-射線入射面。殼體本體12a和殼體蓋 12b構(gòu)成密閉的殼體12。金屬基臺14通過支撐部13固定到殼體 本體12a上。X-射線檢測面板15放置在基臺14上，X-射線檢 測面板15由基板15a、光電轉(zhuǎn)換元件15b和熒光板(fluorescent screen) 15c堆疊而成。
對于基板15a的材料，經(jīng)常使用玻璃板，因為玻璃板不會 與半導體元件發(fā)生化學作用、對半導體處理的溫度具有高抵抗 性、具有尺寸穩(wěn)定性等等。光電轉(zhuǎn)換元件15b通過半導體處理 以二維陣列形成在基板15a上。熒光板15c通過在樹脂板上涂布 由金屬化合物制成的熒光體而形成，并且利用粘合劑與基板 15a和光電轉(zhuǎn)換元件15b形成一體。各光電轉(zhuǎn)換元件15b通過柔性電路板16連接到電路板17 上，柔性電路板16被連接到光電轉(zhuǎn)換元件15b的側(cè)面上，電路 板17位于基臺14的下表面上，并且處理由光電轉(zhuǎn)換獲得的電信 號的電子部件17a和17b被安裝在電路板17上。中繼電路單元19 通過電纜18連接到電路板17上，并且通過電纜20進一步連接到 外部控制器(未示出)上以進行電源供應、信號傳輸?shù)鹊取?br> 具有上述配置的射線照相圖像#:測單元ll可以通過檢測 從X-射線管放射出的X-射線來進行X-射線成像。更具體地， 從X-射線管放射出的X-射線透過被攝體并且撞擊射線照相圖 像檢測單元11 。接著X-射線檢測面板15的焚光板15c將X-射線 轉(zhuǎn)換成可見光。配置成二維陣列的光電轉(zhuǎn)換元件15b將該可見 光轉(zhuǎn)換成電信號，從而獲得射線照相圖像信號。將通過A/D轉(zhuǎn) 換獲得的數(shù)字射線照相圖像信號通過電纜2 0傳輸?shù)酵獠靠刂?器IOI。使用者可以在連接到外部控制器101上的監(jiān)視器103上 即時觀察到射線照相圖像。
下面的讀取方案用于從X-射線檢測面板15讀出電荷。也就 是，讀取電路單元以行方向讀出由驅(qū)動電路單元所選出的列的 由光電轉(zhuǎn)換元件積累的電荷。當驅(qū)動具有這種配置的射線照相 圖像檢測單元ll時，電子部件17a和17b等在消耗電能的同時產(chǎn) 生熱。電子部件17a和17b等產(chǎn)生的熱使射線照相圖像檢測單元 11內(nèi)部的溫度上升并且通過殼體12輻射到外部空氣中。
圖2是示出使用射線照相圖像檢測單元11 、射線照相臺21 和控制器101的組合的射線照相設(shè)備的配置的圖。射線照相臺 21具有通過支撐部23支撐在射線照相臺本體22上的頂部24,并 且在頂部24上放置被攝體。支撐部23將頂部24支撐為在水平面 內(nèi)可移動。
用于安裝射線照相圖像檢測單元11的收容單元25設(shè)置在射線照相臺本體22和頂部24之間。收容單元25是永久地固定射 線照相圖像檢測單元ll的支撐部。由于收容單元25具有下面將 說明的冷卻機構(gòu)，因此收容單元25也用作為冷卻部。收容單元 25的前表面中具有開口部26,將射線照相圖像檢測單元ll插進 開口部26?？梢匝匾龑Р?7移動并且放射X-射線的X-射線管 28被放置在射線照相臺21的上方。
有兩種方法將射線照相圖像檢測單元11安裝在射線照相 臺21上。 一種方法是如箭頭A所指示的將射線照相圖像檢測單 元11安裝在收容單元25中。另 一種方法是如箭頭B所指示的將 射線照相圖像檢測單元11安裝在頂部2 4上。
在將射線照相圖像檢測單元11安裝收容單元25中的以箭 頭A指示的方法中，由于被攝體不直接與射線照相圖像檢測單 元ll接觸，所以使用者可以容易地使被攝體和射線照相圖像檢 測單元ll對準。相比之下，在將射線照相圖像檢測單元ll安裝 在頂部24上的以箭頭B指示的方法中，使用者可以將射線照相 圖像檢測單元ll定位成各種姿態(tài)。
控制器101根據(jù)對射線照相圖像檢測單元11在收容單元2 5 中的安裝的檢測來控制射線照相圖像檢測單元11和X -射線管 28。實際上，控制器101通過X-射線發(fā)生單元和X-射線發(fā)生器 控制X-射線管28。然而，由于可以將現(xiàn)有技術(shù)應用到該控制操 作，將省略說明。控制器101包括控制單元102、 ROM 104、 RAM 105和I/F 106?？刂茊卧?02包括CPU等并且全面地控制 整個控制器101。 ROM 104是存儲控制單元102的處理的執(zhí)行 用程序的計算機可讀存儲介質(zhì)。RAM 105是用于控制單元102 的處理的暫時存儲器。I/F 106是檢測來自諸如鼠標或鍵盤等定 點設(shè)備的輸入的接口 ?？刂破?01連接到監(jiān)視器103以顯示射線 照相圖像或操作畫面，并且執(zhí)行顯示控制。存儲裝置107是存儲從射線照相圖像檢測單元ll輸出的圖像的諸如硬盤驅(qū)動裝 置的非易失性二級存儲裝置。
圖3是示出當將射線照相圖像檢測單元11安裝在收容單元
25中時使用的冷卻機構(gòu)的配置的圖。具有開口的上表面的箱狀 框構(gòu)件80設(shè)置在收容單元25中。
當從圖3的左側(cè)將射線照相圖像檢測單元ll插進收容單元 25中時，射線照相圖像檢測單元11的前端抵接滑動構(gòu)件81以將 滑動構(gòu)件81深深地推向右側(cè)。沿著引導槽82向下引導滑動構(gòu)件 81。最后，滑動構(gòu)件81保持射線照相圖像檢測單元11以將其保 持在框構(gòu)件80的開口部中，并且鎖定部83鎖定滑動構(gòu)件81。通 過該操作，永久地支撐射線照相圖像檢測單元11 。檢測構(gòu)件89a 是放置在收容部中并且當射線照相圖像檢測單元ll被安裝在 收容單元25中時與檢測器89b接觸的構(gòu)件。檢測器89b放置在射 線照相圖像檢測單元11上并且檢測與檢測構(gòu)件8 9 a的接觸。檢 測到該接觸時，射線照相圖像檢測單元11輸出指示射線照相圖 像檢測單元1 l被安裝在控制器101中的信號。檢測器89b可以是 任何傳感器，諸如壓力傳感器。
當彈出射線照相圖像檢測單元11時，操作者按壓設(shè)置在收 容單元25的前表面上的開關(guān)84以在釋放滑動構(gòu)件81的方向上 移動鎖定部8 3 。然后彈簧8 5將滑動構(gòu)件81移向左側(cè)以彈出射線 照相圖像才全測單元11。
風扇86和通氣口 8 7形成在框構(gòu)件80的側(cè)面中。風扇86和通 氣口 87形成為射線照相圖像檢測單元ll和框構(gòu)件80的冷卻機 構(gòu)。在殼體12的里面?zhèn)?rear surface side)的空氣層的強制 對流驅(qū)散由射線照相圖像檢測單元11產(chǎn)生的熱量。收容單元2 5 通過形成在收容單元25中的通風孔25a和25b與外界空氣換氣。
當執(zhí)行諸如在射線照相過程中從X-射線檢測面板15讀出電荷等模擬信號處理和執(zhí)行諸如圖像處理等數(shù)字信號處理時， 射線照相圖像檢測單元ll產(chǎn)生熱量。射線照相過程中消耗的能 量大于待機時消耗的能量。另外，平均能量消耗隨著射線照相 間隔的變化而變化。也就是，當連續(xù)并重復地執(zhí)行移動圖像的 射線照相時，產(chǎn)生的熱量依照每單位時間獲得的射線照相圖像 的幀頻有很大的變化。
當單獨使用射線照相圖像檢測單元11時，由外裝表面的散 熱性能決定射線照相圖像檢測單元ll的散熱。然而，在移動圖 像的射線照相中，基于歸因于表面處理或散熱表面的僅自然對 流散熱受到限制。因此，預先確定在散熱性能方面可被允許的
幀頻Fo。
圖4示出在監(jiān)視器103上顯示的操作畫面90，操作畫面90 允許控制器IOI控制射線照相圖像檢測單元ll和X-射線管28。
操作畫面90的上側(cè)區(qū)域具有用于設(shè)定X-射線管28的管電 壓和管電流的設(shè)定區(qū)域。區(qū)域91顯示用于設(shè)定幀頻的操作對象 物，該幀頻指示在移動圖像的射線照相中每單位時間所獲得的 圖像的數(shù)目。
畫面顯示區(qū)域91a顯示幀頻的值。在畫面顯示區(qū)域91a的一 側(cè)上配置的作為操作對象物的箭頭鍵91b允許發(fā)出指令以增加 和減小幀頻。在該實施例中，當檢測到射線照相圖像檢測單元 11被安裝在收容單元25中時，控制單元102允許將幀頻設(shè)定到 由裝置規(guī)格確定的最大幀頻Fu。當未檢測到射線照相圖像檢測 單元11被安裝在收容單元25中時，控制單元102將作為上限的 可允許的幀頻限制到比最大幀頻Fu低的幀頻Fo 。然后控制單元 102進行控制，使得即使使用者選擇箭頭鍵91b幀頻也不會被設(shè) 定成高于幀頻Fo?？刂茊卧?02執(zhí)行隱藏箭頭鍵91b或者改變箭 頭鍵91 b的顏色的顯示控制以將該上限告知操作者。圖5是示出由控制器101的控制單元102執(zhí)行的操作處理的
流程圖。
首先，在步驟S101中，控制單元102基于來自射線照相圖 像檢測單元11的檢測器8 9b的檢測信號確定射線照相圖像檢測 單元11是否被安裝在收容單元25中。
在步驟S10 2中，如果檢測到射線照相圖像檢測單元11被安 裝在收容單元25中了，則控制單元102設(shè)定最大幀頻FL,可以 將最大幀頻FL設(shè)定到高幀頻Fu。如果未檢測到射線照相圖像 檢測單元11被安裝在收容單元25中，則控制單元102將幀頻FL 限制到低于Fu的低幀頻Fo。
步驟S10 3是設(shè)定射線照相條件的步驟。例如，控制單元10 2 與使用圖4所示的操作畫面的輸入操作相對應地設(shè)定X-射線管 的管電壓和管電流。在步驟S104中，作為設(shè)定射線照相條件的 一個處理，控制單元102根據(jù)使用圖4所示的操作畫面的輸入操 作設(shè)定指示每單位時間從射線照相圖像檢測單元輸出的射線照 相圖像的數(shù)目的幀頻。更具體地，控制單元102根據(jù)對使用者 對圖4中的操作畫面9 0中的箭頭鍵91 b的選擇的檢測，通過增加 /減小幀頻值來設(shè)定幀頻?？刂茊卧?02在包括根據(jù)射線照相圖 像檢測單元11的安裝而設(shè)定為上限的最大幀頻F L的范圍內(nèi)設(shè) 定幀頻F。當檢測已經(jīng)通過使用箭頭鍵91b設(shè)定了作為上限的設(shè) 置值時，控制單元10 2進行控制以隱藏箭頭鍵91 b從而阻止使用 者選擇任何等于或大于上限值的值。
當以該方式完成射線照相條件設(shè)定時，在步驟S105中控制 單元10 2控制射線照相圖像檢測單元11以設(shè)定的幀頻讀出的射 線照相圖像。另外，控制單元102指示X-射線管28以將X-射線 管28的管電壓和管電流控制到步驟S103中設(shè)定的管電壓和管 電流。另外，控制單元102控制X-射線管28與步驟S104中設(shè)定的幀頻同步地放射X-射線。以該方式，控制單元102控制射線 照相圖像的射線照相。
在步驟S106中，控制單元102對從射線照相圖像檢測單元 ll輸出的射線照相圖像執(zhí)行諸如色調(diào)轉(zhuǎn)換(tone conversion) 等圖像校正處理，并且在監(jiān)視器103上顯示經(jīng)校正的射線照相圖像。
在步驟S107中，控制單元102使二級存儲裝置107保存經(jīng) 校正的射線照相圖像?？刂茊卧?02可以在執(zhí)行步驟S106的同 時執(zhí)行步驟S107中的保存處理。
由于射線照相設(shè)備的上述配置，即使當單獨使用射線照相 圖像檢測單元11時，由于在將射線照相圖像檢測單元11安裝在 支架上時的冷卻機構(gòu)，該設(shè)備也能夠以穩(wěn)定地高幀頻進行連續(xù) 的射線照相而不會對基于緊湊和輕量的操作性能產(chǎn)生任何影 響。如果射線照相圖4象檢測單元11不是由收容單元25永久地支 撐，則由于執(zhí)行限制移動圖像的射線照相的處理，所以安全性 提高。
第二實施例
下面將說明根據(jù)第二實施例由冷卻機構(gòu)和控制器IOI進行 的操作處理。圖8示出在第二實施例中顯示在監(jiān)視器103上的操 作畫面90。
圖6是示出根據(jù)第二實施例的收容單元25中的冷卻機構(gòu)的 剖視圖。圖6示出射線照相圖像檢測單元11安裝在收容單元25 中的狀態(tài)。
收容單元25內(nèi)部具有包括散熱片31和散熱橡膠32的冷卻 機構(gòu)。致動器33設(shè)置在該冷卻機構(gòu)的一側(cè)上以與已安裝的射線 照相圖像檢測單元11接觸，致動器3 3支撐冷卻機構(gòu)以允許冷卻 機構(gòu)上下可動。收容單元25的側(cè)面上具有用于進氣的開口部34。 收容單元25的底面具有與射線照相臺本體22連通的開口部
35。 用于強制送風的吹風機36鄰近開口部35設(shè)置。收容單元25 內(nèi)部具有用于檢測射線照相圖像檢測單元ll被安裝在收容單 元25內(nèi)部的預定位置的檢測構(gòu)件37a。如上所述，將檢測器89b 設(shè)置在射線照相圖像檢測單元ll中，檢測器89b檢測與檢測構(gòu) 件3 7 a的接觸以檢測射線照相圖像檢測單元11被安裝在收容單 元25內(nèi)部的預定位置。
當檢測到射線照相圖像檢測單元11被安裝在收容單元2 5 內(nèi)部的預定位置時，開始驅(qū)動致動器33。然后致動器33使冷卻 機構(gòu)與射線照相圖像檢測單元11的背面接觸以形成新的傳熱 路徑。
因此，由吹風機36使射線照相圖像檢測單元ll產(chǎn)生的熱通 過由殼體12、散熱橡膠32和散熱片31形成的路徑從開口部35 朝向射線照相臺本體22消散。
當使用者移除射線照相圖像檢測單元11時， 一 旦接收到來 自安裝/拆除指令單元(未示出)的輸入信號，致動器33使冷卻 機構(gòu)向下移動并且將其從射線照相圖像檢測單元11的背面分 離開。
圖7是示出由控制器101的控制單元102執(zhí)行的操作處理的
流程圖。
首先，在步驟S1中，控制單元102根據(jù)存在/不存在來自檢 測器8 9 b的檢測信號來判斷射線照相圖像檢測單元11是否被安 裝在收容單元25中了 。如果控制單元102接收到檢測器89b的檢 測信號并且判斷射線照相圖像檢測單元11被安裝在收容單元 25中了，則處理進入步驟S2?？刂茊卧?02控制致動器33使其 與包括散熱片31和散熱橡膠32的冷卻4幾構(gòu)接觸。注意在該實施 例中，如步驟S3所指示，具有控制單元102的控制器101可以將控制致動器33的指令輸出到收容單元25的指令。作為操作的另 一實例，其能夠執(zhí)行下面的操作。檢測構(gòu)件37a具有傳感器的 功能。檢測構(gòu)件37a檢測射線照相圖像檢測單元ll的接觸。然 后致動器33根據(jù)該;險測而不通過控制器101地執(zhí)行使冷卻機構(gòu) 與射線照相圖像檢測單元11接觸的操作。步驟S 2中的處理使冷
卻機構(gòu)與射線照相圖像檢測單元11的背面接觸以提高冷卻性
臺匕 3匕。
在步驟S3中，當從檢測器89b接收到檢測信號并且判斷射 線照相圖像檢測單元11已被安裝在收容單元25中時，控制單元 102允許執(zhí)行用于獲得移動圖像的射線照相模式的射線照相。
在步驟S4中，控制單元102檢測由使用者通過圖8所示的操 作畫面90對用于獲得移動或靜止圖像的模式的選擇，并且設(shè)定 所檢測的射線照相模式。注意，用于獲得靜止圖像的射線照相 模式是對一個發(fā)射輸入指令拍攝一 幅射線照相圖像的模式，而 用于獲得移動圖像的射線照相模式是執(zhí)行連接射線照相的模 式。
在步驟S1中，當控制單元102沒有接收到來自檢測器89b 的檢測信號并且判斷射線照相圖像檢測單元11未被安裝在收 容單元25中時，處理進入步驟S5?？刂茊卧?02設(shè)定用于獲得 靜止圖像的射線照相模式。即，控制單元102對用于獲得移動 圖像的射線照相模式中的射線照相施加限制。
注意，在用于獲得靜止圖像的射線照相模式中，除了特殊 情況外，控制單元102重復兩次至多約一秒的電荷積累和至多 約 一 秒的讀操作。執(zhí)行該操作以獲得射線照相圖像和校正圖像。
一般地，使一個被攝體改變其姿勢或者一個接一個地變換 被攝體。因此，在用于獲得靜止圖像的射線照相模式中，射線 照相間隔最短是數(shù)10秒，而且射線照相不會長時間持續(xù)。相反，在該實施例中的用于獲得移動圖像的射線照相模式中，前提是 每秒獲取3 0幅圖像。當執(zhí)行幾分鐘的移動圖像的射線照相時， 與用于獲得靜止圖像的射線照相模式相比，產(chǎn)生的熱量迅速增 加。
在步驟S6中，控制單元102在監(jiān)視器103上顯示與在步驟 S4或S5中在操作畫面90中設(shè)定的射線照相模式相對應的菜單。 在步驟S7中，控制單元102檢測使用者選擇的檢測區(qū)域。圖8 所示的操作畫面90顯示用于選擇射線照相模式的標簽(tag) 4 2和4 3 。當檢測到選擇用于靜止圖像的射線照相的標簽4 2時， 控制單元10 2顯示X -射線管的管電壓和管電流的設(shè)定狀態(tài)和諸 如與靜止圖像的射線照相相應的射線照相區(qū)域的選擇圖標。當 檢測到在圖8所示的操作畫面90中選擇的圖標時，控制單元102 設(shè)定與所選的期望區(qū)域相應的射線照相條件。
當檢測到選擇用于獲得移動圖像的射線照相的標簽4 3時， 控制單元102顯示與移動圖像的射線照相相應的操作畫面。與 移動圖像的射線照相相應的操作畫面顯示除了圖8所示的操作 畫面外的諸如設(shè)定幀頻等的用于移動圖像的射線照相的操作菜 單。
當步驟Sl判斷射線照相圖像檢測單元11未被安裝在收容 單元25中時，控制單元102進行控制以隱藏標簽43。這可以限 制可以執(zhí)行射線照相的模式。也就是，當射線照相圖像檢測單 元11被安裝在收容單元25中時，顯示用于移動圖像的射線照相 的標簽43。當單獨使用檢測單元時，隱藏用于移動圖像的射線 照相的標簽43。
在步驟S8中，控制單元102控制射線照相圖像檢測單元ll 和X-射線管28以在設(shè)定的射線照相條件下執(zhí)行射線照相。
在步驟S9中，控制單元102對從射線照相圖像檢測單元ll輸出的射線照相圖像執(zhí)行諸如色調(diào)轉(zhuǎn)化處理等圖像校正處理， 并且在監(jiān)視器103上顯示經(jīng)校正的射線照相圖像。
在步驟S10中，控制單元102使二次存儲裝置107保存經(jīng)校 正的射線照相圖像。在步驟S10中，控制單元102可以在執(zhí)行步 驟S9的同時執(zhí)行步驟S10中的保存處理。
射線照相設(shè)備的上述配置可以防止射線照相圖像檢測單元 ll的使用壽命被縮短。
第三實施例
圖9是示出根據(jù)第三實施例的射線照相設(shè)備的配置的圖。 在第三實施例中，X-射線管53和54分別被安裝在可動的C字形 臂裝置51和射線照相臺52上。在該情況中，使用者通過將射線 照相圖像檢測單元11安裝在C字形臂裝置51或射線照相臺5 2上
來準備射線照相。
C字形臂裝置51的臂的末端具有用于可拆卸地支撐射線照 相圖像檢測單元11的安裝部59。安裝部59具有如第二實施例中 的用于冷卻射線照相圖像檢測單元11的冷卻機構(gòu)。射線照相圖 像檢測單元ll通過檢測X-射線管53發(fā)射的X-射線來獲得射線 照相圖像。
控制器56連接到C字形臂裝置51 ?？刂破?6具有與第 一和 第二實施例中的控制器相似的功能。C字形臂裝置51主要用于 諸如透視攝影(fluoroscopic radiography)等移動圖像的射線 照相。
控制器5 6也連接到X -射線發(fā)生控制單元5 8上，并且可以與 控制安裝在C字形臂裝置51上的X-射線管53不同地控制X-射 線管54。盡管圖2中未示出，X-射線發(fā)生控制單元58基于來自 控制器的指令控制X -射線的產(chǎn)生。X -射線發(fā)生器5 7在由X -射 線發(fā)生控制單元58指示的正時控制X-射線管54。在該情況下，將射線照相圖像檢測單元11從C字形臂裝置51上移除并且將射
線照相圖像檢測單元ll放置在射線照相臺52上能夠執(zhí)行靜止
圖像的射線照相。
控制器56監(jiān)視射線照相圖像檢測單元1 l在C字形臂裝置51 的安裝部59上的安裝/未安裝狀態(tài)。當從安裝部59的檢測傳感器 的輸出判斷射線照相圖像檢測單元11被安裝時，控制器5 6致動 C字形臂裝置51并且在連接到控制器56的監(jiān)視器(未示出)上 顯示用于操作C字形臂裝置51的操作畫面。如果射線照相圖像 檢測單元11未被安裝在安裝部59上，則控制器56在監(jiān)視器(未 示出)上顯示用于設(shè)定X-射線管54的管電壓和管電流的操作畫 面。預先設(shè)定用于X-射線管54的操作畫面作為用于靜止圖像的 射線照相的才喿作畫面使其可以具有與第二實施例的操作畫面相 同的功能。
冷卻機構(gòu)和另一種形式
圖10和圖ll示出冷卻^L構(gòu)的另 一種形式，該冷卻i^構(gòu)可以 以射線照相圖像檢測單元與冷卻機構(gòu)分離的狀態(tài)應用于第一和 第二實施例。該冷卻機構(gòu)可與射線照相圖像檢測單元11的安裝 /拆卸聯(lián)動地連才妄。
收容部62內(nèi)部具有用作冷卻機構(gòu)的填充冷卻液介質(zhì)的冷 卻袋63。在收容部62的外部設(shè)置也用作冷卻介質(zhì)的散熱部的容 器64。容器64設(shè)置在射線照相臺本體22的內(nèi)部。
冷卻袋63通過管65和66連接到容器64，管65和66分另'J用 作冷卻袋63的供給管和排放管。分別為管65和66設(shè)置兩個獨立 泵67和68。
在將射線照相圖像檢測單元11安裝在收容部62中之前，冷 卻袋6 3在離開射線照相圖像檢測單元11的位置處，如圖10所示 (為了方便說明，圖10示出已安裝射線照相圖像檢測單元ll的狀態(tài))。當已安裝射線照相圖像檢測單元11并且檢測器69檢測 到該射線照相圖像檢測單元11已安裝在預定位置時，供給泵運
轉(zhuǎn)以向冷卻袋63充填冷卻介質(zhì)。接著冷卻袋63膨脹。當接觸到 射線照相圖像檢測單元11的背面時，冷卻袋6 3有效地起到冷卻 機構(gòu)的作用。
當冷卻袋63充分膨脹并且內(nèi)壓超過預定壓強時，泵68開始 驅(qū)動使冷卻介質(zhì)循環(huán)以使兩個泵6 7和6 8的流率相等，從而保持 冷卻袋63的形狀。射線照相圖像;險測單元ll產(chǎn)生的熱通過冷卻 介質(zhì)傳遞并且通過設(shè)置在容器64的表面上的散熱片(未示出) 散發(fā)到外部。
當將射線照相圖像檢測單元11從收容部6 2上移除時，根據(jù) 來自安裝/拆卸單元(未示出)的信號執(zhí)行使排放泵68的流率高 于供給泵67的流率的控制。這使冷卻袋63中的冷卻介質(zhì)減少。 結(jié)果，冷卻袋63自身縮小并且與射線照相圖像檢測單元ll的背 面分離。
射線照相圖像檢測單元的另 一 種形式
圖12示出射線照相圖像檢測單元的另 一種形式。圖12是射 線照相圖像檢測單元71的剖視圖。圖12中與圖l中的射線照相 圖像檢測單元11的標記相同的附圖標記表示相同的構(gòu)件。射線 照相圖像檢測單元71包括冷卻機構(gòu)。
射線照相圖像檢測單元71中的基臺72具有用于循環(huán)冷卻 介質(zhì)的管構(gòu)件73。處理光電轉(zhuǎn)換后的電信號的電路板17連接到 柔性電路板16,并且電路板17被固定在基臺72的下表面?zhèn)壬稀?電路板17上的電子部件17a和17b配置在基臺72側(cè)。通過散熱橡 膠74a和散熱橡膠74b形成用于基臺72的冷卻機構(gòu)。用于循環(huán)冷 卻介質(zhì)用的管構(gòu)件73的聯(lián)接部75設(shè)置在殼體本體12a的側(cè)面 上，并且連接到外部冷卻介質(zhì)循環(huán)單元(未示出)。電路板17通過連接器76連接到中繼電路單元19上。中繼電 路單元19連接到用于外接的連接器77上，通過中繼電路單元19 連接到用于外接的連接器77上來執(zhí)行電力供應和信號傳遞。當 單獨執(zhí)行暗盒射線照相時，運行為中繼電路單元19設(shè)置的電池 電路和無線電路使能夠與外部進行無線通信。
本發(fā)明的優(yōu)選實施例已經(jīng)說明如上。4旦是，顯然地，本發(fā) 明不限于這些實施例?？梢栽诒景l(fā)明的精神和范圍內(nèi)對實施例 進行各種變型和變動。
特別地，與這些實施例結(jié)合的支架不限于射線照相臺。例 如，各實施例可以包括直立臺、萬能臺等。
雖然已參照典型實施例對本發(fā)明進行了說明，但是應當理 解，本發(fā)明不限于所公開的典型實施例。所附權(quán)利要求的范圍 將符合最寬泛的解釋以包含所有這些變型和等同結(jié)構(gòu)和功能。
本申請要求于2006年7月10日提交的申請?zhí)枮?2006—188863的曰本專利申^會禾口于2007年5月29曰4是交的申{貪 號為2007-141491的日本專利申請的優(yōu)先權(quán)，上述日本專利申 請的全部內(nèi)部通過引用結(jié)合于此。
權(quán)利要求
1. 一種射線照相設(shè)備，其包括安裝檢測單元，該安裝檢測單元檢測用于獲得射線照相圖像的射線照相圖像檢測單元是否已被安裝在用于支撐所述射線照相圖像檢測單元的支撐部上；以及控制器，當所述安裝檢測單元未檢測到所述射線照相圖像檢測單元被安裝在所述支撐部上時，所述控制器執(zhí)行用于限制由所述射線照相圖像檢測單元進行的移動圖像的射線照相的處理。
2. 根據(jù)權(quán)利要求l所迷的射線照相設(shè)備，其特征在于，與當所述安裝檢測單元檢測到安裝了所述射線照相圖像檢測單元時相比，當所述安裝檢測單元未檢測到所述射線照相圖像檢測單元被安裝在所述支撐部上時，所述控制器更多地限制所述射線照相圖像檢測單元的移動圖像的幀頻。
3. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的射線照相設(shè)備，其特征在于，所述控制器控制顯示在監(jiān)視器上的用于設(shè)置幀頻的操作畫面的顯示，以當所述安裝檢測單元未檢測到所述射線照相圖像檢測單元被安裝在所述支撐部上時限制所述幀頻。
4. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的射線照相設(shè)備，其特征在于，當所述安裝檢測單元未檢測到所述射線照相圖像檢測單元被安裝在所述支撐部上時，所述控制器使所述射線照相圖像檢測單元執(zhí)行靜止圖像的射線照相作為射線照相。
5. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的射線照相設(shè)備，其特征在于，當所述安裝檢測單元未檢測到所述射線照相圖像檢測單元被安裝在所述支撐部上時，所述控制器限制用于由所述射線照相圖像檢測單元執(zhí)行的作為射線照相的移動圖像的射線照相的操作畫面在監(jiān)—見器上的顯示。
6. —種射線照相設(shè)備，其包括安裝檢測單元，該安裝檢測單元檢測用于獲得射線照相圖照相圖像檢測單元的冷卻部上；以及控制器，當所述安裝檢測單元未檢測到所述射線照相圖像檢測單元被安裝在所述冷卻部上時，所述控制器執(zhí)行用于限制由所述射線照相圖像檢測單元進行的移動圖像的射線照相的處理。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的射線照相設(shè)備，其特征在于，根據(jù)由所述安裝檢測單元檢測到安裝了所述射線照相圖像檢測單元，用于冷卻所述射線照相圖像4企測單元的冷卻機構(gòu)接觸所述射線照相圖像檢測單元。
8. —種射線照相設(shè)備用控制方法，該方法包括以下步驟檢測用于獲得射線照相圖像的射線照相圖像檢測單元是否已被安裝在用于支撐所述射線照相圖像檢測單元的支撐部上的檢測步驟；以及當所述安裝檢測單元未檢測到所述射線照相圖像檢測單元被安裝在所述支撐部上時，執(zhí)行用于限制由所述射線照相圖像檢測單元進行的移動圖像的射線照相的處理的執(zhí)行處理步驟。
9. 一種射線照相設(shè)備用控制方法，該方法包括以下步驟檢測用于獲得射線照相圖像的射線照相圖像檢測單元是否已被安裝在用于冷卻所述射線照相圖像檢測單元的冷卻部上的才全測步驟；以及當所述安裝檢測單元未檢測到所述射線照相圖像檢測單元被安裝在所述冷卻部上時，執(zhí)行用于限制由所述射線照相圖像檢測單元進行的移動圖像的射線照相的處理的執(zhí)行處理步驟。
全文摘要
為了提高射線照相圖像檢測單元的可靠性和射線照相設(shè)備的可靠性，當未檢測到射線照相圖像檢測單元被安裝在支撐部或冷卻部上時，執(zhí)行限制移動圖像的射線照相的處理。
文檔編號A61B6/00GK101484072SQ20078002500
公開日2009年7月15日 申請日期2007年7月5日 優(yōu)先權(quán)日2006年7月10日
發(fā)明者渡部哲緒 申請人:佳能株式會社