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封裝結(jié)構(gòu)的制作方法

文檔序號:6914480閱讀:229來源:國知局
專利名稱:封裝結(jié)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種封裝結(jié)構(gòu),且特別是一種將高側(cè)驅(qū)動器與低側(cè)驅(qū)動器 分裝在不同芯片的封裝結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
隨著科技的日新月異,電子產(chǎn)業(yè)蓬勃發(fā)展,功率轉(zhuǎn)換器己經(jīng)廣泛地運(yùn)用在 人們的日常生活中,像是電源供應(yīng)器、馬達(dá)驅(qū)動器等等。現(xiàn)今而言,許多功率
轉(zhuǎn)換器采用高側(cè)驅(qū)動器(high side driver)與低側(cè)驅(qū)動器(low side driver)來 控制耦接到負(fù)載的電源。
由于傳統(tǒng)的高側(cè)驅(qū)動器與低側(cè)驅(qū)動器是合并至同一芯片中,需要采用SOI (Silicon On Insulator)技術(shù)。SOI是絕緣體的意思,原理就是在高側(cè)驅(qū)動器與 低側(cè)驅(qū)動器之間,加入絕緣體物質(zhì),可使兩者之間的寄生電容比原來少。不過, 采用SOI技術(shù)需要額外的絕緣材料。另外,采用SOI技術(shù)增加了工藝的復(fù)雜 度。
有鑒于此,需要一種新封裝結(jié)構(gòu),可整合高側(cè)驅(qū)動器與低側(cè)驅(qū)動器,無需 采用SOI技術(shù)。

實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的就是提供一種封裝結(jié)構(gòu),可整合高側(cè)驅(qū)動器與低側(cè)驅(qū)動 器,無需采用SOI技術(shù)。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,依照本實(shí)用新型一實(shí)施例,本實(shí)用新型提供一種封裝 結(jié)構(gòu),包含第一引線框架、第二引線框架、第一芯片、第二芯片以及導(dǎo)線。第
一芯片包含高側(cè)驅(qū)動器(high side driver),第二芯片包含一低側(cè)驅(qū)動器(low side driver)、耐壓元件以及控制器,其中控制器電性耦接低側(cè)驅(qū)動器與耐壓 元件。在本實(shí)施例中,第二引線框架與第一引線框架分開設(shè)置,第一芯片位于 第一引線框架上,第二芯片位于第二引線框架上,導(dǎo)線電性耦接第一芯片與第一心片。
根據(jù)以上實(shí)施例,高側(cè)驅(qū)動器與低側(cè)驅(qū)動器分別設(shè)置在不同的芯片中,如 此,無需采用SOI技術(shù),即可消除高側(cè)驅(qū)動器與低側(cè)驅(qū)動器之間的寄生電容,
而且可以較易提升頻率,并減少電流漏電成為省電的電路。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,依照本實(shí)用新型另一實(shí)施例,本實(shí)用新型另提供一種 封裝結(jié)構(gòu),包含引線框架、第一芯片、第二芯片以及導(dǎo)線。第一芯片包含高側(cè)
驅(qū)動器(high side driver),第二芯片包含低側(cè)驅(qū)動器(low side driver)、耐 壓元件以及控制器,其中控制器電性耦接低側(cè)驅(qū)動器與耐壓元件。第一芯片與 第二芯片皆位于引線框架上,第二芯片與第一芯片分開設(shè)置,導(dǎo)線電性耦接第
心/T與弟一心斤。
根據(jù)以上實(shí)施例,高側(cè)驅(qū)動器與低側(cè)驅(qū)動器分別設(shè)置在不同的芯片中,如
此,無需采用SOI技術(shù),即可消除高側(cè)驅(qū)動器與低側(cè)驅(qū)動器之間的寄生電容,
而且可以較易提升頻率,并減少電流漏電成為省電的電路。
以下將以實(shí)施例對上述的說明以及接下來的實(shí)施方式做詳細(xì)的描述,并對 本實(shí)用新型提供更進(jìn)一步的解釋。


為讓本實(shí)用新型的所述和其它目的、特征、優(yōu)點(diǎn)與實(shí)施例能更明顯易懂,
所附附圖的詳細(xì)說明如下
圖1是依照本實(shí)用新型一實(shí)施例的一種封裝結(jié)構(gòu)的局部示意圖; 圖2是依照本實(shí)用新型另一實(shí)施例的一種封裝結(jié)構(gòu)的局部示意圖; 圖3是依照本實(shí)用新型第一實(shí)施例的一種封裝結(jié)構(gòu)的示意圖; 圖4是依照本實(shí)用新型第二實(shí)施例的一種封裝結(jié)構(gòu)的示意圖; 圖5是依照本實(shí)用新型第三實(shí)施例的一種封裝結(jié)構(gòu)的示意圖; 圖6是依照本實(shí)用新型第四實(shí)施例的一種封裝結(jié)構(gòu)的示意圖; 圖7是依照本實(shí)用新型第五實(shí)施例的一種封裝結(jié)構(gòu)的示意圖; 圖8是依照本實(shí)用新型第六實(shí)施例的一種封裝結(jié)構(gòu)的示意圖。主要元件符號說明
100:封裝結(jié)構(gòu)
110:第二引線框架
5111:第一組接腳
112:第二組接腳
116:引線框架
141:導(dǎo)線
L51:第一組導(dǎo)線
[52:第二組導(dǎo)線
19:第一引線框架
20:第一芯片
21:焊墊
22:焊墊
25:高側(cè)驅(qū)動器
30:第二芯片
31:焊墊
32:焊墊
35:低側(cè)驅(qū)動器
36:耐壓元件
37:控制器
具體實(shí)施方式
為了使本實(shí)用新型的敘述更加詳盡與完備,可參照下列的附圖及各種實(shí)施 例,附圖中相同的號碼代表相同或相似的元件。另一方面,眾所周知的電路元 件并未描述于實(shí)施例中,以避免造成本實(shí)用新型不必要的限制。
請參照圖1,圖1是依照本實(shí)用新型一實(shí)施例的一種封裝結(jié)構(gòu)的局部示意
圖。如圖所示,第一芯片120包含高側(cè)驅(qū)動器(high side driver) 125。第二芯 片130包含低側(cè)驅(qū)動器(low side driver) 135、耐壓元件136以及控制器137, 其中控制器137電性耦接低側(cè)驅(qū)動器135與耐壓元件136。
上述的耐壓元件136至少包含耐壓電容與耐壓晶體管其中之一。 值得注意的是,在圖1中,第一芯片120與第二芯片130是分開設(shè)置。通 過至少一導(dǎo)線141電性耦接第一芯片120與第二芯片130。更具體而言,導(dǎo)線 141的一端電性連接到第一芯片120的焊墊121,導(dǎo)線141的另一端電性連接到第二芯片130的焊墊131。
請參照圖2,圖2是依照本實(shí)用新型另一實(shí)施例的一種封裝結(jié)構(gòu)的局部示 意圖。如圖所示,第一芯片120包含高側(cè)驅(qū)動器125。第二芯片130包含低側(cè) 驅(qū)動器135、耐壓元件136以及控制器137,其中控制器137電性耦接低側(cè)驅(qū) 動器135與耐壓元件136。
上述的耐壓元件136至少包含耐壓電容與耐壓晶體管其中之一。
值得注意的是,在圖2中,第一芯片120與第二芯片130是分開設(shè)置。通 過二導(dǎo)線"I電性耦接第一芯片120與第二芯片130。更具體而言,導(dǎo)線141 的一端電性連接到第一芯片120的焊墊121,導(dǎo)線141的另一端電性連接到第 二芯片130的焊墊131。
為了使封裝結(jié)構(gòu)的敘述更加詳盡與完備,請參照圖3,圖3是依照本實(shí)用 新型第一實(shí)施例的一種封裝結(jié)構(gòu)的示意圖。如圖所示,封裝結(jié)構(gòu)IOO包含第一 芯片120、第二芯片130、第一引線框架119、第二引線框架110以及至少一 導(dǎo)線141。在本實(shí)施例中,第一芯片120位于第一引線框架119上,第二芯片 130位于第二引線框架110上,第一引線框架119與第二引線框架110分開設(shè) 置。導(dǎo)線141電性耦接第一芯片120與第二芯片130。更具體而言,導(dǎo)線141 的一端電性連接到第一芯片120的焊墊121,導(dǎo)線141的另一端電性連接到第 二芯片130的焊墊131。
請繼續(xù)參照圖3,封裝結(jié)構(gòu)IOO還包含第一組接腳111、第二組接腳112、 第一組導(dǎo)線151、第二組導(dǎo)線152。在本實(shí)施例中,第一組接腳111,位于第 一引線框架119的側(cè)邊;第二組接腳112位于第二引線框架110的側(cè)邊。第一 組導(dǎo)線151電性耦接第一芯片120與第一組接腳111;第二組導(dǎo)線152電性耦 接第二芯片130與第二組接腳112。
更具體而言,第一組導(dǎo)線151的一端電性連接第一芯片120的焊墊122, 第一組導(dǎo)線151的另一端電性連接第一組接腳111。第二組導(dǎo)線152的一端電 性連接第二芯片130的焊墊132,第二組導(dǎo)線152的另一端電性連接第二組接 腳112。
另外,在圖3中,虛線所示為樹脂封膠封裝范圍170。 請參照圖4,圖4是依照本實(shí)用新型第二實(shí)施例的一種封裝結(jié)構(gòu)的示意圖。 比較圖3~4,圖4的封裝結(jié)構(gòu)100除了多了一導(dǎo)線141電性耦接第一芯片120與第二芯片130之外,圖3 4實(shí)質(zhì)上相同。
請參照圖5,圖5是依照本實(shí)用新型第三實(shí)施例的一種封裝結(jié)構(gòu)的示意圖。 如圖所示,封裝結(jié)構(gòu)IOO包含第一芯片120、第二芯片130、引線框架116、 絕緣層118以及至少一導(dǎo)線141。在本實(shí)施例中,第一芯片120與第二芯片130 皆位于引線框架116上,第一芯片120與第二芯片130分開設(shè)置。絕緣層118 位于引線框架116與第二芯片130之間。
由于第一芯片120與第二芯片130皆位于引線框架116上,為了避免第一 芯片120與第二芯片130互相干擾,因此,設(shè)置絕緣層118來電性隔離第一芯 片120與第二芯片130。在工藝中,絕緣層118可制作在第二芯片130底部。 或者,絕緣層118可形成于引線框架110的表面。
請繼續(xù)參照圖5,封裝結(jié)構(gòu)100還包含第一組接腳111、第二組接腳112、 第一組導(dǎo)線151、第二組導(dǎo)線152。在本實(shí)施例中,第一組接腳111,位于第 一引線框架119的側(cè)邊;第二組接腳112位于第二引線框架110的側(cè)邊。第一 組導(dǎo)線151電性耦接第一芯片120與第一組接腳111;第二組導(dǎo)線152電性耦 接第二芯片130與第二組接腳112。
請參照圖6,圖6是依照本實(shí)用新型第四實(shí)施例的一種封裝結(jié)構(gòu)的示意圖。 比較圖5 6,圖6的封裝結(jié)構(gòu)100除了多了一導(dǎo)線141電性耦接第一芯片120 與第二芯片130之外,圖5 6實(shí)質(zhì)上相同。
請參照圖7,圖7是依照本實(shí)用新型第五實(shí)施例的一種封裝結(jié)構(gòu)的示意圖。 如圖所示,封裝結(jié)構(gòu)IOO包含第一芯片120、第二芯片130、引線框架116、 絕緣層118以及至少一導(dǎo)線141。在本實(shí)施例中,第一芯片120與第二芯片130 皆位于引線框架116上,第一芯片120與第二芯片分開設(shè)置。絕緣層118位于 引線框架116與第一芯片120之間。
由于第一芯片120與第二芯片130皆位于引線框架116上,為了避免第一 芯片120與第二芯片130互相干擾,因此,設(shè)置絕緣層118來電性隔離第一芯 片120與第二芯片130。在工藝中,絕緣層118可制作在第二芯片130底部。 或者,絕緣層118可形成于引線框架110的表面。
請參照圖8,圖8是依照本實(shí)用新型第六實(shí)施例的一種封裝結(jié)構(gòu)的示意圖。 比較圖7 8,圖8的封裝結(jié)構(gòu)100除了多了一導(dǎo)線141電性耦接第一芯片120 與第二芯片130之外,圖7 8實(shí)質(zhì)上相同。雖然本實(shí)用新型已以一實(shí)施例揭露如上,然其并非用以限定本實(shí)用新型, 任何熟悉此技術(shù)的人員,在不脫離本實(shí)用新型的精神和范圍內(nèi),當(dāng)可作各種的 更動與潤飾,因此本實(shí)用新型的保護(hù)范圍當(dāng)視后附的權(quán)利要求所界定的范圍為 準(zhǔn)。
權(quán)利要求1、一種封裝結(jié)構(gòu),其特征在于,包含一第一引線框架;一第二引線框架,與該第一引線框架分開設(shè)置;一第一芯片,位于該第一引線框架上,該第一芯片包含一高側(cè)驅(qū)動器;一第二芯片,位于該第二引線框架上,該第二芯片包含一低側(cè)驅(qū)動器、一耐壓元件以及一控制器,其中該控制器電性耦接該低側(cè)驅(qū)動器與該耐壓元件;以及至少一導(dǎo)線,電性耦接該第一芯片與該第二芯片。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的封裝結(jié)構(gòu),其特征在于,還包含 一第一組接腳,位于該第一引線框架的側(cè)邊;以及 一第二組接腳,位于第二引線框架的側(cè)邊。
3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的封裝結(jié)構(gòu),其特征在于,還包含 一第一組導(dǎo)線,電性耦接該第一芯片與該第一組接腳;以及 一第二組導(dǎo)線,電性耦接該第二芯片與該第一組接腳。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的封裝結(jié)構(gòu),其特征在于,該耐壓元件至少包含 一耐壓電容與一耐壓晶體管其中之一。
5、 一種封裝結(jié)構(gòu),其特征在于,包含 一引線框架;一第一芯片,位于該引線框架上,該第一芯片包含一高側(cè)驅(qū)動器; 一第二芯片,位于該引線框架上,與該第一芯片分開設(shè)置,該第二芯片包含一低側(cè)驅(qū)動器、 一耐壓元件以及一控制器,其中該控制器電性耦接該低側(cè)驅(qū)動器與該耐壓元件;以及至少一導(dǎo)線,電性耦接該第一芯片與該第二芯片。
6、 根據(jù)權(quán)利要求5所述的封裝結(jié)構(gòu),其特征在于,還包含 一絕緣層,位于該第一芯片與該引線框架之間。
7、 根據(jù)權(quán)利要求5所述的封裝結(jié)構(gòu),其特征在于,還包含 一絕緣層,位于該第二芯片與該引線框架之間。
8、 根據(jù)權(quán)利要求5所述的封裝結(jié)構(gòu),其特征在于,還包含第一組接腳,位于該第一引線框架的側(cè)邊;以及 一第二組接腳,位于第二引線框架的側(cè)邊。
9、 根據(jù)權(quán)利要求8所述的封裝結(jié)構(gòu),其特征在于,還包含 一第一組導(dǎo)線,電性耦接該第一芯片與該第一組接腳;以及 一第二組導(dǎo)線,電性耦接該第二芯片與該第一組接腳。
10、 根據(jù)權(quán)利要求5所述的封裝結(jié)構(gòu),其特征在于,該耐壓元件至少包含 一耐壓電容與一耐壓晶體管其中之一。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種封裝結(jié)構(gòu),包含第一芯片、第二芯片以及導(dǎo)線。第一芯片包含高側(cè)驅(qū)動器,第二芯片包含低側(cè)驅(qū)動器。導(dǎo)線電性耦接第一芯片與第二芯片。
文檔編號H01L25/00GK201274291SQ20082013327
公開日2009年7月15日 申請日期2008年9月11日 優(yōu)先權(quán)日2008年9月11日
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