技術(shù)總結(jié)
一種確定不同壓強下接觸界面收縮電阻的方法，它包括通過測量儀器對接觸界面進行局部統(tǒng)計觀察，獲得表征實際表面形貌的微凸體的信息，包括微凸體高度數(shù)量分布形式、微凸體高度標(biāo)準(zhǔn)差、微凸體面密度、微凸體曲率半徑，使用這些信息最終得到接觸界面在不通過壓強下的收縮電阻。本發(fā)明能夠跟蹤獲得表面的每一個微凸體的在不同壓強下的狀態(tài)及變化信息，可適用于任何形式的微凸體高度分布，不僅能計算的直流情況的收縮電阻，也能計算交流情況的接觸界面的收縮電阻。本發(fā)明的結(jié)果可用于微波部件接觸界面的等效電路模型的研究，為研究微波部件無源互調(diào)的非線性機理提供支撐。

技術(shù)研發(fā)人員：白春江;崔萬照;王瑞;葉鳴;趙小龍
受保護的技術(shù)使用者：西安空間無線電技術(shù)研究所
文檔號碼：201610841946
技術(shù)研發(fā)日：2016.09.22
技術(shù)公布日：2017.03.15