技術(shù)編號(hào)：8511627
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明是有關(guān)于一種半導(dǎo)體元件測(cè)試系統(tǒng)，特別是一種能夠利用影像平行處理程序來大幅加速影像處理速度的半導(dǎo)體元件測(cè)試系統(tǒng)。本發(fā)明還涉及此半導(dǎo)體元件測(cè)試系統(tǒng)的影像處理加速方法。背景技術(shù)利用自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(Automatic Test Equipment, ATE)對(duì)一個(gè)待測(cè)半導(dǎo)體元件進(jìn)行影像信號(hào)的測(cè)試時(shí)，通常會(huì)先將影像信號(hào)進(jìn)行譯碼后傳送到外部的影像處理電腦做影像數(shù)據(jù)的分析，以判斷待測(cè)半導(dǎo)體元件的功能是否正常，借此分析待測(cè)半導(dǎo)體元件是否為良品。然而，由于影像像素的增加...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。