技術(shù)編號：8435929
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。 非易失性存儲器陣列可用于存儲數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。連接至存儲器陣列的檢測電路探測該 存儲器陣列內(nèi)的電阻器件的狀態(tài)，并向外部電路發(fā)送這些測量結(jié)果以進(jìn)行傳送和處理。數(shù) 字?jǐn)?shù)據(jù)的處理可包括執(zhí)行多種邏輯運(yùn)算。附圖說明 附圖圖示出本文所描述原理的各種示例，且為說明書的一部分。所圖示的示例僅 為示例，且不限制權(quán)利要求的范圍。 圖1是根據(jù)本文所描述原理的一個示例的、連接至動態(tài)檢測電路的交叉點(diǎn)陣列的 一部分的框圖。 圖2A和圖2B是根據(jù)本文所描述原理的一個示例的、非易失性存儲器陣列...
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