技術(shù)編號：83446
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。 本發(fā)明涉及一種適用于對于待測的物體上的薄層的厚度進行測量的的測量裝置的標(biāo)定機構(gòu)，它包括具有平坦上側(cè)面和平坦下側(cè)面的標(biāo)定表面，上、下側(cè)面以預(yù)定的距離彼此分開。用于測量層厚度的普通手動測量裝置可以由Helmut Fischer GmbH有限責(zé)任公司和KG電子與測量技術(shù)研究所(Institut für Elektronik und Messtechnik)公司的手冊獲知。這種非破壞性、快速和精確的層厚度測量被用于層的測量應(yīng)用中。層厚度測量包括例如從幾μm一直到2000μm的范圍。為了測量層的厚度，測量方法的選擇分別依賴...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。