技術編號：8190234
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。技術領域本實用新型涉及到一種用于監(jiān)測晶體生長的裝置。背景技術晶體在我們日常生活中的應用越來越廣泛，而且大多數(shù)晶體都是人工合成的?，F(xiàn)有晶體的制作方法大都采用提拉法，為了確保晶體的質量，需要控制晶體在生長過程中的各種條件，而調控晶體生長條件的前提就是通過檢查晶體在生長過程中重量的變化來判斷 是否需要改變晶體生長條件。原有方法都是通過人工觀察晶體的直徑變化來判斷晶體的生長情況，由于提拉法中的晶體是需要旋轉并同時上下移動的，這就對檢測人員的眼力要求很高，但是在晶體上下移動并旋轉的情況下，檢測人員還是很難判斷晶體的直徑變化，...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。