技術(shù)編號：8144073
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。技術(shù)領(lǐng)域本發(fā)明涉及一種質(zhì)譜分析技術(shù)，尤其涉及一種在低真空環(huán)境下的等離子體離子源的發(fā)生裝置。背景技術(shù)質(zhì)譜是對分子結(jié)構(gòu)分析最精確的方法之一，通常用來對未知物進行定性分析和對混合物中已知組分進行定量檢測，其中，離子源是質(zhì)譜的關(guān)鍵技術(shù)。最常用的離子源為電子電離源(Electron Ionization，ΕΙ)，它采用高能電子束轟擊樣品，從而使樣品發(fā)生電離產(chǎn)生電子和分子離子。原理如下M+e — M++2eM+繼續(xù)受到電子轟擊而引起化學(xué)鍵的斷裂或分子重排，瞬間產(chǎn)生多種碎片離子。EI源的使用及其廣泛，電離效率高，譜庫最完整。然而...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。