技術編號：8085933
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。專利摘要本實用新型公開了μ-XAFS技術原位測量熔融法晶體生長配位結構的微型晶體生長爐，屬于物質微觀結構實時檢測的實驗裝置領域。該實用新型針對同步輻射μ-XAFS技術特點和原位實時觀測熔融法晶體生長過程的要求，設計的微型晶體生長爐，可實現(xiàn)對熔融法晶體生長不同區(qū)域的原位實時觀測，在微型晶體生長爐的豎直方向上呈現(xiàn)出晶體、生長邊界層和熔體（高溫溶液）等區(qū)域，同步輻射X射線可原位實時透射過上述三個區(qū)域，分別采集它們的微觀配位結構信息，從而獲得熔融法晶體生長時不同區(qū)域的配位結構及其變化規(guī)律。專利說明μ -XAFS技術原位測量...
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