技術(shù)編號(hào)：7564382
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明是有關(guān)于，特別是有關(guān)于一種利用振蕩器輸入與輸出的相位關(guān)系決定系統(tǒng)各種測(cè)試模式的裝置及其控制方法。一般集成電路于制造完成后都必須經(jīng)過測(cè)試以確定其功能正確無誤。由于集成電路的功能日趨繁雜，測(cè)試成本占整個(gè)生產(chǎn)成本的比例逐漸上升，而集成電路的管腳愈多則封裝成本愈高，因此如何在不增加集成電路的管腳前提下，方便快速地產(chǎn)生各種測(cè)試模式，即為制造者努力的目標(biāo)之一。在熟知技術(shù)中，關(guān)于撥號(hào)器測(cè)試功能電路的技術(shù)，主要有二種(1)在集成電路中增加一測(cè)試專用管腳，此種測(cè)試方式...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。