專利名稱：一種增加撥號器測試功能的裝置及其控制方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種增加撥號器測試功能的裝置及其控制方法，特別是有關(guān)于一種利用振蕩器輸入與輸出的相位關(guān)系決定系統(tǒng)各種測試模式的裝置及其控制方法。
一般集成電路于制造完成后都必須經(jīng)過測試以確定其功能正確無誤。由于集成電路的功能日趨繁雜，測試成本占整個生產(chǎn)成本的比例逐漸上升，而集成電路的管腳愈多則封裝成本愈高，因此如何在不增加集成電路的管腳前提下，方便快速地產(chǎn)生各種測試模式，即為制造者努力的目標(biāo)之一。
在熟知技術(shù)中，關(guān)于撥號器測試功能電路的技術(shù)，主要有二種(1)在集成電路中增加一測試專用管腳，此種測試方式最為簡易快速，但其缺點為管腳增加，使制造成本上升。
(2)利用鍵盤上某些按鍵的組合，經(jīng)過一段時間的確認(rèn)后進入測試模式。此熟知方式雖可在不增加管腳的情況下進行測試，但其缺點為使用者常在無意間進入測試模式，造成操作上的不便；其次，由于鍵盤按鍵必須等待一段時間，待噪聲雜波消失后始能確認(rèn)被按下鍵的位置，如此將延長測試時間，無法符合快速簡易的要求。
有鑒于此，本發(fā)明的目的是為了解決上述問題而提供一種增加撥號器測試功能的控制方法，由于撥號器的原理是利用一振蕩器輸出/輸入裝置提供撥號器的系統(tǒng)時鐘脈沖，因此本方法是利用將設(shè)定信號輸入振蕩器的輸入端，并比較與振蕩器輸出的相位變化，進而將前述相位關(guān)系輸入各測試裝置以產(chǎn)生各種測試模式及模擬聽筒掛上/取下的動作。本發(fā)明增加撥號器測試功能的裝置包括一測試信號輸出裝置，系統(tǒng)欲進入測試模式，須有效測試信號為邏輯1電位的輸出，始可執(zhí)行各種測試模式；一振蕩器輸出/輸入裝置，當(dāng)有效測試信號為邏輯1并反饋至振蕩器輸出/輸入裝置時，將具有特定關(guān)系的信號輸入振蕩器的輸入管腳，則振蕩器的輸入與輸出靠不同的相應(yīng)變化即可控制系統(tǒng)執(zhí)行各種測試模式或模擬聽筒掛上/取下的動作；一聽筒掛上/取下模似電路，由電位為邏輯1的有效測試信號負(fù)責(zé)啟動該電路，并利用振蕩器的輸入與輸出間的相位變化模擬聽筒掛上/取下的動作；及一測試模式產(chǎn)生電路，亦由電位為邏輯1的有效測試信號所啟動，并利用振蕩器的輸入與輸出間的相位變化進行各種測試模式的動作；及一抑制信號產(chǎn)生電路，由聽筒取下的信號啟動，經(jīng)過數(shù)個振蕩器周期后，輸出抑制信號，進而使系統(tǒng)不能進入測試模式。
由上述控制方法，配合本發(fā)明裝置，本發(fā)明具有三項優(yōu)點(1)因是利用振蕩器輸入/輸出的相位關(guān)系使系統(tǒng)進入各種測試模式，故可不局限在電話系統(tǒng)中使用。
(2)不須額外增加一測試專用管腳，可降低生產(chǎn)成本。
(3)可避免使用者誤入測試模式，且可縮短測試時間，增加測試功能。
為讓本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉一較佳實施例，并配合附圖，作詳細(xì)說明如下

圖1是顯示本發(fā)明的功能方塊圖；圖2為依照本發(fā)明一較佳實施例所實施的增加撥號器測試功能的裝置電路圖；及圖3是顯示本發(fā)明的脈沖時序圖。
現(xiàn)請參照圖1，本發(fā)明的一種增加撥號器測試功能的裝置，其構(gòu)造如圖1的功能方塊圖所示，其包括一測試信號輸出裝置20，用以輸出測試信號TEST至各裝置及其它測試電路，并決定系統(tǒng)是否進入測試模式；一振蕩器輸出/輸入裝置10，于正常操作時，由外加振蕩器與內(nèi)部反饋電路產(chǎn)生系統(tǒng)時鐘脈沖，而欲進行測試時，則由外部將系統(tǒng)時鐘脈沖輸入振蕩器輸出端以形成振蕩器輸出OSCO并依靠將設(shè)定信號輸入振蕩器輸入端以形成振蕩器輸入OSCI，比較兩者的相位變化，并將前述的相位關(guān)系輸入其它測試裝置以產(chǎn)生各種測試模式及模擬聽筒掛上/取下的動作；一聽筒掛上/取下模擬電路30，由來自測試信號輸出裝置20的測試信號TEST啟動，并依靠振蕩器輸入OSC工與輸出OSCO間的相位關(guān)系決定聽筒掛上/取下的動作；一測試模式產(chǎn)生電路40，由來自測試信號輸出裝置20的測試信號TEST啟動，并依靠振蕩器輸入OSCI與輸出OSCO間的相位關(guān)系決定各種測試模式；及一抑制信號產(chǎn)生電路50，由聽筒取下信號PWDN啟動，經(jīng)過8個振蕩器周期后，輸出邏輯1的抑制信號INHIBIT，進而使系統(tǒng)不能進入測試模式。
又一種增加撥號器測試功能的控制方法，其控制方法如圖1的功能方塊圖所示，是利用已有振蕩器的輸出/輸入裝置10，在不增加輸入管腳且不影響正常操作的情況下，依靠振蕩器輸入OSCI與振蕩器輸出OSCO的相位關(guān)系控制測試信號輸出裝置20，并配合與信號HK同步的聽筒取下信號PWDN，在抑制信號INHIBIT設(shè)定的振蕩器周期數(shù)內(nèi)使測試信號輸出裝置20產(chǎn)生有效測試信號TEST，該有效測試信號TEST配合振蕩器輸入OSCI與振蕩器輸出OSCO的相位變化控制聽筒掛上/取下模擬電路30和測試模式產(chǎn)生電路40。
現(xiàn)請參照圖2所示本發(fā)明增加撥號器測試功能的裝置，其包括一測試信號輸出裝置20，其可在下列二狀況操作(1)系統(tǒng)正常操作，測試信號TEST保持為邏輯0輸出，各測試裝置均不動作；(2)系統(tǒng)欲進入測試模式，須先將聽筒取下，此時，抑制信號會保持電位為邏輯0達8個振蕩器周期，此為系統(tǒng)可用以進入測試模式的時間，之后，抑制信號INHIBIT提升至邏輯1，系統(tǒng)即被抑制而不能進入測試模式。當(dāng)聽筒又取下后，信號HK將與聽筒取下信號PWDN同步由邏輯1變成邏輯0，此時輸入系統(tǒng)的振蕩器輸入OSCI保持在高電位，并于振蕩器輸出OSCO的第二個脈沖正沿激發(fā)時確認(rèn)系統(tǒng)進入測試模式，并使測試信號TEST由邏輯0變?yōu)橛行щ娢贿壿?，并反饋回測試信號輸出裝置20及振蕩器輸出/輸入裝置10，同時測試信號TEST亦被傳送至其它測試裝置；而上述動作是通過門電路的傳輸組合，經(jīng)觸發(fā)器D1與D2的作用而由觸發(fā)器D2的輸出Q傳送測試信號TEST至各裝置。
一振蕩器輸出/輸入裝置10，其可在下列二狀況操作(1)系統(tǒng)正常操作，反饋的測試信號TEST為邏輯0，且振蕩器輸入OSCI與振蕩器輸出OSCO的相位相反，并經(jīng)內(nèi)部振蕩器線路的反饋產(chǎn)生振蕩，其作用為提供系統(tǒng)時鐘脈沖；(2)系統(tǒng)欲進入測試模式時，由外部將系統(tǒng)時鐘脈沖輸入振蕩器輸出OSCO，并將振蕩器輸入OSCI保持邏輯1直至測試信號TEST亦變?yōu)檫壿?，之后，兩者即可依相位的變化控制各測試裝置使系統(tǒng)模擬聽筒掛上/取下的動作或進入各種測試模式。
一聽筒掛上/取下模擬電路30，是由測試信號TEST的邏輯1電位啟動，通過門電路的傳輸組合，振蕩器輸入OSCI與振蕩器輸出OSCO同時被輸入聽筒掛上/取下模擬電路30以比較其相應(yīng)關(guān)系，并利用觸發(fā)器T1的正相輸出EMUOFF與聽筒取下信號PWDN共同決定聽筒掛上/取下的模擬動作POD。
一測試模式產(chǎn)生電路40，亦由測試信號TRST的邏輯1電位啟動，通過門電路的傳輸組合，振蕩器輸入OSCI與振蕩器輸出OSCO的反相輸出OSCO同時被輸入測試模式產(chǎn)生電路40以比較其相位關(guān)系，并利用觸發(fā)器D3的輸出Q與反相輸出QB，配合觸發(fā)器D4的輸出Q與反相輸出QB共同決定系統(tǒng)的3種測試模式如TEST1、TEST2和TEST3。
一抑制信號產(chǎn)生電路50，是由4個觸發(fā)器T2、T3、T4及D5串聯(lián)而成，其靠一聽筒取下信號PWDN啟動，振蕩器輸出OSCO則作為觸發(fā)器T2的時鐘脈沖輸入，用以使觸發(fā)器D5經(jīng)過8個振蕩器周期后，輸出一邏輯1的抑制信號INHIBIT，進而將該邏輯1的抑制信號INHIBIT傳送至測試信號輸出裝置20，進而使系統(tǒng)不能進入測試模式。
現(xiàn)請參照圖3，本發(fā)明增加撥號器測試功能的控制方法，可利用脈沖時序圖顯示其步驟如下a.正常操作下，測試信號TEST為邏輯0，振蕩器輸入OSCI與輸出OSCO相位相反，并經(jīng)內(nèi)部的反饋產(chǎn)生振蕩，此時整個測試電路并不動作。(該步驟未顯示于圖中)b.當(dāng)系統(tǒng)要進入測試模式時，首先將聽筒取下，即信號HK由邏輯1變成邏輯0，促使聽筒取下信號PWDN亦由邏輯1變成邏輯0，另從振蕩器輸出端OSCO中輸入系統(tǒng)時鐘脈沖，此時抑制信號INHIBIT會保持邏輯0達8個振蕩器周期，系統(tǒng)因而可以進入測試模式。(直至抑制信號INHIBIT變?yōu)檫壿?后，系統(tǒng)即無法進入測試模式)c.此時將振蕩器輸入OSCI保持在邏輯1電位，則在振蕩器輸出OSCO的第二個脈沖正沿觸發(fā)時，觸發(fā)器D2的輸出會使測試信號TEST變?yōu)檫壿?，其后振蕩器輸入OSCI與輸出OSCO保持高阻抗?fàn)顟B(tài)，系統(tǒng)即進入測試模式。
d.當(dāng)振蕩器輸出OSCO為邏輯0時，在振蕩器輸入OSCI處輸入一個脈沖，此時觸發(fā)器T1的正相輸出EMUOFF即由邏輯0變?yōu)檫壿?，系統(tǒng)即模擬聽筒掛上的動作。
e.當(dāng)振蕩器輸出OSCO為邏輯1時，在振蕩器輸入OSCI處輸入一個脈沖，此時觸發(fā)器D4的輸出使第一測試模式TEST1由邏輯0變成邏輯1，系統(tǒng)即執(zhí)行第一測試模式的功能。
f.重復(fù)e的步驟，此時觸發(fā)器D3的反相輸出使第二測試模式TEST2由邏輯0變成邏輯1，系統(tǒng)即執(zhí)行第二測試模式的功能，而原第一測試模式TEST1再由邏輯1變成邏輯0，系統(tǒng)自動取消其測試功能，至于其它測試模式的選擇，則亦依上述動作類推。
g.重復(fù)d步驟，觸發(fā)器T1的正相輸出EMUOFF再由邏輯1變?yōu)檫壿?，系統(tǒng)即模擬聽筒取下的動作。
綜合上述，由于本發(fā)明是利用在振蕩器輸入/輸出的管腳中輸入有相位關(guān)系的信號，如此在正常操作下，使用者不會進入測試模式，并且不需額外增加一測試管腳也能縮短進入各種測試模式的時間，此外于測試模式中，亦可產(chǎn)生其它諸如聽筒掛上/取下模擬動作的信號，故其應(yīng)用更為廣泛，實用性也較高。
雖然本發(fā)明以較佳實施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉此項技術(shù)者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許改進，因此本發(fā)明的保護范圍當(dāng)視后附的權(quán)利要求所規(guī)定為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種增加撥號器測試功能的裝置，其包括一測試信號輸出裝置，用以輸出測試信號至各裝置及其它測試電路，并決定系統(tǒng)是否進入測試模式；一振蕩器輸出/輸入裝置，當(dāng)系統(tǒng)維持正常操作，振蕩器輸出/輸入裝置的功能是提供系統(tǒng)時鐘脈沖，若系統(tǒng)欲進入測試模式，則由外部將系統(tǒng)時鐘脈沖輸入振蕩器輸出管腳，并將設(shè)定信號輸入振蕩器輸入管腳，比較兩者的相位變化，并將前述的相位關(guān)系分別傳送至測試信號輸出裝置及其它測試電路，用以使測試信號輸出裝置輸出有效的測試信號，并使系統(tǒng)執(zhí)行各種測試模式及模擬聽筒掛上/取下的動作；一聽筒掛上/取下模擬電路，其中該電路由測試信號啟動，并依靠振蕩器的輸入與輸出的相位關(guān)系決定聽筒掛上/取下的模擬動作；一測試模式產(chǎn)生電路，其中該電路由測試信號啟動，并依靠振蕩器的輸入與輸出的相位關(guān)系決定各種測試模式；及一抑制信號產(chǎn)生電路，其由聽筒取下信號啟動，該電路用以決定系統(tǒng)進入測試模式的時間長短。
2.如權(quán)利要求1所述的增加撥號器測試功能的裝置，其中測試信號輸出裝置包括多個邏輯門，用以處理輸入信號的組合(1)抑制信號，決定系統(tǒng)可進入測試模式的振蕩器周期數(shù)；(2)振蕩器輸入，作為觸發(fā)器的輸入信號；(3)振蕩器輸出，作為觸發(fā)器的時鐘脈沖；(4)反饋的測試信號，使系統(tǒng)確定是否持續(xù)執(zhí)行測試模式；及多個反相器，其連結(jié)有多個邏輯門，并藉此將輸入的信號組合以控制多個觸發(fā)器，而測試信號則由最后一級觸發(fā)器的輸出產(chǎn)生。
3.如權(quán)利要求1所述的增加撥號器測試功能的裝置，其中聽筒掛上/取下模擬電路包括多個邏輯門，用以處理振蕩器輸入與輸出間的相位關(guān)系；及一觸發(fā)器，其連結(jié)多個邏輯門且由測試信號啟動，配合上述的相位關(guān)系決定觸發(fā)器的輸出，此輸出同時與聽筒取下信號比較以決定聽筒掛上/取下的模擬動作。
4.如權(quán)利要求1所述的增加撥號器測試功能的裝置，其中測試模式產(chǎn)生電路包括多個邏輯門，用以處理振蕩器輸入與輸出間的相位關(guān)系；及多個觸發(fā)器，其連結(jié)多個邏輯門且由測試信號啟動，配合上述的相位關(guān)系決定多個觸發(fā)器的各輸出端的輸出，并由各輸出的組合決定各種測試模式。
5.如權(quán)利要求1所述的增加撥號器測試功能的裝置，其中，抑制信號產(chǎn)生電路由多個觸發(fā)器串聯(lián)而成，振蕩器輸出則為抑制信號產(chǎn)生電路的時鐘脈沖輸入，用以使觸發(fā)器能在多個振蕩器周期后，輸出一抑制信號至測試信號輸出裝置，進而使系統(tǒng)不能進入測試模式。
6.一種增加撥號器測試功能的控制方法，是利用一已有的振蕩器輸出/輸入裝置，來產(chǎn)生各種測試模式及聽筒掛上/取下的模擬動作，其包括如下步驟(1)在聽筒取下后，從振蕩器輸出端輸入系統(tǒng)時鐘脈沖，并將振蕩器輸入端接至第一電位，經(jīng)過數(shù)個振蕩器周期后，系統(tǒng)即確認(rèn)進入測試模式；(2)進入測試模式后，在振蕩器輸出端為第二電位時，從振蕩器輸入端輸入一脈沖，使系統(tǒng)模擬聽筒掛上/取下動作；(3)進入測試模式后，在振蕩器輸出端為第一電位時，從振蕩器輸入端輸入一脈沖，系統(tǒng)即執(zhí)行設(shè)定的測試模式。
7.如權(quán)利要求6所述的增加撥號器測試功能的控制方法，其中第一電位是指高電位，而第二電位是指低電位。
8.一種增加撥號器測試功能的控制方法，包括如下步驟(1)正常操作下，測試信號為邏輯0，振蕩器輸入與輸出相位相反，并經(jīng)內(nèi)部的反饋產(chǎn)生振蕩，此時整個測試電路并不動作。(2)當(dāng)系統(tǒng)要進入測試模式時，首先將聽筒取下，即信號由邏輯1變成邏輯0，并從振蕩器輸出端中輸入系統(tǒng)時鐘脈沖，此時抑制信號會保持邏輯0達8個振蕩器周期，使系統(tǒng)可以進入各種測試模式。(直至抑制信號變?yōu)檫壿?，系統(tǒng)即無法進入測試模式)(3)此時將振蕩器輸入保持在邏輯1電位，則在振蕩器輸出的第二個脈沖正沿觸發(fā)時，測試信號輸出裝置的觸發(fā)器的輸出會使測試信號變?yōu)檫壿?，其后振蕩器的輸入與輸出保持高阻抗?fàn)顟B(tài)，系統(tǒng)即進入測試模式。(4)當(dāng)振蕩器輸出為邏輯0時，在振蕩器輸入端輸入一個脈沖，此時聽筒掛上/取下模擬電路的觸發(fā)器的反相輸出隨之由邏輯0變?yōu)檫壿?，系統(tǒng)即模擬聽筒掛上的動作。(5)當(dāng)振蕩器輸出為邏輯1時，在振蕩器輸入端輸入一個脈沖，此時測試模式產(chǎn)生電路的觸發(fā)器的輸出使第一測試模式由邏輯0變成邏輯1，系統(tǒng)即執(zhí)行第一測試模式的功能。(6)重復(fù)(5)的步驟，此時測試模式產(chǎn)生電路的觸發(fā)器的反相輸出使第二測試模式由邏輯0變成邏輯1，系統(tǒng)即執(zhí)行第二測試模式的功能，而原第一測試模式再由邏輯1變成邏輯0，系統(tǒng)因而自動取消第一測試模式的測試功能，至于其它測試模式的選擇，則亦依上述動作類推。(7)重復(fù)步驟(4)，此時聽筒掛上/取下模擬電路的觸發(fā)器的反相輸出再由邏輯1變?yōu)檫壿?，系統(tǒng)即模擬聽筒取下的動作。
全文摘要
一種增加撥號器測試功能的裝置，包括測試信號輸出和振蕩器輸出/輸入裝置；聽筒掛上/取下模擬、測試模式產(chǎn)生及抑制信號產(chǎn)生電路。一種增加撥號器測試功能的控制方法為在聽筒取下后，將系統(tǒng)時鐘脈沖輸入振蕩器輸出端并將振蕩器輸入端接至高電位，經(jīng)過數(shù)個振蕩器周期后進入測試模式；振蕩器輸出低電位時，從振蕩器輸入端輸入一脈沖，系統(tǒng)模擬聽筒掛上/取下；振蕩器輸出高電位時，從振蕩器輸入端輸入一脈沖，系統(tǒng)進行下一測試模式。
文檔編號H04M1/26GK1125372SQ9411353
公開日1996年6月26日 申請日期1994年12月27日 優(yōu)先權(quán)日1994年12月27日
發(fā)明者吳其昌, 劉祖俊 申請人:聯(lián)華電子股份有限公司