技術(shù)編號：7545352
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明提出一種新的適用于芯片測試的功能切換電路。該適用于芯片測試的功能切換電路主要包括測試焊盤、串轉(zhuǎn)并電路、控制電路和n位電平轉(zhuǎn)換電路；所述控制電路對串轉(zhuǎn)并電路進(jìn)行控制，使得測試焊盤輸出的1位電平信號通過串轉(zhuǎn)并電路轉(zhuǎn)換為m位并行信號，這里m≤n，最后經(jīng)n位電平轉(zhuǎn)換電路中的m位電平轉(zhuǎn)換后輸出。本發(fā)明采用測試焊盤取代傳統(tǒng)的熔絲電路，可以通過外接探針扎到測試焊盤輸入不同的信號，只使用1個(gè)測試焊盤，便實(shí)現(xiàn)了現(xiàn)有技術(shù)中n位熔絲電路的功能。專利說明—種適用于芯片測試的...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲(chǔ)備，不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路，無完整電路圖，適合研究學(xué)習(xí)。