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一種適用于芯片測(cè)試的功能切換電路的制作方法

文檔序號(hào):7545352閱讀:240來源:國知局
一種適用于芯片測(cè)試的功能切換電路的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提出一種新的適用于芯片測(cè)試的功能切換電路。該適用于芯片測(cè)試的功能切換電路主要包括測(cè)試焊盤、串轉(zhuǎn)并電路、控制電路和n位電平轉(zhuǎn)換電路;所述控制電路對(duì)串轉(zhuǎn)并電路進(jìn)行控制,使得測(cè)試焊盤輸出的1位電平信號(hào)通過串轉(zhuǎn)并電路轉(zhuǎn)換為m位并行信號(hào),這里m≤n,最后經(jīng)n位電平轉(zhuǎn)換電路中的m位電平轉(zhuǎn)換后輸出。本發(fā)明采用測(cè)試焊盤取代傳統(tǒng)的熔絲電路,可以通過外接探針扎到測(cè)試焊盤輸入不同的信號(hào),只使用1個(gè)測(cè)試焊盤,便實(shí)現(xiàn)了現(xiàn)有技術(shù)中n位熔絲電路的功能。
【專利說明】—種適用于芯片測(cè)試的功能切換電路
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種適用于芯片測(cè)試的功能切換電路。
【背景技術(shù)】
[0002]在芯片的設(shè)計(jì)及其制造中,經(jīng)常會(huì)用到熔絲電路。熔絲的主要作用是:在芯片生產(chǎn)完成后,根據(jù)測(cè)試結(jié)果或者功能的設(shè)定需要對(duì)熔絲進(jìn)行切換,它的切換主要是通過激光對(duì)芯片中預(yù)設(shè)的熔絲進(jìn)行燒斷,實(shí)現(xiàn)電路硬性連接的改變,從而改變電路的工作狀態(tài)或功能。
[0003]因?yàn)楣ぷ麟娫吹牟煌仍颍劢z電路的輸出信號(hào)并不能直接給電路使用。熔絲電路的信號(hào)需要經(jīng)過電平轉(zhuǎn)換電路處理之后才輸出給其他電路使用。通常,每一位熔絲電路接一位電平轉(zhuǎn)換電路。如圖1所示,為現(xiàn)有技術(shù)中的熔絲電路結(jié)構(gòu),圖中η位熔絲電路接η位電平轉(zhuǎn)換電路配合使用。
[0004]η位熔絲電路本身需要占用較大的面積,而且在被激光燒斷后不能恢復(fù),難以在芯片測(cè)試或功能設(shè)定操作中重復(fù)使用,因此綜合成本較高。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]為了解決傳統(tǒng)方案綜合成本較高的問題,本發(fā)明提出一種新的適用于芯片測(cè)試的功能切換電路。
[0006]本發(fā)明的基本解決方案如下:
[0007]—種適用于芯片測(cè)試的功能切換電路,主要包括測(cè)試焊盤、串轉(zhuǎn)并電路、控制電路和η位電平轉(zhuǎn)換電路;所述控制電路對(duì)串轉(zhuǎn)并電路進(jìn)行控制,使得測(cè)試焊盤輸出的I位電平信號(hào)通過串轉(zhuǎn)并電路轉(zhuǎn)換為m位并行信號(hào),這里m < n,最后經(jīng)η位電平轉(zhuǎn)換電路中的m位電平轉(zhuǎn)換后輸出。
[0008]基于上述基本方案,本發(fā)明還做如下具體優(yōu)化:
[0009]上述控制電路包括邏輯電路、時(shí)鐘電路和計(jì)數(shù)電路,邏輯電路用于向串轉(zhuǎn)并電路、時(shí)鐘電路和計(jì)數(shù)電路發(fā)出控制信號(hào),并根據(jù)計(jì)數(shù)電路返回的計(jì)數(shù)值控制時(shí)鐘電路向串轉(zhuǎn)并電路發(fā)出時(shí)鐘信號(hào)。
[0010]上述串轉(zhuǎn)并電路包括η位數(shù)據(jù)線以及相應(yīng)的η個(gè)子單元,η個(gè)子單元的一端作為并行信號(hào)輸出端,另一端共接作為串行信號(hào)輸入端;每個(gè)子單元包括一對(duì)反相器以及分別接使能信號(hào)和時(shí)鐘信號(hào)的兩個(gè)MOS管。
[0011]本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn):
[0012]本發(fā)明采用測(cè)試焊盤取代傳統(tǒng)的熔絲電路,可以通過外接探針扎到測(cè)試焊盤輸入不同的信號(hào),只使用I個(gè)測(cè)試焊盤,便實(shí)現(xiàn)了現(xiàn)有技術(shù)中η位熔絲電路的功能。
[0013]1.雖然增加了控制電路、串一并轉(zhuǎn)換電路,但是相對(duì)于η位熔絲電路,增加的電路面積很小,且功耗也很小。
[0014]2.由η位熔絲電路換為I個(gè)測(cè)試焊盤,不需要改變電路的硬鏈接,增加了電路的靈活性。[0015]3.工藝上測(cè)試焊盤的實(shí)現(xiàn)更簡單。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0016]圖1為傳統(tǒng)方案的示意圖。
[0017]圖2為本發(fā)明實(shí)施例一的示意圖。
[0018]圖3為本發(fā)明實(shí)施例二的示意圖。
[0019]圖4為本發(fā)明中控制電路的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0020]圖5為本發(fā)明中串轉(zhuǎn)并電路的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0021]實(shí)施例一[0022]如圖2所示,原有η位熔絲電路改為I位測(cè)試焊盤,接串一并轉(zhuǎn)換電路(串行轉(zhuǎn)并行)。通過串一并轉(zhuǎn)換電路,I位串行信號(hào)被轉(zhuǎn)換為η位并行信號(hào),η位并行信號(hào)通過η位電平轉(zhuǎn)換電路,可以實(shí)現(xiàn)多種不同的電平下的轉(zhuǎn)換輸出給其它電路使用。相應(yīng)的,需要設(shè)置額外的控制電路對(duì)串一并轉(zhuǎn)換電路進(jìn)行控制。
[0023]如圖4所示,本發(fā)明給出了控制電路的一種基本結(jié)構(gòu)??刂齐娐分饕饔檬强刂拼徊⑥D(zhuǎn)換電路的工作狀態(tài)。它包括邏輯電路、時(shí)鐘電路和計(jì)數(shù)電路,邏輯電路控制時(shí)鐘電路和計(jì)數(shù)電路。
[0024]假設(shè)這里的串轉(zhuǎn)并僅需要轉(zhuǎn)換為m位(m < n,本電路可以對(duì)小于等于η位的任意位電路進(jìn)行轉(zhuǎn)換)。邏輯電路向時(shí)鐘電路和計(jì)數(shù)電路發(fā)出控制信號(hào),同時(shí)也向串一并轉(zhuǎn)換電路發(fā)送使能信號(hào)。時(shí)鐘電路和計(jì)數(shù)電路準(zhǔn)備開始工作。計(jì)數(shù)電路設(shè)定計(jì)數(shù)值為m。之后邏輯電路控制時(shí)鐘電路向串一并轉(zhuǎn)換電路發(fā)出時(shí)鐘信號(hào),同時(shí)計(jì)數(shù)電路開始計(jì)數(shù),當(dāng)計(jì)數(shù)電路計(jì)數(shù)達(dá)到設(shè)定的值m時(shí),發(fā)出信號(hào)控制時(shí)鐘電路停止向串一并轉(zhuǎn)換電路繼續(xù)發(fā)送信號(hào),同時(shí)計(jì)數(shù)電路發(fā)給邏輯電路信號(hào),邏輯電路接收到計(jì)數(shù)電路發(fā)來的信號(hào)后向串一并轉(zhuǎn)換電路發(fā)出控制信號(hào)。
[0025]邏輯電路是由簡單的數(shù)字電路構(gòu)成,就不在這里做詳細(xì)介紹,只要能實(shí)現(xiàn)相似的功能即可。
[0026]在這里只是給出了控制電路的一種實(shí)現(xiàn)形式,實(shí)際中并不限于此,只要能實(shí)現(xiàn)上述的類似功能即可。
[0027]圖5給出了一種串一并轉(zhuǎn)換電路的具體示例。圖中左邊為I位數(shù)據(jù)線,右邊為η位數(shù)據(jù)線,同時(shí)還包括η個(gè)子單元。這里的子單元為簡單的6管(M0S管)單元,其中每個(gè)反相器里包含兩個(gè)MOS管,另外兩個(gè)MOS管的柵極分別接時(shí)鐘信號(hào),例如時(shí)鐘信號(hào)Cl (clockl)和使能信號(hào)EN。
[0028]具體工作過程如下:信號(hào)從左往右傳輸。由控制電路發(fā)來的使能信號(hào)EN先關(guān)斷子單元里最右邊的MOS管,之后隨著η位時(shí)鐘cl、c2…cn依次到來,子單元里最左邊的MOS管依次打開,注意同時(shí)只能有一位子單元里左邊的MOS管打開(這里由控制電路發(fā)來的信號(hào)線應(yīng)該為η位,分別為cl、c2…cn),左邊的串行信號(hào)依次存在η個(gè)子單元里,當(dāng)時(shí)鐘信號(hào)停止后,由控制電路發(fā)來的使能信號(hào)EN先打開子單元里最右邊的MOS管,η位數(shù)據(jù)并行輸出。
[0029]本發(fā)明所述的串轉(zhuǎn)并電路并不限于上述電路結(jié)構(gòu),本領(lǐng)域技術(shù)人員也可以采用其他實(shí)現(xiàn)類似功能的任意形式的電路。
[0030]實(shí)施例二
[0031 ] 如圖3所示,原有η位熔絲電路改為測(cè)試焊盤,接I位電平轉(zhuǎn)換電路,將信號(hào)轉(zhuǎn)換至設(shè)定的電平,然后通過串一并轉(zhuǎn)換電路輸出η位并行信號(hào)。相應(yīng)的,需要設(shè)置額外的控制電路對(duì)串一并轉(zhuǎn)換電路進(jìn)行控制。
[0032]控制電路和串一并轉(zhuǎn)換電路的具體示例可參照上述實(shí)施例一實(shí)現(xiàn)。
【權(quán)利要求】
1.一種適用于芯片測(cè)試的功能切換電路,其特征在于:主要包括測(cè)試焊盤、串轉(zhuǎn)并電路、控制電路和η位電平轉(zhuǎn)換電路;所述控制電路對(duì)串轉(zhuǎn)并電路進(jìn)行控制,使得測(cè)試焊盤輸出的I位電平信號(hào)通過串轉(zhuǎn)并電路轉(zhuǎn)換為m位并行信號(hào),這里m Sn,最后經(jīng)η位電平轉(zhuǎn)換電路中的m位電平轉(zhuǎn)換后輸出。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的適用于芯片測(cè)試的功能切換電路,其特征在于:所述控制電路包括邏輯電路、時(shí)鐘電路和計(jì)數(shù)電路,邏輯電路用于向串轉(zhuǎn)并電路、時(shí)鐘電路和計(jì)數(shù)電路發(fā)出控制信號(hào),并根據(jù)計(jì)數(shù)電路返回的計(jì)數(shù)值控制時(shí)鐘電路向串轉(zhuǎn)并電路發(fā)出時(shí)鐘信號(hào)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的適用于芯片測(cè)試的功能切換電路,其特征在于:所述串轉(zhuǎn)并電路包括η位數(shù)據(jù)線以及相應(yīng)的η個(gè)子單元,η個(gè)子單元的一端作為并行信號(hào)輸出端,另一端共接作為串行信號(hào)輸入端;每個(gè)子單元包括一對(duì)反相器以及分別接使能信號(hào)和時(shí)鐘信號(hào)的兩個(gè)MOS管。
【文檔編號(hào)】H03M9/00GK103916132SQ201410122629
【公開日】2014年7月9日 申請(qǐng)日期:2014年3月28日 優(yōu)先權(quán)日:2014年3月28日
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