技術(shù)編號(hào)：7504457
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種比較器電路，尤其涉及模數(shù)轉(zhuǎn)換器的一種高線性度CMOS自 舉采樣開(kāi)關(guān)。背景技術(shù)對(duì)于ADC電路的實(shí)現(xiàn)，需要用到大量的數(shù)據(jù)采樣開(kāi)關(guān)。作為ADC系統(tǒng)與外界的接 口，采樣開(kāi)關(guān)的性能優(yōu)劣直接決定了 ADC所接收到的信號(hào)純度和真實(shí)性。對(duì)于CMOS工藝， 采樣開(kāi)關(guān)一般通過(guò)MOS管來(lái)實(shí)現(xiàn)。高線性度的CMOS開(kāi)關(guān)可以極大程度上抑制采樣時(shí)間不 確定、時(shí)鐘饋通和電荷注入等非線性誤差。圖la、圖Ib所示為兩個(gè)簡(jiǎn)單的采樣保持電路，它們包括一個(gè)開(kāi)關(guān)和一個(gè)電容。其 中，...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路，無(wú)完整電路圖，適合研究學(xué)習(xí)。