技術(shù)編號(hào):7264857
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了一種以FeNi合金或FeNiP合金作為反應(yīng)界面層的柱狀凸點(diǎn)封裝結(jié)構(gòu),屬于半導(dǎo)體器件封裝領(lǐng)域。該封裝結(jié)構(gòu)包括半導(dǎo)體襯底、導(dǎo)電金屬柱、氧化層、反應(yīng)界面層和焊料凸點(diǎn);所述半導(dǎo)體襯底的上表面設(shè)有焊盤和鈍化層,焊盤開口上方設(shè)有導(dǎo)電金屬柱,其材質(zhì)為銅或銅合金;所述導(dǎo)電金屬柱的側(cè)面裹有氧化層,導(dǎo)電金屬柱的上方設(shè)有反應(yīng)界面層,反應(yīng)界面層的材料為鐵鎳合金或鐵鎳磷合金;所述反應(yīng)界面層上方設(shè)有焊料凸點(diǎn),所述焊料凸點(diǎn)的材料為錫或錫合金。本發(fā)明利用FeNi合金或FeNi...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。