技術編號:7236393
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。0001本發(fā)明涉及,特別涉及具有柵電極整個被硅化物化的全硅化(Fully SilicidedFUSI)柵極的。背景技術0002在場效應晶體管即MOS晶體管中柵電極的耗盡化使柵絕緣膜的 有效膜厚增加,所以為了提高晶體管的性能,希望具有可抑制柵極 耗盡化的結構。 —0003特別地,在柵絕緣膜上淀積的多晶硅柵極完全硅化物化后的FUSI 柵極,與傳統(tǒng)的工藝流程的相容性良好,被認為是用作抑制柵極耗 盡化的理想方法。0004在FUSI柵極形成時,在柵絕緣膜上形成多晶硅...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。