技術(shù)編號：7210692
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及半導(dǎo)體裝置、特別是裝載用來進行半導(dǎo)體存儲器的試驗的測試電路的半導(dǎo)體裝置以及用來裝載該測試電路對半導(dǎo)體裝置進行試驗的試驗裝置的構(gòu)成。大部分半導(dǎo)體存儲器具有備用的存儲單元，當有一部分存儲單元不良時，可以用備用的存儲單元置換該不良部分，對不良的芯片進行補救。附圖說明圖19是表示設(shè)在這樣的半導(dǎo)體存儲器的存儲器陣列部8010的冗余電路的構(gòu)成的概略框圖。存儲器陣列部8010中的1個存儲單元可以利用外部輸入的行地址信號RA0-13和列地址信號CA0-8進行選擇...
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