技術(shù)編號(hào)：72009
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。技術(shù)領(lǐng)域本發(fā)明提供一種IC晶片電性測(cè)試設(shè)備及一種防靜電破壞的方法，尤指一種能防止因靜電現(xiàn)象導(dǎo)致待測(cè)元件(device under test，DUT)被破壞的IC晶片電性測(cè)試設(shè)備及一種防靜電破壞的方法。 發(fā)明背景在IC晶片制造過(guò)程中，產(chǎn)品的“可靠性(reliability)”為非常重要的考量因素之一，可靠性可簡(jiǎn)單描述為產(chǎn)品在正常使用條件下，能順利工作的使用期限。IC制造業(yè)者為了能在短時(shí)間內(nèi)得知產(chǎn)品的使用壽命，通常會(huì)使用“加速壽命測(cè)試實(shí)驗(yàn)”(Accelerated lifetime test)來(lái)預(yù)測(cè)產(chǎn)品的平均使用壽命...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專(zhuān)利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。