技術(shù)編號:7050290
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明公開了一種,包括采用立體顯微鏡對待開封器件進行觀察,測量其外觀尺寸、封裝厚度,觀察其封裝形式、封裝材料;選擇掃描聲學顯微鏡、微焦點X射線檢測儀、CT檢測儀其中的一種或多種對待開封器件進行觀察并記錄;針對器件類型,根據(jù)上述檢查結(jié)果,確定器件的開封方案;采用鑲嵌磨拋或外殼啟封對待開封器件進行開封前預(yù)處理;采用掩膜刻蝕法、化學腐蝕法、剖面鏡檢法其中的一種或多種完成待開封器件的化學開封;對開封后器件的內(nèi)部工藝參數(shù)進行檢查評價分析。本發(fā)明提出的,相比較傳統(tǒng)的采...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
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