技術(shù)編號：7043473
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明提供一種晶體管的測試結(jié)構(gòu)及測試方法，測試結(jié)構(gòu)包括測試機(jī)臺，串聯(lián)于待測晶體管的源極與漏極之間，用于產(chǎn)生測試信號，并測量待測晶體管源極與漏極之間的關(guān)態(tài)電容；偏置電壓源，與待測晶體管的柵極耦接，用于使待測晶體管保持關(guān)閉狀態(tài)；以及第一電阻，串聯(lián)于待測晶體管的柵極與偏置電壓源之間，用于使測試機(jī)臺產(chǎn)生的測試信號流向源極。測試方法包括提供待測晶體管；在待測晶體管的源極和漏極之間設(shè)置測試機(jī)臺；通過測試機(jī)臺測量源極與漏極之間的關(guān)態(tài)電容；在待測晶體管的柵極上耦接偏置電壓...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。