技術(shù)編號:7040883
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明描述了制備半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)、功率半導(dǎo)體器件及屏蔽柵極MOSFET器件的方法。制備半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法包括提供半導(dǎo)體襯底;在所述襯底上提供外延層,所述外延層包括底部和上部,所述底部包含在整個所述底部上基本上恒定的第一濃度的第一導(dǎo)電型摻雜物,所述上部包含具有比所述第一濃度低的第二濃度的第一導(dǎo)電型摻雜物;在所述外延層中提供溝槽;在所述溝槽中形成晶體管結(jié)構(gòu);以及在與所述溝槽相鄰的所述外延層的所述上部形成阱區(qū),所述阱區(qū)包含與所述第一導(dǎo)電型相反的第二導(dǎo)電型摻雜物。還描述了...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。