技術編號:6922239
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。4^>開涉及制造一種冶金接觸結構,具體地,銠結構。本公開在填充高縱橫比的亞孩i米結構時尤為重要。 背景技術常規(guī)接觸插塞是通過CVD (化學氣相沉積)鴒(W)而制成,以形成 與前段裝置(FEOL)的接觸。CVD (化學氣相沉積)W方法為保形方法, 其易于在插塞中產(chǎn)生中心空隙和裂縫。因為接觸特征尺寸縮小以及接觸縱 橫比增加,使得通過CVD W方法來填充結構變得越來越具有挑戰(zhàn)性,且 增加寄生電阻。此外,由于CVD W的高電阻率和Ti/TiN^J"里疊層的高...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。