技術編號：6906306
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及電路測試，更具體說涉及使用加權的測試輸入的集成電路測試。背景技術 在單一半導體芯片上制作的復雜的集成電路包括數(shù)以千計既有時序的、也有組合的電路元件。這些電路元件對于分立的獨立測試在物理上是不可被訪問的。因為在該電路元件之間的內(nèi)部互連和相互依賴的復雜性，單個電路元件以及整個裝置完整性的測試隨著電路元件的數(shù)量的增加變得日益耗時。現(xiàn)有技術的集成電路測試使用至少一些測試中的電路的時序(或存儲器)元件的修改來包括鎖存器和耦連的開關(多路轉換器)，并使用這些...
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