技術編號:6890736
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明公開了一種操作存儲單元的方法,特別是針對施加一電壓 于柵極,造成從柵極至電荷儲存層的空穴發(fā)生隧穿,以擦除、編程或 讀取一存儲單元的方法。背景技術非易失性存儲器(NVM)是指半導體存儲器可持續(xù)地儲存信息, 即使是在包含NVM單元的裝置的電源供應被移除時仍可持續(xù)地儲存 信息。NVM包含掩膜只讀存儲器(Mask ROM)、可編程只讀存儲器 (PROM)、可擦除可編程只讀存儲器(EPROM)、電可擦寫可編程只 讀存儲器(EEPROM)、和閃存。而非易失性存儲...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。