技術(shù)編號：6854648
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種測試用的非平面PC板，特別涉及一種PC基板上結(jié)合探針的測試用的非平面PC板。背景技術(shù) 半導(dǎo)體的制造過程中，在晶片制造完成后，便需進入晶片測試的階段，即利用測試機臺與探針卡(Probe Card)來測試晶片上每一個晶粒，以確保晶粒的電氣特性與效能是否依照設(shè)計規(guī)格制造出來。一般測試機臺經(jīng)過特殊設(shè)計，其檢測頭上設(shè)有以金屬線制成、細如毛發(fā)的探針(Probe)，探針是用來與芯片上的墊片(Pad)接觸，以便直接對芯片輸入信號或讀取輸出值。在進行晶片測試的...
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