技術(shù)編號:6847862
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及半導(dǎo)體材料,特別是一種可以減小Mg記憶效應(yīng)的GaN基pn結(jié)的生長方法。背景技術(shù) III-氮化物是繼Si、GaAs等第一、第二代半導(dǎo)體材料之后的第三代新型半導(dǎo)體材料,其中GaN作為寬禁帶半導(dǎo)體材料有許多優(yōu)點,諸如飽和漂移速度高,擊穿電壓大,載流子輸運(yùn)性能優(yōu)異以及能夠形成AlGaN、InGaN三元合金和AlInGaN四元合金等,容易制作GaN基的pn結(jié)。鑒于此,近幾年來GaN基材料和器件得到了廣泛和深入的研究,MOCVD技術(shù)生長GaN基材料日趨成熟;...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。