技術(shù)編號(hào)：6846478
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及用于半導(dǎo)體集成電路那樣的平板狀被檢查體的通電試驗(yàn)時(shí)的電連接裝置。背景技術(shù) 半導(dǎo)體集成電路那樣的平板狀被檢查體被進(jìn)行通電試驗(yàn)，以判斷其是否按照說明書制造。這種通電試驗(yàn)是使用探測器卡、探測器塊、探測單元等的電連接裝置來進(jìn)行的，這些電連接裝置具有分別壓在被檢查體的電極上的多個(gè)探頭即觸頭。這種電連接裝置被用于將被檢查體的電極與測試器電連接。作為這種電連接裝置之一，如日本特開2003-43064號(hào)公報(bào)及日本特開2003-57264號(hào)公報(bào)所記載的那樣，將探測...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。