技術(shù)編號:6835972
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明屬于半導(dǎo)體集成電路制造工藝,具體涉及到Z3MS刻蝕后的干法去膠工藝。本發(fā)明提出的Z3MS刻蝕后的干法去膠工藝,是用氧等離子體燃燒法去除光刻膠,具體步驟如下將要刻蝕后的Z3MS硅片放入刻蝕設(shè)備,然后采用N2和O2干法去膠。本發(fā)明在干法去膠過程中,N2的流量控制為36-54sccm;O2的流量控制為12-18scc;干法去膠過程中,底部偏壓RF的功率控制為405-495W;氣壓控制為6.3-7.7mTorr,溫度控制為16-24℃;在深紫外光刻膠厚度為5...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。