技術(shù)編號：6784008
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及半導(dǎo)體存儲器測試領(lǐng)域，尤其涉及用于檢測半導(dǎo)體存儲器中延遲故障的可測試性設(shè)計(DFT)方法。背景技術(shù) 集成電路的系統(tǒng)自動測試變得越來越重要。隨著每個新一代的集成電路組件密度的發(fā)展，系統(tǒng)功能數(shù)和時鐘速度也大大增加。集成電路已經(jīng)達到了這樣的復(fù)雜性和速度，即甚至使用最完善最昂貴的常規(guī)測試方案都不能再檢測到處理缺陷。然而，用戶不接受在操作使用過程中表現(xiàn)出隱藏缺陷，由此出現(xiàn)例如不可靠的生命支持系統(tǒng)或飛機控制系統(tǒng)的那些產(chǎn)品。自定時半導(dǎo)體存儲器在本領(lǐng)域中是公知的...
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