技術(shù)編號(hào)：6782003
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明是有關(guān)一種偵測(cè)存儲(chǔ)陣列中字元線損壞的方法及相關(guān)裝置，更明確 地說(shuō)，是有關(guān)一-置。背景技術(shù)請(qǐng)參考圖1，圖1是為一動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(Dynamic Random Access Memory, DRAM)陣列100的示意圖；如圖所示，動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器陣列100 包含字元線(wordline)WLl、 WL2及WL3、位元線(bit line)BLl 、 BL2及BL3、 開關(guān)SWll、 SW12、 SW21、 SW22、 SW31及SW32，以及存儲(chǔ)單...
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