技術編號：6773982
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明一般涉及存儲器設備，特別涉及具有開放位線結構的存儲器設備，以及測試存儲器設備的方法。背景技術 通常，在具有開放位線結構的存儲器設備中，感測放大器被安置在子陣列之間。每一個感測放大器都連接到兩條位線上，每一條位線都連接到相鄰的子陣列的存儲器單元。但是，位于存儲器陣列的邊緣處的子陣列中的一些位線沒有連接到感測放大器(下文中稱為“虛位線”)。虛位線連接到虛存儲器單元。在具有開放位線結構的存儲器設備中，子陣列的位線相互交錯(interleave)。子陣列的一...
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