技術(shù)編號：6772915
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明是有關(guān)于一種集成電路的測試方法，且特別是有關(guān)于。背景技術(shù)集成電路的制造牽涉一個晶片的工藝，通過一系列的制造步驟以制造出多個集成電路于此晶片上。一旦此晶片被制造完成，此晶片被切割成各別的集成電路，這些集成電路之后更會遇到牽涉不同的焊線以及封裝步驟的工藝。然而，在使用前會希望能夠?qū)呻娐返牟僮鬟M(jìn)行測試。在一些案例中，多個集成電路可在晶片被切割前接受測試?；蛘呖蛇x擇地，此些集成電路可在焊線以及封裝步驟之后接受測試。一般來說，此類測試是為了驗(yàn)證此些集成電路...
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