技術編號：6770893
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種測試接ロ時序的實現(xiàn)方法，尤其涉及一種基于智能卡片上flash 串行測試接ロ時序的實現(xiàn)方法。背景技術通常的半導體芯片的片內flash生產(chǎn)測試一般由內建自測試來完成，但是ー些測試項和測試方法沒有固定化的flash不能夠依靠內建自測試的方式，它需要把所有端ロ完全開放出來，測試項和測試方法實現(xiàn)完全外部可控制。智能卡應用的片內flash生產(chǎn)測試一般要求是完全外部可控。目前隨著智能卡應用的普及，智能卡芯片國內市場競爭十分激烈。國內芯片供應商不斷地尋求新的...
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